芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质制造方法及图纸

本公开涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。涉及芯片测试领域，该方法包括：确定待测试的芯片的语言规则；确定待测试的芯片的产品及时序规格；根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。本公开涉及的芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质，能够自动生成大数据复杂存储器测试编码，采用正规化方式快速地产生不同规格的DDR4存储器测试编码，提升芯片产品验证分析效率。

Chip test methods, devices, electronic equipment and computer readable media

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质
本公开涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。
技术介绍
随着当前存储技术的快速发展和存储市场的高速扩大，存储器芯片以其容量大、读写速度快、价格低廉等绝对优势迅速崛起，同时，为了保证存储器能长期可靠的工作，存储器产品出厂前需要做各种高速、细致的测试。在相关技术中，对于存储器产品的测试，大部分工作需要测试人员手工完成，测试人员需要先确认待测试存储器的对应型号、速度，然后选择适合与该储存器型号的测试项目。在确定了测试项目之后，测试人员还需要手动编写测试代码，对于每一个测试指令，都要依次编写代码，然后通过编写完成的代码进行存储器测试。这种通过手工编写代码进行芯片测试的方式，极大的浪费了人力物力，降低了存储器测试的效率。而且，随着时代的发展，越来越多的快速大容量的存储器问世，对于存储器的测试代码的复杂度和编码数量的需求也越来越高，而对于大数据的测试代码，继续通过人工编写逐行生成编码的方式，也已经制约了存储器测试行业的发展。因此，需要一种新的芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
有鉴于此，本公开提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质，能够自动生成大数据复杂存储器测试编码，提高芯片测试效率。本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。根据本公开的一方面，提出一种芯片测试方法，该方法包括：确定待测试的芯片的语言规则；确定待测试的芯片的产品及时序规格；根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：通过多个测试模板生成所述测试模板库；所述多个测试模板包括：快速读操作测试模板，快速写操作测试模板，快速读写操作测试模板、自更新测试模板、更新测试模板、ZQ校准测试模板、模式寄存器设置测试模板、以及掉电预充电测试模板。在本公开的一种示例性实施例中，所述芯片包括：存储器芯片。在本公开的一种示例性实施例中，所述存储器芯片是DDR4芯片。在本公开的一种示例性实施例中，根据待测试芯片的规范文档确定待测试的芯片的语言规则在本公开的一种示例性实施例中，确定待测试的芯片的产品规则包括：确定待测试芯片的存储器单元地址、存储器行地址、存储器列地址、以及存储器页面大小。在本公开的一种示例性实施例中，确定待测试的芯片的时序规格包括：确定待测试的存储器的型号识别标识、产品标识、以及参数。在本公开的一种示例性实施例中，根据所述语言规则与所述产品及时序规则由测试模板库中确定待测试模板包括：根据所述产品及时序规则确定待测试芯片的资料库；以及根据所述语言规则与所述资料库由测试模板库中随机确定待测试模板。在本公开的一种示例性实施例中，根据所述产品及时序规则确定待测试芯片的资料库；以及根据所述语言规则与所述资料库由测试模板库中指定待测试模板。在本公开的一种示例性实施例中，根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码包括：通过所述产品及时序规则在所述待测试模板中插入时序以生成测试编码。在本公开的一种示例性实施例中，通过所述产品及时序规则在所述待测试模板中插入时序以生成测试编码包括：通过所述产品及时序规则对所述待测试模板中的时序进行插入；将插入之后的时序通过高速测试机台进行转换以生成所述测试编码。根据本公开的一方面，提出一种芯片测试装置，该装置包括：参数读取接口，用于确定待测试的芯片的语言规则；确定待测试的芯片的产品及时序规格；编码生成模块，用于根据所述语言规则与所述产品及时序规则由测试模板库中确定待测试模板；根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及高速测试机台，用于通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：测试模板库模块，用于通过多个测试模板生成所述测试模板库；其中，所述多个测试模板包括：快速读操作测试模板，快速写操作测试模板，快速读写操作测试模板、自更新测试模板、更新测试模板、ZQ校准测试模板、模式寄存器设置测试模板、以及掉电预充电测试模板。在本公开的一种示例性实施例中，编码生成模块包括：筛选模块，用于根据所述语言规则与资料库由测试模板库模块中随机确定待测试模板。根据本公开的一方面，提出一种芯片测试装置，该装置包括：信息模块，用于获取待检测芯片的相关信息；模板生成器，用于根据信息模块与资料库中的信息，由模板库中随机筛选出待测试的目标模板；格式转换模块，用于通过所述产品及时序规则对所述待测试模板中的时序进行插入；将插入之后的时序通过高速测试机台进行转换以生成所述测试编码；测试模块，用于生成自动化测试代码。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：模板库，用于储存多个测试模板；模板样式模块，用于储存待测试的目标模板。根据本公开的一方面，提出一种电子设备，该电子设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序；当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现如上文的方法。根据本公开的一方面，提出一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上文中的方法。根据本公开的芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质，特别针对DDR4存储器测试建构一套弹性化架构，根据产品规格内容自动化产生DDR4存储器测试编码，能够自动生成大数据复杂存储器测试编码，提升芯片产品验证分析效率。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。附图说明通过参照附图详细描述其示例实施例，本公开的上述和其它目标、特征及优点将变得更加显而易见。下面描述的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是根据一示例性实施例示出的一种芯片测试方法的流程图。图2是根据一示例性实施例示出的一种芯片测试方法的示意图。图3是根据一示例性实施例示出的一种芯片测试装置的框图。图4是根据另一示例性实施例示出的一种芯片测试装置的框图。图5是根据一示例性实施例示出的一种芯片测试装置的示意图。图6是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本公开将全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：/n确定待测试的芯片的语言规则；/n确定待测试的芯片的产品及时序规格；/n根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；/n根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及/n通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
确定待测试的芯片的语言规则；
确定待测试的芯片的产品及时序规格；
根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；
根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及
通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。


2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：
通过多个测试模板生成所述测试模板库；
所述多个测试模板包括：快速读操作测试模板，快速写操作测试模板，快速读写操作测试模板、自更新测试模板、更新测试模板、ZQ校准测试模板、模式寄存器设置测试模板、以及掉电预充电测试模板。


3.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片包括：
存储器芯片。


4.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述存储器芯片是DDR4芯片。


5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，确定待测试的芯片的语言规则包括：
根据待测试芯片的规范文档确定待测试的芯片的语言规则。


6.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，确定待测试的芯片的产品及时序规格包括：
确定待测试芯片的存储器单元地址、存储器行地址、存储器列地址、以及存储器页面大小；
确定待测试芯片的型号识别标识、产品标识、以及参数。


7.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，根据所述语言规则与所述产品及时序规则由测试模板库中确定待测试模板包括：
根据所述产品及时序规则确定待测试芯片的资料库；以及
根据所述语言规则与所述资料库由测试模板库中随机确定待测试模板。


8.如根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，根据所述语言规则与所述产品及时序规则由测试模板库中确定待测试模板包括：
根据所述产品及时序规则确定待测试芯片的资料库；以及
根据所述语言规则与所述资料库由测试模板库中指定待测试模板。


9.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码包括：
根据所述产品及时序规则在所述待测试模板中插入时序以生成测试编码。


10.根据权利要求9所述的芯片测试方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34