显示模组及显示模组的制作方法技术

本揭示实施例提供一种显示模组及显示模组的制作方法，所述显示模组包括包括显示部分、非显示部分和测试组件部分，非显示部分包括端子区，显示模组还包括：衬底基板；层间绝缘层，设置于衬底基板上；金属线层，设置于层间绝缘层远离衬底基板的一侧上，金属线层包括多条数据信号线；测试键，设置于测试组件部分，与金属线层设置于同一层；第一电极层，覆盖数据信号线靠近端子区的部分和测试键。通过检测测试键的电阻特性，判断靠近端子区一侧的数据信号线的腐蚀情况，实现对非显示部分靠近端子区的数据信号线的监测，避免包含有被腐蚀而失效的数据信号线的显示模组流入后续工艺制程，提高产品的良率，并节省生产成本。

Display module and method of making display module

【技术实现步骤摘要】
显示模组及显示模组的制作方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示模组及显示模组的制作方法。
技术介绍
现有显示面板的显示模组制程中，位于非显示部分并且靠近集成电路端子区一侧的数据信号线，因需要在后续模组绑定工艺中贴附集成电路芯片一侧的端子，所以此部分的数据信号线需要外漏，而未覆盖有平坦化层和钝化保护层。在后续制程工艺中，往往会因为蚀刻液残留等现象使得该部分的数据信号线被腐蚀，而不能及时发现，流入后续产品制程中，会影响产品的电学特性，造成产品良率损失。故，有必要提供一种显示模组和显示模组的制作方法来改善这一缺陷。
技术实现思路
本揭示实施例提供一种显示模组和显示模组的制作方法，用于解决现有显示模组存在的靠近集成电路端子区一侧的数据信号线被腐蚀而影响产品的电学性能的问题。本揭示实施例提供一种显示模组，包括显示部分、非显示部分和测试组件部分，所述测试组件部分设置于所述非显示部分远离所述显示部分的一侧，所述非显示部分包括端子区，所述显示模组还包括：衬底基板；层间绝缘层，设置于所述衬底基板上；金属线层，设置于所述层间绝缘层远离所述衬底基板的一侧上，所述金属线层包括多条数据信号线，所述数据信号线用于连接所述显示部分和所述端子区；测试键，设置于所述测试组件部分，并且与所述金属线层设置于同一层；以及第一电极层，设置于所述金属线层远离所述层间绝缘层的一侧，并覆盖所述数据信号线靠近所述端子区的部分和所述测试键。根据本揭示一实施例，所述层间绝缘层远离所述衬底基板的一侧设有平坦层，所述平坦层在所述测试组件部分设有开口，所述测试键设置于所述开口内。根据本揭示一实施例，所述平坦层远离所述层间绝缘层一侧设有钝化保护层，所述钝化保护层覆盖所述平坦层，并延伸至所述测试键周围。根据本揭示一实施例，所述测试键包括至少两个测试焊盘和测试引线，所述测试引线的两端分别与所述测试焊盘连接。根据本揭示一实施例，所述测试引线的形状包括S型或Z型。根据本揭示一实施例，所述测试引线的相邻部分之间形成间隙，所述钝化保护层填充至所述间隙内。根据本揭示一实施例，所述测试引线的宽度和高度与所述数据信号线的宽度和高度相同。根据本揭示一实施例，所述显示模组为液晶显示模组或有机发光二极管显示模组。本揭示实施例还提供一种显示模组的制作方法，包括：提供衬底基板，所述衬底基板包括显示部分、非显示部分和测试组件部分，所述非显示部分包括端子区，在所述衬底基板上形成金属层；刻蚀所述金属层，形成用于连接所述显示部分和所述端子区的数据信号线，以及位于所述测试组件部分的测试键；在所述金属层远离所述衬底基板的一侧形成第一电极层，所述第一电极层覆盖所述数据信号线靠近所述端子区的部分和所述测试键；刻蚀所述第一电极层，形成第一电极图案；以及对所述测试键进行电阻特性检测，以根据预设的电阻特性值判断是否符合产品的质量标准的要求。根据本揭示一实施例，所述测试键包括至少两个测试焊盘和测试引线，所述测试引线的两端分别与所述测试焊盘连接。本揭示实施例的有益效果：本揭示实施例在显示模组的测试组件部分设置与金属线层位于同一层的测试键，并将第一电极层覆盖所述测试键，在对第一电极层的刻蚀完成后，通过检测所述测试键的电阻特性，判断靠近端子区一侧的数据信号线的腐蚀情况，实现对非显示部分靠近端子区的数据信号线的监测，避免包含有被腐蚀而失效的数据信号线的显示模组流入后续工艺制程，提高产品的良率，并节省生产成本。附图说明为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是揭示的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本揭示实施例提供的显示模组的平面结构示意图；图2为本揭示实施例提供的显示模组的截面结构示意图；图3为本揭示实施例提供的测试键的平面结构示意图；图4为本揭示实施例提供的显示模组的制作方法的流程示意图。具体实施方式以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本揭示可用以实施的特定实施例。