LED支架缺陷检测及剔除设备制造技术

本发明专利技术提供一种LED支架缺陷检测及剔除设备。LED支架缺陷检测及剔除设备包括：机柜、限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置，缺陷检测装置包括：相机镜头和计算模块，相机镜头位于限位轨道的上方，相机镜头的拍摄方向朝向料带，以获取料带的图像，计算模块与相机镜头通信连接，计算模块用于判断料带是否存在缺陷颗粒；缺陷剔除装置包括：剔除模组和剔除驱动机构；限位轨道包括：进料口和出料口，料带通过进料口进入限位轨道并通过出料口离开限位轨道，剔除模组位于出料口远离进料口的一侧。本发明专利技术能够对料带进行缺陷检测，并对缺陷颗粒进行剔除，方便快捷，节省人力。

LED bracket defect detection and removal equipment

【技术实现步骤摘要】
LED支架缺陷检测及剔除设备
本专利技术涉及缺陷检测
，尤其涉及一种LED支架缺陷检测及剔除设备。
技术介绍
传统的LED支架检测多为人工用放大镜检测，若发现LED支架在注塑后缺陷颗粒还需要人工进行剔除。如此人工检测不但效率底，而且人眼容易疲劳，误检和漏检率较高，且LED支架缺陷颗粒及其微小，长期进行人工检测，会人眼受到损伤；同时，人工剔除的方法费时费力，不利于LED支架的生产制造。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供的LED支架缺陷检测及剔除设备，能够对料带进行缺陷检测，并对缺陷颗粒进行剔除，方便快捷，节省人力。本专利技术提供一种LED支架缺陷检测及剔除设备，包括：机柜、限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置，所述限位轨道用于限定料带在所述LED支架缺陷检测及剔除设备的传送方向，所述机柜用于支撑所述限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置；所述缺陷检测装置包括：相机镜头和计算模块，所述相机镜头位于所述限位轨道的上方，所述相机镜头的拍摄方向朝向料带，以获取料带的图像，所述计算模块与所述相机镜头通信连接，所述计算模块用于根据通过相机镜头获取到的图像判断料带是否存在缺陷颗粒；所述缺陷剔除装置包括：剔除模组和用于驱动所述剔除模组移动的剔除驱动机构；所述限位轨道包括：进料口和出料口，所述料带通过进料口进入所述限位轨道并通过出料口离开所述限位轨道，所述剔除模组位于所述出料口远离所述进料口的一侧；在所述计算模块确定料带存在缺陷颗粒，且缺陷颗粒移动至所述缺陷剔除装置的情况下，所述计算模块控制剔除驱动机构通过移动所述剔除模组，以使所述剔除模组将料带上的缺陷颗粒进行剔除。可选地，所述剔除模组包括：凸模和凹模；所述凸模朝向所述凹模的一端固定设置有冲压头，所述凹模朝向所述冲压头的一端开设有冲压口，所述冲压口与所述冲压头适配；在料带上的缺陷颗粒移动至所述凸模和所述凹模之间的情况下，所述剔除驱动机构带动所述冲压头通过所述冲压口与所述凹模插接，以将料带上的缺陷颗粒剔除。可选地，所述剔除驱动机构包括：用于带动所述凸模上下移动的冲压组件、用于带动所述凸模和所述凹模左右移动的平移组件，以及用于将所述冲压组件和所述平移组件固定在所述机柜内的支撑架；在缺陷颗粒移动至所述凸模和所述凹模之间的情况下，所述平移组件带动所述凸模和所述凹模水平移动，以使缺陷颗粒位于所述冲压头和所述冲压口之间，所述冲压组件带动所述冲压头通过所述冲压口与所述凹模插接，以将缺陷颗粒剔除出料带。可选地，所述剔除驱动机构还包括：用于带动所述凹模上下移动的顶升组件；在需要对料带进行剔除的情况下，所述顶升组件带动所述凹模向上移动，以使所述凹模与所述料带相抵触。可选地，所述缺陷检测装置还包括：用于驱动所述相机镜头移动的取像驱动机构；所述取像驱动机构包括：与相机镜头固定连接的取像支座、用于带动所述取像支座上下移动的升降驱动组件、取像滑轨、与所述取像滑轨滑移连接的取像滑块；所述升降驱动组件与所述机柜固定连接，所述取像滑轨固定设置于所述升降驱动组件的一侧，所述取像滑块与所述相机镜头固定连接，所述取像滑块相对所述取像滑轨的移动方向与所述升降驱动组件带动所述取像支座移动的方向相同。可选地，所述缺陷检测装置还包括：光源、第一支架、第二支架和固定设置于所述机柜内的第三支架；所述光源位于所述限位轨道的上方，所述光源与所述第一支架固定连接，所述第一支架沿左右方向与所述第二支架滑移连接，所述第二支架沿上下方向与是第三支架滑移连接。