毫米波信号的测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种毫米波信号的测量方法及装置。本发明专利技术中第一测量装置通过阵列天线以与第一测量装置的位置对应的第一入射角接收第二测量装置以与第一测量装置的位置对应的第一发射角发射的毫米波信号时，所述第一测量装置与第二测量装置之间的下行链路可以快速建立；在所述第一测量装置的位置处，所述第一测量装置通过阵列天线以与第一测量装置的位置对应的第二发射角发送毫米波信号且所述第二测量装置以与第一测量装置的位置对应的第二入射角接收第一测量装置发送的毫米波信号时，所述第一测量装置与第二测量装置之间的上行链路可以快速建立，从而实现第一测量装置与所述第二测量装置快速通信的目的。

Measurement method and device of millimeter wave signal

【技术实现步骤摘要】
毫米波信号的测量方法及装置
本专利技术涉及通信领域，尤其涉及一种毫米波信号的测量方法及装置。
技术介绍
目前，在毫米波频段的通信系统中，若能使收发双方在通信开始时就可以根据自身位置资讯及基站提供的定义入射角及发射角与位置之间的对应关系数据库知道对方来波方向，如AOA(angleofarrival，入射角)或AOD(angleofdeparture，发射角)，则收发双方的通信链路可以快速建立。然而，目前尚无在基站涵盖范围内测量毫米波信号的入射角及发射角与位置之间对应关系的测量方法。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种分毫米波信号的测量方法及装置以测量第一测量装置与第二测量装置之间的入射角及发射角，所述入射角，发射角与位置之间对应关系。一种毫米波信号的测量装置，所述测量装置与测量控制器及第二测量装置通信连接，所述测量装置包括全向性天线、阵列天线及处理器，所述处理器用于：向所述测量控制器发送测试请求信号，其中，所述测试请求信号中包含有所述测量装置的位置信息；所述测量装置接收所述测量控制器发送的第二测试指令并根据所述第二测试指令控制所述测量装置的阵列天线接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的全向性天线发送的毫米波信号，并根据接收的毫米波信号的信号质量确定所述毫米波信号的波束的第一入射角并将所述第一入射角发送给所述测量控制器；所述测量装置接收所述测量控制器发送的第四测试指令，并根据所述第四测试指令通过所述测量装置的阵列天线以所述第一入射角接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的阵列天线发送的毫米波信号；及所述第一测量装置判断接收到的所述毫米波信号的信号质量是否超过信号质量阈值，当接收的所述毫米波信号的信号质量超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第一反馈信号，当接收的所述毫米波信号的信号质量没有超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第二反馈信号。优选的，所述处理器还用于：所述测量装置接收所述测量控制器发送的第一测试指令并根据所述第一测试指令控制所述测量装置的全向性天线发送毫米波测试信号给所述第二测量装置；及所述测量装置根据所述测量控制器发送的第三测试指令控制所述测量装置通过所述测量装置的阵列天线分别以不同的发射角度发送毫米波信号，并将波束的发射角度发送给所述测量控制器。优选的，所述处理器还用于：所述测量装置在检测到所述测量装置移动到新的位置时，向所述测量控制器发送新的测试请求信号。优选的，所述处理器还用于：所述测量装置通过所述第一天线接收所述测量控制器发送的第二测试指令。优选的，所述阵列天线包括四个扇区，每一扇区包括至少一扇区天线，所述测量装置根据所述测量控制器发送的所述第二测试指令控制所述阵列天线中的所述四个扇区中的扇区天线进行扫描并以不同的入射角度接收所述第二测量装置发送的毫米波信号。一种毫米波信号的测量方法，所述方法应用在两个测量装置及一测量控制器中，所述两个测量装置包括第一测量装置及第二测量装置，所述方法包括:所述第一测量装置向所述测量控制器发送测试请求信号，其中，所述测试请求信号中包含有所述第一测量装置的位置信息；所述测量控制器根据接收的测试请求信号生成第一测试指令及第二测试指令，将所述第一测试指令发送给所述第二测量装置，及将所述第二测试指令发送给所述第一测量装置；所述第二测量装置接收所述测量控制器发送的第一测试指令并根据所述第一测试指令通过所述第二测量装置的全向性天线发送毫米波测试信号给所述第一测量装置；所述第一测量装置接收所述测量控制器发送的第二测试指令并根据所述第二测试指令通过所述第一测量装置的阵列天线接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