一种LCM跌落测试治具及方法技术

本发明专利技术公开了一种LCM跌落测试治具及方法，其中，LCM跌落测试治具包括：治具本体，所述治具本体上开设有用于收容模组FPC及座子的第一收容槽，所述第一收容槽连通有用于收容LCM元器件的第二收容槽，所述第二收容槽连通有用于收容背光源的第三收容槽，所述第三收容槽连通有用于收容LCM玻璃的第四收容槽。本发明专利技术所提供的LCM跌落测试治具可收容LCM，模拟LCM组装在手机内的状态，以此来进行跌落测试，使整机厂商可直接使用测试好的LCM，提高了手机的开发效率；而且相对于将LCM组装至手机而言，将LCM相对固定在LCM跌落测试治具所花费的时间较短，缩短了LCM的测试时间，提高了测试效率。

LCM drop test fixture and method

【技术实现步骤摘要】
一种LCM跌落测试治具及方法
本专利技术涉及背光
，尤其涉及的是一种LCM跌落测试治具及方法。
技术介绍
背光源(BackLight)是位于液晶显示器(LCD)背后的一种光源，它的发光效果将直接影响到液晶显示模块(LCM)的视觉效果。背光源广泛应用于触摸屏、背光源、LCD/LCM、手机、平板电脑、GPS及太阳能电池等行业；主要由光源、导光板、光学用模片及结构件组成；其中，光源主要有EL、CCFL及LED三种背光源类型；导光板分为印刷、化学蚀刻(Etching)、精密机械刻画法(V-cut)、光微影(Stamper)、内部扩散、热压；光学用模片：增光膜/片、扩散膜/片、反射片、黑/白胶；结构件有：背板(铁背板、铝背板、塑胶背板、不锈钢背板)、胶框、灯管架、铝型材、铝基条，其中背板和胶框为必用件，其它的结构件并非完全使用。LCM(LCDModule)即LCD显示模组、液晶模块，是指将液晶显示器件、连接件、控制与驱动等外围电路、PCB电路板、背光源及结构件等装配在一起的组件。如图1所示，LCM通常包括：座子10、模组FPC20、背光源30、LCM元器件40及LCM玻璃50。近年来随着产品要求越来越高，向高屏占比发展以大屏幕异形为主流，屏幕边框越来越窄，下border宽度越来越小，对产品结构性能提出更高的要求，以往LCM由整机厂组装手机后做跌落测试，验证出来有问题再反馈给模组厂进行改善，整个过程需要近一个月的时间；如果产品有问题改善验证又需要花一个月时间，对产品开发进度有影响，效率较低。可见，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种LCM跌落测试治具及方法，旨在改善现有LCM由整机厂组装手机后做跌落测试，手机开发效率较低的问题。本专利技术的技术方案如下：一种LCM跌落测试治具，其包括治具本体，所述治具本体上开设有用于收容模组FPC及座子的第一收容槽，所述第一收容槽连通有用于收容LCM元器件的第二收容槽，所述第二收容槽连通有用于收容背光源的第三收容槽，所述第三收容槽连通有用于收容LCM玻璃的第四收容槽。在进一步地优选方案中，所述第一收容槽开设于所述治具本体的第一侧面，所述第二收容槽、第三收容槽及第四收容槽皆开设于所述治具本体的第二侧面。在进一步地优选方案中，所述治具本体还在所述第一侧面与第二侧面之间开设有穿透孔，所述第一收容槽与第二收容槽通过所述穿透孔相连通。在进一步地优选方案中，所述穿透孔面向所述第一收容槽一端设置有第一倾斜面，所述第一倾斜面由穿透孔向第一收容槽倾斜。在进一步地优选方案中，所述穿透孔面向所述第二收容槽一端设置有第二倾斜面，所述第二倾斜面与所述第一倾斜面相平行。在进一步地优选方案中，所述第一收容槽的高度大于等于模组FPC的厚度与座子的厚度之和。在进一步地优选方案中，所述第二收容槽的高度与所述LCM元器件的厚度相同。在进一步地优选方案中，所述第三收容槽的高度与所述背光源的厚度相同。在进一步地优选方案中，所述第四收容槽的高度大于等于LCM玻璃的厚度。一种LCM背光源跌落测试方法，其基于如上所述的LCM跌落测试治具实现，包括步骤：将LCM相对固定于LCM跌落测试治具，使模组FPC及座子收容于第一收容槽，LCM元器件收容于第二收容槽，背光源收容于第三收容槽，LCM玻璃收容于第四收容槽；将所述LCM跌落测试治具以预设姿态放置在跌落测试机的指定位置，并根据预先配置的要求调整LCM跌落测试治具的高度；松持所述LCM跌落测试治具，获取并分析所述LCM的测试数据，以完成LCM的跌落测试。与现有技术相比，本专利技术提供的LCM跌落测试治具，包括：治具本体，所述治具本体上开设有用于收容模组FPC及座子的第一收容槽，所述第一收容槽连通有用于收容LCM元器件的第二收容槽，所述第二收容槽连通有用于收容背光源的第三收容槽，所述第三收容槽连通有用于收容LCM玻璃的第四收容槽。本专利技术所提供的LCM跌落测试治具可收容LCM，模拟LCM组装在手机内的状态，以此来进行跌落测试，使整机厂商可直接使用测试好的LCM，提高了手机的开发效率；而且相对于将LCM组装至手机而言，将LCM相对固定在LCM跌落测试治具所花费的时间较短，缩短了LCM的测试时间，提高了测试效率。附图说明图1是现有技术中背光源的结构示意图。图2是本专利技术中LCM跌落测试治具第一视角的结构示意图。图3是本专利技术中LCM跌落测试治具第二视角的结构示意图。图4是本专利技术中LCM跌落测试治具的剖面图。图5是图4中局部A的放大图。图6是本专利技术所用LCM跌落测试治具与LCM第一视角的装配图。图7是本专利技术所用LCM跌落测试治具与LCM第二视角的装配图。具体实施方式本专利技术提供一种LCM跌落测试治具及方法，为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。若LCM由手机厂商进行跌落测试，则需要手机厂商在完成所有的零部件准备后，方能进行；且若跌落测试结果不符合要求，则需要手机厂商与LCM厂商沟通，重新修改设计；整个过程是极为浪费时间的，主要体现在：一则手机厂商通常无法在接收到LCM之后立即进行跌落测试，较为耽误时间；二则进行整机的组装，花费的时间相对较长；三则手机厂商与LCM厂商沟通，也需要花费一定的时间。因此，若能解决上述问题中的至少一个，则LCM的跌落测试效率与手机的开发效率都能得到一定的提高。基于上述思路，本专利技术提供了一种LCM跌落测试治具，包括治具本体100(如图2、图3、图4、图5、图6及图7所示)，所述治具本体100开设有第一收容槽600(如图3、图4及图5所示)、第二收容槽200、第三收容槽300及第四收容槽400，所述第一收容槽600、第二收容槽200(如图2、图4及图5所示)、第三收容槽300及第四收容槽400依次连通。所述第一收容槽600用于收容模组FPC及座子，所述第二收容槽200用于收容LCM元器件，所述第三收容槽300用于收容背光源，所述第四收容槽400用于收容LCM玻璃。本专利技术所提供的LCM跌落测试治具使用极为方便，只需将LCM放置于LCM跌落测试治具内即可(需要保证各个槽体足以容纳其所对应的部件，并保证其所容纳的部件能够稳定卡持在槽体内；当然，也可以通过卡持件卡持槽体所收容的部件)，如图6及图7所示；使模组FPC及座子收容于第一收容槽600，LCM元器件收容于第二收容槽200，背光源收容于第三收容槽300，LCM玻璃收容于第四收容槽400。由此，本专利技术所提供的LCM跌落测试治具可收容LCM，模拟LCM组装在手机内的状态，以此来进行跌落测试，使整机厂商可直接使用测试好的LCM，提高了手机的开发效率；而且相对于将LCM组装至手机而言，将LCM相对固定在LCM跌落测试治具所花费本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LCM跌落测试治具，其特征在于，包括治具本体，所述治具本体上开设有用于收容模组FPC及座子的第一收容槽，所述第一收容槽连通有用于收容LCM元器件的第二收容槽，所述第二收容槽连通有用于收容背光源的第三收容槽，所述第三收容槽连通有用于收容LCM玻璃的第四收容槽。/n