可选地，所述LED支架缺陷检测及剔除设备还包括：压紧机构；所述压紧机构包括：压紧滚轮、与所述压紧滚轮转动连接的升降支架、用于带动所述升降支架沿上下方向移动的压紧驱动件、位于所述限位轨道下方的支撑板，以及用于支撑所述压紧驱动件的压紧支架；所述支撑板水平放置，所述压紧滚轮位于所述限位轨道的正上方，且所述压紧滚轮的转轴水平放置并与所述压紧滚轮下方的料带的传送方向垂直。可选地，所述LED支架缺陷检测及剔除设备还包括：上料机构；所述上料机构包括：主动滚轮、从动滚轮、用于支撑所述主动滚轮和所述从动滚轮的上料支架，以及用于带动所述主动滚轮和所述从动滚轮转动的上料驱动组件；所述主动滚轮和所述从动滚轮的正上方均设置有惰性滚轮，所述惰性滚轮与所述上料支架可拆卸转动连接，所述惰性滚轮的转轴与所述从动滚轮的转轴平行，所述从动滚轮的转轴与所述主动滚轮的转轴平行，所述惰性滚轮用于通过所述主动滚轮和所述从动滚轮下压料带。可选地，所述压紧机构位于所述进料口的上方，所述缺陷检测装置位于所述压紧机构和所述缺陷剔除装置之间，所述上料机构位于所述缺陷剔除装置远离所述缺陷检测机构的一侧。可选地，所述压紧机构远离所述缺陷检测装置的一侧和所述上料机构远离所述缺陷检测装置的一侧均固定设置有缓冲轨道，所述缓冲轨道向远离所述缺陷检测装置的方向且向下弯曲。本专利技术实施例提供的LED支架缺陷检测及剔除设备，其中，缺陷检测装置能够获得料带的图像，并将料带的图像传送至计算模块，在所述计算模块确定料带存在缺陷颗粒，且缺陷颗粒移动至所述缺陷剔除装置的情况下，计算模块能够控制剔除驱动机构通过移动所述剔除模组，将料带上的缺陷颗粒进行剔除，方便快捷，节省人力。附图说明图1为本申请一实施例的LED支架缺陷检测及剔除设备去除机柜中的部分侧壁的结构图；图2为本申请一实施例的压紧机构的结构图；图3为本申请一实施例的缺陷检测装置的结构图；图4为本申请一实施例的缺陷剔除装置的结构图；图5为本申请一实施例的缓冲机构的结构图；图6为本申请一实施例的剔除模组在工作状态下的局部剖视图；图7为本申请一实施例的为体现提升杆工作原理的局部剖视图；图8为本申请一实施例的上料机构的结构图；图9为本申请一实施例的LED支架缺陷检测及剔除设备的结构图。附图标记1、机柜；11、显示器；12、声光报警装置；13、控制按钮；14、鼠标键盘操作模块；2、限位轨道；21、进料口；22、出料口；3、缺陷检测装置；31、相机镜头；32、取像驱动机构；321、取像支座；322、升降驱动组件；323、取像滑轨；324、取像滑块；325、光源；326、第一支架；327、第二支架；328、第三支架；4、缺陷剔除装置；41、剔除模组；411、凸模；4111、冲压头；412、凹模；4121、冲压口；42、剔除驱动机构；421、冲压组件；4211、冲压支架；4212、冲压驱动件；422、平移组件；4221、平移上支架；4222、平移单元；42221、平移支座；42222、平移丝杠；42223、平移驱动件；4223、平移下支架；4224、平移滑轨；4225、平移滑块；423、顶升组件；4231、顶升支架；4232、顶升驱动件；4233、顶升滑块；4234、顶升滑轨；424、剔除支架；425、固定板；5、废料收集箱；51、出料管；6本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，包括：机柜、限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置，所述限位轨道用于限定料带在所述LED支架缺陷检测及剔除设备的传送方向，所述机柜用于支撑所述限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置；/n所述缺陷检测装置包括：相机镜头和计算模块，所述相机镜头位于所述限位轨道的上方，所述相机镜头的拍摄方向朝向料带，以获取料带的图像，所述计算模块与所述相机镜头通信连接，所述计算模块用于根据通过相机镜头获取到的图像判断料带是否存在缺陷颗粒；/n所述缺陷剔除装置包括：剔除模组和用于驱动所述剔除模组移动的剔除驱动机构；/n所述限位轨道包括：进料口和出料口，所述料带通过进料口进入所述限位轨道并通过出料口离开所述限位轨道，所述剔除模组位于所述出料口远离所述进料口的一侧；/n在所述计算模块确定料带存在缺陷颗粒，且缺陷颗粒移动至所述缺陷剔除装置的情况下，所述计算模块控制剔除驱动机构通过移动所述剔除模组，以使所述剔除模组将料带上的缺陷颗粒进行剔除。/n