的全向性天线发送的毫米波信号，并根据接收的毫米波信号的信号质量确定所述毫米波信号的波束的第一入射角并将所述第一入射角发送给所述测量控制器；所述测量控制器接收并存储所述第一测量装置发送的第一入射角，生成第三测试指令并将所述第三测试指令发送给所述第二测量装置；所述第二测量装置根据所述第三测试指令通过所述第二测量装置的阵列天线分别以不同的发射角度发送毫米波信号，并将波束的发射角度发送给所述测量控制器；所述测量控制器接收并存储所述第二测量装置发送的波束的发射角度，生成第四控制指令，并将生成的第四测试指令发送给所述第一测量装置；所述第一测量装置接收所述测量控制器发送的第四测试指令，并根据所述第四测试指令通过所述第一测量装置的阵列天线以所述第一入射角接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的阵列天线发送的毫米波信号；所述第一测量装置判断接收到的所述毫米波信号的信号质量是否超过信号质量阈值，并当接收的所述毫米波信号的信号质量超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第一反馈信号；所述测量控制器在接收到所述第一测量装置发送的所述第一反馈信号时将所述第二测量装置发送的发射角作为第一发射角，将所述第一测量装置的位置、所述第一入射角及所述第一发射角进行配对并存储在一列表中；及所述测量控制器接收所述第二测量装置发送的新的发射角度，生成与所述新的发射角度对应的第四测试指令，并将所述第四测试指令发送给所述第一测量装置以控制所述第一测量装置以所述第一入射角接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的阵列天线以新的发射角度发送的毫米波信号。优选的，所述方法还包括：当接收的所述毫米波信号的信号质量没有超过信号质量阈值时，所述第一测量装置向所述测量控制器发送第二反馈信号；及在接收到所述第一测量装置发送的所述第二反馈信号时，所述测量控制器接收所述第二测量装置发送的新的发射角度，生成与新的发射角度对应的第四测试指令，并将所述第四测试指令发送给所述第一测量装置以控制所述第一测量装置以所述第一入射角接收所述第二测量装置以新的发射角度发送的毫米波信号。优选的，所述方法还包括：所述测量控制器根据接收的测试请求信号生成第五测试指令及第六测试指令，将所述第五测试指令发送给所述第一测量装置，及将所述第六测试指令发送给所述第二测量装置；所述第一测量装置根据所述第五测试指令通过所述第一测量装置的全向性天线发送毫米波测试信号给所述第二测量装置；第二测量装置根据所述第六测试指令通过所述第二测量装置的阵列天线接收所述第一测量装置通过所述第一测量装置的全向性天线发送的毫米波信号，并根据接收的毫米波信号的信号质量确定所述毫米波信号的波束的第二入射角并将所述第二入射角发送给所述测量控制器；所述测量控制器接收并存储所述第二测量装置发送的第二入射角，生成第七测试指令并将所述第七测试指令发送给所述第一测量装置；所述第一测量装置根据所述第七测试指令通过所述第一测量装置的阵列天线分别以不同的发射角度发送毫米波信号，并将波束的发射角度发送给所述测量控制器；所述测量控制器接收并存储所述第一测量装置发送的波束的发射角度，生成第八控制指令，并将所述第八测试指令发送给所述第二测量装置；所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种毫米波信号的测量装置，所述测量装置与测量控制器及第二测量装置通信连接，其特征在于，所述测量装置包括全向性天线、阵列天线及处理器，所述处理器用于：/n向所述测量控制器发送测试请求信号，其中，所述测试请求信号中包含有所述测量装置的位置信息；/n所述测量装置接收所述测量控制器发送的第二测试指令并根据所述第二测试指令控制所述测量装置的阵列天线接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的全向性天线发送的毫米波信号，并根据接收的毫米波信号的信号质量确定所述毫米波信号的波束的第一入射角并将所述第一入射角发送给所述测量控制器；/n所述测量装置接收所述测量控制器发送的第四测试指令，并根据所述第四测试指令通过所述测量装置的阵列天线以所述第一入射角接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的阵列天线发送的毫米波信号；及/n所述测量装置判断接收到的所述毫米波信号的信号质量是否超过信号质量阈值，当接收的所述毫米波信号的信号质量超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第一反馈信号，当接收的所述毫米波信号的信号质量没有超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第二反馈信号。/n

