【技术实现步骤摘要】
用于微控制器参数校准的烧录器
本技术涉及一种用于微控制器的烧录技术,尤其是涉及一种用于微控制器参数校准的烧录器。
技术介绍
微控制器(MCU)芯片从生产到制成成品销售需要经过以下几个环节,一、晶圆制造(WaferFab)。二、晶圆测试(WaferProbe)。三、封装和封装测试(Assembly&Test)。在WaferProbe阶段,需要对芯片的管脚开短路、低功耗、频率和基准电压等参数进行测试,剔除其中的不良品。在Assembly&Test阶段,需要对芯片的频率和基准电压参数再次进行测试,调修到标准范围内,将参数写入芯片的信息区,这样才能保证芯片正常使用。在该阶段对芯片频率和基准电压参数进行校准有以下缺陷,测试精度和良率不理想:受测试机性能限制,无法将参数调修到最优值,测试精度差强人意。同时由于这种测试方式,导致芯片良率降低。客户端使用存在限制:客户端出于成本考虑,会使用COB绑定,则原厂提供晶圆给客户,客户需要自己去校准参数。或者客户由于方案限制,需要修改芯片频率、基准电压参数。在这种情况下,无法返厂重新调整参数。只能通过其他途径修改参数,为客户生产开发带来极大的不便。
技术实现思路
本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可以提供更高的校准精度的用于微控制器参数校准的烧录器。本技术的目的可以通过以下技术方案来实现:一种用于微控制器参数校准的烧录器,该烧录器分别与PC和微控制器MCU连接,所述的烧录器包括主控芯 ...
【技术保护点】
1.一种用于微控制器参数校准的烧录器,该烧录器分别与PC和微控制器MCU连接,其特征在于,所述的烧录器包括主控芯片、第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源,所述的主控芯片分别与第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源连接,所述的第一通信电路与PC连接,所述的第二通信电路、D触发器和基准电压输入接口分别与微控制器MCU连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于微控制器参数校准的烧录器,该烧录器分别与PC和微控制器MCU连接,其特征在于,所述的烧录器包括主控芯片、第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源,所述的主控芯片分别与第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源连接,所述的第一通信电路与PC连接,所述的第二通信电路、D触发器和基准电压输入接口分别与微控制器MCU连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于微控制器参数校准的烧录器,其特征在于,所述的第一通信电路为USBType...
【专利技术属性】
技术研发人员:裴德杨,李寿建,冯兵,梁青武,
申请(专利权)人:上海菱沃铂智能技术有限公司,
类型:新型
国别省市:上海;31
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