温度继电器的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种温度继电器的测试装置，包括：集成电路板、主控芯片、按键、至少两个温度测试接口、与每个温度测试接口一一对应的温度传感器和与每个温度测试接口一一对应的显示组件，按键、每个温度传感器、每个显示组件和每个温度测试接口均与主控芯片相连，主控芯片、按键、每个显示组件和每个温度测试接口均固定设置于集成电路板上，温度传感器可拆卸地固定于被测温度继电器上，若按键将测试装置设置为温度检测模式，主控芯片控制供电电源为被测温度继电器供电，获取被测温度继电器输出的电平值，若电平值表示高电平，获取温度传感器采集的当前的温度值，并通过显示组件显示温度值，以实现对温度继电器的无人测量，和同时多个测量。

Test device of temperature relay

【技术实现步骤摘要】
温度继电器的测试装置
本技术涉及继电器测试
，具体涉及一种温度继电器的测试装置。
技术介绍
温度继电器是一种当外界温度达到给定值时而动作的继电器，它是使用十分广泛的产品，可供航空航天、监控摄像设备、电机、电器设备及其它行业做温度控制和过热保护使用。温度继电器因周围环境温度升高或自身通过的电流生热引起温升而发生动作，由于继电器自身的接通电阻很小，因此电流热效应引起的温升也很小，与环境温度温升相比可以忽略不计，所以一般都是通过控制环境温度的变化来实现温度继电器的动作温度和回复温度的检测。在检测行业，对温度继电器检测方法使用的一般是温度检测设备和万用表结合起来的方式，用万用表检测温度继电器是否动作，由检测人员在一旁记录实时的温度值，此种方法需要专人值守，且一般一次只能检测1只，若想检测多只，则需要多个万用表和多个温度检测设备，且当检测多只时，可能会出现多只同时动作的情况，由于检测人员的反应延迟导致记录值有偏差，而且由于温箱升降温速度较慢导致检测时间较长。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种温度继电器的测试装置，以实现无人测量，同时实现一次性多个测量。为实现以上目的，本技术采用如下技术方案：一种温度继电器的测试装置，包括：集成电路板、主控芯片、按键、至少两个温度测试接口、与每个温度测试接口一一对应的温度传感器和与每个温度测试接口一一对应的显示组件；所述按键、每个所述温度传感器、每个所述显示组件和每个所述温度测试接口均与所述主控芯片相连；<br>所述主控芯片、所述按键、每个所述显示组件和每个所述温度测试接口均固定设置于所述集成电路板上，且多个所述温度测试接口均设置于所述集成电路板的同一侧；所述温度传感器可拆卸地固定于被测温度继电器上；若所述按键将所述测试装置设置为温度检测模式，所述主控芯片控制供电电源为所述被测温度继电器供电，获取所述被测温度继电器输出的电平值，若所述电平值表示高电平，获取温度传感器采集的当前的温度值，并通过所述显示组件显示所述温度值。可选的，上述所述的温度继电器的测试装置，还包括内阻测试接口；所述内阻测试接口分别与所述主控芯片和所述被测温度继电器相连；所述内阻测试接口设置有区分标识，区分所述温度测试接口和所述内阻测试接口。可选的，上述所述的温度继电器的测试装置，还包括继电器切换电路；所述继电器切换电路分别与所述主控芯片和所述内阻测试接口相连；所述被测温度继电器的两端连接电控继电器的公共端，所述电控继电器的常闭端接供电电源，常开端接所述内阻测试接口，若所述按键将所述测试装置设置为内阻检测模式，所述继电器切换电路将所述内阻测试接口与所述主控芯片导通，以便测试所述被测温度继电器的导通内阻。可选的，上述所述显示组件包括数码管、译码器、锁存器和三极管；所述译码器的输入引脚与所述主控芯片的输出引脚相连；所述译码器还与所述三极管的第一端相连，所述三极管的第二端分别与所述锁存器和所述数码管相连；所述三极管的第三端和所述译码器均接高电平。可选的，上述所述的温度继电器的测试装置，还包括配置芯片；所述配置芯片与所述主控芯片相连，所述主控芯片通过所述配置芯片下载控制程序。可选的，上述所述按键包括：电源开关按键、启动按键和模式按键；所述电源开关按键、所述启动按键和所述模式按键均与所述主控芯片相连；所述电源开关按键实现所述测试装置的通电，所述模式按键设置所述测试装置的工作模式，所述启动按键实现测试的启停。可选的，上述所述的温度继电器的测试装置，还包括航空插头；所述航空插头与所述温度测试接口相匹配，所述主控芯片通过所述航空插头与所述被测温度继电器进行通信。可选的，上述所述的温度继电器的测试装置，还包括通信组件；所述通信组件与所述主控芯片相连，所述主控芯片获取所述被测温度继电器的工作温度，通过所述通信组件将所述工作温度发送至目标终端。可选的，上述所述的温度继电器的测试装置，还包括绝缘保护外壳；所述绝缘保护外壳与所述集成电路板相匹配，所述绝缘保护外壳保护所述集成电路板的焊点和线路，以便于用户进行操作。可选的，上述所述的温度继电器的测试装置，还包括指示灯；所述指示灯与所述主控芯片相连，所述指示灯指示所述按键的选择的工作模式。本技术采用的一种温度继电器的测试装置，包括：集成电路板、主控芯片、按键、至少两个温度测试接口、与每个温度测试接口一一对应的温度传感器和与每个温度测试接口一一对应的显示组件，按键、每个温度传感器、每个显示组件和每个温度测试接口均与主控芯片相连，主控芯片、按键、每个显示组件和每个温度测试接口均固定设置于集成电路板上，且多个温度测试接口均设置于集成电路板的同一侧，温度传感器可拆卸地固定于被测温度继电器上，若按键将测试装置设置为温度检测模式，主控芯片控制供电电源为被测温度继电器供电，获取被测温度继电器输出的电平值，若电平值表示高电平，获取温度传感器采集的当前的温度值，并通过显示组件显示温度值。通过在每个被测温度继电器上设置一温度传感器，并将温度传感器、温度继电器与主控芯片接通，当检测到被测温度继电器输出高电平时，表明此时的温度继电器导通，温度传感器获取此时的温度上传至主控芯片，主控芯片将其再通过显示组件进行显示，而且显示组件一直处于显示状态，无需人员时刻查看，而且由于测试装置具有多个测试接口，每个接口均可检测一个温度继电器的工作温度，则此测试装置便可以同时检测多个温度继电器的工作温度，每个测试接口均对应着唯一的显示组件，使得每一个测试都能及时的进行显示，保证误差的最小，有效地实现了无需人员实时查看的测量，提高了测量的效率和准确性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例提供的温度继电器的测试装置的一种结构示意图。图2为图1中的主控芯片的第一部分的电路连接关系图。图3为图1中的主控芯片的第二部分的电路连接关系图。图4为图1中的主控芯片的第三部分的电路连接关系图。图5为图1中的主控芯片的第四部分的电路连接关系图。图6为图1中的温度传感器的电路连接关系图。图7为图1中的显示组件的电路连接关系图。图8为图1中的配置芯片的电路连接关系图。图9为图1中的按键的电路连接关系图。图10为图1中的主控芯片工作的晶振电路的连接关系图。图11为测试工位的第一部分的电路连接关系图。图12为测试工位的第二部分的电路连接关系图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度继电器的测试装置，其特征在于，包括：集成电路板、主控芯片、按键、至少两个温度测试接口、与每个温度测试接口一一对应的温度传感器和与每个温度测试接口一一对应的显示组件；/n所述按键、每个所述温度传感器、每个所述显示组件和每个所述温度测试接口均与所述主控芯片相连；/n所述主控芯片、所述按键、每个所述显示组件和每个所述温度测试接口均固定设置于所述集成电路板上，且多个所述温度测试接口均设置于所述集成电路板的同一侧；/n所述温度传感器可拆卸地固定于被测温度继电器上；/n若所述按键将所述测试装置设置为温度检测模式，所述主控芯片控制供电电源为所述被测温度继电器供电，获取所述被测温度继电器输出的电平值，若所述电平值表示高电平，获取温度传感器采集的当前的温度值，并通过所述显示组件显示所述温度值。/n

