一种射频开关芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种射频开关芯片测试系统，其中，矢量信号收发仪的输出端连接至第一多路开关的其中一个接线端，第一多路开关的另一个接线端与矢量网络分析仪的输出端连接，第一多路开关的公共端与被测射频开关芯片的公共端连接，被测射频开关芯片的各个接线端与第二多路开关的各个接线端分别对接；第二多路开关与第三多路开关的公共端相互对接，第三多路开关的第一路接线端连接矢量网络分析仪的输入端，第二路接线端经衰减器连接至第四多路开关的接线端，第三路接线端与第四多路开关的另一接线端相接，第四多路开关的公共端与矢量信号收发仪的输入端相接；控制器与被测射频开关芯片通讯连接，并分别电连接各个多路开关的受控端和人机交互设备。

A test system of RF switch chip

【技术实现步骤摘要】
一种射频开关芯片测试系统
本技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种射频开关芯片测试系统。
技术介绍
5G射频开关芯片作为5G通信传送的转接站，在当前5G风口下显得越发重要，因此需对其进行质量测试。对于5G射频开关芯片而言，其质量通过插入损耗、隔离度、开关时间、谐波、BER、三阶交调点IP3等指标体现，因此需对各指标分别测试，其中，插入损耗、隔离度使用矢量网络分析仪VNA完成，开关时间、谐波、BER使用矢量网络分析仪VNA配合矢量信号收发仪VST中的VSG功能完成，三阶交调点IP3使用矢量信号收发仪VST中的VSG、VSA两个功能相互搭配完成，测试时，需要测试者手动接线来将5G射频开关芯片与相应测试设备组装，一方面导致测试耗时长，另一方面5G射频开关芯片在多次拆装过程中容易出现引脚损坏。
技术实现思路
本技术为改善现有技术中的不足之处，而提供一种射频开关芯片测试系统的硬件结构，待软件人员对其中的控制器编程后，射频开关芯片测试系统可免除测试者手动接线，缩短测试耗时。为此，提出一种射频开关芯片测试系统，包括矢量信号收发仪、第一多路开关、第二多路开关、第三多路开关、衰减器、第四多路开关、矢量网络分析仪、控制器和人机交互设备，矢量信号收发仪的信号输出端连接至第一多路开关的其中一个接线端，第一多路开关的另一个接线端与矢量网络分析仪的信号输出端连接，第一多路开关的公共端与被测射频开关芯片的公共端连接，被测射频开关芯片的各个接线端与第二多路开关的各个接线端分别对接；第二多路开关的公共端与第三多路开关的公共端对接，第三多路开关具有至少三路接线端，其中第一路的接线端连接至矢量网络分析仪的信号输入端，第二路的接线端经衰减器连接至第四多路开关的接线端，第三路的接线端与第四多路开关的另一接线端相接，第四多路开关的公共端与矢量信号收发仪的信号输入端相接；控制器一方面与被测射频开关芯片通讯连接，另一方面分别电连接各个多路开关的受控端和所述人机交互设备。进一步地，所述矢量信号收发仪的信号输出端与第一多路开关之间串接有功率放大器实现功率放大。进一步地，所述功率放大器与第一多路开关之间串接有滤波器进行滤波。进一步地，所述第二多路开关的开关路数与被测射频开关芯片的开关路数相同。进一步地，所述人机交互设备具体是按键。进一步地，各个多路开关具体为固态开关。进一步地，矢量信号收发仪、第一多路开关、第二多路开关、第三多路开关、衰减器、第四多路开关、矢量网络分析仪之间的连线均为SMA线。有益效果：本技术的射频开关芯片测试系统，待软件人员对其中的控制器编程后，测试者可通过人机交互设备输入指令给控制器，使控制器切换各个多路开关及被测射频开关芯片的连接链路，如此，测试者在矢量信号收发仪或矢量网络分析仪上操作使其输出测量信号后，即可观察分析测量信号经连接链路后产生的变化，并据此变化分析出插入损耗、隔离度、开关时间、谐波、BER、三阶交调点IP3等指标，实现对射频开关芯片的测试。由于整个测试过程中测试者不用手动接线换线，故可缩短测试耗时，同时避免射频开关芯片因多次拆装而引起引脚损坏。上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1示出了本技术的射频开关芯片测试系统的系统框图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。本实施例的射频开关芯片测试系统如图1所示，包括矢量信号收发仪1、功率放大器2、滤波器3、多路开关4、多路开关5、多路开关6、衰减器7、多路开关8和矢量网络分析仪9。矢量信号收发仪1的信号输出端依次经功率放大器2、滤波器3连接至多路开关4的其中一个接线端K41，多路开关4的另一个接线端K42与矢量网络分析仪9的信号输出端连接，多路开关4的公共端COM4与被测5G射频开关芯片(DUT)的公共端COM连接，被测5G射频开关芯片的各个接线端K1～K4与多路开关5的各个接线端K51～K54分别对接。