本发明专利技术揭示一种信号数据分析系统及其分析方法,该信号数据分析系统包括:信号数据标准值数据库,其预存电子设备的信号数据对应的标准值;输入单元,其收集待测试电子设备数据以及测试人员数据;检测单元,其根据收集的测试电子设备数据以及测试人员数据,对该电子设备的FRID功能进行检测,并得出一射频信号数据检测结果;处理单元,其将所述射频信号数据检测结果与信号数据标准值数据库中的标准值进行对比,并得出一对比结果;显示单元,其显示对比结果;关闭单元,其关闭所述信号数据分析系统。利用本发明专利技术的信号数据分析系统及其分析方法,可以有效避免人为检测因视觉疲劳而出现错看误判的情况,以及方便后续追踪。
Signal data analysis system and analysis method
【技术实现步骤摘要】
信号数据分析系统及其分析方法
本专利技术涉及一种分析系统及其分析方法,特别是涉及一种信号数据分析系统及其分析方法。
技术介绍
RFID(RadioFrequencyIdentification,射频识别)技术,又称无线射频识别,是一种通信技术,可通过无线电信号识别特定目标并读写相关数据,而无需识别系统与特定目标之间建立机械或光学接触。无线电的信号是通过调成无线电频率的电磁场,把数据从附着在物品上的标签上传送出去,以自动辨识与追踪该物品。射频识别技术广泛应用于物流和供应管理、生产制造和装配、航空行李处理、邮件/快运包裹处理、文档追踪/图书馆管理、动物身份标识、运动计时、门禁控制/电子门票、道路自动收费、一卡通、仓储中塑料托盘、周转筐中。目前,工厂端研发一款具有RFID功能的电子产品,现阶段检测人员在对其RFID功能检测时,通过一测试仪器对该电子产品进行射频信号测试,最后人为判断该电子产品产生的信号数据是否符合生产标准。然而,在上述检测过程中,由于是通过人为观察判断检测结果,可能会因视觉疲劳而出现错看误判的情况。并且,电子产品的测试结果没有记录保存,后续无法追踪检测结果。有鉴于此,实有必要开发一种信号数据分析系统及其分析方法,以解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种信号数据分析系统及其分析方法,以解决人为观察判断因视觉疲劳而出现错看误判、误操作的情况,以及射频信号测试结果无法保存的问题。为了达到上述目的,本专利技术提供的信号数据分析系统,用于测试电子设备的射频信号功能,其包括:信号数据标准值数据库,其预存电子设备的信号数据对应的标准值;输入单元,其收集待测试电子设备数据以及测试人员数据;检测单元,其与输入单元相连接,该检测单元根据收集的测试电子设备数据以及测试人员数据,对该电子设备的FRID功能进行检测,并得出一射频信号数据检测结果;处理单元,其与检测单元及信号数据标准值数据库相连接,该处理单元将所述射频信号数据检测结果与信号数据标准值数据库中的标准值进行对比,并得出一对比结果;显示单元,其与所述处理单元连接,该显示单元显示对比结果;关闭单元,其与所述显示单元连接,该关闭单元关闭所述信号数据分析系统。可选的,所述输入单元通过扫码设备来获取测试电子设备数据。可选的,所述电子设备数据包括产品流水号数据、产品序列号数据及产品条形码数据,测试人员数据包括测试工位数据及测试人员工号数据。可选的,所述射频信号数据检测结果是根据电子设备30秒内的射频信号强度的平均值计算得出。可选的,所述信号数据分析系统还连接至一存储单元,所述处理单元将对比结果传送至所述存储单元进行保存。本专利技术还提供一种信号数据分析方法,应用于上述信号数据分析系统中,包括以下步骤:(1)在信号数据标准值数据库预存电子设备的信号数据对应的标准值;(2)输入单元收集待测试电子设备数据以及测试人员数据;(3)检测单元对该电子设备的FRID功能进行检测,并得出一射频信号数据检测结果;(4)处理单元将所述射频信号数据检测结果与信号数据标准值数据库中的标准值进行对比,并得出一对比结果;(5)显示单元显示对比结果;(6)关闭单元关闭所述信号数据分析系统。可选的,所述步骤(4)后还包括步骤(7),处理单元将对比结果传送至一存储单元进行保存。可选的,所述步骤(4)中对比结果是以产品流水号命名的log文档或者txt文档。可选的,所述步骤(6)中关闭单元在显示单元显示5秒后关闭所述信号数据分析系统。本专利技术的信号数据分析系统及其分析方法,由于是通过检测单元自动对电子设备进行射频信号检测,而且是通过处理单元自动判断测试结果,可以有效避免人为检测因视觉疲劳而出现错看误判的情况,从而使检测结果更可靠、准确。此外,可以对检测结果进行保存及记录,以及方便后续追踪。【附图说明】图1绘示为本专利技术的信号数据分析系统的示意图。图2绘示为本专利技术的信号数据分析方法的流程图。【具体实施方式】为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果,以下结合本专利技术的一较佳实施例及其附图进行详细描述。