高精度尺寸自动化测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于光学检测领域，尤其涉及多个磁铁（充磁）组合后的高精度尺寸自动化测量装置，包括机架以及设置在机架上的测量平台、位移模组以及控制模组，使用时将待测样品放置在测量平台中，控制模组控制位移模组带动测量模组进行Z轴方向位移，测量模组在Z轴方向位移过程中完成对测量平台中待测样品的尺寸测量，测量过程不必与待测样品接触，不会对待测样品表面造成划损，能够有效提高等待测样品的品质及使用性能，本实用新型专利技术可以实时得到精确的测量结果，自动化程度高，省时省力，人工成本低，节省大量人力物力，测量效率高，能够有效避免传统方式因人工测量导致的测量结果数据一致性差的缺陷，测量精度高，应用前景广阔。

High precision automatic measuring device

【技术实现步骤摘要】
高精度尺寸自动化测量装置
本专利技术属于光学检测领域，尤其涉及多个磁铁（充磁）组合后的尺寸自动化测量装置。
技术介绍
随着科学技术和工业生产的高速发展，人们对测量要求也越来越高，并开始向着高速、高精度、小型化、智能化等方面发展，尤其是在科技高速发展的今天，对零件尺寸测量速度要求越来越高。在精密机械加工、自动化生产线、计量与检测等领域，测量占据了举足轻重的地位。在传统测量领域里，对于组装后的磁铁产品尺寸测量没有快速实用的解决办法，一般是以卷尺、钢尺等接触式测量为主，这种检测方式主要存在以下几种缺陷：（1）检测过程需要耗费大量人力物力，人工成本高，费时费力，检测效率低，无法进行快速在线测量，更无法根据在线测量结果对待测产品进行实时监控和调整，不能满足现代社会规模化生产要求；（2）检测精度低，测量数据对制程的反馈严重滞后，不利于组装后的待测产品品质的提升，而且传统的测量方式常常由于测量者不同得到的结果也不一样，测量结果的一致性很差，导致待测产品的质量不稳定；（3）检测范围有限，对于大尺寸的待测产品的测量，难以通过卷尺、钢尺等传统检测方式获得高精度的测量结果；（4）由于传统检测方式主要是通过接触式测量，而接触式测量效率比较低，自动化程度不高，且容易受到人工操作和实际加工环境的影响，准确性难以得到保证，同时在检测过程中容易对待测样品表面造成划损或减弱其磁性，影响磁铁产品的使用性能。
技术实现思路
本专利技术的目的是解决上述现有技术的不足，提供一种测量效率高、测量范围广、测量精度高、省时省力且不会对待测样品造成划损的高精度尺寸自动化测量装置。本专利技术解决上述现有技术的不足所采用的技术方案是：一种高精度尺寸自动化测量装置，其特征在于，包括：机架，用于承载设置在其上的模组，所述机架上设有测量平台，所述测量平台上供承载待测样品；测量模组，架设在所述测量平台上方，用于对测量平台中的待测样品进行尺寸测量，所述测量模组下方设有背光源；位移模组，设置在所述测量平台上，用于驱动所述测量模组进行Z轴方向位移；数据处理模组，电性连接所述测量模组，用于对所述测量模组测量到的待测图像数据进行计算处理；所述测量模组、待测样品以及背光源的中心在Z轴共线。优选的，所述测量模组是在所述测量平台上方架设有测量架，所述测量架上设有位移平台，所述位移平台上设有能够在所述位移平台的驱动下进行Z轴方向位移的取像元件，所述取像元件用于对所述测量平台中的待测样品图像进行采集。优选的，所述位移平台包括第一位移平台和第二位移平台，且所述第一位移平台和第二位移平台相接设置在所述测量架上。优选的，所述第一位移平台是在所述测量架上设有Z轴位移立柱，所述Z轴位移立柱上设有可沿其自由滑动的Z轴位移滑座，所述第二位移平台与所述Z轴位移滑座相连，所述取像元件可移动的设置在所述第二位移平台上。优选的，所述取像元件是在所述位移平台上设有工业面阵相机，所述工业面阵相机前端设有远心成像镜头。优选的，还包括图像处理元件，所述取像元件连接所述图像处理元件，所述取像元件将采集的图像传送给所述图像处理元件。优选的，所述第二位移平台上还设有微调单元，所述微调单元为固定于所述取像元件上的螺纹微调机构和升降机构，所述Z轴位移立柱上设有与所述升降机构相适配的通槽，螺纹微调机构旋转带动所述升降机构沿着所述通槽进行上下位移。优选的，所述测量平台上设有可对待测样品进行定位的定位模组。优选的，该数据处理模组中存储针对若干该待测样品的标准图像数据，并将该标准图像数据与待测图像数据进行对比计算，其误差在一设定的范围内的待测图像数据所对应的该待测样品为OK料，反之则为NG料。优选的，还包括语音播报模组，所述语音播报模组电性连接数据处理模组，实时播报所述待测样品为OK料或NG料。本专利技术的有益效果是，由于本专利技术装置包括机架以及设置在机架上的测量平台、测量模组、位移模组、控制模组，使用时将待测样品放置在测量平台中，控制位移模组带动测量模组进行Z轴方向位移，测量模组在Z轴方向位移过程中完成对测量平台中待测样品的尺寸的测量，因而利用本专利技术装置对磁铁或组合磁铁等产品进行尺寸测量时不必与待测样品接触，不会对待测样品表面造成划损，能够有效提高磁铁或组合磁铁等待测样品的品质及使用性能，而且本专利技术装置测量时可以实时得到精确的测量结果，制程人员能够根据实时测量数据反馈及时对上道工序做出修正，并且测量数据也能够为下道工序提供参考，能够满足现代社会规模化生产要求。由于本专利技术装置可以自动化测量，无需人工手动参与测量，因而测量过程省时省力，人工成本低，节省大量人力物力，测量效率高，同时也能够有效避免传统方式因人工测量导致的测量结果数据一致性差的缺陷，测量精度高，减少了不良品的输出，而且本专利技术装置能够适用任意尺寸的磁铁或组合磁铁等产品，适用范围广，应用前景广阔。附图说明图1为本专利技术高精度尺寸自动化测量装置的一种实施例结构示意图，也是一种优选实施例示意图。图2为本专利技术测量模组的示意图。具体实施方式以下描述用于揭露本专利技术以使本领域技术人员能够实现本专利技术。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本专利技术的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本专利技术的精神和范围的其他技术方案。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。图1、图2示出了本专利技术高精度尺寸自动化测量装置的一种实施例结构示意图，也是一种优选实施例示意图。如图1所示，本实施例所述的高精度尺寸自动化测量装置，包括：机架10，用于承载设置在其上的模组，所述机架上设有测量平台20，所述测量平台20上供承载待测样品；测量模组30，架设在所述测量平台20上方，用于对测量平台20中的待测样品进行尺寸测量，所述测量模组30下方设有背光源31；位移模组，设置在所述测量平台20上，用于驱动所述测量模组30进行Z轴方向位移；数据处理模组，电性连接所述测量模组30，用于对所述测量模组30测量到的待测图像数据进行计算处理；此外，所述测量模组30、待测样品以及背光源31的中心在Z轴共线。使用时将待测样品放置在测量平台20中，手动控制位移模组带动测量模组30进行Z轴方向位移，调整测量模组30的位置，完成对测量平台20中待测样品的尺寸测量，测量过程不必与待测样品接触，不会对待测样品表面造成划损，能够有效提高磁铁或组合磁铁等待测样品的品质及使用性能，而且针对同一待测样品的测量无需重复设置上述参数，提高测量的效率，此外，本专利技术装置测量时可以实时得到精确的测量结果，进而确认待测样品为OK或NG产品，制程人员能够根据实时测量数据反馈及时对上道工序做出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度尺寸自动化测量装置，其特征在于，包括：/n机架，用于承载设置在其上的模组，所述机架上设有测量平台，所述测量平台上供承载待测样品；/n测量模组，架设在所述测量平台上方，用于对测量平台中的待测样品进行尺寸测量，所述测量模组下方设有背光源；/n位移模组，设置在所述测量平台上，用于驱动所述测量模组进行Z轴方向位移；/n数据处理模组，电性连接所述测量模组，用于对所述测量模组测量到的待测图像数据进行计算处理；/n所述测量模组、待测样品以及背光源的中心在Z轴共线。/n