【技术特征摘要】
1.一种温度继电器的测试装置，其特征在于，包括：集成电路板、主控芯片、按键、至少两个温度测试接口、与每个温度测试接口一一对应的温度传感器和与每个温度测试接口一一对应的显示组件；
所述按键、每个所述温度传感器、每个所述显示组件和每个所述温度测试接口均与所述主控芯片相连；
所述主控芯片、所述按键、每个所述显示组件和每个所述温度测试接口均固定设置于所述集成电路板上，且多个所述温度测试接口均设置于所述集成电路板的同一侧；
所述温度传感器可拆卸地固定于被测温度继电器上；
若所述按键将所述测试装置设置为温度检测模式，所述主控芯片控制供电电源为所述被测温度继电器供电，获取所述被测温度继电器输出的电平值，若所述电平值表示高电平，获取温度传感器采集的当前的温度值，并通过所述显示组件显示所述温度值。


2.根据权利要求1所述的温度继电器的测试装置，其特征在于，还包括内阻测试接口；
所述内阻测试接口分别与所述主控芯片和所述被测温度继电器相连；
所述内阻测试接口设置有区分标识，区分所述温度测试接口和所述内阻测试接口。


3.根据权利要求2所述的温度继电器的测试装置，其特征在于，还包括继电器切换电路；
所述继电器切换电路分别与所述主控芯片和所述内阻测试接口相连；
所述被测温度继电器的两端连接电控继电器的公共端，所述电控继电器的常闭端接供电电源，常开端接所述内阻测试接口，若所述按键将所述测试装置设置为内阻检测模式，所述继电器切换电路将所述内阻测试接口与所述主控芯片导通，以便测试所述被测温度继电器的导通内阻。


4.根据权利要求1所述的温度继电器的测试装置，其特征在于，所述显示组件包括数码管、译码器、锁存器和三极管；
所...

【专利技术属性】
技术研发人员：霍风祥，李涛，李鹏飞，
申请(专利权)人：北京京瀚禹电子工程技术有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11