一种探针卡插槽测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种探针卡插槽测试治具，包括冶具主体，所述冶具主体的上端外表面开设有三组放置槽，所述冶具主体的两侧外表面均焊接有固定块，所述固定块的上端焊接有定位柱；所述冶具主体的前端外表面靠近一侧的位置开设有预留槽，所述冶具主体的前端外表面中间位置开设有插槽，所述插槽的内部插进有顶板，所述插槽的一侧设置有卡块，所述卡块的内部贯穿有连接轴，所述卡块通过连接轴与冶具主体活动连接；所述预留槽的内部设置有旋柱。本实用新型专利技术的有益效果是：能够让使用者更加方便的取出测试后的探针卡，同时让能够让使用者直观的了解到冶具是否水平，避免了不水平导致出现较大偏差的状况发生。

A test fixture for probe card slot

【技术实现步骤摘要】
一种探针卡插槽测试治具
本技术涉及一种测试装置，具体为一种探针卡插槽测试治具，属于探针卡应用

技术介绍
探针卡是一种用于实现测试机与晶圆的电器连接的部件，探针卡上的探针直接与晶圆上的锡垫或凸块接触，引出电信号，再配合测试机进行测量。探针卡上探针的数量从几根到几百根不等，数量越大探针卡价格越昂贵。探针卡的使用寿命一般都在1000万次以上，因此一个新的探针卡从投入使用到报废的这个过程中需要多次维护，探针卡在生产出来后需要对其进行测试以保证其使用时的精准度。现有的探针卡测试冶具，在使用过程中无法直观的了解到冶具的水平度，容易导致出现测试偏差，让冶具的使用不够方便，同时在测试完之后，使用者取出探针卡不够方便，给测试冶具的使用带来的一定影响。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决现有的探针卡测试冶具，在使用过程中无法直观的了解到冶具的水平度，容易导致出现测试偏差，让冶具的使用不够方便，同时在测试完之后，使用者取出探针卡不够方便的问题，而提出一种探针卡插槽测试治具。本技术的目的可以通过以下技术方案实现：一种探针卡插槽测试治具，包括冶具主体，所述冶具主体的上端外表面开设有三组放置槽，所述冶具主体的两侧外表面均焊接有固定块，所述固定块的上端焊接有定位柱；所述冶具主体的前端外表面靠近一侧的位置开设有预留槽，所述冶具主体的前端外表面中间位置开设有插槽，所述插槽的内部插进有顶板，所述插槽的一侧设置有卡块，所述卡块的内部贯穿有连接轴，所述卡块通过连接轴与冶具主体活动连接；所述预留槽的内部设置有旋柱，所述旋柱的内部开设有卡槽，所述卡槽的内部镶嵌有水平尺，所述旋柱的两端均焊接有转轴；所述冶具主体的下端外表面开设有连接孔，所述连接孔的内部插进有调节柱，所述调节柱由第一柱体与第二柱体组成。优选的，所述第一柱体的内表面开设有螺纹孔，所述第二柱体通过螺纹孔与第一柱体活动连接，所述第二柱体的上端焊接有限位块，所述第二柱体的外表面设置有刻度条。优选的，所述插槽的内部底端设置有若干组复位弹簧，所述顶板的上端外表面焊接有顶柱，所述顶柱的上端外表面胶接有防护橡胶块，所述顶柱的数量为三组。优选的，所述转轴远离旋柱的一端插接在预留槽的内壁，所述卡块的旋转角度范围为0°到180°。优选的，所述放置槽的数量为三组，且放置槽呈平行放置。优选的，所述固定块的数量为两组，且固定块呈对称放置。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术在使用时，通过设置在插槽中的顶板，当使用者使用该冶具检测完探针卡之后，使用者可以将卡块旋转，使得其从顶板上移开，卡块被移开之后顶板会被复位弹簧顶起，顶板倍复位弹簧顶起后，顶板上的顶住会将放置槽中的探针卡顶出，从而让使用者可以更加方便的将检测完的探针卡从冶具中取出，让使用可以进行更加方便的探针卡检测。2、通过设置调节柱，调节柱由第一柱体与第二主体组成，在第一柱体的下端外表面开设有螺纹孔，第二柱体螺纹连接在螺纹孔中，使用者可以在使用该冶具时，通过设置的水平尺发现冶具处于不水平的状态时，使用者可以旋转第二柱体调整第二主体在螺纹孔中长度来达调节冶具水平度的目的，从而可以让冶具可以更加方便的使用，使得该冶具更加值得推广使用。附图说明为了便于本领域技术人员理解，下面结合附图对本技术作进一步的说明。图1为本技术的整体结构示意图；图2为本技术的图1中A处的放大视图；图3为本技术的预留槽内部视图；图4为本技术的调节柱与冶具主体连接视图；图5为本技术的插槽内部视图；图6为本技术的调节柱整体结构视图。图中：1、冶具主体；2、放置槽；3、固定块；4、定位柱；5、预留槽；6、插槽；601、复位弹簧；7、顶板；701、顶柱；702、防护橡胶块；8、卡块；9、连接轴；10、旋柱；101、转轴；11、卡槽；12、水平尺；13、连接孔；14、调节柱；141、第一柱体；142、第二柱体；143、螺纹孔；144、限位块；145、刻度条。具体实施方式下面将结合实施例对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-6所示，一种探针卡插槽测试治具，包括冶具主体1，冶具主体1的上端外表面开设有三组放置槽2，冶具主体1的两侧外表面均焊接有固定块3，固定块3的上端焊接有定位柱4；冶具主体1的前端外表面靠近一侧的位置开设有预留槽5，冶具主体1的前端外表面中间位置开设有插槽6，插槽6的内部插进有顶板7，插槽6的一侧设置有卡块8，卡块8的内部贯穿有连接轴9，卡块8通过连接轴9与冶具主体1活动连接；预留槽5的内部设置有旋柱10，旋柱10的内部开设有卡槽11，卡槽11的内部镶嵌有水平尺12，旋柱10的两端均焊接有转轴101，让使用者在使用完冶具后可以旋转旋柱10将水平尺12收纳起来防止其受到损坏；冶具主体1的下端外表面开设有连接孔13，连接孔13的内部插进有调节柱14，调节柱14由第一柱体141与第二柱体142组成。第一柱体141的内表面开设有螺纹孔143，第二柱体142通过螺纹孔143与第一柱体141活动连接，第二柱体142的上端焊接有限位块144，第二柱体142的外表面设置有刻度条145。插槽6的内部底端设置有若干组复位弹簧601，顶板7的上端外表面焊接有顶柱701，顶柱701的上端外表面胶接有防护橡胶块702，防护橡胶块702起到了防护的作用，顶柱701的数量为三组。转轴101远离旋柱10的一端插接在预留槽5的内壁，使得旋柱10可以进旋转，卡块8的旋转角度范围为0°到180°。放置槽2的数量为三组，且放置槽2呈平行放置。固定块3的数量为两组，且固定块3呈对称放置。本技术在使用时，工作人员将通过固定块3和定位柱4将冶具固定起来，之后，使用者将需要检测的探针卡放置到放置槽2中，之后通过设置调节柱14，调节柱14由第一柱体141与第二主体142组成，在第一柱体141的下端外表面开设有螺纹孔141，第二柱体142螺纹连接在螺纹孔中141，使用者可以在使用该冶具时，通过设置的水平尺12发现冶具处于不水平的状态时，使用者可以旋转第二柱体142调整第二主体142在螺纹孔103中长度来达调节冶具水平度的目的，从而可以让冶具可以更加方便的使用，调节水平之后使用者可以开始对冶具进行测试，测试完毕后通过设置在插槽6中的顶板7，当使用者使用该冶具检测完探针卡之后，使用者可以将卡块8旋转，使得其从顶板7上移开，卡块8被移开之后顶板7会被复位弹簧601顶起，顶板7倍复位弹簧601顶起后，顶板7上的顶住701会将放置槽2中的探针卡顶出，从而让使用者可以更加方便的将检测完的探针卡从冶具中取出，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针卡插槽测试治具，包括冶具主体(1)，其特征在于，所述冶具主体(1)的上端外表面开设有三组放置槽(2)，所述冶具主体(1)的两侧外表面均焊接有固定块(3)，所述固定块(3)的上端焊接有定位柱(4)；/n所述冶具主体(1)的前端外表面靠近一侧的位置开设有预留槽(5)，所述冶具主体(1)的前端外表面中间位置开设有插槽(6)，所述插槽(6)的内部插进有顶板(7)，所述插槽(6)的一侧设置有卡块(8)，所述卡块(8)的内部贯穿有连接轴(9)，所述卡块(8)通过连接轴(9)与冶具主体(1)活动连接；/n所述预留槽(5)的内部设置有旋柱(10)，所述旋柱(10)的内部开设有卡槽(11)，所述卡槽(11)的内部镶嵌有水平尺(12)，所述旋柱(10)的两端均焊接有转轴(101)；/n所述冶具主体(1)的下端外表面开设有连接孔(13)，所述连接孔(13)的内部插进有调节柱(14)，所述调节柱(14)由第一柱体(141)与第二柱体(142)组成。/n

