本发明专利技术公开一种中央处理器的负载率测量方法及电子设备,所述中央处理器的负载率测量方法包括判断当操作系统没有任务时,则所述操作系统进入空闲任务中,计算中央处理器的被占用时间,以及中央处理器的运行总时间,以得到中央处理器的负载率的第一数据,将所述空闲任务的运行时间作为中央处理器的空闲时间,根据所述中央处理器的空闲时间,以得到中央处理器的负载率的第二数据。本发明专利技术的中央处理器的负载率测量方法可以快速有效的测量中央处理器的负载率。
A load rate measurement method and electronic equipment of CPU
【技术实现步骤摘要】
一种中央处理器的负载率测量方法及电子设备
本专利技术涉及汽车嵌入式
,特别是涉及一种中央处理器的负载率测量方法及电子设备。
技术介绍
随着汽车工业的发展,汽车电子在汽车产品开发中越来越重要。为了解决汽车嵌入式软件系统种类繁多,高度依赖底层硬件的缺陷。汽车行业推出了AUTOSAR(汽车开放系统架构)这个统一的标准,该标准将汽车软件上层应用于底层硬件平台进行了分割,这样大大提高汽车软件的可移植性,也给软件系统的开发带来了便利。CPU(中央处理器)负载率是对一个时间段内CPU使用状况的统计指标,可以用来衡量在一段时间内CPU被占用情况,如果CPU的负载率一直处于过高的状态,则说明操作系统的空闲时间很少。一旦某些任务或中断发生超时,便很可能出现接下来的任务或中断不能正常执行的结果,这样就不能满足系统实时性的要求。并且CPU长期超负荷运作也会损害控制器的硬件。因此必须将CPU的负载率控制在一定的范围内,以保证系统能够稳定运行,并满足实时性的要求。现有技术中的CPU的负载率的测量主要通过硬件测量法进行测量,即通过外接的测试设备来测量CPU的负载率,硬件测量法的方法复杂,成本较高,因此迫切需要改进。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点,本专利技术的目的在于提供一种中央处理器的负载率测量方法及电子设备,用于解决现有技术中硬件测量法的方法复杂,成本较高的问题。为实现上述目的及其他相关目的,本专利技术提供一种中央处理器的负载率测量方法,所述中央处理器的负载率测量方法包括:<br>利用判断器判断当操作系统没有任务时,则所述操作系统进入空闲任务中;利用第一计算器计算中央处理器的被占用时间,以及中央处理器的运行总时间,以得到中央处理器的负载率的第一数据;利用时间获取器将所述空闲任务的运行时间作为中央处理器的空闲时间;利用第二计算器根据所述中央处理器的空闲时间,以得到中央处理器的负载率的第二数据。在本专利技术的一实施例中,所述中央处理器的负载率的第一数据为:ldcpu=tload/ttotal其中,ldcpu表示中央处理器的负载率,tload表示中央处理器的被占用时间,ttoral表示中央处理器的运行总时间。在本专利技术的一实施例中,所述根据所述中央处理器的空闲时间,以得到中央处理器的负载率的第二数据的步骤包括:利用所述中央处理器的空闲时间,以及中央处理器的被占用时间,以得到中央处理器的运行总时间的表示数据;根据所述中央处理器的运行总时间的表示数据,以及中央处理器的负载率的第一数据,以得到中央处理器的负载率的第二数据。在本专利技术的一实施例中,所述中央处理器的运行总时间的表示数据为:ttotal=tload+tidle其中,ttotal表示中央处理器的运行总时间,tload表示中央处理器的被占用时间,tidle表示中央处理器的空闲时间。在本专利技术的一实施例中,所述中央处理器的负载率的第二数据为:ldcpu=1-tidle/ttotal其中,ldcpu表示中央处理器的负载率,tidle表示中央处理器的空闲时间,ttotal表示中央处理器的运行总时间。在本专利技术的一实施例中,所述计算中央处理器的被占用时间的步骤包括:读取所述中央处理器的编号;根据所述中央处理器的编号,所述中央处理器读取系统计时器的当前时间值;判断所述当前时间值是否大于等于上一次时间值,以计算当前时间值与上一次时间值之间的时间间隔;判断所述时间间隔是否大于设定阈值,以得到所述中央处理器的被占用时间;更新上一次时间值;继续执行读取所述中央处理器的编号的操作。在本专利技术的一实施例中,所述判断所述当前时间值是否大于等于上一次时间值,以计算当前时间值与上一次时间值之间的时间间隔的步骤包括:判断所述当前时间值是否大于等于上一次时间值,若是,则计算当前时间值与上一次时间值之间的时间间隔,若否,则计算所述中央处理器的负载率,将所述中央处理器的负载率清零,继续执行更新上一次时间值的操作。在本专利技术的一实施例中,所述判断所述时间间隔是否大于设定阈值,以得到所述中央处理器的被占用时间的步骤包括:判断所述时间间隔是否大于设定阈值,若是,则得到所述中央处理器的被占用时间;若否,则继续执行更新上一次时间值的操作。