【技术实现步骤摘要】
扇出型半导体封装件本申请要求于2018年11月20日在韩国知识产权局提交的第10-2018-0143626号韩国专利申请的优先权的权益,所述韩国专利申请的全部公开内容出于所有目的通过引用被包含于此。
本公开涉及一种半导体封装件,更具体地,涉及一种扇出型半导体封装件。
技术介绍
半导体芯片的技术发展的主要趋势是不断减小组件的尺寸。因此,在封装领域中,根据对小尺寸的半导体芯片等的需求的快速增长,需要在小型化的同时实现多个引脚。为了满足这种需求,已经提出了扇出型半导体封装作为封装技术。在这种扇出型半导体封装件的情况下,除了其中设置有半导体芯片的区域之外,还可使诸如焊球等的电连接金属件重新分布,使得可在小型化的同时实现多个引脚。
技术实现思路
提供本
技术实现思路
以按照简化的形式对所选择的构思进行介绍,并在下面的具体实施方式中进一步描述所述构思。本
技术实现思路
既不意在限定所要求保护的主题的关键特征或必要特征,也不意在用作帮助确定所要求保护的主题的范围。本公开的一方面在于提供一种扇出型半导体封装件,该扇出型半导体封装件即使在使用多个半导体芯片的情况下,也可小型化并改善性能,并且该扇出型半导体封装件中翘曲可得到改善。本公开中提出的各种方案之一在于通过将半导体芯片设置在连接结构的相应的上侧和下侧来封装多个半导体芯片。在这种情况下,可围绕下部的半导体芯片引入用于上部信号和下部信号之间的连接的金属构件和用于控制翘曲的金属构件。根据本公开的一方面,一种扇出型半导体封装件包括:第一 ...
【技术保护点】
1.一种扇出型半导体封装件,所述扇出型半导体封装件包括:/n第一连接结构,包括包含第一信号图案的第一重新分布层,所述第一连接结构具有彼此相对的第一表面和第二表面;/n第一半导体芯片,设置在所述第一连接结构的所述第一表面上,所述第一半导体芯片具有其上设置有第一连接垫的第一有效表面和与所述第一有效表面相对的第一无效表面;/n第一包封剂,设置在所述第一连接结构的所述第一表面上并覆盖所述第一半导体芯片的至少一部分;/n第二半导体芯片,设置在所述第一连接结构的所述第二表面上,所述第二半导体芯片具有其上设置有第二连接垫的第二有效表面和与所述第二有效表面相对的第二无效表面;/n一个或更多个第一金属构件,设置在所述第一连接结构的所述第二表面上并电连接到所述第一信号图案;/n一个或更多个第二金属构件,设置在所述第一连接结构的所述第二表面上并与所述第一信号图案电绝缘;/n第二包封剂,设置在所述第一连接结构的所述第二表面上,并分别覆盖所述第二半导体芯片的至少一部分以及所述第一金属构件和所述第二金属构件的至少一部分;以及/n第二连接结构,设置在所述第二包封剂的其上设置有所述第一连接结构的侧的相对侧上,所述第二 ...
【技术特征摘要】
20181120 KR 10-2018-01436261.一种扇出型半导体封装件,所述扇出型半导体封装件包括:
第一连接结构,包括包含第一信号图案的第一重新分布层,所述第一连接结构具有彼此相对的第一表面和第二表面;
第一半导体芯片,设置在所述第一连接结构的所述第一表面上,所述第一半导体芯片具有其上设置有第一连接垫的第一有效表面和与所述第一有效表面相对的第一无效表面;
第一包封剂,设置在所述第一连接结构的所述第一表面上并覆盖所述第一半导体芯片的至少一部分;
第二半导体芯片,设置在所述第一连接结构的所述第二表面上,所述第二半导体芯片具有其上设置有第二连接垫的第二有效表面和与所述第二有效表面相对的第二无效表面;
一个或更多个第一金属构件,设置在所述第一连接结构的所述第二表面上并电连接到所述第一信号图案;
一个或更多个第二金属构件,设置在所述第一连接结构的所述第二表面上并与所述第一信号图案电绝缘;
第二包封剂,设置在所述第一连接结构的所述第二表面上,并分别覆盖所述第二半导体芯片的至少一部分以及所述第一金属构件和所述第二金属构件的至少一部分;以及
第二连接结构,设置在所述第二包封剂的其上设置有所述第一连接结构的侧的相对侧上,所述第二连接结构包括具有第二信号图案的第二重新分布层,
其中,所述第一连接垫和所述第二连接垫通过所述第一重新分布层的所述第一信号图案和所述第二重新分布层的所述第二信号图案以及所述第一金属构件彼此电连接。
2.根据权利要求1所述的扇出型半导体封装件,其中,所述第一金属构件和所述第二金属构件具有相同的厚度。
3.根据权利要求1所述的扇出型半导体封装件,其中,所述第一金属构件的表面和所述第二金属构件的表面与所述第一连接结构接触,并且所述第一金属构件和所述第二金属构件的与和所述第一连接结构接触的表面相对的表面彼此共面。
4.根据权利要求1所述的扇出型半导体封装件,其中,所述一个或更多个第二金属构件分别彼此电隔离并且与所述第一重新分布层和所述第二重新分布层电隔离。
5.根据权利要求1所述的扇出型半导体封装件,其中,所述第一金属构件和所述第二金属构件是金属柱。
6.根据权利要求5所述的扇出型半导体封装件,其中,所述第一金属构件包括比所述第二金属构件的金属层的数量更多的数量的金属层。
7.根据权利要求1所述的扇出型半导体封装件,其中,所述第一金属构件和所述第二金属构件设置为与所述第二半导体芯片并排。
8.根据权利要求1所述的扇出型半导体封装件,其中,所述第一有效表面与所述第一连接结构的所述第一表面物理接触,并且
所述第二无效表面通过粘合构件附着到所述第二连接结构的所述第二表面。
9.根据权利要求1所述的扇出型半导体封装件,所述扇出型半导体封装件还包括设置在所述第一连接结构的所述第一表面上的框架,所述框架具有通孔,
其中,所述第一半导体芯片设置在所述通孔中,并且
所述第一包封剂覆盖所述框架的至少一部分并填充所述通孔的至少一部分。
10.根据权利要求9所述的扇出型半导体封装件,其中,所述框架具有其上分别设置有第一金属层和第二金属层的两个表面。
11.根据权利要求10所述的扇出型半导体封装件,其中,所述框架还包括设置在所述通孔的内表面上的第三金属层。
12.根据权利要求9所述的扇出型半导体封装件,其中,所述框架包括:第一绝缘层,与所述第一连接结构接触;第一布线层,与所述第一连接结构接触并且嵌入所述第一绝缘层中;第二布线层,设置在所述第一绝缘层的与所述第一绝缘层的其中嵌入有所述第一布线层的侧相对的侧上;第二绝缘层,设置在所述第一绝缘层的与所述第一绝缘层的其中嵌入有所述第一布线层的侧相对的侧上,所述第二绝缘层覆盖所述第二布线层;以及第三布线层,设置在所述第二绝缘...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵俸紸,姜明衫,高永宽,李健,李在杰,
申请(专利权)人:三星电子株式会社,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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