一种接触电阻检测设备制造技术

本实用新型专利技术属于接触电阻测量技术领域，具体涉及一种接触电阻检测设备，用于对试片膜层接触电阻进行检测。现有技术无法保证检测过程中所施加的载荷压力始终保持稳定不变，另外指针式压力计的压力显示不够直观，且精度相对较差，最终综合导致试片膜层接触电阻检测数据的稳定性、重复性及准确性均不高。本实用新型专利技术的接触电阻检测设备，包括压力控制系统和直流低电阻测试系统，其中所述压力控制系统采用气压在电极之间施压，所述直流低电阻测试系统采用直流数字电阻测试仪进行电阻检测。准确性高，有效避免压力控制系统所引起的检测数据稳定性、重复性、准确性不高，以及直流电阻测试系统检测效率低、准确度不高、量程范围小的问题。

A kind of contact resistance testing equipment

【技术实现步骤摘要】
一种接触电阻检测设备
本技术属于接触电阻测量
，具体涉及一种接触电阻检测设备，用于对试片膜层接触电阻进行检测。
技术介绍
现有的接触电阻检测设备由压力控制系统和直流低电阻测试系统组成。其中压力控制系统如图1所示，其功能实现方式是通过手工操作液压泵4的方式，向放置于上、下接触铜电极3之间的试片膜层提供一定压力，使上、下接触铜电极3与试片膜层紧密接触，通过校准弹簧2和指针式压力计1来调节和显示试片膜层所承受规定的载荷值。但是通过人工控制输出压力，很难准确保证提供给试片膜层的载荷压力精度达到1％以上，检测接触电阻时，施加给试片膜层的载荷压力应持续保持几十分钟，无法保证所施加的载荷压力在检测时间内始终保持稳定不变，另外指针式压力计的压力显示不够直观，且精度相对较差，最终综合导致试片膜层接触电阻检测数据的稳定性、重复性及准确性均不高。其中直流低电阻测试系统的电路图如图2所示，其功能实现方式是使用凯尔文双臂电桥，对置于上下接触电极之间的试片膜层进行接触电阻检测。双臂电桥的工作原理是通过被测电阻与标准电阻，利用检流计求平衡的方式，进行不断比较而获得检测结果。检测周期长(一个试片需耗时几十分钟)，检测效率较低，而且准确度等级不高，最低量程为100μΩ。
技术实现思路
本技术的主要目的是针对上述现有技术的不足，提供一种试片膜层接触电阻检测设备，该设备能够有效避免压力控制系统所引起的检测数据稳定性、重复性、准确性不高，以及直流电阻测试系统检测效率低、准确度不高、量程范围小的问题。为实现上述目的，本技术采用以下技术方案：一种接触电阻检测设备，用于对试片膜层接触电阻进行检测，包括压力控制系统和直流低电阻测试系统，其中所述压力控制系统采用气压在电极之间施压，所述直流低电阻测试系统采用直流数字电阻测试仪进行电阻检测。所述压力控制系统包括气体压力控制单元和电气控制单元。所述气体压力控制单元包括气动三联体、压力释放阀、压力调节旋钮、汽缸和上、下接触铜电极，气源经过气动三联体、压力调节旋钮和汽缸作用在上接触铜电极上，下接触铜电极固定，压力释放阀用于保证安全气压。所述上、下接触铜电极，采用T2紫铜进行镀金表面工艺处理加工而成，其与膜层试片的接触表面的粗糙度为Ra0.1，平面度为0.002。所述电气控制单元包括系统压力仪表和工作压力仪表，通过系统压力仪表检测经气动三联体释放的气体压力，通过工作压力仪表检测经压力调节旋钮释放的气体压力。所述电气控制单元还包括力传感器和加紧/松开压力显示仪表，力传感器安装在上接触铜电极和汽缸之间，并通过加紧/松开压力显示仪表显示。所述电气控制单元还包含电源插孔、电源开关、电源指示灯、带灯控制按钮、电磁阀、继电器和直流稳压电源。所述直流数字电阻测试仪的电压负极与上接触铜电极连接，两个电阻输出接口分别与上、下接触铜电极连接，电压正极与膜层试片连接。有益效果：压力控制系统的功能实现方式是采用N2气体压力自动传输并可数字显示控制计量压力大小的方式来给膜层试片提供传输200PSi(±2PSi)压力,通过先进的数字压力测试仪和力传感器来调节膜层试片所承受的载荷值，自动化程度非常高。指针式压力仪表的控制精度最高为0.4级，本次技术检测设备的压力控制精度可达到0.2级。直流低电阻测试系统选用数字直流低阻测试仪来进行低阻测试，其工作原理是采用数字技术可以不必求平衡而在直接读取被测膜层试片的直流电阻值，测量方便、快捷。开尔文双臂测量电桥的系统总误差为±0.15％，数字直流低阻测试仪的系统测量误差为±0.05％。准确性高，膜层试片所承受的工作压力载荷值在给定前提下，影响接触电阻测试准确性的一个重要因素是上下接触电极的接触表面与膜层试片是否能够保证紧密接触，排除膜层试片表面本身不平整的影响因素外，上下接触电极的接触表面粗糙度、平面度、光亮度、上下表面接触间隙大小及防腐蚀保护技术如何尤为关键。