一种测量云母片厚度的系统及方法技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种测量云母片厚度的系统及方法，将包括的定标器、测试盒、放射源和计数管依次连接好，将定标器打开进行预热，将标准件云母片样品在测试盒中进行预检，判断定标器是否正常，定标器在工作电压430V，运行10s后，定标器计数在13000‑15000之间，则被测云母片为合格云母片。本发明专利技术实施例提供了一种测量云母片厚度的系统及方法，以解决现有技术中由于环境因素影响或仪器调整复杂而导致的测量数据不准确或测量效率低的问题。

A system and method for measuring mica sheet thickness

【技术实现步骤摘要】
一种测量云母片厚度的系统及方法
本专利技术实施例涉及云母测量
，具体涉及一种测量云母片厚度的方法。
技术介绍
目前市场上有很多测量厚度的仪器设备，这些设备当遇到数据精准度要求高时，受环境影响到不能给出准确的测量数据，大多需要反复调整仪器的精度。这就大大的降低了工作效率，对一些高精产品零件的数据需求不能满足，另外也不能满足特定工件的尺寸要求。针对以上情形，为了避免环境影响测量精度，提高工作效率，需要一种云母片测量系统来解决以上问题。
技术实现思路
为此，本专利技术实施例提供了一种测量云母片厚度的系统及方法，以解决现有技术中由于环境因素影响或仪器调整复杂而导致的测量数据不准确或测量效率低的问题。为了实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：根据本专利技术实施例公开了一种测量云母片厚度的系统，包括定标器、测试盒、放射源和计数管，所述测试盒内设置有凹槽，所述放射源放置于所述凹槽中，所述放射源的活性面朝向远离所述凹槽的一端，所述放射源的活性面与所述凹槽的上沿平面平行且高度低于上沿，所述计数管安装于所述测试盒中且与所述放射源相对应，所述云母片放置于所述放射源和所述计数管之间，所述计数管与所述定标器电连接。进一步地，所述测试盒为有机玻璃粘接而成的立方体，所述测试盒上开设有更换云母片的侧门；所述计数管放置于由有机玻璃板粘接而成的放置盒中，在与所述计数管的窗口相接触的有机玻璃板的中心开设一个通孔，所述通孔的直径小于所述计数管窗口的直径，所述测试盒上开设有一个与放置盒相适配的安置孔，所述放置盒通过安置孔进入所述检测盒中，使所述计数管的窗口对准放射源且与放射源的平面平行，所述计数管的窗口与放射源之间有间距。进一步地，所述计数管的窗口与放射源之间的间距为1mm。进一步地，所述定标器与所述计数管通过电子线路相连；所述计数管采用GJ6401型盖革计数管；所述定标器选用FH463B型定标器。进一步地，所述放射源的发射率为1.55*104Bq，半衰期为5760a,最大能量为0.156MeV。根据本专利技术实施例公开了一种测量云母片厚度的方法，包括以下步骤：步骤一，安装：将放射源与计数管安装在测试盒中，所述计数管通过测试电路与定标器相连，所述放射源与所述计数管之间保持有间隙；步骤二，预热：将定标器打开进行预热；步骤三，预检：将标准件云母片样品放置在测试盒中，标准件云母片厚度为2.3mg/cm2，将定标器的电压调节为430V，定标器计数在13000-15000之间，则定标器运行正常，反之，定标器存在故障、不能使用；步骤四，测量：经步骤一、步骤二和步骤三系统正常后，将需要测试的云母片沿测试盒的下平面进入，放置在计数管和放射源之间进行测量；步骤五，判断：定标器在工作电压430V，运行10s后，定标器计数在13000-15000之间，则被测云母片为合格云母片。进一步地，进一步地，在步骤一中，所述放射源与所述计数管之间的间隙为1mm。进一步地，在步骤二中，定标器预热时间为10分钟。进一步地，在步骤五中，合格云母片的厚度为2.3mg/cm2-2.7mg/cm2。本专利技术实施例具有如下优点：本专利技术具体实施例公开的一种测量云母片厚度的系统及方法通过定标器、计数管和放射源，可以对云母片的厚度进行准确、快速的检测，避免了环境因素对检测设备的影响，提高了工作效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