【技术特征摘要】
1.一种LCM跌落测试治具，其特征在于，包括治具本体，所述治具本体上开设有用于收容模组FPC及座子的第一收容槽，所述第一收容槽连通有用于收容LCM元器件的第二收容槽，所述第二收容槽连通有用于收容背光源的第三收容槽，所述第三收容槽连通有用于收容LCM玻璃的第四收容槽。


2.根据权利要求1所述的LCM跌落测试治具，其特征在于，所述第一收容槽开设于所述治具本体的第一侧面，所述第二收容槽、第三收容槽及第四收容槽皆开设于所述治具本体的第二侧面。


3.根据权利要求2所述的LCM跌落测试治具，其特征在于，所述治具本体还在所述第一侧面与第二侧面之间开设有穿透孔，所述第一收容槽与第二收容槽通过所述穿透孔相连通。


4.根据权利要求3所述的LCM跌落测试治具，其特征在于，所述穿透孔面向所述第一收容槽一端设置有第一倾斜面，所述第一倾斜面由穿透孔向第一收容槽倾斜。


5.根据权利要求4所述的LCM跌落测试治具，其特征在于，所述穿透孔面向所述第二收容槽一端设置有第二倾斜面，所述第二倾斜面与所述第一倾斜面相平行。


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【专利技术属性】
技术研发人员：徐贤强，饶巍巍，姜发明，
申请(专利权)人：深圳市南极光电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44