多路开关5的公共端COM5与多路开关6的公共端COM6对接，多路开关6的路数设为至少三路，其中第一路的接线端K61连接至矢量网络分析仪9的信号输入端，第二路的接线端K63经衰减器7连接至多路开关8的接线端K81，第三路的接线端K62直接与多路开关8的另一接线端K82相接，多路开关8的公共端COM8与矢量信号收发仪1的信号输入端相接。使用时，若测试者要测量插入损耗、隔离度等指标，可人工操作矢量网络分析仪9，使其信号输出端输出测量信号，并控制各个多路开关及被测5G射频开关芯片的开关导通情况，使矢量网络分析仪9输出的测量信号依次经K42-COM4-COM-K1-K51-COM5-COM6-K61回到矢量网络分析仪9的信号输入端，由于测量信号经被测5G射频开关芯片时受其本身参数影响，测量信号产生改变，测试者可在矢量网络分析仪9上进行操作，用矢量网络分析仪9分析其信号输入端处的波形，查看测量信号的变化，然后根据变化用现有分析方法分析从而获取插入损耗、隔离度等指标；若测试者要测量开关时间、谐波、BER等指标，可人工操作矢量信号收发仪1，通过其VSA功能使其信号输出端输出测量信号，并控制各个多路开关及被测5G射频开关芯片的开关导通情况，使矢量信号收发仪1信号输出端输出的测量信号经功率放大器2放大、滤波器3滤波后，依次经K41-COM4-COM-K1-K51-COM5-COM6-K62-K82-COM8回到矢量信号收发仪1的信号输入端，此后测试者可在矢量信号收发仪1上进行操作，用矢量信号收发仪1上的VSA功能分析其信号输入端处的波形，查看信号变化，然后根据变化用现有分析方法分析从而获取开关时间、谐波、BER等指标；若测试者要测量三阶交调点IP3，可人工操作矢量信号收发仪1输出至少两个测量信号，并控制各个多路开关及被测5G射频开关芯片的开关导通情况，使测量信号经功率放大器2放大、滤波器3滤波后，依次经K41-COM4-COM-K1-K51-COM5-COM6-K63进入衰减器7内，由于衰减器7的非线性通常会使同时侵入2个或多个测量信号发生相互调制，测试者可用矢量网络分析仪9对调制情况进行分析，根据调制情况用现有分析方法分析从而获取三阶交调点IP3。整个测试过程中，测试者仅需控制相应仪器输出波形，并本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频开关芯片测试系统，其特征在于：/n包括矢量信号收发仪、第一多路开关、第二多路开关、第三多路开关、衰减器、第四多路开关、矢量网络分析仪、控制器和人机交互设备，/n矢量信号收发仪的信号输出端连接至第一多路开关的其中一个接线端，第一多路开关的另一个接线端与矢量网络分析仪的信号输出端连接，第一多路开关的公共端与被测射频开关芯片的公共端连接，被测射频开关芯片的各个接线端与第二多路开关的各个接线端分别对接；/n第二多路开关的公共端与第三多路开关的公共端对接，第三多路开关具有至少三路接线端，其中第一路的接线端连接至矢量网络分析仪的信号输入端，第二路的接线端经衰减器连接至第四多路开关的接线端，第三路的接线端与第四多路开关的另一接线端相接，第四多路开关的公共端与矢量信号收发仪的信号输入端相接；/n控制器一方面与被测射频开关芯片通讯连接，另一方面分别电连接各个多路开关的受控端和所述人机交互设备。/n

【技术特征摘要】
1.一种射频开关芯片测试系统，其特征在于：
包括矢量信号收发仪、第一多路开关、第二多路开关、第三多路开关、衰减器、第四多路开关、矢量网络分析仪、控制器和人机交互设备，
矢量信号收发仪的信号输出端连接至第一多路开关的其中一个接线端，第一多路开关的另一个接线端与矢量网络分析仪的信号输出端连接，第一多路开关的公共端与被测射频开关芯片的公共端连接，被测射频开关芯片的各个接线端与第二多路开关的各个接线端分别对接；
第二多路开关的公共端与第三多路开关的公共端对接，第三多路开关具有至少三路接线端，其中第一路的接线端连接至矢量网络分析仪的信号输入端，第二路的接线端经衰减器连接至第四多路开关的接线端，第三路的接线端与第四多路开关的另一接线端相接，第四多路开关的公共端与矢量信号收发仪的信号输入端相接；
控制器一方面与被测射频开关芯片通讯连接，另一方面分别电连接各个多路开关的受控端和所述人机交互设备。

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋礼，文亚东，袁俊，张亦锋，辜诗涛，
申请(专利权)人：上海利扬创芯片测试有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31