首先其接触表面采用手工高精度研磨方法，保证其接触表面的粗糙度和平面度，满足自制设计技术要求；其次上接触电极采用弹性固定装配模式，可适时自动调节与膜层试片、下接触电极的间隙，达到整个接触表面之间的紧密接触；最后上下电极接触外表面采用电镀金技术，防止铜电极表面大气腐蚀氧化。附图说明图1是现有接触电阻检测设备使用的压力控制系统结构示意图；图2是现有接触电阻检测设备使用的直流低电阻测试系统的电路图；图3是本技术接触电阻检测设备的控制箱体主视图并部分剖视；图4是本技术接触电阻检测设备的控制箱体左视剖视图；图5是本技术接触电阻检测设备的控制箱体后视图并部分剖视；图6是本技术接触电阻检测设备的直流低电阻测试系统示意图。1、箱体，2、气源输入接口，3、气动三联体，4、压力释放阀，5、压力调节旋钮，6、电源开关，7、电源指示灯，8、系统压力表，9、工作压力显示仪表，10、夹紧力显示仪表，11、门板，12、压力加紧/松开按钮，13、电磁阀，14、直流稳压电源，15、继电器，16、支脚，17、下电极，18、上电极，19、力传感器，20、压力调节速度控制阀，21、支撑侧板，22、支撑底板，23、汽缸具体实施方式本技术的接触电阻检测设备由压力控制系统和直流低电阻测试系统组成。压力控制系统如图3-5所示，主要由控制箱体、气体压力控制单元和电气控制单元组成。控制箱体主要由底板、左右侧板、支撑板、支撑筋、门板、隔板、卡子组成。气体压力控制单元主要由气动三联体3、压力释放阀4、压力调节旋钮5、系统压力仪表8、工作压力仪表9、汽缸23、力传感器19及加紧/松开压力显示仪表12、上电极18、下电极17组成。气体压力控制单元的工作原理具体：气源通过气源输入接口2进入气动三联体3，经过净化过滤后通过系统压力仪表8检测压力，之后经压力调节输出至工作压力仪表9，以供给额定的气源压力。汽缸23、力传感器19与上接触铜电极18连接，气源压力再通过工作压力仪表9传输给汽缸23、力传感器19，最终作用到给上接触铜电极18，与固定安装在控制箱体内的下电极17之间形成压力，实现为膜层试片进行接触电阻试验提供所需压力，工作载荷压力调节范围为0～1000N，其中压力调节旋钮5可根据并行连接在力传感器19上的加紧力显示仪表10所显示的压力值实现工作载荷压力大小的调整。作为检测膜层试片接触电阻值的上电极18、下电极17，采用T2紫铜进行镀金表面工艺处理加工而成，起夹紧膜层试片作用，其与膜层试片的接触表面的粗糙度为Ra0.1，平面度为0.002。上电极17、下电极18侧面分别安装1个接线柱，用于连接直流数字低电阻测试系统的接线端子。电气控制单元主要包含电源开关6、电源指示灯7、带灯控制按钮(夹紧/松开)12、电磁阀13、继电器15、直流稳压电源14。AC220V电压通过电源插孔输入给直流稳压电源14用于提供电气控制所需电源，直流稳压电源14分别与电源开本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种接触电阻检测设备，用于对试片膜层接触电阻进行检测，包括压力控制系统和直流低电阻测试系统，其特征在于：所述压力控制系统采用气压在电极之间施压，所述直流低电阻测试系统采用直流数字电阻测试仪进行电阻检测。/n

【技术特征摘要】
1.一种接触电阻检测设备，用于对试片膜层接触电阻进行检测，包括压力控制系统和直流低电阻测试系统，其特征在于：所述压力控制系统采用气压在电极之间施压，所述直流低电阻测试系统采用直流数字电阻测试仪进行电阻检测。


2.根据权利要求1所述的接触电阻检测设备，其特征在于：所述压力控制系统包括气体压力控制单元和电气控制单元。


3.根据权利要求2所述的接触电阻检测设备，其特征在于：所述气体压力控制单元包括气动三联体(3)、压力释放阀(4)、压力调节旋钮(5)、汽缸(23)、上电极(18)、下电极(17)，气源经过气动三联体(3)、压力调节旋钮(5)和汽缸(23)作用在上电极(18)上，下电极(17)固定，压力释放阀(4)用于保证安全气压。


4.根据权利要求3所述的接触电阻检测设备，其特征在于：所述上电极(18)、下电极(17)，采用T2紫铜进行镀金表面工艺处理加工而成，其与膜层试片的接触表面的粗糙度为Ra0.1，平面度为0.002。


5...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊秋芹，赵锋涛，赵菊芝，
申请(专利权)人：庆安集团有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61