芯片检测设备的固定装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片检测设备的固定装置，包含有一承台，供承载该芯片检测设备；至少一压抵单元，设于该承台，具有一压抵件，一栓件连结该承台，以及一弹性件使该压抵件位移使其一压抵部去压抵该芯片检测设备的一表面。

Fixed device of chip testing equipment

【技术实现步骤摘要】
芯片检测设备的固定装置
本技术是与芯片检测相关，特别是一种芯片检测设备的固定装置。
技术介绍
已知芯片检测设备的固定装置，其通常直接以定位销定位，且并非可拆下设备做调整；然而，并非每一个芯片检测设备都有相同的定位孔销/孔位置，因此无法快速顺利地装设或作调整；尤其，在须装设多组芯片检测设备时，问题更为明显；因此，现有芯片检测设备的固定装置的缺失仍有待改善。
技术实现思路
有鉴于现有技术的上述缺陷，本技术主要目的即在提供一种芯片检测设备的固定装置，其可方便快速且准确地装设(各种不同)的芯片检测设备于一机台上。为达成上述目的，本技术提供一种芯片检测设备的固定装置，包含有一承台，供承载该芯片检测设备；至少一压抵单元，设于该承台，具有一压抵件，一栓件连结该承台，以及一弹性件使该压抵件位移使其一压抵部去压抵该芯片检测设备的一表面。通过该压抵单元施力上提并转动一角度离开该芯片检测设备的范围后放开，即可使该压抵单元不压抵到该芯片检测设备，进而可进行该芯片检测设备的装入或拆卸，因此达成本技术的目的。较佳地，其更包含有多个定位角铁设于该承台，供定位该芯片检测设备的转角部。较佳地，该至少一压抵单元的栓件具有一螺纹部，该承台具有至少一螺孔供该螺纹部螺接。较佳地，该至少一压抵单元的压抵件具有一沉孔连通一穿孔，该栓件具有一头部，该弹性件设于该沉孔与头部之间。较佳地，其中该定位角铁具有至少一导引面供装设该芯片检测设备导引用。较佳地，该承台具有至少一凹沉部供置设该芯片检测设备。附图说明图1是本技术一较佳实施例的立体组合图。图2是本技术一较佳实施例的立体分解图。图3是本技术一较佳实施例局部立体组合图。图4是本技术一较佳实施例的一组合剖视图。图5是本技术一较佳实施例局部立体组合图，显示该压抵单元的操作用状态。【附图标记说明】10：承台11：凹沉部12：螺孔20：定位角铁21：内定位面22：导引面30：压抵单元31：压抵件311：压抵部312：沉孔313：栓孔32：栓件321：螺纹部322：头部33：弹性件100：芯片检测设备101：表面102：转角部具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术进一步说明：如图1至图5所示，本技术一较佳实施例所提供的一种芯片检测设备100的固定装置，是可供装设固定一个或多个芯片检测设备100。该各芯片检测设备100的固定装置包含有：一承台10，供承载该芯片检测设备100；而对应到每一个芯片检测设备100，该各芯片检测设备100的固定装置则包含如下：其中，该承台10具有一凹沉部11供置设该芯片检测设备100。四定位角铁20，设于该承台10；各定位角铁20具有两内定位面21供定位该芯片检测设备100的转角部102。其中，该定位角铁20具有一导引面22供装设该芯片检测设备100导引用。两压抵单元30，设于该承台10，具有一压抵件31，一栓件32连结该承台10，以及一弹性件33使该压抵件31位移使其一压抵部311去压抵该芯片检测设备100的一表面101。本例中，该各压抵单元30的栓件32具有一螺纹部321，该承台10具有螺孔12对应供该螺纹部321螺接。本例中，该各压抵单元30的压抵件31具有一沉孔312连通一穿孔313，该栓件32具有一头部322，该弹性件33设于该沉孔312与头部322之间。因此，该压抵件31即可相对该栓件32可施力轴向位移，且该压抵件31即可相对该栓件32可径向转动。通过所述实施例结构，只要将该压抵单元30施力上提并转动一角度离开该芯片检测设备100的范围后放开，即可使该压抵单元30不压抵到该芯片检测设备100，进而可进行该芯片检测设备100的装入或拆卸，即可方便快速且准确地装设(各种不同)的芯片检测设备100于一机台上，因此达成本技术的目的。另外，该定位角铁20的内定位面21可定供该芯片检测设备100准确的定位位置，而其导引面22则可使该芯片检测设备100更容易进入配合该定位角铁20。然而，该承台10的凹沉部11则可更有助于提升该芯片检测设备100固定的稳定性。除了以上实施之外，本技术还可实施如下：例如，该定位角铁20的导引面22除了如前述为斜面之外，若改成圆弧面应也可达成本技术目的。或者，所述元件为多个者，其也可为至少一个，以符合最少使用量的需求。综上，本技术芯片检测设备100的固定装置确实通过该压抵单元30的操作使用，使该芯片检测设备100可更快速方更装入或拆卸，因此达成本技术所述目的。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片检测设备(100)的固定装置，其特征在于，包含有：/n一承台(10)，供承载该芯片检测设备(100)；/n至少一压抵单元(30)，设于该承台(10)，具有一压抵件(31)，一栓件(32)连结该承台(10)，以及一弹性件(33)使该压抵件(31)位移使其一压抵部(311)去压抵该芯片检测设备(100)的一表面(101)。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测设备(100)的固定装置，其特征在于，包含有：
一承台(10)，供承载该芯片检测设备(100)；
至少一压抵单元(30)，设于该承台(10)，具有一压抵件(31)，一栓件(32)连结该承台(10)，以及一弹性件(33)使该压抵件(31)位移使其一压抵部(311)去压抵该芯片检测设备(100)的一表面(101)。


2.如权利要求1所述芯片检测设备(100)的固定装置，其特征在于，其更包含有多个定位角铁(20)设于该承台(10)，供定位该芯片检测设备(100)的转角部(102)。


3.如权利要求2所述芯片检测设备(100)的固定装置，其特征在于，该至少一压抵单元(30)的栓件(32)具有一螺纹部(321)，该承台(10)具有至少一螺孔(12)供该螺纹部(321)螺接。


4.如权利要求1所述芯片检测设备(100)的固定装置，其特征在于，该至少一压抵单元(30)的栓件(32)具有一螺纹部(321)，该承台(10)具有至少一螺孔(12)供该螺纹部(321)螺接。


5.如权利要求1所述芯片检测设备(100)的固定装置，其特征在于，该至少一压抵单元(30)的压抵件(3...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈智岳，叶信宏，
申请(专利权)人：鼎弘国际科技有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71