光器件测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间，以及温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。本实用新型专利技术提出的光器件测试装置能够提升光器件跟踪误差测试的准确性。

Optical device test device

【技术实现步骤摘要】
光器件测试装置
本技术涉及光器件测试
，特别涉及一种光器件测试装置。
技术介绍
光器件内设有发光组件，发光组件发射的激光耦合至光纤适配器的纤芯中，再将光纤适配器通过光纤连接一光功率测量仪器，即可测量光纤接收到的激光的光功率。将发光组件与光纤适配器的纤芯耦合完毕之后，需要将发光组件与光纤适配器分别通过激光焊接在光器件的方形管壳体上，方形管壳体上激光焊接的焊点在温度变化时会发生结构形变，会导致激光耦合时的光路也会发生变化，光纤内接收到激光的光功率也会随之变化。此外，光器件方形管壳体内的其它零部件也会在高、低温环境下发生热胀冷缩影响工作性能，这也将最终导致光纤接收到的激光的光功率发生变化。因此，在不同的高、低温条件下，光纤收到的激光的光功率与其在常温条件下接收到的激光的光功率值之间会存在一个差值，即TE(TrackingError，跟踪误差)值，TE值可作为衡量光器件的输出光功率在规定工作温度范围内的稳定性的指标。目前测试光器件TE值的方案中，难以保证光器件的实际工作温度与预期工作温度相一致，比如，目前采用的一种光器件TE值测试方案为：将光器件放置在一密闭容器中，通过改变密闭容置内空气的温度来模拟光器件的工作温度，从而获得高、低温度条件下光器件的输出光功率。在该方案中，首先，无法保证密闭容器内各处的温度都是均匀而一致的，光器件的实际工作温度存在不稳定的情况。其次，热量从空气传递到光器件有延迟和损耗，光器件的实际工作温度难以准确控制。其中，密闭容器内的温度是期望光器件工作的温度，而光器件实际工作温度并非密闭容器内空气的温度，这就导致光器件TE测试的温度条件不准确，光器件的TE测试存在较大误差，进而会导致不良的光器件能通过测试，而优良的光器件反而不能通过测试。上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
本技术的主要目的是提供一种光器件测试装置，旨在提升光器件跟踪误差测试的准确性。为实现上述目的，本技术提供了一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，所述光器件测试装置包括：导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间；以及温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。可选地，所述温控组件包括：热电制冷器，设于所述导热组件，所述热电制冷器用于调节所述导热组件的温度；和热敏电阻，设于所述导热组件，并与所述热电制冷器间隔设置，所述热敏电阻用于获取所述导热组件的当前温度。可选地，所述导热组件包括：测试盒，形成有容纳腔；导热基板，设于所述容纳腔内，并邻近所述容纳腔的开口处设置；以及盖板，盖合于所述容纳腔的开口处，并有与所述导热基板围合形成所述限位槽；所述定位件可活动地穿设于所述盖板，并抵接于所述光器件背向所述导热基板的一侧，以使所述光器件定位于所述定位件和所述导热基板之间；所述温控组件设于所述导热基板背向所述盖板的一侧，并容纳于所述容纳腔内。可选地，所述导热组件还包括转动连接于所述盖板背向所述测试盒一侧的翻转板；所述定位件包括定位柱、设于所述定位柱一端的止挡件以及套设于所述定位柱的弹性件；所述定位柱可活动地穿设于所述翻转板，并与所述光器件背向所述导热基板的一侧抵接；所述止挡件设于所述定位柱靠近所述光器件的一端；所述弹性件位于所述止挡件和所述翻转板之间，所述弹性件的两端分别抵接于所述止挡件和所述翻转板，并处于压缩状态。可选地，所述导热组件包括：安装罩，形成有安装腔，所述安装罩外壁形成有至少一个安装槽，所述安装槽的底壁开设有连通所述安装腔的安装口；和导热座，设于所述安装腔内，所述导热座间隔设置有至少两个凸部，相邻两个所述凸部与所述导热座围合形成一通槽，所述凸部穿过所述安装口并伸入所述安装槽内，所述通槽的底壁与所述安装槽的底壁相齐平，以使所述通槽与所述安装槽连通，形成所述限位槽；所述温控组件设于所述导热座背向所述凸部的一侧，并容纳于所述安装腔内。可选地，所述定位件为定位块，所述定位块包括支撑部和设于所述支撑部一端的定位部；所述支撑部远离所述定位部的一端与所述凸部转动连接；所述支撑部相对于所述凸部转动时，带动所述定位部伸入所述通槽内，并抵接于所述光器件的外壁，以将所述光器件夹持定位于所述定位部和所述通槽的侧壁或底壁之间。可选地，所述凸部开设有连通于所述通槽侧壁的竖槽，所述支撑部的一端转动连接于所述竖槽的底壁，所述支撑部和所述定位部至少部分容纳于所述竖槽内。可选地，所述光器件测试装置还包括连接于所述导热组件的进风接头，所述进风接头外接有进风器，所述进风器通过进风接头向所述导热组件鼓风。可选地，所述光器件测试装置还包括：支架；和散热箱，设于所述支架，所述散热箱形成有散热腔，所述散热箱的侧壁开设有与所述散热腔连通的散热口，所述散热箱于所述散热口处设有多个间隔设置的散热隔板，多个所述散热隔板之间形成有与所述散热腔连通的散热通道；所述导热组件设于所述散热箱。可选地，所述光器件测试装置还包括风扇；所述散热箱背向所述导热组件的一侧还开设有进风口，所述进风口与所述散热通道相连通；所述风扇设于所述进风口处，所述风扇用于向所述散热通道内鼓风，或者将所述散热通道内的空气向外排出。本技术技术方案通过采用将光器件设置在导热组件形成的限位槽内，再在导热组件上设置定位件，使定位件至少部分伸入限位槽内，并抵接于光器件的外壁，定位件与限位槽的内壁配合夹持并定位光器件，使光器件的外壁与限位槽的内壁相贴合的面积尽可能的大。以此，在后续的光器件跟踪误差测试过程中，导热组件的温度可以等效成光器件的工作温度，通过温控组件对导热组件的温度进行调节，就能实现光器件工作温度的准确控制，进而保证光器件在不同温度环境下跟踪误差测试的准确性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本技术光器件测试装置的一种结构示意图；图2为图1中光器件测试装置的爆炸结构图；图3为图2中盖板和定位件的配合结构示意图；图4为图2的侧视结构图；图5为本技术光器件测试装置的另一种结构示意图；图6为图5中光器件测试装置的爆炸结构图；图7为图6中导热座与定位块的配合结构图；图8为图7中A部分的放大结构图；图9为测支本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：/n导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；/n定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间；以及/n温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。/n

