【技术实现步骤摘要】
高成型精度封头磨削方法
本专利技术涉及一种高精度封头成型方法,具体的说,涉及了一种高成型精度封头磨削方法。
技术介绍
普通的封头对成型精度要求不高,只要封头各处厚度不低于要求厚度即可,因此,一般的封头在折边成型后即可满足使用要求;但针对航空航天等一些高尖领域,对封头的成型形状、各处壁厚、封头材质性能均有严格要求,例如,火箭燃料推进器的封头原料板材厚度为十几毫米,加工成型后封头各处厚度仅为几毫米,且允许的误差不超过0.2mm,同时要保证封头的材料性能、均一性要求严格,然而,现有技术中还没有针对这种高精度成型封头成型的方法。为了解决以上存在的问题,人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的不足,从而提供一种能够满足高精领域封头需求,能够用于成型高精度封头的高成型精度封头磨削方法。为了实现上述目的,本专利技术所采用的技术方案是:一种高成型精度封头磨削方法,包括以下步骤:(1)将封头上处于同一圆周区段上的区域均匀划分为若干壁厚检测区;(2)使用抛光带对所述壁厚检测区的表面进行若干轮次的打磨;(3)检测每个所述壁厚检测区的壁厚,并标记壁厚较薄的壁厚检测区;(4)在较薄的壁厚检测区打磨面上粘贴与封头同种材质的薄板;(5)再次使用抛光带对所述壁厚检测区的表面进行若干轮次的打磨。基于上述,它还包括步骤(6):重复步骤(3)-(5),直到将封头厚度打磨至需要尺寸。基于上述,封头从开口端至封闭端被划分为若干圆周区段。基于上述,步骤(4 ...
【技术保护点】
1.一种高成型精度封头磨削方法,其特征在于,包括以下步骤:/n(1)将封头上处于同一圆周区段上的区域均匀划分为若干壁厚检测区;/n(2)使用抛光带对所述壁厚检测区的表面进行若干轮次的打磨;/n(3)检测每个所述壁厚检测区的壁厚,并标记壁厚较薄的壁厚检测区;/n(4)在较薄的壁厚检测区打磨面上粘贴与封头同种材质的薄板;/n(5)再次使用抛光带对所述壁厚检测区的表面进行若干轮次的打磨。/n
【技术特征摘要】
1.一种高成型精度封头磨削方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将封头上处于同一圆周区段上的区域均匀划分为若干壁厚检测区;
(2)使用抛光带对所述壁厚检测区的表面进行若干轮次的打磨;
(3)检测每个所述壁厚检测区的壁厚,并标记壁厚较薄的壁厚检测区;
(4)在较薄的壁厚检测区打磨面上粘贴与封头同种材质的薄板;
(5)再次使用抛光带对所述壁厚检测区的表面进行若干轮次的打磨。
2.根据权利要求1所述的高成型精度封头磨削方法,其特征在于,它还包括步骤(6):重复步骤(3)-(5),直到将封头厚度打磨至需要尺寸。
3.根据权利要求2所述的高成型精度封头磨削方法,其特征在于,步骤(1)中,封头从开口端至封闭端被划分为若干圆周区段。
4.根据权利要求1-3任一项所述的高成型精度封头磨削方法,其特征在于:步骤(4)中粘贴的薄板为薄铝板。
5.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:王守东,赵淘,岳晓露,吴鹏翔,王业伟,周井文,李毅,徐爱杰,
申请(专利权)人:河南神州精工制造股份有限公司,上海航天精密机械研究所,
类型:发明
国别省市:河南;41
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