一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备及方法技术

本申请公开了一种用于Σ‑ΔADC误差校正的校正设备，包括控制装置，用于向U/I信号源发送控制信号，以使U/I信号源输出电压差分信号与电流差分信号至计量SOC芯片；向计量SOC芯片发送电压差分信号的信号值与电流差分信号的信号值，以使计量SOC芯片基于计量SOC芯片中电压Σ‑ΔADC采集到的电压信号值与电压差分信号的信号值得到电压校正值，基于计量SOC芯片中电流Σ‑ΔADC采集到的电流信号值与电流差分信号的信号值得到电流校正值，以及将电压校正值与电流校正值存入Σ‑ΔADC校正寄存器。通过该设备在计量SOC芯片的检测过程中对芯片的Σ‑ΔADC进行误差校正，可有效提高计量SOC芯片应用产品的生产效率。

A correction equipment and method for sigma delta ADC error correction

【技术实现步骤摘要】
一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备及方法
本申请涉及计量芯片
，特别涉及一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备；还涉及一种计量SOC芯片的Σ-ΔADC误差校正方法。
技术介绍
计量SOC芯片在电能计量领域发挥着重要作用。目前，计量SOC芯片的种类众多，且均需要设计成产品(产品包括计量SOC芯片与外围采集电路)后，对应用计量SOC芯片的产品进行一对一的Σ-ΔADC误差校正。计量SOC芯片应用产品形态各异，很多产品无法批量性的进行一对一的Σ-ΔADC误差校正，从而，严重影响了计量SOC芯片应用产品的生产效率。因此，如何提高计量SOC芯片应用产品的生产效率已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备，能够提高计量SOC芯片应用产品的生产效率；本申请的另一目的是提供一种计量SOC芯片的Σ-ΔADC误差校正方法，同样具有上述技术效果。为解决上述技术问题，本申请提供了一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备，包括：AC-DC电源，用于为控制装置、U/I信号源以及放置于芯片放置装置的计量SOC芯片供电；所述芯片放置装置，用于放置待校正的计量SOC芯片；所述U/I信号源，用于输出电压差分信号与电流差分信号至所述计量SOC芯片；所述控制装置，用于向所述U/I信号源发送控制信号，以使所述U/I信号源输出电压差分信号与电流差分信号至所述计量SOC芯片；向所述计量SOC芯片发送所述电压差分信号的信号值与所述电流差分信号的信号值，以使所述计量SOC芯片比较所述计量SOC芯片中电压Σ-ΔADC采集到的电压信号值与所述电压差分信号的信号值得到电压差值，并根据所述电压差值得到电压校正值，比较所述计量SOC芯片中电流Σ-ΔADC采集到的电流信号值与所述电流差分信号的信号值得到电流差值，并根据所述电流差值得到电流校正值，以及将所述电压校正值与所述电流校正值存入Σ-ΔADC校正寄存器。可选的，所述控制装置还用于读取所述计量SOC芯片完成误差校正后输出的电流信号值与电压信号值；判断所述电压信号值与所述电压差分信号的信号值的误差以及所述电流信号值与所述电流差分信号的信号值的误差是否小于预设误差阈值；若小于，则确定误差校正成功；若不小于，则确定误差校正失败。可选的，所述控制装置还用于当确定误差校正失败后，重新对所述计量SOC芯片进行误差校正，并当误差校正失败的次数达到预设次数时，输出误差校正失败结果。可选的，所述U/I信号源的精度小于等于0.1％。可选的，所述U/I信号源输出的所述电压差分信号与所述电流差分信号为50Hz的正弦波信号。为解决上述技术问题，本申请还提供了一种计量SOC芯片的Σ-ΔADC误差校正方法，包括：向U/I信号源发送控制信号，以使所述U/I信号源输出电压差分信号与电流差分信号至计量SOC芯片；向所述计量SOC芯片发送所述电压差分信号的信号值与所述电流差分信号的信号值，以使所述计量SOC芯片比较所述计量SOC芯片中电压Σ-ΔADC采集到的电压信号值与所述电压差分信号的信号值得到电压差值，并根据所述电压差值得到电压校正值，比较所述计量SOC芯片中电流Σ-ΔADC采集到的电流信号值与所述电流差分信号的信号值得到电流差值，并根据所述电流差值得到电流校正值，以及将所述电压校正值与所述电流校正值存入Σ-ΔADC校正寄存器。可选的，还包括：读取所述计量SOC芯片完成误差校正后输出的电流信号值与电压信号值；判断所述电压信号值与所述电压差分信号的信号值的误差以及所述电流信号值与所述电流差分信号的信号值的误差是否小于预设误差阈值；若小于，则确定误差校正成功；若不小于，则确定误差校正失败。可选的，还包括：当确定误差校正失败后，重新对所述计量SOC芯片进行误差校正，并当误差校正失败的次数达到预设次数时，输出误差校正失败结果。