用于评估光学装置的外观缺陷的方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于评估光学装置的外观缺陷的方法，所述方法包括：第一获取步骤(S10)，在第一获取步骤期间，获取光学装置的第一外观缺陷集合；与第一获取步骤(S10)不同的第二获取步骤(S20)，在第二获取步骤期间，获取光学装置的第二外观缺陷集合，第二外观缺陷集合与第一外观缺陷集合不同并且包括与第一外观缺陷集合中的外观缺陷相对应的至少一个外观缺陷；外观缺陷子集确定步骤(S30)，在外观缺陷子集确定步骤期间，基于第二外观缺陷集合中的外观缺陷与第一外观缺陷集合中的外观缺陷的比较结果来确定光学装置的第一外观缺陷集合的子集；以及品质因子确定步骤(S80)，在品质因子确定步骤期间，基于外观缺陷子集确定光学装置的品质因子。

Methods used to evaluate the appearance defects of optical devices

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于评估光学装置的外观缺陷的方法
本专利技术涉及一种用于评估光学装置的外观缺陷的方法。本专利技术还涉及一种基于根据用于评估光学装置的外观缺陷的方法确定的品质得分对光学装置进行分类的方法。
技术介绍
通常，光学装置的品质是用人眼或自动视觉系统来控制的。然而，用人眼控制光学装置的品质是昂贵的、耗时且需要大量的人力资源。此外，通常的自动视觉系统不能像受过训练的操作员的眼睛那样，在光学装置的外观检查期间以良好的准确度和重复性来仅考虑相关的外观缺陷。因此，需要一种方法，该方法允许评估光学装置的外观缺陷，以便基于检测到的外观缺陷对光学装置进行分类。本专利技术的一个目的是提供这种方法。
技术实现思路
为此，本专利技术提出了一种用于评估光学装置的外观缺陷的方法，所述方法包括：-第一外观缺陷集合获取步骤(也称为第一获取步骤)，在所述第一获取步骤期间，获取所述光学装置的第一外观缺陷集合，-第二外观缺陷集合获取步骤(也称为第二获取步骤)，所述第二获取步骤与所述第一获取步骤不同，在所述第二获取步骤期间，获取所述光学装置的第二外观缺陷集合，所述第二外观缺陷集合与所述第一外观缺陷集合不同并且包括与所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷相对应的至少一个外观缺陷，-外观缺陷子集确定步骤，在所述外观缺陷子集确定步骤期间，基于所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷与所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷的比较结果来确定所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集，以及-品质因子确定步骤，在所述品质因子确定步骤期间，基于所述外观缺陷子集确定所述光学装置的品质因子。所述品质因子确定步骤可以包括如下所述的若干个标准。然而，在本专利技术的目的内，仍然具有包括自动地或通过操作员的输入确定的简单的“合格或不合格”测试的品质因子确定步骤。本专利技术使得能够考虑到一些外观缺陷可能与最终的经清洁的光学装置不相关，并且通过将作为对最终产品而言不相关的外观缺陷的那些缺陷考虑在内，品质因子确定步骤将更加准确。有利地，本专利技术的用于评估光学装置的外观缺陷的方法允许准确地检测光学装置的所有外观缺陷，并且评估光学装置的外观缺陷以确定光学装置的外观缺陷是可接受的还是不可接受的，使得光学装置可以被制造和/或机加工成例如眼科镜片。本专利技术的用于评估光学装置的外观缺陷的方法允许在将光学装置制造或机加工成例如眼科镜片之前来确定光学装置的外观品质。此外，本专利技术的用于评估光学装置的外观缺陷的方法使得能够选择正确的外观缺陷来判断其对光学装置的品质因子的关键影响，从而减少了在判断光学装置的品质因子时的人为错误。在进一步的使用中，该方法甚至可以允许光学装置品质的控制的自动化。这种控制有利地是准确的且可重复的。此外，本专利技术使得能够补充通常的自动视觉系统，这些自动视觉系统不能像受过训练的操作员的眼睛那样，在光学装置的外观检查期间以良好的准确度和重复性来仅考虑相关的外观缺陷。例如，如下所述，使用本专利技术的自动系统能够排除半成品光学镜片的后表面上的外观缺陷，或者排除可通过清洁光学装置而去除的外观缺陷(比如粉尘)，或在考虑到关键的外观缺陷的同时将外观缺陷排除在光学装置的最终磨边区之外。换句话说，本专利技术能够自动地考虑到一些外观缺陷对于最终的经清洁的光学装置将是不相关的。然后，可以通过从品质控制分析中去除此类缺陷，或者通过限制此类缺陷对光学装置的品质得分的贡献来实现这一点。根据实施例，根据本专利技术的用于评估光学装置的外观缺陷的方法可以进一步包括以下根据任何可能组合的特征中的一个或若干个：-在所述第一外观缺陷集合获取步骤之前，所述方法包括：-光学装置图像提供步骤，在所述光学装置图像提供步骤期间，提供所述光学装置的至少一个图像，-在所述第一外观缺陷集合获取步骤期间，在所述光学装置的所述至少一个图像上获取所述第一外观缺陷集合，以及任选地-在所述第二外观缺陷集合获取步骤期间，在所述光学装置的所述至少一个图像上获取所述第二外观缺陷集合；和/或-在所述第一外观缺陷集合获取步骤之前，所述方法包括：-光学装置提供步骤，在所述光学装置提供步骤期间，提供光学装置，-光学装置图像获取步骤，在所述光学装置图像获取步骤期间，获取所述光学装置的至少一个图像，-在所述第一外观缺陷集合获取步骤期间，在所述光学装置的所述至少一个图像上获取所述第一外观缺陷集合，以及任选地-在所述第二外