一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理系统及管理方法技术方案

本发明专利技术提供了一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理系统及管理方法，管理方法包括以下步骤：缺陷标识装置接收各工序AOI发送的缺陷报文信息后，在有缺陷的膜面上印流水号，实时记录喷码状态数据；判断哪些流水号的片状成品被判定为AOI过检的片状成品，然后调用被判定为过检片状成品上喷码的流水号对应的喷码信息；将流水号对应的过检缺陷ID一一匹配AOI过检缺陷图，建立AOI过检缺陷库；分析AOI过检缺陷库中每张图片的缺陷特征值，根据缺陷特征值的规律，调整AOI过检参数。本发明专利技术的技术方案，降低了AOI真假缺陷参数优化的周期，快递降低AOI过检率，实现高效、充分利用AOI设备对产品的产品质量的检验功能。

A management system and method of AOI over checking parameters based on serial number inkjet

【技术实现步骤摘要】
一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理系统及管理方法
本专利技术属于光学检测
，尤其涉及一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理系统及管理方法。
技术介绍
目前国内液晶面板产能快速增长，对偏光片产品的需求大幅度增加，但是人工全检产能有限，且相对于人工检测，AOI（AutomatedOpticalInspection，自动光学检测）机器视觉检测可靠性都更高，因为人工检查，对于缺陷较多，或偏光片尺寸较大，由于长时间检查，人眼会产生疲劳，造成漏检，故机器代替人工检查是未来膜材行业必然的发展趋势，因此，对AOI准确性有了更高要求。目前在膜材行业中，喷码机喷码模式都是以章型（如实心章/空心章/菱形章/线性章）喷码，然后章型根据AOI缺陷种类做章型喷码。章型标识是一种缺陷种类对应一种选定类型章型喷印，用指定喷码章型在缺陷位置进行喷印，主要用于后工程人工检验环节缺陷准确检出，但是AOI检测出来的缺陷图片多样，与实际成品判断良品和不良品的缺陷无法做到一一对应，存在不能记录各缺点及loss缺点坐标信息，也不能实现图实对应分辨真假缺陷的弊端。AOI过检参数调整依据是通过统计过检比例，抽检过检品尺寸，调整AOI参数方式，这种AOI过检参数调整主要依赖于经验，且存在即使缺陷被AOI设备检测到，但检测参数设定不合理误把真缺陷认成假缺陷不显示出来导致缺陷漏检的隐患，因为AOI检测出来的缺陷数据繁杂，与实际成品判断良品和不良品的缺陷无法做到一一对应，无法做到可追溯，对检测仪缺陷类参数的调整准确性不高。
技术实现思路
<br>针对以上技术问题，本专利技术公开了一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理系统及管理方法，降低了AOI真假缺陷参数优化的周期，提高了缺陷类参数的调整准确性。对此，本专利技术采用的技术方案为：一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理方法，其包括以下步骤：步骤S1，缺陷标识装置接收各工序AOI发送的缺陷报文信息后，在有缺陷的膜面上印流水号，所述流水号依照AOI检测的缺陷先后顺序，依次编号，每一个流水号对应一处缺陷；步骤S2，缺陷标识装置在印流水号的同时，实时记录喷码状态数据；步骤S3，过检数字预处理，按实际片状成品检验结果为调整过检标准，判断哪些流水号的片状成品被判定为AOI过检的片状成品，然后调用被判定为过检片状成品上喷码的流水号对应的喷码信息；步骤S4，匹配过检数字图片，将流水号对应的过检缺陷ID一一匹配AOI过检缺陷图，建立AOI过检缺陷库；步骤S5，过检图片特征分析调参，分析AOI过检缺陷库中每张图片的缺陷特征值，根据缺陷特征值的规律，调整AOI过检参数。采用此技术方案，流水号标识与章型标识有着本质区别，流水号标识是一个缺陷对应一个数字喷印，在建立与各缺陷信息的对应关系的同时，不仅能满足后工程人工检验环节缺陷准确检出，还能实现后工程人工检验出的缺点追溯到前工程自动光学检测仪检测出的缺点信息，实现每一个缺点均具有准确性高的可追溯性，检测仪调参者可以利用每张样品上的唯一数字喷码进行缺点真假快速判断，来做到图实对应调整检测仪缺陷类参数，大大方便分类器参数的优化。作为本专利技术的进一步改进，步骤S2中，所述喷码状态数据包含各工序AOI报文信息和喷码状态信息。作为本专利技术的进一步改进，所述喷码状态数据包含当站卷号、接收各工序AOI的报文、喷码机器坐标、喷码膜材方向坐标、喷码状态、喷码流水号。作为本专利技术的进一步改进，所述喷码状态数据存储于服务器中。作为本专利技术的进一步改进，所述缺陷特征值包括长度、尺寸和宽度。作为本专利技术的进一步改进，流水号追溯对应AOI缺陷ID，探后利用python程序自动匹配AOI检测缺陷图谱作为本专利技术的进一步改进，所述流水号为从1开始，依次递增。即喷码数字1-99999。