本揭示所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本揭示，而非用以限制本揭示。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。下面结合附图和具体实施例对本揭示做进一步的说明：本揭示实施例提供一种显示模组，下面结合图1至图3进行详细说明。如图1所示，图1为本揭示实施例提供的显示模组100的平面结构示意图，所述显示模组100包括显示部分11、位于所述显示部分11周围的非显示部分12以及测试组件部分13，所述测试组件部分13设置于所述非显示部分12远离所述显示部分11的一侧。其中，所述显示部分11即为显示模组100的有效发光区域，位于所述显示部分11周围的非显示部分12则用于布置驱动线路以及各种测试线路。如图1所示，所述非显示部分12包括端子区121，所述端子区121用于与电路集成芯片绑定连接，所述端子区121和显示部分11之间通过金属线层(图中未示出)中的多条数据信号线123进行连接。所述数据信号线123在靠近所述端子区121的一侧需要在后续模组绑定工艺中贴附集成电路芯片的端子，因此需要暴露出来，不能被其他膜层遮挡。所述数据信号线123所在的金属线层为本领域中常见的第二金属层，位于显示部分11内与所述数据信号线123连接的Data线、以及薄膜晶体管中的源极和漏极通常也设置于所述第二金属层中。图1中设置于端子区121与显示部分11之间的celltest单元122以及arraytest单元(图中未示出)则用于检测显示部分11的特性值，此部分与现有技术中阵列基板中的结构相同，不做具体描述。所述测试组件部分13设置有多个测试键130，多个所述测试键130分别用于监控监控显示模组100的电路中的薄膜晶体管、线电阻或面电阻、不同导体间的接触电阻、电容等各种组件的接触电阻特性。如图2所示，图2为本揭示实施例提供的显示模组100的截面结构示意图，所述显示模组100包括衬底基板141、设置于所述衬底基板上的缓冲层142、设置于所述缓冲层142上的栅极绝缘层143和设置于所述栅极绝缘层143上的层间绝缘层144。所述金属层设置于所述层间绝缘层144上，所述第一测试键131与所述金属层设置于同一层。所述层间绝缘层144上还设有平坦层145，所述平坦层145在所述测试组件部分13内设有开口，所述开口暴露出位于所述平坦层下方的层间绝缘层144，所述第一测试键131设置于所述开口内。所述平坦层145远离所述层间绝缘层144的一侧设有钝化保护层146，所述钝化保护层146覆盖所述平坦层145，以及所述开口，并延伸至所述第一测试键13本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示模组，其特征在于，包括显示部分、非显示部分和测试组件部分，所述测试组件部分设置于所述非显示部分远离所述显示部分的一侧，所述非显示部分包括端子区，所述显示模组还包括：/n衬底基板；/n层间绝缘层，设置于所述衬底基板上；/n金属线层，设置于所述层间绝缘层远离所述衬底基板的一侧上，所述金属线层包括多条数据信号线，所述数据信号线用于连接所述显示部分和所述端子区；/n测试键，设置于所述测试组件部分内，并且与所述金属线层设置于同一层；以及/n第一电极层，设置于所述金属线层远离所述层间绝缘层的一侧，并覆盖所述数据信号线靠近所述端子区的部分和所述测试键。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示模组，其特征在于，包括显示部分、非显示部分和测试组件部分，所述测试组件部分设置于所述非显示部分远离所述显示部分的一侧，所述非显示部分包括端子区，所述显示模组还包括：
衬底基板；
层间绝缘层，设置于所述衬底基板上；
金属线层，设置于所述层间绝缘层远离所述衬底基板的一侧上，所述金属线层包括多条数据信号线，所述数据信号线用于连接所述显示部分和所述端子区；
测试键，设置于所述测试组件部分内，并且与所述金属线层设置于同一层；以及
第一电极层，设置于所述金属线层远离所述层间绝缘层的一侧，并覆盖所述数据信号线靠近所述端子区的部分和所述测试键。


2.如权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述层间绝缘层远离所述衬底基板的一侧设有平坦层，所述平坦层在所述测试组件部分设有开口，所述测试键设置于所述开口内。


3.如权利要求2所述的显示模组，其特征在于，所述平坦层远离所述层间绝缘层一侧设有钝化保护层，所述钝化保护层覆盖所述平坦层，并延伸至所述测试键周围。


4.如权利要求3所述的显示模组，其特征在于，所述测试键包括至少两个测试焊盘和测试引线，所述测试引线的两端分别与所述测试焊盘连接。


5.如权利要求4所述的显示模组，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘鹏鹏，谭刚，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42