内存压力测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种内存压力测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质。适用于Grantly平台和Purley平台，方法包括预先优化当前CPU型号的edac驱动并加载至执行当前计算机程序的操作系统中；发送测试最大空闲内存的请求指令，并将最大空闲内存作为待测内存；对每种测试模式，均调用与CPU逻辑核数量相同的线程对待测内存进行读写测试；测试模式可为简单读写测试模式、地址测试模式、前进算法测试模式、蝴蝶算法测试模式和随机数测试模式。本申请在兼容Grantly平台和Purley平台的基础上实现了大压力且全面覆盖内存的各个bit位的内存压力测试。

Memory pressure test method, device, equipment and computer readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
内存压力测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质
本申请涉及硬件测试
，特别是涉及一种内存压力测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
内存为超大规模集成电路，其内部晶体管有一个或少数几个损坏就可能影响计算机正常稳定运行，同时表现的故障现象也不尽相同，如金手指接触不良/电容电阻颗粒脱落等会导致计算机无法启动或正常启动但会开机报警，这类故障现象很容易定位内存的问题。但是有一些故障内存问题隐藏的比较深，比如Single-bit报错/Rowfault/Columnfault等ECC报错，只有在对内存进行大压力以及高覆盖率的测试下才会触发。而目前现有的内存压力测试方法，测试pattern较少，不兼容purley平台，不支持大容量内存测试，测试过程中对内存的覆盖度较小，无法有效检查出ECC报错、memtester等故障。鉴于此，如何在兼容Grantly平台和Purley平台基础上，实现对内存进行大压力以及高覆盖率的测试，以提升计算机的可靠性和稳定性，是本领域技术人员需要解决的技术问题。
技术实现思路
本申请提供了一种内存压力测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质，在兼容Grantly平台和Purley平台的基础上实现了大压力且全面覆盖内存的各个bit位的内存压力测试。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供以下技术方案：本专利技术实施例一方面提供了一种内存压力测试方法，适用于Grantly平台和Purley平台，包括：预先优化当前CPU型号的edac驱动并加载至执行当前计算机程序的操作系统中；发送测试最大空闲内存的请求指令，并将所述最大空闲内存作为待测内存；对每种测试模式，均调用与所述CPU逻辑核数量相同的线程对所述待测内存进行读写测试；所述测试模式为简单读写测试模式、地址测试模式、前进算法测试模式、蝴蝶算法测试模式和随机数测试。可选的，所述对每种测试模式，均调用与所述CPU逻辑核数量相同的线程对所述待测内存进行压力测试之后，还包括：采用各种测试模式均对所述待测内存进行一次读写测试后，输出压力测试结果。可选的，所述输出压力测试结果之后，还包括：若压力测试结果为内存无故障，对mcelog进行检测，若mcelog检测无报错，则所述待测内存没有故障；若压力测试结果为内存故障，则显示故障比特位的地址信息，以基于edac机制定位所述待测内存所在的CPU插槽位置、DIMM槽位置和channel信息。可选的，所述压力测试结果为内存故障为：若存在至少一个比特位的期望值和实际值不匹配，则显示内存故障的压力测试结果。可选的，所述若压力测试结果为内存故障，则显示故障比特位的地址信息之后，还包括：将所述故障比特位的地址信息、所述待测内存所在的CPU插槽位置、DIMM槽位置和channel信息备份至预设目录下的故障日志中，并将所述故障日志发送至预先绑定的客户端或云端。可选的，所述发送测试最大空闲内存的请求指令，并将所述最大空闲内存作为待测内存之前还包括：判断是否接收到压力测试参数设置指令；若是，则按照所述压力测试参数设置指令中的压力测试参数执行读写测试；若否，则按照默认压力测试参数执行压力测试；其中，所述压力测试参数为测试内存值、测试圈数、测试时长、测试压力值；所述默认压力测试参数为：所述测试内存值为当前最大空闲内存、所述测试圈数为一圈、测试线程数量为所述CPU逻辑核数量值。可选的，所述按照所述压力测试参数设置指令中的压力测试参数执行读写测试为：将所述压力测试参数设置指令中测试内存值作为所述待测内存，并发送测试所述待测内存的请求指令；对每种测试模式，均调用与所述压力测试参数设置指令中的测试压力值相匹配的线程对所述待测内存进行读写测试，并当到达所述压力测试参数设置指令中测试圈数或测试时间时，停止执行读写测试操作同时输出压力测试结果。本专利技术实施例另一方面提供了一种内存压力测试装置，适用于Grantly平台和Purley平台，包括：预操作模块，用于预先优化当前CPU型号的edac驱动并加载至执行当前计算机程序的操作系统中；测试内存请求模块，用于发送测试最大空闲内存的请求指令，并将所述最大空闲内存作为待测内存；读写测试模块，用于对每种测试模式，均调用与所述CPU逻辑核数量相同的线程对所述待测内存进行读写测试；所述测试模式为简单读写测试模式、地址测试模式、前进算法测试模式、蝴蝶算法测试模式和随机数测试模式。本专利技术实施例还提供了一种内存压力测试设备，包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如前任一项所述内存压力测试方法的步骤。本专利技术实施例最后还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有内存压力测试程序，所述内存压力测试程序被处理器执行时实现如前任一项所述内存压力测试方法的步骤。本申请提供的技术方案的优点在于，预先将与平台CPU型号相匹配的edac驱动进行优化并加载，使得内存压力测试可兼容Purley平台；利用多种测试模式对当前最大空闲内存进行读写测试，可全面覆盖内存的各个比特位；调用与CPU逻辑核数量相同的线程进行读写测试，CPU资源几乎全部用于读写内存，对内存进行大压力测试，从而实现了大压力、高覆盖率、大容量的内存压力测试，可有效触发隐藏较深的内存故障问题，提升了内存的稳定性和可靠性，有利于计算机的可靠稳定的运行。此外，本专利技术实施例还针对内存压力测试方法提供了相应的实现装置、设备及计算机可读存储介质，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置、设备及计算机可读存储介质具有相应的优点。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例或相关技术的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种内存压力测试方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的另一种内存压力测试方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种故障内存报错示意图；图4为本专利技术实施例提供的内存压力测试装置的一种具体实施方式结构图；图5为本专利技术实施例提供的内存压力测试装置的另一种具体实施方式结构图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种内存压力测试方法，其特征在于，适用于Grantly平台和Purley平台，包括：/n预先优化当前CPU型号的edac驱动并加载至执行当前计算机程序的操作系统中；/n发送测试最大空闲内存的请求指令，并将所述最大空闲内存作为待测内存；/n对每种测试模式，均调用与所述CPU逻辑核数量相同的线程对所述待测内存进行读写测试；所述测试模式为简单读写测试模式、地址测试模式、前进算法测试模式、蝴蝶算法测试模式和随机数测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种内存压力测试方法，其特征在于，适用于Grantly平台和Purley平台，包括：
预先优化当前CPU型号的edac驱动并加载至执行当前计算机程序的操作系统中；
发送测试最大空闲内存的请求指令，并将所述最大空闲内存作为待测内存；
对每种测试模式，均调用与所述CPU逻辑核数量相同的线程对所述待测内存进行读写测试；所述测试模式为简单读写测试模式、地址测试模式、前进算法测试模式、蝴蝶算法测试模式和随机数测试。


