【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有扩展动态范围的数字像素背景本公开总体上涉及图像传感器,且更具体地涉及包括接口电路的像素单元结构,该接口电路用于确定用于图像生成的光强度。典型的图像传感器包括光电二极管,用于通过将光子转换成电荷(例如,电子或空穴)来感测入射光。图像传感器还包括浮置节点(floatingnode),该浮置节点被配置为电容器,以收集曝光周期期间光电二极管生成的电荷。收集的电荷可以在电容器处产生电压。电压可以被缓冲并馈送到模数转换器(ADC),ADC可以将电压转换成表示入射光强度的数字值。传统上,电容器、缓冲器和ADC可以与光电二极管集成在同一半导体衬底上,其中ADC与光电二极管布置在同一侧,以减少布线和相关的寄生电容。ADC生成的数字值反映了在某个周期内存储在浮置节点处的电荷数量,该数字值可以与入射光的强度相关。然而,相关程度会受到不同因素的影响。首先,光电二极管生成的电荷的速率可以与入射光强度直接相关,直到光电二极管达到饱和极限,超过该极限,生成的电荷的速率可能变得停滞,或者至少不会随光强度线性增加。此外,在浮置节点处收集的电荷也包括与入射光强度无关的噪声电荷。噪声电荷的一个来源可以是暗电流,暗电流可以是由于晶体缺陷在光电二极管的p-n结处和连接到电容器的其他半导体器件的p-n结处生成的漏电流。暗电流可以流入电容器,并增加与入射光强度不相关的电荷。噪声电荷的另一个来源可能是由于与其他电路的电容耦合。噪声电荷可以确定可测量光强度的下限,而饱和极限可以确定图像传感器的可测量光强度的上限。上限和下限之间的比率定义了动态范围,该动态范围可以决定图像传 ...
【技术保护点】
1.一种像素单元,包括:/n第一半导体层,其包括光电二极管和一个或更多个晶体管器件,所述一个或更多个晶体管器件被配置成将所述光电二极管生成的电荷转换成模拟信号,所述光电二极管占据所述第一半导体层中的第一区域;以及/n第二半导体层,其包括被配置成将所述模拟信号转换成一个或更多个数字信号的一个或更多个晶体管器件,所述第二半导体层的所述一个或更多个晶体管器件占据所述第二半导体层中的第二区域;/n其中,所述第一半导体层和所述第二半导体层沿着轴线形成堆叠结构;并且/n其中,所述第一区域和所述第二区域沿着所述轴线至少部分地重叠。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170626 US 62/525,045;20170928 US 15/719,3451.一种像素单元,包括:
第一半导体层,其包括光电二极管和一个或更多个晶体管器件,所述一个或更多个晶体管器件被配置成将所述光电二极管生成的电荷转换成模拟信号,所述光电二极管占据所述第一半导体层中的第一区域;以及
第二半导体层,其包括被配置成将所述模拟信号转换成一个或更多个数字信号的一个或更多个晶体管器件,所述第二半导体层的所述一个或更多个晶体管器件占据所述第二半导体层中的第二区域;
其中,所述第一半导体层和所述第二半导体层沿着轴线形成堆叠结构;并且
其中,所述第一区域和所述第二区域沿着所述轴线至少部分地重叠。
2.根据权利要求1所述的像素单元,
其中,所述第一半导体层包括第一表面和第二表面;
其中,所述第一半导体层包括布置在所述第二表面上的一个或更多个第一金属互连线;
其中,所述第二半导体层包括面向所述第二表面的第三表面;
其中,所述第二半导体层包括布置在所述第三表面上的一个或更多个第二金属互连线;并且
其中,所述像素单元还包括一个或更多个第三金属互连线,以提供所述一个或更多个第一金属互连线与所述一个或更多个第二金属互连线之间的电连接。
3.根据权利要求2所述的像素单元,其中,所述第一表面被配置成接收光子。
4.根据权利要求1所述的像素单元,其中,所述第一半导体层包括与所述第二半导体层不同的掺杂分布。
5.根据权利要求4所述的像素单元,其中,所述第一半导体层包括掺杂梯度,以在所述第一半导体层的第一表面和第二表面之间引入电场。
6.根据权利要求1所述的像素单元,其中,所述第一半导体层具有与所述第二半导体层不同的厚度。
7.根据权利要求6所述的像素单元,其中,所述第一半导体的厚度基于与预定频率相关联的光子的目标量子效率来被配置。
8.根据权利要求1所述的像素单元,
其中,所述第一半导体层的所述一个或更多个晶体管器件包括第一晶体管,所述第一晶体管具有与所述光电二极管耦合的源极端子、被配置为电容器的漏极端子、以及栅极端子,所述栅极端子可操作来控制所述光电二极管生成的电子流向所述电容器;
其中,所述第二半导体层的所述一个或更多个晶体管器件包括数模转换器,所述数模转换器被配置成基于所述第一晶体管的漏极端子处的模拟电压生成所述一个或更多个数字信号。
9.根据权利要求8所述的像素单元,其中,所述数模转换器包括计数器、存储器和电压比较器;
其中,所述存储器被配置成存储由所述计数器输出的一个或更多个计数值;并且
其中,所述电压比较器被配置成基于所述第一晶体管的漏极端子处的模拟电压来控制所述一个或更多个计数值在所述存储器处的存储,以生成所述一个或更多个数字信号。
10.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘新桥,
申请(专利权)人:脸谱科技有限责任公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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