本发明专利技术涉及一种定时校准方法、装置及定时器，该方法包括：利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号；根据采样结果，对定时器进行校准。本发明专利技术提供的技术方案，利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号，根据采样结果，对定时器进行校准，解决了定时器内部低频时钟信号触发定时器计时时，定时不准的问题，满足用户低成本和低功耗的要求。
【技术实现步骤摘要】
一种定时校准方法、装置及定时器
本专利技术涉及芯片时钟校准
，具体涉及一种定时校准方法、装置及定时器。
技术介绍
目前IC(IntegratedCircuit，集成电路)芯片的时钟来源包括：内部的RC振荡器和外部的晶体振荡器。其中，内部的RC振荡器包括：HIRC高频振荡器和LIRC低频振荡器；外部的晶体振荡器包括：HOSC高频振荡器和LOSC低频振荡器；外部的晶体振荡器，晶振精度高，且受温度影响小；而内部的内部的RC振荡器的时钟精度低，且受温度影响大。IC芯片内部的HIRC和LIRC，在CP/FT(ChipProbing/FinalTest，晶圆测试/功能测试)时会在常温下进行校准一次，使得输出的时钟频率接近理论值，并把校准值写入OTP(One-timePassword，也称动态口令)中，以后IC芯片会使用这个值。但这个校准值不可修改，即只是一种温度下的校准值。实际应用中，RTC(Real_TimeClock，驱动程序)定时器使用外部的低频时钟时，定时确实比较准确，但是有时候，为了节省一个外部的低频晶振，或者在低功耗休眠模式下，外部的晶振以及内部的HIRC都需要关闭，只能使用内部的LIRC。而使用内部的LIRC作为定时时钟时，由于温度影响，时钟频率会有2％左右的误差，这样必然导致定时不准。
技术实现思路
为至少在一定程度上克服相关技术中存在的问题，本专利技术提供一种定时校准方法、装置及定时器，以解决现有技术中定时器内部低频时钟信号触发定时器计时时，定时不准的问题。根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种定时校准方法，包括：利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号；根据采样结果，对定时器进行校准。优选地，所述根据采样结果，对定时器进行校准，包括：根据采样结果计算补偿值；读取定时器的当前时间，并在当前时间上补偿所述补偿值，得到校准后的时间。优选地，所述根据采样结果计算补偿值，包括：获取预设采样时长内，所述高频时钟信号的实际采样次数；计算预设采样时长内，所述高频时钟信号的理论采样次数；根据所述实际采样次数与理论采样次数的差值，计算补偿值。优选地，所述在当前时间上补偿所述补偿值，包括：如果所述实际采样次数大于所述理论采样次数，则在当前时间上增加所述补偿值的绝对值；或者，如果所述实际采样次数小于所述理论采样次数，则在当前时间上减小所述补偿值的绝对值。优选地，所述高频时钟信号的频率与所述内部低频时钟信号的频率的比值大于预设数值。优选地，所述高频时钟信号包括：定时器的外部高频时钟信号。优选地，所述利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号，包括：在定时器正常运行后，或者，定时器休眠唤醒后，利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号。优选地，所述内部低频时钟信号为LIRC时钟信号。优选地，所述高频时钟信号为HOSC时钟信号。根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种定时校准装置，包括：采样模块，用于利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号；校准模块，用于根据采样结果，对定时器进行校准。优选地，所述校准模块，包括：计算模块，用于根据采样结果计算补偿值；补偿模块，用于读取定时器的当前时间，并在当前时间上补偿所述补偿值，得到校准后的时间。优选地，所述计算模块，具体用于：获取预设采样时长内，所述高频时钟信号的实际采样次数；计算预设采样时长内，所述高频时钟信号的理论采样次数；根据所述实际采样次数与理论采样次数的差值，计算补偿值。优选地，所述获取预设采样时长内，所述高频时钟信号的实际采样次数，包括：响应所述采样模块的中断，根据所述中断次数，得到实际采样次数；或者，读取所述采样模块的状态寄存器的数值，根据所述数值，得到实际采样次数。优选地，所述获取预设采样时长内，所述高频时钟信号的实际采样次数，具体为：通过计数寄存器，获取获取预设采样时长内，所述高频时钟信号的实际采样次数。根据本专利技术实施例的第三方面，提供一种定时器，包括：如上述的定时校准装置。本专利技术的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号，根据采样结果，对定时器进行校准，解决了定时器内部低频时钟信号触发定时器计时时，定时不准的问题，满足用户低成本和低功耗的要求。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。图1是根据一示例性实施例示出的一种定时校准方法的流程图；图2是根据一示例性实施例示出的LIRC时钟信号的波形示意图；图3是根据一示例性实施例示出的LIRC时钟信号被采样的波形示意图；图4是根据另一示例性实施例示出的一种定时校准方法的流程图；图5是根据一示例性实施例示出的一种定时校准装置的示意框图；图6是根据另一示例性实施例示出的一种定时校准装置的示意框图。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本专利技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本专利技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。图1是根据一示例性实施例示出的一种定时校准方法的流程图，如图1所示，该方法包括：步骤S11、利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号；步骤S12、根据采样结果，对定时器进行校准。需要说明的是，本实施例提供的这种定时校准方法，适用于集成芯片中。本实施例提供的技术方案，利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号，根据采样结果，对定时器进行校准，解决了定时器内部低频时钟信号触发定时器计时时，定时不准的问题，满足用户低成本和低功耗的要求。优选地，所述根据采样结果，对定时器进行校准，包括：根据采样结果计算补偿值；读取定时器的当前时间，并在当前时间上补偿所述补偿值，得到校准后的时间。可以理解的是，本实施例提供的技术方案，定时器计时校准方法简单，便于操作易实施，成本低，用户体验度高。优选地，所述根据采样结果计算补偿值，包括：获取预设采样时长内，所述高频时钟信号的实际采样次数；计算预设采样时长内，所述高频时钟信号的理论采样次数；根据所述实际采样次数与理论采样次数的差值，计算补偿值。优选地，所述根据所述实际采样次数与理论采样次数的差值，计算补偿值，具体为：根据公式：补偿值＝(实际采样次数-理论采样次数)/理论采样次数，或者，补偿值＝(理论采样本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种定时校准方法，其特征在于，包括：/n利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号；/n根据采样结果，对定时器进行校准。/n
【技术特征摘要】
1.一种定时校准方法，其特征在于，包括：
利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号；
根据采样结果，对定时器进行校准。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据采样结果，对定时器进行校准，包括：
根据采样结果计算补偿值；
读取定时器的当前时间，并在当前时间上补偿所述补偿值，得到校准后的时间。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据采样结果计算补偿值，包括：
获取预设采样时长内，所述高频时钟信号的实际采样次数；
计算预设采样时长内，所述高频时钟信号的理论采样次数；
根据所述实际采样次数与理论采样次数的差值，计算补偿值。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在当前时间上补偿所述补偿值，包括：
如果所述实际采样次数大于所述理论采样次数，则在当前时间上增加所述补偿值的绝对值；或者，
如果所述实际采样次数小于所述理论采样次数，则在当前时间上减小所述补偿值的绝对值。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述高频时钟信号的频率与所述内部低频时钟信号的频率的比值大于预设数值。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述高频时钟信号包括：定时器的外部高频时钟信号。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号，包括：
在定时器正常运行后，或者，定时器休眠唤醒后，利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号。
8.根据权利要求1～7任一项所述的方法，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭小卫，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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