红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装技术

本发明专利技术公开了一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装，红外探测器杜瓦制冷组件包括可拆卸连接的杜瓦组件和制冷机，制冷机的推移活塞组件适于在杜瓦组件的冷指内往返运动，杜瓦组件的耦合面与制冷机的耦合面接触；所述方法，包括：测试杜瓦组件的耦合面与冷指的内底壁之间的距离H1；驱动推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试推移活塞组件的自由端的端面与制冷机的耦合面之间的距离H2；根据H1、H2，计算红外探测器杜瓦制冷组件的死隙H1‑H2。采用本发明专利技术，可以实现对红外探测器的推移活塞组件死隙的测试，且测量方法设计简单、操作性强，能有效避免斯特林制冷机与杜瓦组件耦合时可能出现的干涉问题。

Dead gap test method and test fixture of Dewar refrigeration module of infrared detector

【技术实现步骤摘要】
红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装
本专利技术涉及红外探测器
，尤其涉及一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装。
技术介绍
制冷机在结构上一般采用直流无刷电机带动曲轴连杆机构往复运动实现逆向制冷循环完成制冷。在实际应用中，需要将制冷机和红外探测器杜瓦组件(DDA组件)耦合在一起，形成完整的红外探测器杜瓦制冷组件(IDDCA组件)。在IDDCA组件工作时，推移活塞组件在制冷机冷指内往复运动。对于集成式杜瓦结构，杜瓦冷指也是制冷机冷指，如果杜瓦结构和制冷机尺寸不匹配，将可能导致制冷机推移活塞组件与杜瓦冷指发生干涉引起撞击，进而导致红外探测器组件失效。因此，在制冷机与红外探测器杜瓦组件耦合时，需要测试制冷机推移活塞组件与杜瓦冷指底部最小间隙，即制冷机推移活塞组件运动到上止点时推移活塞组件顶端到杜瓦冷指底部的距离。由于推移活塞组件属于运动部件，而且无径向约束，所以很难测量。建立一套行之有效的制冷机死隙测试方法显得非常重要。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装，用以解决现有技术中推移活塞组件死隙测试困难的问题。本专利技术实施例提出一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法，所述红外探测器杜瓦制冷组件包括可拆卸连接的杜瓦组件和制冷机，所述制冷机的推移活塞组件适于在所述杜瓦组件的冷指内往返运动，所述杜瓦组件的耦合面与所述制冷机的耦合面接触；所述方法，包括：测试所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1；驱动所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2；根据所述H1、所述H2，计算所述红外探测器杜瓦制冷组件的死隙H1-H2。根据本专利技术的一些实施例，所述测试所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1，包括：测量所述杜瓦组件靠近所述推移活塞组件一端的端面与所述冷指的内底壁之间的距离Ha；测量所述杜瓦组件靠近所述推移活塞组件一端的端面与所述杜瓦组件的耦合面之间的距离Hb；根据所述Ha、所述Hb，计算所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1。根据本专利技术的一些实施例，所述驱动所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2，包括：将百分表装配至套筒的一端形成推移活塞组件高度量规；将所述推移活塞组件高度量规装配至标准高度量规，基于所述标准高度量规调整所述百分表的指针初始位置；将所述推移活塞组件高度量规装配至所述推移活塞组件；拆除所述制冷机的定子组件，将磁性件置于所述制冷机的转子保护套上并沿所述转子保护套的外周旋转，以驱动所述推移活塞组件运动；当所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，记录所述百分表的读数；根据所述百分表的读数，确定所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2。在本专利技术的一些实施例中，所述方法，还包括：在将所述推移活塞组件高度量规装配至标准高度量规，基于所述标准高度量规调整所述百分表的指针初始位置之前，根据所述H1，制备标准高度量规。在本专利技术的一些实施例中，所述将所述推移活塞组件高度量规装配至标准高度量规，基于所述标准高度量规调整所述百分表的指针初始位置，包括：将所述套筒外套于所述标准高度量规，并使所述套筒的另一端端面与所述标准高度量规的零刻度平齐；记录所述百分表的小刻度盘的读数；将所述百分表的大刻度盘的读数调零。在本专利技术的一些实施例中，所述将所述推移活塞组件高度量规装配至所述推移活塞组件包括：将所述套筒外套于所述推移活塞组件，并使所述套筒的另一端端面与所述制冷机的耦合面接触。在本专利技术的一些实施例中，所述磁性件为磁铁。在本专利技术的一些实施例中，所述当所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，记录所述百分表的读数，包括：在所述推移活塞组件运动过程中，观察所述百分表的读数；当所述百分表的读数达到最大值时，记录所述百分表的读数。根据本专利技术的一些实施例所述制冷机为旋转集成式斯特林制冷机。本专利技术实施例还提出一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试工装，包括：标准高度量规；推移活塞组件高度量规，包括百分表和套筒，所述百分表设于所述套筒的一端，所述推移活塞组件高度量规可装配至所述标准高度量规，以调整所述百分表的指针初始位置。采用本专利技术实施例，可以实现对红外探测器杜瓦制冷组件的推移活塞组件的死隙进行测试，且测量方法设计简单、操作性强，能有效避免制冷机与红外探测器杜瓦组件耦合时可能出现的干涉问题，提高了红外探测器杜瓦制冷组件IDDCA组件的应用水平。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1是本专利技术实施例中红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法流程图；图2是本专利技术实施例中红外探测器杜瓦制冷组件的结构示意图；图3是图2中A处的局部结构放大图；图4是本专利技术实施例中红外探测器杜瓦制冷组件的制冷机的结构示意图；图5是本专利技术实施例中红外探测器杜瓦制冷组件的杜瓦组件的结构示意图；图6是本专利技术实施例中红外探测器杜瓦制冷组件的结构分解图；图7是本专利技术实施例中推移活塞组件高度量规的结构示意图；图8是本专利技术实施例中标准高度量规的结构示意图；图9是本专利技术实施例中推移活塞组件高度量规与推移活塞组件的装配意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。本专利技术实施例提出一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法。如图2-图5所示，红外探测器杜瓦制冷组件100包括可拆卸连接的杜瓦组件110和制冷机120，换言之，杜瓦组件110与制冷机120连接，且杜瓦组件110可以从制冷机120上拆卸下来。制冷机120的推移活塞组件121适于在杜瓦组件110的冷指111内往返运动，杜瓦组件110的耦合面与制冷机120的耦合面接触。可以理解的是，杜瓦组件110与制冷机120耦合，推移活塞组件121伸入冷指111内，且推移活塞组件121的自由端可以靠近或远离冷指111本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法，其特征在于，所述红外探测器杜瓦制冷组件包括可拆卸连接的杜瓦组件和制冷机，所述制冷机的推移活塞组件适于在所述杜瓦组件的冷指内往返运动，所述杜瓦组件的耦合面与所述制冷机的耦合面接触；/n所述方法，包括：/n测试所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1；/n驱动所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2；/n根据所述H1、所述H2，计算所述红外探测器杜瓦制冷组件的死隙H1-H2。/n

