射频测试拓扑结构、测试方法、计算机及存储介质技术

本发明专利技术公开了一种射频测试拓扑结构，其包括多台待测设备、多台功分器、一台综测仪、一台计算机，每台待测设备的射频端口与一台功分器对应物理连接，每台待测设备与所述计算机的通讯连接，每台功分器的单端口均与所述综测仪的物理连接，所述综测仪与所述计算机通讯连接，所述综测仪与每台待测设备、每台功分器及计算机均构成一条测试通路。提高一台所述综测仪的使用效率，无需增加综测仪的数量，控制了生产成本，也提高了整个生产效率。另，本发明专利技术还公开了射频测试方法、计算机及存储介质。

RF test topology, test method, computer and storage medium

【技术实现步骤摘要】
射频测试拓扑结构、测试方法、计算机及存储介质
本专利技术涉及射频测试领域，尤其涉及一种射频测试拓扑结构、测试方法、计算机及存储介质。
技术介绍
随着目前无线射频通信使用越来越普遍，射频相关产品的研发、测试以及生产都需要用到射频测试技术。测试一般包括单板组装测试和整机组装测试。其中，单板组装测试主要验证单板的可用性以及为后续测试做相应配置，包括上电测试/连通性测试/射频测试；整机组装测试则提高对应测试等级，上升至黑盒测试/性能测试等；完成上述测试后即可进行包材装配，后续出售即可。在测试时为了提高生产效率，一般为多工位同时操作，测试流程中在待测设备上电和拆卸过程中综测仪的使用效率不高，此时工厂普遍会采用增加综测仪来提高生产效率，而一台综测仪成本高，通过配置多台综测仪方式保证生产效率需要投入成本很高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种提高综测仪使用效率高且不增加成本的射频测试拓扑结构、测试方法、计算机及存储介质。为实现上述目的，本专利技术提供一种射频测试拓扑结构，其包括多台待测设备、多台功分器、一台综测仪、一台计算机，每台待测设备的射频端口与一台功分器对应物理连接，每台待测设备与所述计算机的通讯连接，每台功分器的单端口均与所述综测仪的物理连接，所述综测仪与所述计算机通讯连接，所述综测仪与每台待测设备、每台功分器及计算机均构成一条测试通路。进一步地，所述射频测试拓扑结构包括多个屏蔽箱，将每一台待测设备及每一台功分器放置于一个屏蔽箱内，所述综测仪与每台屏蔽箱及计算机构成一条测试通路。进一步地，其包括以下步骤：安装多台待测设备；给综测仪及多台待测设备上电；根据建立连接的顺序创建所述待测设备的序列；对序列首位的待测设备进行测试；判断测试是否通过，若测试通过，则对序列次位的待测设备进行测试；若测试不通过，则判断测试不通过的次数是否小于N，若测试不通过的次数小于N，则返回重新测试，若测试不通过的次数不小于N，则判定所述序列首位的待测设备测试不通过，将对序列次位的待测设备进行测试。进一步地，安装多台待测设备包括：将每台待测设备的射频端口与一台功分器对应物理连接；将每台待测设备与所述计算机的通讯连接；将每台功分器的单端口均与所述综测仪的物理连接；将所述综测仪与所述计算机通讯连接。进一步地，安装多台待测设备还包括：将每一台待测设备及每一台功分器放置于一个屏蔽箱内。进一步地，判断测试是否通过，若测试通过，对序列次位的待测设备进行测试的同时将所述序列首位的待测设备断电并进入产线的下一阶段。进一步地，判断测试是否通过，若测试不通过，对序列次位的待测设备进行测试的同时将所述不通过的序列首位的待测设备断电进入检修阶段。进一步地，所述序列首位的待测设备断电后安装下一台待测设备至拓扑结构内；给新安装的待测设备上电；添加新安装的待测设备到序列队尾。另一方面，本专利技术还涉及了一种计算机，其包括相互连接的处理器和存储器，其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述处理器被配置用于调用所述程序指令，执行上述射频测试方法。另一方面，本专利技术还涉及了存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时使所述处理器执行如权利要求上述射频测试方法。本专利技术的射频测试拓扑结构中，由于同时安装了多台待测设备，且多台待测设备共用一台综测仪及一台计算机，故在测试流程中在某个待测设备上电和拆卸过程中所述综测仪始终在工作，提高一台所述综测仪的使用效率，无需增加综测仪的数量，控制了生产成本，也提高了整个生产效率。附图说明图1是本专利技术的第一实施方式提供的射频测试拓扑结构的示意图；图2是本专利技术的第二实施方式提供的射频测试方法的流程示意图；图3是本专利技术的第二实施方式提供的射频测试方法的综测仪使用状态示意图。图4是本专利技术的第三实施方式提供的射频测试方法的流程示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动情况下所获得的所有其他实施例，均属于本专利技术保护的范围。为了使本专利技术的目的、技术方案和有益技术效果更加清晰明白，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。请参阅图1，图1是本专利技术的射频测试拓扑结构的示意图。具体地，第一实施方式提供的射频测试拓扑结构10包括多台待测设备110、多台功分器120、一台综测仪130、一台计算机140。每台待测设备110的射频端口111与一台功分器120对应物理连接，每台待测设备110与所述计算机140通讯连接，每台功分器120的单端口121均与所述综测仪130的物理连接，所述综测仪130与所述计算机140通讯连接，所述综测仪130与每台待测设备110、每台功分器120及计算机140均构成一条测试通路。本实施方式中的射频测试拓扑结构10中，由于同时安装了多台待测设备110，且多台待测设备110共用一台综测仪130及一台计算机140，故在测试流程中在某个待测设备110上电和拆卸过程中所述综测仪130始终在工作，提高一台所述综测仪130的使用效率，无需增加综测仪130的数量，控制了生产成本，也提高了整个生产效率。更加具体地，所述射频测试拓扑结构10还包括多个屏蔽箱100，将每一台待测设备110及每一台功分器120放置于一个屏蔽箱100内，所述综测仪130与每台屏蔽箱100及计算机140构成一条测试通路。在测试时将每一台待测设备110及每一台功分器120放置于一个屏蔽箱100内，避免受到干扰。请参阅图2及图3，图2是本专利技术的第二实施方式提供的射频测试方法的流程示意图。图3是本专利技术的第二实施方式提供的射频测试方法的综测仪使用状态示意图。射频测试方法包括以下步骤：安装多台待测设备110；具体包括以下子步骤S101～步骤S104；步骤S101：将每台待测设备110的射频端口111与一台功分器120对应物理连接；步骤S102：将每台待测设备110与所述计算机140的通讯连接；步骤S103：将每台功分器120的单端口均与所述综测仪130的物理连接；步骤S104：将所述综测仪130与所述计算机140本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频测试拓扑结构，其特征在于：其包括多台待测设备、多台功分器、一台综测仪、一台计算机，每台待测设备的射频端口与一台功分器对应物理连接，每台待测设备与所述计算机的通讯连接，每台功分器的单端口均与所述综测仪的物理连接，所述综测仪与所述计算机通讯连接，所述综测仪与每台待测设备、每台功分器及计算机均构成一条测试通路。/n

