一种大电流硅堆外观检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种大电流硅堆外观检测装置，包括底座，所述底座的上端固定连接有工作台，所述工作台内开设有空腔，所述空腔内转动连接有转轴，所述转轴上固定连接有支撑板，所述空腔内设有驱动机构，且驱动机构与支撑板连接，所述支撑板的上端竖直对称固定连接有支杆，且两个支杆延伸至工作台的上方，所述工作台的上端固定连接有支撑块，所述支撑块的上端固定连接有放置板，两个所述支杆靠近放置板的一侧均设有检测器。本实用新型专利技术结构稳定，操作简单，设计科学合理，生产周期短，可以对不同型号的大电流硅堆外观进行全方位的检测。

Appearance inspection device for high current silicon stack

【技术实现步骤摘要】
一种大电流硅堆外观检测装置
本技术涉及大电流硅堆外观检测
，尤其涉及一种大电流硅堆外观检测装置。
技术介绍
硅堆是把几个二极管组成的整流电路一起封装在树脂中，形成的整流电路，是高压整流中将交流变成直流必不可少的原件。为了保证大电流硅堆的外观不会出现破损，会使用检测装置对大电流硅堆外观的进行检测。而传统的大电流硅堆外观检测装置结构较为简单，不能对不同型号的大电流硅堆进行检测，而且对大电流硅堆外观检测的角度较为固定。为此。我们提出一种大电流硅堆外观检测装置。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中大电流硅堆外观检测装置结构较为简单，不能对不同型号的大电流硅堆进行检测，而且对大电流硅堆外观检测的角度较为固定的问题，而提出的一种大电流硅堆外观检测装置。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种大电流硅堆外观检测装置，包括底座，所述底座的上端固定连接有工作台，所述工作台内开设有空腔，所述空腔内转动连接有转轴，所述转轴上固定连接有支撑板，所述空腔内设有驱动机构，且驱动机构与支撑板连接，所述支撑板的上端竖直对称固定连接有支杆，且两个支杆延伸至工作台的上方，所述工作台的上端固定连接有支撑块，所述支撑块的上端固定连接有放置板，两个所述支杆靠近放置板的一侧均设有检测器。优选地，所述驱动机构包括固定在空腔内底部的电机，所述电机的驱动端固定连接有驱动杆，且驱动杆远离电机的一端转动连接在空腔的内侧壁上，所述驱动杆上固定连接有锥齿轮，所述支撑板的下方开设有斜齿纹，且锥齿轮与支撑板的下端啮合。优选地，每个所述支杆靠近支撑块的一侧均对称固定连接有两个气缸，且每个检测器固定在同一个支杆上的两个气缸的驱动端。优选地，所述工作台的上端环绕开设有移动槽，且两个支杆均位于移动槽内并与移动槽滑动连接。优选地，所述空腔的内底部上固定连接有稳定块，且稳定块套设在驱动杆上并与驱动杆转动连接。优选地，所述底座的下端对称固定连接有多个支脚。本技术具备以下优点：1、通过设置电机驱动驱动杆上的锥齿轮进行转动，使得锥齿轮驱动支撑板在转轴上进行转动，来带动两个支杆上的检测器对大电流硅堆进行全方位的检测。2、通过设置支撑板下端的斜齿纹，使得锥齿轮可以方便的驱动支撑板在转轴上进行转动。3、通过设置气缸可以方便的来调节检测器的方位，使得可以对不同型号的大电流硅堆进行检测。综上所述，本技术结构稳定，操作简单，设计科学合理，生产周期短，可以对不同型号的大电流硅堆外观进行全方位的检测。附图说明图1为本技术提出的一种大电流硅堆外观检测装置的结构示意图；图2为本技术提出的一种大电流硅堆外观检测装置的俯视图；图3为本技术提出的一种大电流硅堆外观检测装置的驱动机构结构示意图。图中：1底座、2支脚、3工作台、4转轴、5支撑板、6支杆、7气缸、8检测器、9放置板、10电机、11稳定块、12驱动杆、13锥齿轮、14支撑块。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。