微型开关质量寿命测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种微型开关质量寿命测试仪，包括第一电缸、第二电缸、推杆、拉杆、微型开关、灯H1、单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3、毫欧表、阻值记录仪和电源，所述电源的一端与单刀双掷开关S1的触点c相连接，所述单刀双掷开关S1的触点a与微型开关的触点a相连接，所述微型开关的触点b与灯H1的一端相连接，灯H1的另一端与单刀单掷开关S3的触点a相连接，单刀单掷开关S3的触点c与电源的另一端相连接，所述单刀双掷开关S2的触点a与微型开关的触点b相连接，所述单刀双掷开关S1的触点b与单刀双掷开关S2的触点b之间并联有毫欧表和阻值记录仪，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3的触点a均为常闭触点。

Micro switch quality life tester

【技术实现步骤摘要】
微型开关质量寿命测试仪
本技术涉及开关质量检测
，具体指微型开关质量寿命测试仪。
技术介绍
微型开关是目前自动化控制领域较为常见的控制开关，微型开关的使用寿命对自动化设备的影响非常大。因此，微型开关在出厂前都会进行寿命检测。微型开关的工作原理是通过金属簧片受外压力进行反弹后将触点两点接触面使开关导通。现有的微型开关质量寿命测试仪是通过机械点动加负载进行测试。这种传统方法测试无法发现微型开关在测试中的内在质量变化，更难发现其变化过程，主要是微型开光的压力大小和接触面的松紧变化，从而给微型开关后期分析和改进带来一定的难度。
技术实现思路
本技术根据现有技术的不足，提出一种微型开关质量寿命测试仪，根据接触电阻的变化并记录，从而判断微型开关的压力大小和接触面的松紧变化。为了解决上述技术问题，本技术的技术方案为：一种微型开关质量寿命测试仪，包括第一电缸、第二电缸、推杆、拉杆、微型开关、灯H1、单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3、毫欧表、阻值记录仪和电源，所述电源的一端与单刀双掷开关S1的触点c相连接，所述单刀双掷开关S1的触点a与微型开关的触点a相连接，所述微型开关的触点b与灯H1的一端相连接，所述灯H1的另一端与单刀单掷开关S3的触点a相连接，单刀单掷开关S3的触点c与电源的另一端相连接，所述单刀双掷开关S2的触点a与微型开关的触点b相连接，所述单刀双掷开关S1的触点b与单刀双掷开关S2的触点b之间并联有毫欧表和阻值记录仪，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3的触点a均为常闭触点，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3相配合形成联通开关，所述第一电缸动力输出至推杆的一端，所述推杆的另一端压接至微型开关的按键，所述第二电缸动力输出至拉杆，所述拉杆连接至联动开关。作为优选，所述灯H1的一端并联有蜂鸣器H2。本技术具有以下的特点和有益效果：采用上述技术方案，在微型开关使用的过程中，微型开关的阻值会不断的变化，从而通过全场记录微型开关寿命测试中的触点阻值，从而便于对微型开关的质量变化进行分析，后期可及时改进产品的材料和加工过程中的工艺改革，并且提高了测试效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的电路原理图。图中，1-第一电缸、2-压杆、3-微型开关、4-阻值记录仪、5-毫欧表、6-第二电缸、7-拉杆。具体实施方式下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步说明。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本技术，但并不构成对本技术的限定。此外，下面所描述的本技术各个实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。本技术提供了一种微型开关质量寿命测试仪，包括第一电缸1、第二电缸6、推杆2、拉杆7、微型开关3、灯H1、单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3、毫欧表5、阻值记录仪4和电源，所述电源vcc的一端与单刀双掷开关S1的触点c相连接，所述单刀双掷开关S1的触点a与微型开关的触点a相连接，所述微型开关的触点b与灯H1的一端相连接，所述灯H1的另一端与单刀单掷开关S3的触点a相连接，单刀单掷开关S3的触点c与电源的另一端相连接，所述单刀双掷开关S2的触点a与微型开关的触点b相连接，所述单刀双掷开关S1的触点b与单刀双掷开关S2的触点b之间并联有毫欧表和阻值记录仪，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3的触点a均为常闭触点，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3相配合形成联通开关，所述第一电缸1动力输出至推杆2的一端，所述推杆2的另一端压接至微型开关3的按键，所述第二电缸6动力输出至拉杆7，所述拉杆7连接至联动开关。上述技术方案中的，第一步，微型开关3的按键在第一电缸1的作用下，微型开关3闭合，同时在第二电缸6的作用下，单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3的触点a均与触点c相联通，此时电路导通，灯H1发光；第二步，微型开关3的按键在第一电缸1的作用下，微型开关3断开，同时在第二电缸6的作用下，单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2的触点a均与触点b相联通，单刀单掷开关S3断开，此时断开电源，同时连接了毫欧表，从而通过毫欧表队微型开关的阻值进行测量，并通过阻值记录仪4对测量得到的阻值进行记录；完成以上动作后，不断重复第一步和第二步，直至完成寿命测量。进而可根据阻值记录仪记录的阻值变化，对其进行分析，在微型开关使用的过程中，微型开关的阻值会不断的变化，从而通过全场记录微型开关寿命测试中的触点阻值，从而便于对微型开关的质量变化进行分析，后期可及时改进产品的材料和加工过程中的工艺改革，并且提高了测试效率。进一步的，所述灯H1的一端并联有蜂鸣器H2。当灯H1发光时，蜂鸣器H2发出声音，当蜂鸣器H2不发出声音时，工作人员能够及时得知微型开关已经损坏。从而提高了检测的效率。以上结合附图对本技术的实施方式作了详细说明，但本技术不限于所描述的实施方式。对于本领域的技术人员而言，在不脱离本技术原理和精神的情况下，对这些实施方式包括部件进行多种变化、修改、替换和变型，仍落入本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微型开关质量寿命测试仪，其特征在于，包括第一电缸、第二电缸、推杆、拉杆、微型开关、灯H1、单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3、毫欧表、阻值记录仪和电源，所述电源的一端与单刀双掷开关S1的触点c相连接，所述单刀双掷开关S1的触点a与微型开关的触点a相连接，所述微型开关的触点b与灯H1的一端相连接，所述灯H1的另一端与单刀单掷开关S3的触点a相连接，单刀单掷开关S3的触点c与电源的另一端相连接，所述单刀双掷开关S2的触点a与微型开关的触点b相连接，所述单刀双掷开关S1的触点b与单刀双掷开关S2的触点b之间并联有毫欧表和阻值记录仪，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3的触点a均为常闭触点，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3相配合形成联通开关，所述第一电缸动力输出至推杆的一端，所述推杆的另一端压接至微型开关的按键，所述第二电缸动力输出至拉杆，所述拉杆连接至联动开关。/n

【技术特征摘要】
1.一种微型开关质量寿命测试仪，其特征在于，包括第一电缸、第二电缸、推杆、拉杆、微型开关、灯H1、单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S2、单刀单掷开关S3、毫欧表、阻值记录仪和电源，所述电源的一端与单刀双掷开关S1的触点c相连接，所述单刀双掷开关S1的触点a与微型开关的触点a相连接，所述微型开关的触点b与灯H1的一端相连接，所述灯H1的另一端与单刀单掷开关S3的触点a相连接，单刀单掷开关S3的触点c与电源的另一端相连接，所述单刀双掷开关S2的触点a与微型开关的触点b相连接，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：舒畅，程鹏，舒惠新，胡逸帆，马军兰，
申请(专利权)人：杭州富升电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33