本申请所提供的用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备，包括AC-DC电源，用于为控制装置、U/I信号源以及放置于芯片放置装置的计量SOC芯片供电；所述芯片放置装置，用于放置待校正的计量SOC芯片；所述U/I信号源，用于输出电压差分信号与电流差分信号至所述计量SOC芯片；所述控制装置，用于向所述U/I信号源发送控制信号，以使所述U/I信号源输出电压差分信号与电流差分信号至所述计量SOC芯片；向所述计量SOC芯片发送所述电压差分信号的信号值与所述电流差分信号的信号值，以使所述计量SOC芯片比较所述计量SOC芯片中电压Σ-ΔADC采集到的电压信号值与所述电压差分信号的信号值得到电压差值，并根据所述电压差值得到电压校正值，比较所述计量SOC芯片中电流Σ-ΔADC采集到的电流信号值与所述电流差分信号的信号值得到电流差值，并根据所述电流差值得到电流校正值，以及将所述电压校正值与所述电流校正值存入Σ-ΔADC校正寄存器。可见，本申请所提供的用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备，在AC-DC电源供电的基础上，通过控制装置与U/I信号源在计量SOC芯片的检测过程中对计量SOC芯片的Σ-ΔADC进行误差校正，后续在计量SOC芯片的使用过程中，仅需对外围采样电路的精度进行把控，便可满足精度要求，而无需对计量SOC芯片应用产品再进行校正，从而极大的提升了计量SOC芯片应用产品的生产效率。本申请所提供的计量SOC芯片的Σ-ΔADC误差校正方法，同样具有上述技术效果。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施例所提供的一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备的示意图；图2为本申请实施例所提供的一种计量SOC芯片的Σ-ΔADC误差校正方法的流程示意图。具体实施方式本申请的核心是提供一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备，能够提高产品的生产效率；本申请的另一核心是提供一种计量SOC芯片的Σ-ΔADC误差校正方法，同样具有上述技术效果。为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备的示意图；参考图1所示，该校正设备包括：AC-DC电源10，用于为控制装置40、U/I信号源30以及放置于芯片放置装置20的计量SOC芯片供电；芯片放置装置20，用于放置待校正的计量SOC芯片；U/I信号源30，用于输出电压本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备，其特征在于，包括：/nAC-DC电源，用于为控制装置、U/I信号源以及放置于芯片放置装置的计量SOC芯片供电；/n所述芯片放置装置，用于放置待校正的计量SOC芯片；/n所述U/I信号源，用于输出电压差分信号与电流差分信号至所述计量SOC芯片；/n所述控制装置，用于向所述U/I信号源发送控制信号，以使所述U/I信号源输出电压差分信号与电流差分信号至所述计量SOC芯片；向所述计量SOC芯片发送所述电压差分信号的信号值与所述电流差分信号的信号值，以使所述计量SOC芯片比较所述计量SOC芯片中电压Σ-ΔADC采集到的电压信号值与所述电压差分信号的信号值得到电压差值，并根据所述电压差值得到电压校正值，比较所述计量SOC芯片中电流Σ-ΔADC采集到的电流信号值与所述电流差分信号的信号值得到电流差值，并根据所述电流差值得到电流校正值，以及将所述电压校正值与所述电流校正值存入Σ-ΔADC校正寄存器。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于Σ-ΔADC误差校正的校正设备，其特征在于，包括：
AC-DC电源，用于为控制装置、U/I信号源以及放置于芯片放置装置的计量SOC芯片供电；
所述芯片放置装置，用于放置待校正的计量SOC芯片；
所述U/I信号源，用于输出电压差分信号与电流差分信号至所述计量SOC芯片；
所述控制装置，用于向所述U/I信号源发送控制信号，以使所述U/I信号源输出电压差分信号与电流差分信号至所述计量SOC芯片；向所述计量SOC芯片发送所述电压差分信号的信号值与所述电流差分信号的信号值，以使所述计量SOC芯片比较所述计量SOC芯片中电压Σ-ΔADC采集到的电压信号值与所述电压差分信号的信号值得到电压差值，并根据所述电压差值得到电压校正值，比较所述计量SOC芯片中电流Σ-ΔADC采集到的电流信号值与所述电流差分信号的信号值得到电流差值，并根据所述电流差值得到电流校正值，以及将所述电压校正值与所述电流校正值存入Σ-ΔADC校正寄存器。


2.根据权利要求1所述的校正设备，其特征在于，所述控制装置还用于读取所述计量SOC芯片完成误差校正后输出的电流信号值与电压信号值；判断所述电压信号值与所述电压差分信号的信号值的误差以及所述电流信号值与所述电流差分信号的信号值的误差是否小于预设误差阈值；若小于，则确定误差校正成功；若不小于，则确定误差校正失败。


3.根据权利要求2所述的校正设备，其特征在于，所述控制装置还用于当确定误差校正失败后，重新对所述计量SOC芯片进行误差校正，并当误差校正失败的次数达到预设次数时，输出误差校正失败结果。


4.根据权利要求3所...

【专利技术属性】
技术研发人员：林新正，
申请(专利权)人：杭州普创电子有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33