本专利技术还提供一种中央处理器的负载率测量系统,所述中央处理器的负载率测量系统包括:判断器,用于判断当操作系统没有任务时,则所述操作系统进入空闲任务中;第一计算器,用于计算中央处理器的被占用时间,以及中央处理器的运行总时间,以得到中央处理器的负载率的第一数据;时间获取器,用于将所述空闲任务的运行时间作为中央处理器的空闲时间;第二计算器,根据所述中央处理器的空闲时间,以得到中央处理器的负载率的第二数据。本专利技术还提供一种电子设备,包括处理器和存储器,所述存储器存储有程序指令,所述处理器运行程序指令实现上述的中央处理器的负载率测量方法。如上所述,本专利技术的一种中央处理器的负载率测量方法及电子设备,具有以下有益效果:本专利技术的中央处理器的负载率测量方法包括判断当操作系统没有任务时,则所述操作系统进入空闲任务中,计算中央处理器的被占用时间,以及中央处理器的运行总时间,以得到中央处理器的负载率的第一数据,将所述空闲任务的运行时间作为中央处理器的空闲时间,根据所述中央处理器的空闲时间,以得到中央处理器的负载率的第二数据。本专利技术的中央处理器的负载率测量方法完全不用借助任何的外接测试设备,只靠系统软件本身就可以快速有效的测量中央处理器的负载率,本专利技术简单实用,成本也较为低廉。本专利技术基于AUTOSAR操作系统的任务结构,即为OSEK操作系统的任务结构,利用AUTOSAR操作系统中规定的空闲任务来实现中央处理器的负载率的测量。附图说明图1为本申请实施例提供的一种中央处理器的负载率测量方法的工作流程图。图2为本申请实施例提供的图1中一种中央处理器的负载率测量方法的步骤S4的工作流程图。图3为本申请实施例提供的一种中央处理器的负载率测量方法的计算中央处理器的被占用时间的工作流程图。图4为本申请实施例提供的一种中央处理器的负载率测量方法的部署结构示意图。图5为本申请实施例提供的一种中央处理器的负载率测量系统的结构框图。图6为本申请实施例提供的一种电子设备的结构框图。元件标号说明1单片机2判断器3第一计算器4时间获取器5第二计算器10存储器20处理器具体实施方式以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种中央处理器的负载率测量方法,其特征在于,所述中央处理器的负载率测量方法包括:/n利用判断器判断当操作系统没有任务时,则所述操作系统进入空闲任务中;/n利用第一计算器计算中央处理器的被占用时间,以及中央处理器的运行总时间,以得到中央处理器的负载率的第一数据;/n利用时间获取器将所述空闲任务的运行时间作为中央处理器的空闲时间;/n利用第二计算器根据所述中央处理器的空闲时间,以得到中央处理器的负载率的第二数据。/n
【技术特征摘要】
1.一种中央处理器的负载率测量方法,其特征在于,所述中央处理器的负载率测量方法包括:
利用判断器判断当操作系统没有任务时,则所述操作系统进入空闲任务中;
利用第一计算器计算中央处理器的被占用时间,以及中央处理器的运行总时间,以得到中央处理器的负载率的第一数据;
利用时间获取器将所述空闲任务的运行时间作为中央处理器的空闲时间;
利用第二计算器根据所述中央处理器的空闲时间,以得到中央处理器的负载率的第二数据。
2.根据权利要求1所述的一种中央处理器的负载率测量方法,其特征在于,所述中央处理器的负载率的第一数据为:
ldcpu=tload/ttotal
其中,ldcpu表示中央处理器的负载率,tload表示中央处理器的被占用时间,ttotal表示中央处理器的运行总时间。
3.根据权利要求1所述的一种中央处理器的负载率测量方法,其特征在于,所述根据所述中央处理器的空闲时间,以得到中央处理器的负载率的第二数据的步骤包括:
利用所述中央处理器的空闲时间,以及中央处理器的被占用时间,以得到中央处理器的运行总时间的表示数据;
根据所述中央处理器的运行总时间的表示数据,以及中央处理器的负载率的第一数据,以得到中央处理器的负载率的第二数据。
4.根据权利要求3所述的一种中央处理器的负载率测量方法,其特征在于,所述中央处理器的运行总时间的表示数据为:
ttotal=tload+tidle
其中,ttotal表示中央处理器的运行总时间,tload表示中央处理器的被占用时间,tidle表示中央处理器的空闲时间。
5.根据权利要求3所述的一种中央处理器的负载率测量方法,其特征在于,所述中央处理器的负载率的第二数据为:
ldcpu=1-tidle/ttotal
其中,ldcpu表示中央处理器的负载率,tidle表示中央处理器的空闲时间,ttotal表示中央处理器的运行总时间。
6.根据权利要求1所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱元,葛纹材,
申请(专利权)人:同济大学,
类型:发明
国别省市:上海;31
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