【技术特征摘要】
1.一种LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，包括：机柜、限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置，所述限位轨道用于限定料带在所述LED支架缺陷检测及剔除设备的传送方向，所述机柜用于支撑所述限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置；
所述缺陷检测装置包括：相机镜头和计算模块，所述相机镜头位于所述限位轨道的上方，所述相机镜头的拍摄方向朝向料带，以获取料带的图像，所述计算模块与所述相机镜头通信连接，所述计算模块用于根据通过相机镜头获取到的图像判断料带是否存在缺陷颗粒；
所述缺陷剔除装置包括：剔除模组和用于驱动所述剔除模组移动的剔除驱动机构；
所述限位轨道包括：进料口和出料口，所述料带通过进料口进入所述限位轨道并通过出料口离开所述限位轨道，所述剔除模组位于所述出料口远离所述进料口的一侧；
在所述计算模块确定料带存在缺陷颗粒，且缺陷颗粒移动至所述缺陷剔除装置的情况下，所述计算模块控制剔除驱动机构通过移动所述剔除模组，以使所述剔除模组将料带上的缺陷颗粒进行剔除。


2.根据权利要求1所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述剔除模组包括：凸模和凹模；
所述凸模朝向所述凹模的一端固定设置有冲压头，所述凹模朝向所述冲压头的一端开设有冲压口，所述冲压口与所述冲压头适配；
在料带上的缺陷颗粒移动至所述凸模和所述凹模之间的情况下，所述剔除驱动机构带动所述冲压头通过所述冲压口与所述凹模插接，以将料带上的缺陷颗粒剔除。


3.根据权利要求2所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述剔除驱动机构包括：用于带动所述凸模上下移动的冲压组件、用于带动所述凸模和所述凹模左右移动的平移组件，以及用于将所述冲压组件和所述平移组件固定在所述机柜内的支撑架；
在缺陷颗粒移动至所述凸模和所述凹模之间的情况下，所述平移组件带动所述凸模和所述凹模水平移动，以使缺陷颗粒位于所述冲压头和所述冲压口之间，所述冲压组件带动所述冲压头通过所述冲压口与所述凹模插接，以将缺陷颗粒剔除出料带。


4.根据权利要求3所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述剔除驱动机构还包括：用于带动所述凹模上下移动的顶升组件；
在需要对料带进行剔除的情况下，所述顶升组件带动所述凹模向上移动，以使所述凹模与所述料带相抵触。


5.根据权利要求1所述的LED支架缺陷检测及剔除设备，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括：用于驱动所述相机镜头移动的取像驱动机构；
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【专利技术属性】
技术研发人员：薛春花，陈润康，钟建平，林淼，张春平，刘志永，陈志列，
申请(专利权)人：研祥智能科技股份有限公司，研祥智慧物联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44