观缺陷集合获取步骤期间，在所述光学装置的所述至少一个图像上获取所述第二外观缺陷集合；和/或-所述光学装置至少包括第一表面和第二表面，所述方法包括外观缺陷表面定位区分步骤，在所述外观缺陷表面定位区分步骤期间，基于所述外观缺陷定位在所述光学装置的所述第一表面和/或第二表面上来区分所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷，所述第二外观缺陷集合仅包括位于所述第一表面或所述第二表面中的一者上的外观缺陷，并且其中，所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集是基于将所述第二外观缺陷集合中的差异化外观缺陷从所述第一外观缺陷集合中的差异化外观缺陷减去来确定的；和/或-在所述外观缺陷表面定位区分步骤期间，所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷是通过对所述光学装置的测量来区分的；和/或-所述方法包括外观缺陷类型区分步骤，在所述外观缺陷类型区分步骤期间，基于所述光学装置的所述外观缺陷的类型来区分所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷，所述第二外观缺陷集合仅包括预定外观缺陷类型的外观缺陷，并且其中，所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集是基于将所述第二外观缺陷集合中的差异化外观缺陷从所述第一外观缺陷集合中的差异化外观缺陷减去来确定的；和/或-所述方法包括外观缺陷位置区分步骤，在所述外观缺陷位置区分步骤期间，基于所述外观缺陷在所述光学装置上的位置来映射和区分所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷，并且其中，所述光学装置的所述品质因子是至少基于所述外观缺陷在所述光学装置上的位置来确定的；和/或-在所述外观缺陷类型区分步骤期间，所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷是通过图像处理和/或通过对所述光学装置的测量来区分的；和/或-所述光学装置的外观缺陷的类型与所述光学装置的表面上的刮擦和/或所述光学装置上的散布缺陷和/或所述光学装置上的清漆掉落和/或所述光学装置上的清漆波纹和/或所述光学装置的内部缺陷和/或所述光学装置上的偏振标记和/或所述光学装置上的同心条纹和/或所述光学装置上的纤维和/或所述光学装置上的脏的嵌入物和/或所述光学装置上的装运刮擦和/或所述光学装置上的水印和/或所述光学装置上的凹坑和/或所述光学装置上的黑点和/或所述光学装置上的粉尘有关；和/或-所述方法包括外观缺陷位置区分步骤，在所述外观缺陷位置区分步骤期间，基于所述外观缺陷在所述光学装置上的位置来区分所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷，所述第二外观缺陷集合仅包括位于所述光学装置的预定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于评估光学装置的外观缺陷的方法，所述方法包括：/n-第一获取步骤(S10)，在所述第一获取步骤期间，获取所述光学装置的第一外观缺陷集合，/n-第二获取步骤(S20)，所述第二获取步骤与所述第一获取步骤(S10)不同，在所述第二获取步骤期间，获取所述光学装置的第二外观缺陷集合，所述第二外观缺陷集合与所述第一外观缺陷集合不同并且包括与所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷相对应的至少一个外观缺陷，/n-外观缺陷子集确定步骤(S30)，在所述外观缺陷子集确定步骤期间，基于所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷与所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷的比较结果来确定所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集，以及/n-品质因子确定步骤(S80)，在所述品质因子确定步骤期间，基于所述外观缺陷子集确定所述光学装置的品质因子。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171020 EP 17306445.21.一种用于评估光学装置的外观缺陷的方法，所述方法包括：
-第一获取步骤(S10)，在所述第一获取步骤期间，获取所述光学装置的第一外观缺陷集合，
-第二获取步骤(S20)，所述第二获取步骤与所述第一获取步骤(S10)不同，在所述第二获取步骤期间，获取所述光学装置的第二外观缺陷集合，所述第二外观缺陷集合与所述第一外观缺陷集合不同并且包括与所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷相对应的至少一个外观缺陷，
-外观缺陷子集确定步骤(S30)，在所述外观缺陷子集确定步骤期间，基于所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷与所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷的比较结果来确定所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集，以及
-品质因子确定步骤(S80)，在所述品质因子确定步骤期间，基于所述外观缺陷子集确定所述光学装置的品质因子。