本专利技术还公开了一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理系统，其包括：AOI检查装置，用于检查片状成品的表面情况，并将发现的缺陷发送给缺陷标识装置；缺陷标识装置，接收各工序AOI发送的缺陷报文信息后，在有缺陷的膜面上印流水号，所述流水号依照AOI检测的缺陷先后顺序，依次编号，每一个流水号对应一处缺陷；服务器，在缺陷标识装置在印流水号的同时，实时记录喷码状态数据；判断哪些流水号的片状成品被判定为AOI过检的片状成品，然后调用被判定为过检片状成品上喷码的流水号对应的喷码信息；将流水号对应的过检缺陷ID一一匹配AOI过检缺陷图，建立AOI过检缺陷库；分析AOI过检缺陷库中每张图片的缺陷特征值，根据缺陷特征值的规律，调整AOI过检参数；存储器，存储喷码状态数据和AOI过检缺陷库。作为本专利技术的进一步改进，所述AOI检查装置包括AOI检查机和与其连接的若干个AOI摄像头，所述缺陷标识装置包括位于膜材上方的多个喷码头和与喷码头连接的喷码机电脑。本文中的名词解释如下：检出率：AOI对不良品能检查出来的比率，即检出不良欠点数占总欠点数的百分比。过检率：误判样品数量占总不良样品数据的百分比。与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：本专利技术的技术方案，依照AOI检测缺陷先后顺序，依次递增喷喷码流水号，并实时记录喷码状态数据，这样就可以推断出喷码的数字对应的实际AOI检测真缺陷是什么，过检缺陷是什么，降低了AOI真假缺陷参数优化的周期(AOI过检参数调整效率是5~10次)，能够快递降低AOI过检率，实现高效、充分利用AOI设备对产品的产品质量的检验功能，减轻后段全检负担，有利于制程品质检验人员对产品良率的更精准的反映。附图说明图1是本专利技术一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理方法的流程图。图2是本专利技术实施例的工作示意图。图3是本专利技术实施例的管理系统的示意图。图4是本专利技术实施例的过检流水码信息对应图。图5是本专利技术实施例的检出流水码信息对应图。图6是本专利技术实施例的过检缺陷数据库的示意图。图7是本专利技术实施例的检出缺陷的示意图。具体实施方式下面对本专利技术的较优的实施例作进一步的详细说明。一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理系统，如图3所示，其包括：AOI检查装置，用于检查片状成品的表面情况，并将发现的缺陷发送给缺陷标识装置；缺陷标识装置，接收各工序AOI发送的缺陷报文信息后，在有缺陷的膜面上印流水号，所述流水号依照AOI检测的缺陷先后顺序，依次编号，每一个流水号对应一处缺陷；服务器，在缺陷标识装置在印流水号的同时，实时记录喷码状态数据；判断哪些流水号的片状成品被判定为AOI过检的片状成品，然后调用被判定为过检片状成品上喷码的流水号对应的喷码信息；将流水号对应的过检缺陷ID一一匹配AOI过检缺陷图，建立AOI过检缺陷库；分析AOI过检缺陷库中每张图片的缺陷特征值，根据缺陷特征值的规律，调整AOI过检参数；存储器，存储喷码状态数据和AOI过检缺陷库。其中所述AOI检查装置包本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理方法，其特征在于，其包括以下步骤：/n步骤S1，缺陷标识装置接收各工序AOI发送的缺陷报文信息后，在有缺陷的膜面上印流水号，所述流水号依照AOI检测的缺陷先后顺序，依次编号，每一个流水号对应一处缺陷；/n步骤S2，缺陷标识装置在印流水号的同时，实时记录喷码状态数据；/n步骤S3，判断哪些流水号的片状成品被判定为AOI过检的片状成品，然后调用被判定为过检片状成品上喷码的流水号对应的喷码信息；/n步骤S4，将流水号对应的过检缺陷ID一一匹配AOI过检缺陷图，建立AOI过检缺陷库；/n步骤S5，分析AOI过检缺陷库中每张图片的缺陷特征值，根据缺陷特征值的规律，调整AOI过检参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于流水号喷码的AOI过检参数的管理方法，其特征在于，其包括以下步骤：
步骤S1，缺陷标识装置接收各工序AOI发送的缺陷报文信息后，在有缺陷的膜面上印流水号，所述流水号依照AOI检测的缺陷先后顺序，依次编号，每一个流水号对应一处缺陷；
步骤S2，缺陷标识装置在印流水号的同时，实时记录喷码状态数据；
步骤S3，判断哪些流水号的片状成品被判定为AOI过检的片状成品，然后调用被判定为过检片状成品上喷码的流水号对应的喷码信息；
步骤S4，将流水号对应的过检缺陷ID一一匹配AOI过检缺陷图，建立AOI过检缺陷库；
步骤S5，分析AOI过检缺陷库中每张图片的缺陷特征值，根据缺陷特征值的规律，调整AOI过检参数。


2.根据权利要求1所述的基于流水号喷码的AOI过检参数的管理方法，其特征在于：步骤S2中，所述喷码状态数据包含各工序AOI报文信息和喷码状态信息。


3.根据权利要求2所述的基于流水号喷码的AOI过检参数的管理方法，其特征在于：所述喷码状态数据包含当站卷号、接收各工序AOI的报文、喷码机器坐标、喷码膜材方向坐标、喷码状态、喷码流水号。


4.根据权利要求3所述的基于流水号喷码的AOI过检参数的管理方法，其特征在于：所述喷码状态数据存储于服务器中。


5.根据权利要求1~4任意一项所述的基于流水号喷码的AOI过检参数的管...

【专利技术属性】
技术研发人员：田霖，陈雪弟，杨维平，曾俊蓉，
申请(专利权)人：深圳市盛波光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44