【技术特征摘要】
1.一种射频测试拓扑结构，其特征在于：其包括多台待测设备、多台功分器、一台综测仪、一台计算机，每台待测设备的射频端口与一台功分器对应物理连接，每台待测设备与所述计算机的通讯连接，每台功分器的单端口均与所述综测仪的物理连接，所述综测仪与所述计算机通讯连接，所述综测仪与每台待测设备、每台功分器及计算机均构成一条测试通路。


2.根据权利要求1所述的射频测试拓扑结构，其特征在于，所述射频测试拓扑结构包括多个屏蔽箱，将每一台待测设备及每一台功分器放置于一个屏蔽箱内，所述综测仪与每台屏蔽箱及计算机构成一条测试通路。


3.根据权利要求1所述的射频测试方法，其特征在于，其包括以下步骤：
安装多台待测设备；
给综测仪及多台待测设备上电；
根据建立连接的顺序创建所述待测设备的序列；
对序列首位的待测设备进行测试；
判断测试是否通过，若测试通过，则对序列次位的待测设备进行测试；若测试不通过，则判断测试不通过的次数是否小于N，若测试不通过的次数小于N，则返回重新测试，若测试不通过的次数不小于N，则判定所述序列首位的待测设备测试不通过，将对序列次位的待测设备进行测试。


4.根据权利要求3所述的射频测试方法，其特征在于，安装多台待测设备包括：
将每台待测设备的射频端口与一台功分器对应物理连接；
将每台待测设备与所述计算机的通讯连接；
将每台功分器...

【专利技术属性】
技术研发人员：石宝辉，
申请(专利权)人：星络智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44