参照图1-3，一种大电流硅堆外观检测装置，包括底座1，底座1的下端对称固定连接有多个支脚2；底座1的上端固定连接有工作台3，工作台3内开设有空腔，空腔内转动连接有转轴4，转轴4上固定连接有支撑板5，空腔内设有驱动机构，且驱动机构与支撑板5连接，支撑板5的上端竖直对称固定连接有支杆6，且两个支杆6延伸至工作台3的上方，工作台3的上端固定连接有支撑块14，支撑块14的上端固定连接有放置板9，两个支杆6靠近放置板9的一侧均设有检测器8(检测器8对大电流硅堆外观检测的工作远离与检测器8的电路连接均为成熟的现有技术，在此不做详细阐述)；工作台3的上端环绕开设有移动槽，且两个支杆6均位于移动槽内并与移动槽滑动连接，便于支撑板5带动两个支杆6进行转动，使得每个支杆6上的检测器8可以更好的对大电流硅堆外观进行全面的检测；驱动机构包括固定在空腔内底部的电机10，电机10的驱动端固定连接有驱动杆12，且驱动杆12远离电机10的一端转动连接在空腔的内侧壁上，驱动杆12上固定连接有锥齿轮13，支撑板5的下方开设有斜齿纹，且锥齿轮13与支撑板5的下端啮合；空腔的内底部上固定连接有稳定块11，且稳定块11套设在驱动杆12上并与驱动杆12转动连接；每个支杆6靠近支撑块14的一侧均对称固定连接有两个气缸7，且每个检测器8固定在同一个支杆6上的两个气缸7的驱动端，通过气缸7可以方便的来调节检测器8的方位，使得可以对不同型号的大电流硅堆进行检测；本技术中，在使用时，把大电流硅堆放置在放置板9上，通过气缸7推动检测器8靠近大电流硅堆，然后再由电机10驱动驱动杆12在稳定块11上进行转动，带动驱动杆12上的锥齿轮13进行转动，由于锥齿轮13与支撑板5下端的斜齿纹啮合，进而可以驱动支撑板5进行转动，使得两个支杆6带动检测器8进行转动，从而可以对大电流硅堆的外观进行环绕检测；电机可受无线控制，相关的具体结构和通信原理为现有成熟的技术，在此不多赘述。以上，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大电流硅堆外观检测装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的上端固定连接有工作台(3)，所述工作台(3)内开设有空腔，所述空腔内转动连接有转轴(4)，所述转轴(4)上固定连接有支撑板(5)，所述空腔内设有驱动机构，且驱动机构与支撑板(5)连接，所述支撑板(5)的上端竖直对称固定连接有支杆(6)，且两个支杆(6)延伸至工作台(3)的上方，所述工作台(3)的上端固定连接有支撑块(14)，所述支撑块(14)的上端固定连接有放置板(9)，两个所述支杆(6)靠近放置板(9)的一侧均设有检测器(8)。/n

【技术特征摘要】
1.一种大电流硅堆外观检测装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的上端固定连接有工作台(3)，所述工作台(3)内开设有空腔，所述空腔内转动连接有转轴(4)，所述转轴(4)上固定连接有支撑板(5)，所述空腔内设有驱动机构，且驱动机构与支撑板(5)连接，所述支撑板(5)的上端竖直对称固定连接有支杆(6)，且两个支杆(6)延伸至工作台(3)的上方，所述工作台(3)的上端固定连接有支撑块(14)，所述支撑块(14)的上端固定连接有放置板(9)，两个所述支杆(6)靠近放置板(9)的一侧均设有检测器(8)。


2.根据权利要求1所述的一种大电流硅堆外观检测装置，其特征在于，所述驱动机构包括固定在空腔内底部的电机(10)，所述电机(10)的驱动端固定连接有驱动杆(12)，且驱动杆(12)远离电机(10)的一端转动连接在空腔的内侧壁上，所述驱动杆(12)上固定连接有锥齿轮(13)，所述支撑...

【专利技术属性】
技术研发人员：解锡放，
申请(专利权)人：苏州坦顿检测科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32