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一种光纤微弱信号测试仪制造技术

技术编号:23912088 阅读:40 留言:0更新日期:2020-04-22 20:09
本实用新型专利技术公开了一种光纤微弱信号测试仪,包括外壳、光源接口:用于对接不同接口的光纤、控制模块、显示屏、供电模块;本实用新型专利技术的有益效果在于,本实用新型专利技术的测试仪增加了运算放大器,能够对光源接口输入的光信号进行放大,从而提高了对微弱光信号的识别能力,提高整个测试仪的适用范围;本实用新型专利技术的测试仪在顶部设置四种不同类型的光源接口,避免现有测试仪需要增加转换接头来适应不同类型的光源接口的问题,即使转换接头丢失也能够使用;本实用新型专利技术的测试仪采用光分路器和光开关,能够通过控制模块对光信号的走向进行开合和控制,能够有针对性的对光纤的功率和波长进行测试,使得该测试仪具有一机多用的功能。

An optical fiber weak signal tester

【技术实现步骤摘要】
一种光纤微弱信号测试仪
本技术涉及网络通信
,具体涉及一种光纤微弱信号测试仪。
技术介绍
目前,随着网络通信的快速发展,利用光纤通信技术进行通信的大为普遍,但是对于光纤通信的监测尤为重要,目前的光纤测量中,主要是要测量光纤的损耗和断点。与传统的电气通信相比,光纤通信技术具有成本低、抗电磁干扰、精度和灵敏度高、光纤传输损耗极低,传输距离远等突出优点,能够使得长达数十年的工程结构连续网络通信成为可能;但如何有效地保证对光纤通信系统的可靠性、稳定性进行监测,一直以来是一个有待解决的术难题。现有的光纤测试仪通过光源接口与不同类型的光纤接口连接,对光纤中的光信号进行功率、波长等参数的测试,从而确定光纤性能的优劣。但是现有的光纤测试仪只带有一个光源接口,需要使用换转接头才能与不同类型的光纤接口连接,此外,现有的光纤测试仪往往只具有单一功能,为了测试不同的光纤参数,需要使用多台机器进行测试,最后,现有的光纤测试仪无法对微弱的光线信号进行识别,因此容易造成对光纤参数的测试不足。
技术实现思路
1.需要解决的技术问题本技术解决的技术问题在于,克服现有技术中对微弱的光线光信号识别能力不足,以及一旦转换接头丢失容易造成部分光纤接口无法连接的情况,同时对光纤不同参数的测试需要采用不同的设备的问题。2.技术方案为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种光纤微弱信号测试仪,包括:外壳:用于保护测试仪的用电设备;光源接口:用于对接不同接口的光纤;控制模块:用于接收光纤的测试数据,并对光纤的测试数据进行计算;显示屏:用于接收并显示所述控制模块的计算结果;供电模块:用于为所述控制模块供电。所述外壳为壳体结构;若干所述光源接口安装在所述外壳顶面,所述显示屏安装在所述外壳前面,所述控制模块安装在所述外壳内,且与所述光源接口和显示屏电性连接;所述供电模块为所述控制模块供电。上述的光纤微弱信号测试仪,其中,所述光源接口包括SC接口、ST接口、FC接口和LC接口。上述的光纤微弱信号测试仪,其中,所述控制模块包括光分路器、功率检测模块、波长检测模块、处理芯片和贴片按钮;所述光分路器输入端与所述光源接口输出端连接,输出端接所述功率检测模块和波长检测模块输入端;所述功率检测模块和波长检测模块输出端分别接所述处理芯片;所述处理芯片输出端接所述显示屏,若干所述贴片按钮焊接在所述处理芯片上。上述的光纤微弱信号测试仪,其中,还包括光开关;所述光开关输入端接所述光分路器输出端,所述光开关输出端接所述功率检测模块和波长检测模块。上述的光纤微弱信号测试仪,其中,所述处理芯片为FPGA芯片,且型号为EP2C25Q240C8。上述的光纤微弱信号测试仪,其中,所述功率检测模块为功率光电探测器,且采用均值功率检测法;所述波长检测模块为波长光电探测器。上述的光纤微弱信号测试仪,其中,还包括运算放大器;所述运算放大器连接在所述光分路器和光开关之间。上述的光纤微弱信号测试仪,其中,还包括防水罩;所述防水罩为“冂”形结构,一端与所述外壳顶面边线铰接以保护若干所述光源接口。上述的光纤微弱信号测试仪,其中,所述外壳外包覆有硅胶保护套,所述防水罩由透明防水材料制成。3.有益效果综上所述,本技术的有益效果在于:(1)本技术的测试仪增加了运算放大器,能够对光源接口输入的光信号进行放大,从而提高了对微弱光信号的识别能力,提高整个测试仪的适用范围;(2)本技术的测试仪在顶部设置四种不同类型的光源接口,避免现有测试仪需要增加转换接头来适应不同类型的光源接口的问题,即使转换接头丢失也能够使用;(3)本技术的测试仪采用光分路器和光开关,能够通过控制模块对光信号的走向进行开合和控制,能够有针对性的对光纤的功率和波长进行测试,使得该测试仪具有一机多用的功能。附图说明图1为本技术一种光纤微弱信号测试仪的结构示意图;图2为本技术一种光纤微弱信号测试仪的电源原理图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。请参见附图1及附图2所示,本技术提供一种技术方案:一种光纤微弱信号测试仪,包括:外壳1:用于保护测试仪的用电设备;光源接口2:用于对接不同接口的光纤;控制模块:用于接收光纤的测试数据,并对光纤的测试数据进行计算;显示屏4:用于接收并显示所述控制模块的计算结果;供电模块5:用于为所述控制模块供电。所述外壳1为壳体结构;若干所述光源接口2安装在所述外壳1顶面,所述显示屏4安装在所述外壳1前面,所述控制模块安装在所述外壳1内,且与所述光源接口2和显示屏4电性连接;所述供电模块5为所述控制模块供电。所述光源接口2包括SC接口、ST接口、FC接口和LC接口,光源接口2设置此四种接口,可以满足不同接口光纤的测试需求。所述控制模块包括光分路器6、功率检测模块7、波长检测模块8、处理芯片9和贴片按钮10;所述光分路器6输入端与所述光源接口2输出端连接,输出端接所述功率检测模块7和波长检测模块8输入端;所述功率检测模块7和波长检测模块8输出端分别接所述处理芯片9;所述处理芯片9输出端接所述显示屏4,若干所述贴片按钮10焊接在所述处理芯片9上。还包括光开关11,包括光纤型光开关、波导型光开关、光学膜光开关和非微光机电系统光开关;所述光开关11输入端接所述光分路器6输出端,所述光开关11输出端接所述功率检测模块7和波长检测模块8,根据所述控制模块的控制将控制信号输出至所述光开关11的控制管脚,实现所述功率检测模块7或者波长检测模块8的连通或者断开。所述处理芯片9为FPGA芯片,且型号为EP2C25Q240C8。所述光源接口2输出的光信号经过光分路器6被分为两条光路,一条去向功率检测模块7测试光功率相对损耗,另一条去向波长检测模块8测试光纤中是否加载有所需的波长,所述功率检测模块7为功率光电探测器,且采用均值功率检测法,进入到功率检测模块7输入端的射频功率(单位为dBm)和转换后输出的直流电压信号成正比关系。输入到检测器的信号功率越大,转换后输出的直流信号也越大;所述波长检测模块8为波长光电探测器。还包括运算放大器12;所述运算放大器12连接在所述光分路器6和光开关11之间,对所述光分路器6输出的光信号进行放大,实现对微弱信号的识别和放大。还包括防水罩13;所述防水罩13为“冂”形结构,一端与所述外壳1顶面边线铰接以保护若干所述光源接口2,在遇水环境下保护所述光源接口2。所述外壳1外包覆有硅胶保护套,所述防水本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光纤微弱信号测试仪,其特征在于,包括:/n外壳(1):用于保护测试仪的用电设备;/n光源接口(2):用于对接不同接口的光纤;/n控制模块:用于接收光纤的测试数据,并对光纤的测试数据进行计算;/n显示屏(4):用于接收并显示所述控制模块的计算结果;/n供电模块(5):用于为所述控制模块供电;/n所述外壳(1)为壳体结构;若干所述光源接口(2)安装在所述外壳(1)顶面,所述显示屏(4)安装在所述外壳(1)前面,所述控制模块安装在所述外壳(1)内,且与所述光源接口(2)和显示屏(4)电性连接;所述供电模块(5)为所述控制模块供电。/n