2.根据权利要求1所述的内存压力测试方法，其特征在于，所述对每种测试模式，均调用与所述CPU逻辑核数量相同的线程对所述待测内存进行压力测试之后，还包括：
采用各种测试模式均对所述待测内存进行一次读写测试后，输出压力测试结果。


3.根据权利要求2所述的内存压力测试方法，其特征在于，所述输出压力测试结果之后，还包括：
若压力测试结果为内存无故障，对mcelog进行检测，若mcelog检测无报错，则所述待测内存没有故障；
若压力测试结果为内存故障，则显示故障比特位的地址信息，以基于edac机制定位所述待测内存所在的CPU插槽位置、DIMM槽位置和channel信息。


4.根据权利要求3所述的内存压力测试方法，其特征在于，所述压力测试结果为内存故障为：
若存在至少一个比特位的期望值和实际值不匹配，则显示内存故障的压力测试结果。


5.根据权利要求4所述的内存压力测试方法，其特征在于，所述若压力测试结果为内存故障，则显示故障比特位的地址信息之后，还包括：
将所述故障比特位的地址信息、所述待测内存所在的CPU插槽位置、DIMM槽位置和channel信息备份至预设目录下的故障日志中，并将所述故障日志发送至预先绑定的客户端或云端。


6.根据权利要求1至5任意一项所述的内存压力测试方法，其特征在于，所述发送测试最大空闲内存的请求指令，并将所述最大空闲内存作为待...

【专利技术属性】
技术研发人员：马光彬，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32