2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述光学装置至少包括第一表面和第二表面，所述方法包括：
-外观缺陷表面定位区分步骤(S40)，在所述外观缺陷表面定位区分步骤期间，基于所述外观缺陷定位在所述光学装置的所述第一表面和/或第二表面上来区分所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷，所述第二外观缺陷集合仅包括位于所述第一表面或所述第二表面中的一者上的外观缺陷，并且
其中，所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集是基于将所述第二外观缺陷集合中的差异化外观缺陷从所述第一外观缺陷集合中的差异化外观缺陷减去来确定的。


3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法进一步包括：
-外观缺陷类型区分步骤(S50)，在所述外观缺陷类型区分步骤期间，基于所述光学装置的所述外观缺陷的类型来区分所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷，所述第二外观缺陷集合仅包括预定外观缺陷类型的外观缺陷，并且
其中，所述光学装置的所述第一外观缺陷集合的子集是基于将所述第二外观缺陷集合中的差异化外观缺陷从所述第一外观缺陷集合中的差异化外观缺陷减去来确定的。


4.根据前一项权利要求所述的方法，其中，在所述外观缺陷类型区分步骤期间，所述第一外观缺陷集合和所述第二外观缺陷集合中的外观缺陷是通过图像处理和/或通过对所述光学装置的测量来区分的。


5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法进一步包括：
-外观缺陷位置区分步骤(S15)，在所述外观缺陷位置区分步骤期间，基于所述外观缺陷在所述光学装置上的位置来映射和区分所述第一外观缺陷集合中的外观缺陷，并且
其中，所述光学装置的所述品质因子是至少基于所述外观缺陷在所述光学装置上的位置来确定的。


6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述光学装置被划分为多个区，并且对于所述光学装置的每个区，所述方法进一步包括：
-品质得分确定步骤(S90)，在所述品质得分确定步骤期间，基于所述光学装置的所述区的外观缺陷来确定所述光学装置的所述区的品质得分。


7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，进一步包括：
-外观缺陷数量确定步骤(S100)，在所述外观缺陷数量确定步骤期间，确定所述光学装置的外观缺陷数量，并且
其中，所述品质因子取决于所述光学装置的所确定外观缺陷数量、或/和取决于所述光学装置的至少一个区的所确定数量、和/或取决于与所述外观缺陷的所述区相关的所确外观缺陷数量。

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【专利技术属性】
技术研发人员：P·马泰，D·雷盖，
申请(专利权)人：依视路国际公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR