一种小型封装霍尔开关元器件用测试座制造技术

一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，涉及霍尔开关测试用零部件技术领域，解决了现有的测试座结构受待测霍尔开关元器件的管脚影响，不同管脚的待测霍尔开关元器件就需要使用不同的测试座，通用性较低，成本较高的问题。技术方案包括基台，所述基台上设有上下贯通的基管，所述基管内设有替芯，所述替芯内上下贯穿有多个针孔，针孔内设有相互匹配的探针和针套，探针位于针套上方，针套底端连接到测试机，基管顶部连接有第一平台，所述替芯顶部设有第二平台，所述第一平台上连接有用于将其与第二平台相固定的固定件。达到了提高测试座通用性，并方便更换探针和针套或其他小零部件，且无需再次绕线，降低测试成本的效果。

A test stand for small package Hall switch components

【技术实现步骤摘要】
一种小型封装霍尔开关元器件用测试座
本技术涉及霍尔开关测试用零部件
，具体涉及一种小型封装霍尔开关元器件用测试座。
技术介绍
霍尔开关是在霍尔效应原理的基础上，利用集成封装和组装工艺制作而成，其内部通过集成霍尔电压发生器、信号放大器、施密特触发器、CMOS输出驱动器等，把磁输入信号转换成开关量电信号输出，具有无接触、低功耗、长寿命、响应频率高等特点，广泛应用于汽车点火系统、速度表、里程表、笔记本电脑等多种场合。随着微电子技术的发展，元器件实际尺寸越来越小，虽然，已有专用测试座来测试超小型封装霍尔开关元器件的电性能测试；但是，其结构受待测霍尔开关元器件的管脚影响，不同管脚的待测霍尔开关元器件就需要使用不同的测试座，通用性较低，成本较高。
技术实现思路
因此，本技术要解决的技术问题在于现有的装置通用性低，提高了测试成本，从而提供一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，其通用性高。本技术的技术方案如下所示。一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，包括基台，所述基台上设有上下贯通的基管，所述基管内设有替芯，所述替芯内上下贯穿有多个针孔，针孔内设有相互匹配的探针和针套，探针位于针套上方，针套底端连接到测试机，基管顶部连接有第一平台，所述替芯顶部设有第二平台，所述第一平台上连接有用于将其与第二平台相固定的固定件。优选的，第一平台抵接于第二平台下侧面，固定件包括转动连接于第一平台上方的水平杆，第二平台上开设有与水平杆相适配的通槽，所述水平杆的转轴贯穿第二平台上的通槽，所述水平杆抵接于第二平台上侧面。优选的，所述针套包括上部的大径段和下部的小径段。优选的，所述替芯包括上下抵接的上芯和下芯，所述上芯底端面与针套的大径段相交。优选的，所述上芯底端面与针套的大径段下端面共面。优选的，所述下芯底端开设有若干贯穿至其下端面的限位孔，所述基管底部连接有与限位孔相配合的限位块。优选的，所述基管内端面上设有沿其轴向设置的定位槽，替芯外表面上设有与定位槽相匹配的定位条。本技术技术方案，具有如下优点：1.本技术提供的一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，可以根据霍尔开关元器件的不同管脚，并通过替芯来进行更换探针和针套的数量和位置，提高了装置的通用性，无需重新绕线。2.本技术提供的一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，通过将替芯分为上芯和下芯，可以将嵌入下芯的针套整体进行替换，又或者将针套直接拔出，进一步彻底进行更换，节省探针与针套的使用，且便于将针套从替芯中拔出。3.本技术提供的一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，通过定位条、水平杆与限位块的设置，便于将替芯定位并固定于测试座中，防止测试过程中测试座内部发生位置的偏移，提高测试的准确性和流畅度。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术一实施方式中一种小型封装霍尔开关元器件用测试座的整体示意图；图2为本技术一实施方式中一种小型封装霍尔开关元器件用测试座的顶面的结构示意图。附图标记说明：1、基台；11、基管；111、限位块；12、第一平台；121、水平杆；2、替芯；21、第二平台；211、通槽；22、上芯；23、下芯；24、定位条；31、探针；32、针套。