能涵盖的范围内。图1为本专利技术实施例提供了一种测量云母片厚度的系统的结构示意图；图2为图1中A部的放大图；图3为电子线路图；图中：1、定标器；2、测试盒；3、放射源；4、计数管；5、放置盒；6、云母片。具体实施方式以下由特定的具体实施例说明本专利技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。结合图1-3所示，本专利技术具体实施例公开了一种测量云母片厚度的系统，该系统包括定标器1、测试盒2、放射源3和计数管4。测试盒2内设置有凹槽，所述放射源3放置于所述凹槽中，所述放射源3的活性面朝向远离所述凹槽的一端，所述放射源3的活性面与所述凹槽的上沿平面平行且高度低于上沿，所述计数管4安装于所述测试盒2中且与所述放射源3相对应，将待测云母片6放置于所述放射源3和所述计数管4之间，所述计数管4与所述定标器1电连接。测试盒2为透明有机玻璃粘接而成的立方体，尺寸为400mm×宽400mm×高6mm，所述测试盒2上开设有更换云母片6的侧门，被测云母片6的最大尺寸长宽不大于300mm，测试盒2的设计很好的避免了环境因素对云母片6的造成的影响，确保了测量数据的准确性。该放射源3为β源表面发射率为1.55*104Bq,半衰期为5760a,最大能量：β：0.156MeV；将放射源3镶嵌在测试盒2的凹槽中，凹槽开设在测试盒2下平面有机玻璃板正中位置，该放射源3的活性面朝上，放射源3的活性面与凹槽上沿平面平行，略低于槽沿，避免了待测云母片6与放射源3接触被污染。计数管4选用GJ6401计数管4一支，计数管4尺寸为放置于由2mm厚的有机玻璃板粘接而成的放置盒中，放置盒5的尺寸为长29mm*宽29mm*高25mm，在与所述计数管4的窗口相接触的有机玻璃板的正中位置开设一个的通孔，所述通孔的直径小于所述计数管4窗口的直径，所述测试盒2上开设有一个与放置盒5相适配的安置孔，安置孔的尺寸为长29mm*宽29mm，将所述放置盒5通过安置孔进入所述检测盒中，使所述计数管4的窗口对准放射源3且与放射源3的平面平行，所述计数管4的窗口与放射源3之间有间距，计数管4的窗口与放射源3之间的间距为1mm，间距越小空气层对C14的吸收越少，测量到的数据越精确。定标器1与计数管4通过电子线路相连，该线路能最大效率精准记录计数管4的脉冲计数，规避死时间对计数率等的影响。计数管4采用GJ6401型盖革计数管4；定标器1选用FH463B型定标器1。死时间，计数管4在盖革区，由于盖革区的气体放大作用很大，每次电后的一个短期内，阳极周围布满正离子，形成正离子鞘，中和随后到达的电子，使之不能形成第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量云母片厚度的系统，其特征在于：包括定标器、测试盒、放射源和计数管，所述测试盒内设置有凹槽，所述放射源放置于所述凹槽中，所述放射源的活性面朝向远离所述凹槽的一端，所述放射源的活性面与所述凹槽的上沿平面平行且高度低于上沿，所述计数管安装于所述测试盒中且与所述放射源相对应，将待测云母片放置于所述放射源和所述计数管之间，所述计数管与所述定标器电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量云母片厚度的系统，其特征在于：包括定标器、测试盒、放射源和计数管，所述测试盒内设置有凹槽，所述放射源放置于所述凹槽中，所述放射源的活性面朝向远离所述凹槽的一端，所述放射源的活性面与所述凹槽的上沿平面平行且高度低于上沿，所述计数管安装于所述测试盒中且与所述放射源相对应，将待测云母片放置于所述放射源和所述计数管之间，所述计数管与所述定标器电连接。


2.根据权利要求1所述的一种测量云母片厚度的系统，其特征在于：所述测试盒为有机玻璃粘接而成的立方体，所述测试盒上开设有更换云母片的侧门；所述计数管放置于由有机玻璃板粘接而成的放置盒中，在与所述计数管的窗口相接触的有机玻璃板的中心开设一个通孔，所述通孔的直径小于所述计数管窗口的直径，所述测试盒上开设有一个与放置盒相适配的安置孔，所述放置盒通过安置孔进入所述检测盒中，使所述计数管的窗口对准放射源且与放射源的平面平行，所述计数管的窗口与放射源之间有间距。


3.根据权利要求2所述的一种测量云母片厚度的系统，其特征在于：所述计数管的窗口与放射源之间的间距为1mm。


4.根据权利要求1所述的一种测量云母片厚度的系统，其特征在于：所述定标器与所述计数管通过电子线路相连；所述计数管采用GJ6401型盖革计数管；所述定标器选用FH463B型定标器。


5.根据权利要求1所述的一种测量云母片厚度的系统，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈洪涛，胡利民，曹亮，西敏，马岩，王辉，王龙，
申请(专利权)人：北京君融创新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11