【技术特征摘要】
1.一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法，其特征在于，所述红外探测器杜瓦制冷组件包括可拆卸连接的杜瓦组件和制冷机，所述制冷机的推移活塞组件适于在所述杜瓦组件的冷指内往返运动，所述杜瓦组件的耦合面与所述制冷机的耦合面接触；
所述方法，包括：
测试所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1；
驱动所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2；
根据所述H1、所述H2，计算所述红外探测器杜瓦制冷组件的死隙H1-H2。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1，包括：
测量所述杜瓦组件靠近所述推移活塞组件一端的端面与所述冷指的内底壁之间的距离Ha；
测量所述杜瓦组件靠近所述推移活塞组件一端的端面与所述杜瓦组件的耦合面之间的距离Hb；
根据所述Ha、所述Hb，计算所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1。


3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述驱动所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2，包括：
将百分表装配至套筒的一端形成推移活塞组件高度量规；
将所述推移活塞组件高度量规装配至标准高度量规，基于所述标准高度量规调整所述百分表的指针初始位置；
将所述推移活塞组件高度量规装配至所述推移活塞组件；
拆除所述制冷机的定子组件，将磁性件置于所述制冷机的转子保护套上并沿所述转子保护套的外周旋转，以驱动所述推移活塞组件运动；
当所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，记录所述百分表的读数；
根据所述百分表的读数，...

【专利技术属性】
技术研发人员：迟国春，卢旭辰，饶启超，辛光磊，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十一研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11