请参阅图1,图1绘示为本专利技术的信号数据分析系统的示意图。于本实施例中,本专利技术提供的信号数据分析系统100,用于测试电子设备的射频信号功能,其包括:信号数据标准值数据库10,其预存电子设备的信号数据对应的标准值;输入单元20,其收集待测试电子设备数据以及测试人员数据;检测单元30,其与输入单元20相连接,该检测单元30根据收集的测试电子设备数据以及测试人员数据,对该电子设备的FRID功能进行检测,并得出一射频信号数据检测结果;处理单元40,其与检测单元30及信号数据标准值数据库10相连接,该处理单元40将所述射频信号数据检测结果与信号数据标准值数据库10中的标准值进行对比,并得出一对比结果;显示单元50,其与所述处理单元40连接,该显示单元50显示对比结果;关闭单元60,其与所述显示单元50连接,该关闭单元60关闭所述信号数据分析系统100。于本实施例中,所述输入单元20通过扫码设备来获取测试电子设备数据。于本实施例中,所述电子设备数据包括产品流水号数据、产品序列号数据及产品条形码数据,测试人员数据包括测试工位数据及测试人员工号数据。于本实施例中,所述射频信号数据检测结果是根据电子设备30秒内的射频信号强度的平均值计算得出。于本实施例中,所述信号数据分析系统100还连接至一存储单元,所述处理单元40将对比结果传送至所述存储单元进行保存。请参阅图2,图2绘示为本专利技术的信号数据分析方法的流程图。本专利技术提供的信号数据分析方法,应用于上述信号数据分析系统100中,包括以下步骤:S1:在信号数据标准值数据库10预存电子设备的信号数据对应的标准值;S2:输入单元20收集待测试电子设备数据以及测试人员数据;S3:检测单元30对该电子设备的FRID功能进行检测,并得出一射频信号数据检测结果;S4:处理单元40将所述射频信号数据检测结果与信号数据标准值数据库10中的标准值进行对比,并得出一对比结果;S5:显示单元50显示对比结果;S6:关闭单元60关闭所述信号数据分析系统100。于本实施例中,所述步骤S4后还包括步骤S7,处理单元40将对比结果传送至一存储单元进行保存。于本实施例中,所述步骤S4中对比结果是以产品流水号命名的log文档或者txt文档。于本实施例中,所述步骤S7中关闭单元60在显示单元50显示5秒后关闭所述信号数据分析系统100。相较于现有技术,本专利技术的信号数据分析系统及其分析方法,由于是通过检测单元30自动对电子设备进行射频信号检测,而且是通过处理单元40自动判断测试结果,可以有效避免人为检测因视觉疲劳而出现错看误判本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一信号数据分析系统,其特征在于,包括:/n信号数据标准值数据库,其预存电子设备的信号数据对应的标准值;/n输入单元,其收集待测试电子设备数据以及测试人员数据;/n检测单元,其与输入单元相连接,该检测单元根据收集的测试电子设备数据以及测试人员数据,对该电子设备的FRID功能进行检测,并得出一射频信号数据检测结果;/n处理单元,其与检测单元及信号数据标准值数据库相连接,该处理单元将所述射频信号数据检测结果与信号数据标准值数据库中的标准值进行对比,并得出一对比结果;/n显示单元,其与所述处理单元连接,该显示单元显示对比结果;/n关闭单元,其与所述显示单元连接,该关闭单元关闭所述信号数据分析系统。/n
【技术特征摘要】
1.一信号数据分析系统,其特征在于,包括:
信号数据标准值数据库,其预存电子设备的信号数据对应的标准值;
输入单元,其收集待测试电子设备数据以及测试人员数据;
检测单元,其与输入单元相连接,该检测单元根据收集的测试电子设备数据以及测试人员数据,对该电子设备的FRID功能进行检测,并得出一射频信号数据检测结果;
处理单元,其与检测单元及信号数据标准值数据库相连接,该处理单元将所述射频信号数据检测结果与信号数据标准值数据库中的标准值进行对比,并得出一对比结果;
显示单元,其与所述处理单元连接,该显示单元显示对比结果;
关闭单元,其与所述显示单元连接,该关闭单元关闭所述信号数据分析系统。
2.如权利要求1中所述的信号数据分析系统,其特征在于,所述输入单元通过扫码设备来获取测试电子设备数据。
3.如权利要求1中所述的信号数据分析系统,其特征在于,所述电子设备数据包括产品流水号数据、产品序列号数据及产品条形码数据,测试人员数据包括测试工位数据及测试人员工号数据。
4.如权利要求1中所述的信号数据分析系统,其特征在于,所述射频信号数据检测结果是根据电子设备30秒内的射频信号强度的平均值计算得出。
【专利技术属性】
技术研发人员:李响,
申请(专利权)人:神讯电脑昆山有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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