具体实施方式下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。请参阅图1，本技术提供了一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，包括基台1，基台1中央开孔，基台1的中央孔处焊接有上下贯通的基管11，基管11内设有替芯2，替芯2内上下贯穿有多个针孔，其位置和数量由待测霍尔开关元器件管脚确定，本实施例中，针孔设有3个，针孔内设有相互匹配的探针31和针套32，探针31位于针套32上方，针套32底端连接到测试机，探针31顶端设有与其同轴的圆柱形固定块，固定块顶端开设有用于定位待测霍尔开关元器件管脚的锥形槽。本实施方式中，请参阅图1，基管11顶部一体连接有水平的第一平台12，替芯2顶部一体连接有水平的第二平台21，第一平台12上连接有用于将其与第二平台21相固定的固定件。本实施方式中，请参阅图1和图2，第一平台12抵接于第二平台21下侧面，固定件包括转动连接于第一平台12上方的水平杆121，第二平台21上开设有与水平杆121相适配的通槽211，水平杆121的转轴贯穿第二平台21上的通槽211，水平杆121抵接于第二平台21上侧面。具体的，第二平台21上开设有直径等于水平杆121长度的沉台，水平杆121抵接于沉台底部，且水平杆121的上侧面与第二平台21的上侧面共面。本实施方式中，请参阅图1，针套32包括上部的大径段和下部的小径段，探针31插接于针套32的大径段中；替芯2包括上下抵接的上芯22和下芯23，上芯22底端面与针套32的大径段相交。具体的，上芯22底端面与针套32的大径段下端面共面。通过将替芯2分为上芯22和下芯23，可以将嵌入下芯23的针套32整体进行替换，又或者将针套32直接拔出，进一步彻底进行更换，节省探针31与针套32的使用，且便于将针套32从替芯2中拔出。本实施方式中，请参阅图1，下芯23底端开设有两贯穿至其下端面的限位孔，基管11底部连接有与限位孔相配合的限位块111，限位块111、下芯23下侧面、基管11底端面共面。本实施方式中，请参阅图2，基管11内端面上设有一沿其轴向设置的定位槽，替芯2外表面上皆焊接有与定位槽相匹配的定位条24。具体的，定位槽为V字形，定位条24底端倒角。本技术提供的一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，可以根据霍尔开关元器件的不同管脚，并通过替芯2来进行更换探针31和针套32的数量和位置，提高了装置的通用性，无需重新绕线。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，其特征在于，包括基台(1)，所述基台(1)上设有上下贯通的基管(11)，所述基管(11)内设有替芯(2)，所述替芯(2)内上下贯穿有多个针孔，针孔内设有相互匹配的探针(31)和针套(32)，探针(31)位于针套(32)上方，针套(32)底端连接到测试机，基管(11)顶部连接有第一平台(12)，所述替芯(2)顶部设有第二平台(21)，所述第一平台(12)上连接有用于将其与第二平台(21)相固定的固定件。/n

【技术特征摘要】
1.一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，其特征在于，包括基台(1)，所述基台(1)上设有上下贯通的基管(11)，所述基管(11)内设有替芯(2)，所述替芯(2)内上下贯穿有多个针孔，针孔内设有相互匹配的探针(31)和针套(32)，探针(31)位于针套(32)上方，针套(32)底端连接到测试机，基管(11)顶部连接有第一平台(12)，所述替芯(2)顶部设有第二平台(21)，所述第一平台(12)上连接有用于将其与第二平台(21)相固定的固定件。


2.根据权利要求1所述的一种小型封装霍尔开关元器件用测试座，其特征在于：第一平台(12)抵接于第二平台(21)下侧面，固定件包括转动连接于第一平台(12)上方的水平杆(121)，第二平台(21)上开设有与水平杆(121)相适配的通槽(211)，所述水平杆(121)的转轴贯穿第二平台(21)上的通槽(211)，所述水平杆(121)抵接于第二平台(21)上侧面。


3.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：何彬德，赵洪亮，
申请(专利权)人：张家港恩达通讯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32