【技术特征摘要】
1.一种光纤微弱信号测试仪,其特征在于,包括:
外壳(1):用于保护测试仪的用电设备;
光源接口(2):用于对接不同接口的光纤;
控制模块:用于接收光纤的测试数据,并对光纤的测试数据进行计算;
显示屏(4):用于接收并显示所述控制模块的计算结果;
供电模块(5):用于为所述控制模块供电;
所述外壳(1)为壳体结构;若干所述光源接口(2)安装在所述外壳(1)顶面,所述显示屏(4)安装在所述外壳(1)前面,所述控制模块安装在所述外壳(1)内,且与所述光源接口(2)和显示屏(4)电性连接;所述供电模块(5)为所述控制模块供电。


2.根据权利要求1所述的一种光纤微弱信号测试仪,其特征在于:所述光源接口(2)包括SC接口、ST接口、FC接口和LC接口。


3.根据权利要求2所述的一种光纤微弱信号测试仪,其特征在于:所述控制模块包括光分路器(6)、功率检测模块(7)、波长检测模块(8)、处理芯片(9)和贴片按钮(10);所述光分路器(6)输入端与所述光源接口(2)输出端连接,输出端接所述功率检测模块(7)和波长检测模块(8)输入端;所述功率检测模块(7)和波长检测模块(8)输出端分别接所述处理芯片(9);所述处理芯片(9)输出端接所述显示屏(4),若干所述贴片...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱明愚牟金华金旭佳
申请(专利权)人:朱明愚
类型:新型
国别省市:黑龙;23

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