【技术特征摘要】
20180822 US 62/7210071.一种毫米波信号的测量装置，所述测量装置与测量控制器及第二测量装置通信连接，其特征在于，所述测量装置包括全向性天线、阵列天线及处理器，所述处理器用于：
向所述测量控制器发送测试请求信号，其中，所述测试请求信号中包含有所述测量装置的位置信息；
所述测量装置接收所述测量控制器发送的第二测试指令并根据所述第二测试指令控制所述测量装置的阵列天线接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的全向性天线发送的毫米波信号，并根据接收的毫米波信号的信号质量确定所述毫米波信号的波束的第一入射角并将所述第一入射角发送给所述测量控制器；
所述测量装置接收所述测量控制器发送的第四测试指令，并根据所述第四测试指令通过所述测量装置的阵列天线以所述第一入射角接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的阵列天线发送的毫米波信号；及
所述测量装置判断接收到的所述毫米波信号的信号质量是否超过信号质量阈值，当接收的所述毫米波信号的信号质量超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第一反馈信号，当接收的所述毫米波信号的信号质量没有超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第二反馈信号。


2.如权利要求1所述的毫米波信号的测量装置，其特征在于，所述处理器还用于：
所述测量装置接收所述测量控制器发送的第一测试指令并根据所述第一测试指令控制所述测量装置的全向性天线发送毫米波测试信号给所述第二测量装置；及
所述测量装置根据所述测量控制器发送的第三测试指令控制所述测量装置通过所述测量装置的阵列天线分别以不同的发射角度发送毫米波信号，并将波束的发射角度发送给所述测量控制器。


3.如权利要求1所述的毫米波信号的测量装置，其特征在于，所述处理器还用于：
所述测量装置在检测到所述测量装置移动到新的位置时，向所述测量控制器发送新的测试请求信号。


4.如权利要求1所述的毫米波信号的测量装置，其特征在于，所述处理器还用于：
所述测量装置通过第一天线接收所述测量控制器发送的第二测试指令。


5.如权利要求1所述的毫米波信号的测量装置，其特征在于，所述阵列天线包括四个扇区，每一扇区包括至少一扇区天线，所述测量装置根据所述测量控制器发送的所述第二测试指令，控制所述阵列天线中的所述四个扇区中的扇区天线进行扫描并以不同的入射角度接收所述第二测量装置发送的毫米波信号。


6.一种毫米波信号的测量方法，所述方法应用在两个测量装置及一测量控制器中，所述两个测量装置包括第一测量装置及第二测量装置，其特征在于，所述方法包括:
所述第一测量装置向所述测量控制器发送测试请求信号，其中，所述测试请求信号中包含有所述第一测量装置的位置信息；
所述测量控制器根据接收的测试请求信号生成第一测试指令及第二测试指令，将所述第一测试指令发送给所述第二测量装置，及将所述第二测试指令发送给所述第一测量装置；
所述第二测量装置接收所述测量控制器发送的第一测试指令并根据所述第一测试指令通过所述第二测量装置的全向性天线发送毫米波测试信号给所述第一测量装置；
所述第一测量装置接收所述测量控制器发送的第二测试指令并根据所述第二测试指令通过所述第一测量装置的阵列天线接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的全向性天线发送的毫米波信号，并根据接收的毫米波信号的信号质量确定所述毫米波信号的波束的第一入射角并将所述第一入射角发送给所述测量控制器；
所述测量控制器接收并存储所述第一测量装置发送的第一入射角，生成第三测试指令并将所述第三测试指令发送给所述第二测量装置；
所述第二测量装置根据所述第三测试指令通过所述第二测量装置的阵列天线分别以不同的发射角度发送毫米波信号，并将波束的发射角度发送给所述测量控制器；
所述测量控制器接收并存储所述第二测量装置发送的波束的发射角度，生成第四控制指令，并将生成的第四测试指令发送给所述第一测量装置；
所述第一测量装置接收所述测量控制器发送的第四测试指令，并根据所述第四测试指令通过所述第一测量装置的阵列天线以所述第一入射角接收所述第二测量装置通过所述第二测量装置的阵列天线发送的毫米波信号；
所述第一测量装置判断接收到的所述毫米波信号的信号质量是否超过信号质量阈值，并当接收的所述毫米波信号的信号质量超过信号质量阈值时向所述测量控制器发送第一反馈信号；
所述测量控制器在接收到所述第一测量装置发送的所述第一反馈信号时将所述第二测量装置发送的发射角作为第一发射角，将所述第一测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：翁国执，
申请(专利权)人：深圳富泰宏精密工业有限公司，群迈通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44