【技术实现步骤摘要】
半导体器件和形成用于半导体器件的图案的方法
本公开总体上涉及半导体器件,更具体地,涉及一种包括多个图案的半导体器件以及形成用于半导体器件的图案的方法。
技术介绍
为了改进半导体器件的集成度,用于半导体器件的图案可以高密度形成。可使用间隔物构图技术(SPT)来以高密度形成用于半导体器件的图案。当使用SPT时,缺少能够改进线的复杂度的技术。
技术实现思路
根据本公开的一方面,提供了一种形成用于半导体器件的图案的方法。该方法包括在目标层上形成彼此间隔开的多个间隔物。这些间隔物包括:第一间隔物,其在第一方向上延伸;第二间隔物,其包括平行于第一间隔物并在第一方向上彼此间隔开的多个第一线部分以及连接到第一线部分并从第一线部分在第二方向上突出的第一弯曲部分;以及第三间隔物,其围绕多个第一线部分之间的封闭区域的外周。该方法还包括蚀刻目标层的通过所述间隔物开放(open)的部分。根据本公开的另一方面,提供了一种半导体器件,该半导体器件包括第一导电图案,该第一导电图案包括在第一方向上延伸的第一线部分以及从第一线部分延伸的第一弯曲部分。在第一线部分的一侧限定由第一线部分和第一弯曲部分围绕的封闭区域。该半导体器件还包括设置在封闭区域中的第二导电图案,该第二导电图案与第一导电图案间隔开。附图说明图1A和图1B是分别示出根据本公开的实施方式的用于半导体器件的图案的平面图和截面图。图2是示出根据本公开的实施方式的半导体器件的框图。图3A至图3C示出根据本公开的实施方式的存储器单元 ...
【技术保护点】
1.一种形成用于半导体器件的图案的方法,该方法包括以下步骤:/n在目标层上形成彼此间隔开的多个间隔物,其中,多个所述间隔物包括:/n第一间隔物,该第一间隔物在第一方向上延伸;/n第二间隔物,该第二间隔物包括平行于所述第一间隔物并在所述第一方向上彼此间隔开的多个第一线部分以及连接到所述第一线部分并在第二方向上从所述第一线部分突出的第一弯曲部分;以及/n第三间隔物,该第三间隔物围绕多个所述第一线部分之间的封闭区域的外周;以及/n蚀刻所述目标层的通过所述间隔物开放的部分。/n
【技术特征摘要】
20181102 KR 10-2018-01333341.一种形成用于半导体器件的图案的方法,该方法包括以下步骤:
在目标层上形成彼此间隔开的多个间隔物,其中,多个所述间隔物包括:
第一间隔物,该第一间隔物在第一方向上延伸;
第二间隔物,该第二间隔物包括平行于所述第一间隔物并在所述第一方向上彼此间隔开的多个第一线部分以及连接到所述第一线部分并在第二方向上从所述第一线部分突出的第一弯曲部分;以及
第三间隔物,该第三间隔物围绕多个所述第一线部分之间的封闭区域的外周;以及
蚀刻所述目标层的通过所述间隔物开放的部分。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述目标层包括绝缘层以及在所述绝缘层上的掩模层,
其中,蚀刻所述目标层的部分的步骤包括以下步骤:
通过蚀刻所述掩模层的通过所述间隔物开放的部分来形成掩模图案;以及
蚀刻所述绝缘层的通过所述掩模图案开放的部分。
3.根据权利要求2所述的方法,该方法还包括利用导电图案填充所述绝缘层的蚀刻的区域。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,形成间隔物的步骤包括以下步骤:
在所述目标层上形成多个辅助图案;
在多个所述辅助图案的侧壁上形成多个所述间隔物;以及
去除多个所述间隔物之间的多个所述辅助图案。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,多个所述辅助图案包括第一辅助图案以及在所述第二方向上与所述第一辅助图案间隔开的第二辅助图案,
其中,第一沟槽设置在所述第一辅助图案和所述第二辅助图案之间,
其中,所述第一沟槽包括在所述第一方向上延伸并在所述第一方向上彼此间隔开的多个第一部分以及从所述第一部分在所述第二方向上突出并且弯曲的第二部分,
其中,多个所述辅助图案被形成为使得所述第一辅助图案围绕设置在所述第一沟槽的多个所述第一部分之间的框区域,并且所述第二辅助图案由在所述第一方向上彼此间隔开的多个第二沟槽穿透,所述第一沟槽的所述第二部分插置在多个所述第二沟槽之间。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,多个所述辅助图案还包括第三辅助图案和第四辅助图案,
其中,多个所述辅助图案被形成为使得所述第一辅助图案在所述第二方向上与所述第三辅助图案间隔开,所述第四辅助图案在所述第二方向上与所述第二辅助图案间隔开,在所述第一方向上延伸的第三沟槽设置在所述第一辅助图案和所述第三辅助图案之间,并且在所述第一方向上延伸的第四沟槽设置在所述第二辅助图案和所述第四辅助图案之间。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,在去除多个所述辅助图案之前,
在所述第一辅助图案的面向所述第三沟槽的第一侧壁上形成所述第一间隔物,
在所述第一辅助图案的面向所述第一沟槽的第二侧壁上形成所述第二间隔物,并且
在所述框区域的侧壁上形成所述第三间隔物。
8.根据权利要求6所述的方法,其中,形成间隔物的步骤还包括在所述第二辅助...
【专利技术属性】
技术研发人员:严大成,
申请(专利权)人:爱思开海力士有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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