【技术特征摘要】
1.一种探针卡插槽测试治具，包括冶具主体(1)，其特征在于，所述冶具主体(1)的上端外表面开设有三组放置槽(2)，所述冶具主体(1)的两侧外表面均焊接有固定块(3)，所述固定块(3)的上端焊接有定位柱(4)；
所述冶具主体(1)的前端外表面靠近一侧的位置开设有预留槽(5)，所述冶具主体(1)的前端外表面中间位置开设有插槽(6)，所述插槽(6)的内部插进有顶板(7)，所述插槽(6)的一侧设置有卡块(8)，所述卡块(8)的内部贯穿有连接轴(9)，所述卡块(8)通过连接轴(9)与冶具主体(1)活动连接；
所述预留槽(5)的内部设置有旋柱(10)，所述旋柱(10)的内部开设有卡槽(11)，所述卡槽(11)的内部镶嵌有水平尺(12)，所述旋柱(10)的两端均焊接有转轴(101)；
所述冶具主体(1)的下端外表面开设有连接孔(13)，所述连接孔(13)的内部插进有调节柱(14)，所述调节柱(14)由第一柱体(141)与第二柱体(142)组成。


2.根据权利要求1所述的一种探针卡插槽测试治具，其特征在于，所述第一柱体(141...

【专利技术属性】
技术研发人员：张卫勇，季寒飞，吕晨昱，钟志宏，
申请(专利权)人：苏州光和精密测试有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32