一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法技术

本发明专利技术公开了一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法，涉及液晶玻璃测试领域。一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法，包括以下步骤：1)测定标准显微维氏硬度块和样品的维氏硬度值，得到标准显微维氏硬度块的测试值和样品的测试值；所述标准显微维氏硬度块和样品的测试条件相同；2)利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差，修正样品的测试偏差。本发明专利技术的修正方法通过引入标准显微维氏硬度块的测试，经简单的数据处理，有效的降低了电子玻璃维氏硬度测试偏差。

A correction method of Vickers hardness test deviation of electronic glass

【技术实现步骤摘要】
一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法
本专利技术属于涉及液晶玻璃测试领域，尤其是一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法。
技术介绍
硬度是指固体材料抵抗外界其他物体作用力而不产生残余形变的能力。玻璃的硬度主要取决于化学成分及结构。在玻璃料方开发过程中，捕捉玻璃的维氏硬度，根据硬度与化学成分的关系对料方进行调整，以便获得硬度合适的电子玻璃。维氏硬度测试过程具体如下：用维氏金刚石正方椎体以一定载荷力及载荷时间对玻璃表面进行压痕，借助显微镜系统观察选定压痕边界，并计算压痕对角线长度；通过以下公式来计算维氏硬度表征玻璃硬度的强弱。其中，Hv—维氏硬度；F—压头对待测样品的载荷力；d—压痕对角线长度。但是，对于同一玻璃原片、同一台维氏硬度仪，在相同的载荷时间及载荷力条件下，不同测试人员得出的测试结果往往很难一致，差异从几到十几不等，更甚者相差二三十。这主要是由于人眼视觉误差，在显微调焦部分及选定压痕边界过程中出现差异所致。因此，为了降低人为误差，出现了自动化维氏硬度计，能够自动勾选硬度压痕给出测试值。但随着测试材料的变化，压痕样态较为随机，自动捕捉的准确率并不高，有的甚至捕捉不到压痕的四角，仍需人为勾选确认压痕边界，人为误差依旧存在。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服由于选定压痕边界出现差异带来的维氏硬度的测试偏差的缺点，提供一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法。为达到上述目的，本专利技术采用以下技术方案予以实现：一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法，包括以下步骤：1)测定标准显微维氏硬度块和样品的维氏硬度值，得到标准显微维氏硬度块的测试值和样品的测试值；所述标准显微维氏硬度块和样品的测试条件相同；2)利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差，修正样品的测试偏差，样品修正值的计算公式为：进一步的，步骤1)中测试条件包括负载试验力和压持加载时间。与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：本专利技术的电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法，测试样品的维氏硬度和标准显微维氏硬度块的维氏硬度，利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差，计算偏差比例，根据标准显微维氏硬度块的测试偏差，修正样品的测试值，得到修正值，该方法通过引入标准显微维氏硬度块的测试，经简单的数据处理，有效的降低了电子玻璃维氏硬度测试偏差。附图说明图1为本专利技术的流程图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。下面结合附图对本专利技术做进一步详细描述：参见图1，图1为本专利技术的流程图，步骤1)测试标准显微维氏硬度块和样品的维氏硬度值，得到标准显微维氏硬度块的测试值和样品的测试值；对比标准显微维氏硬度块的标准值与测试人的测试值的偏差，计算偏差比例；根据标准显微维氏硬度块的测试偏差，修正样品的测试值，得到最终修正真值。步骤2)利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差，修正样品的测试偏差，样品修正值的计算公式为：实施例1选定样品Y，标准显微维氏硬度块的标准值Hv＝443，测试调节为：t为25s，F为200g；5位测试人员针对同一样品进行测试，最终求取平均值进行修正，结果汇总如下：表15位测试人员针对同一样品进行多次测试的测试值和校正值测试人员样品测试值标准显微维修正值A560.9452.1549.4B541.2438.0547.3C551.1445.6547.9D534.8438.4540.4E526.3433.7537.3极差34.618.412.0标准差12.16.54.7经结果汇总，可以看出，5位测试人员对于样品的测试极差为34.6，采用标准显微维氏硬度块测试修正后，修正结果极差降至12.0，在仪器误差范围之内(±15.0)，数据有效。且通过标准差的分析5位测试人员的样品测试结果标准差为12.1，经过采用本专利技术的修正方法修正后结果的标准差降为4.7，说明最终修正结果的数值更为接近样本的均值，数据离散性降低，更为准确可信。以上内容仅为说明本专利技术的技术思想，不能以此限定本专利技术的保护范围，凡是按照本专利技术提出的技术思想，在技术方案基础上所做的任何改动，均落入本专利技术权利要求书的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法，其特征在于，包括以下步骤：/n1)测定标准显微维氏硬度块和样品的维氏硬度值，得到标准显微维氏硬度块的测试值和样品的测试值；/n所述标准显微维氏硬度块和样品的测试条件相同；/n2)利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差，修正样品的测试偏差，样品修正值的计算公式为：/n

【技术特征摘要】
1.一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)测定标准显微维氏硬度块和样品的维氏硬度值，得到标准显微维氏硬度块的测试值和样品的测试值；
所述标准显微维氏硬度块和样品的测试条件相同；
2)利用标准显微...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔令歆，曾召，王答成，
申请(专利权)人：彩虹显示器件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61