【技术特征摘要】
1.一种高精度尺寸自动化测量装置，其特征在于，包括：
机架，用于承载设置在其上的模组，所述机架上设有测量平台，所述测量平台上供承载待测样品；
测量模组，架设在所述测量平台上方，用于对测量平台中的待测样品进行尺寸测量，所述测量模组下方设有背光源；
位移模组，设置在所述测量平台上，用于驱动所述测量模组进行Z轴方向位移；
数据处理模组，电性连接所述测量模组，用于对所述测量模组测量到的待测图像数据进行计算处理；
所述测量模组、待测样品以及背光源的中心在Z轴共线。


2.根据权利要求1所述的高精度尺寸自动化测量装置，其特征在于，所述测量模组是在所述测量平台上方架设有测量架，所述测量架上设有位移平台，所述位移平台上设有能够在所述位移平台的驱动下进行Z轴方向位移的取像元件，所述取像元件用于对所述测量平台中的待测样品图像进行采集。


3.根据权利要求2所述的高精度尺寸自动化测量装置，其特征在于，所述位移平台包括第一位移平台和第二位移平台，且所述第一位移平台和第二位移平台相接设置在所述测量架上。


4.根据权利要求3所述的高精度尺寸自动化测量装置，其特征在于，所述第一位移平台是在所述测量架上设有Z轴位移立柱，所述Z轴位移立柱上设有可沿其自由滑动的Z轴位移滑座，所述第二位移平台与所述Z轴位移滑座相连，所述取像元件可移动的设置在所述第二位移平台上。

【专利技术属性】
技术研发人员：谢水龙，谭海斌，韦仁胜，
申请(专利权)人：深圳精创视觉科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44