【技术特征摘要】
1.一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：
导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；
定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间；以及
温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。


2.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述温控组件包括：
热电制冷器，设于所述导热组件，所述热电制冷器用于调节所述导热组件的温度；和
热敏电阻，设于所述导热组件，并与所述热电制冷器间隔设置，所述热敏电阻用于获取所述导热组件的当前温度。


3.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件包括：
测试盒，形成有容纳腔；
导热基板，设于所述容纳腔内，并邻近所述容纳腔的开口处设置；以及
盖板，盖合于所述容纳腔的开口处，并有与所述导热基板围合形成所述限位槽；
所述定位件可活动地穿设于所述盖板，并抵接于所述光器件背向所述导热基板的一侧，以使所述光器件定位于所述定位件和所述导热基板之间；
所述温控组件设于所述导热基板背向所述盖板的一侧，并容纳于所述容纳腔内。


4.如权利要求3所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件还包括转动连接于所述盖板背向所述测试盒一侧的翻转板；
所述定位件包括定位柱、设于所述定位柱一端的止挡件以及套设于所述定位柱的弹性件；
所述定位柱可活动地穿设于所述翻转板，并与所述光器件背向所述导热基板的一侧抵接；
所述止挡件设于所述定位柱靠近所述光器件的一端；
所述弹性件位于所述止挡件和所述翻转板之间，所述弹性件的两端分别抵接于所述止挡件和所述翻转板，并处于压缩状态。


5.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件包括：
安装罩，形成有安装腔，所述安装罩外壁形成有...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄礼杰，刘兴，张雄辉，潘双收，
申请(专利权)人：深圳市亚派光电器件有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44