一种波形测试探针装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种波形测试探针装置，包括支架、驱动单元、测试单元和平台单元；所述驱动单元包括设置在支架上的测试驱动源和升降块，所述升降块与测试驱动源的自由端连接；所述测试单元包括设置在升降块上的测试支架，所述测试支架上设置有立板，所述立板上滑动设置有两块绝缘板，且其并排，所述绝缘板和测试支架之间设置有弹性件，所述绝缘板的顶端设置有探针；所述平台单元包括设置在支架上的平台支架，所述平台支架上设置有绝缘测试平台，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，两根所述探针分别插入一个测试孔内。其能够从底部测试元器件，测试效率高，测试数据稳定，可靠性强。

A probe device for waveform test

【技术实现步骤摘要】
一种波形测试探针装置
本专利技术涉及探针装置，具体涉及一种波形测试探针装置。
技术介绍
元器件在生产过程中或者生产完成后，通常需要对其进行电性波形测试。元器件的个头一般较小，且每天生产的数量巨大。在对其进行测试时，通常是将元器件排布在平台上，而后将探针依次移过每颗元器件，并对每颗元器件进行测试。这一过程中，需要快速的移动探针及其附带的大量机构，极大的制约了测试速度，效率较低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种波形测试探针装置，其能够从底部测试元器件，测试效率高，测试数据稳定，可靠性强。为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种波形测试探针装置，包括支架、驱动单元、测试单元和平台单元；所述驱动单元包括设置在支架上的测试驱动源和升降块，所述升降块与测试驱动源的自由端连接；所述测试单元包括设置在升降块上的测试支架，所述测试支架上设置有立板，所述立板上滑动设置有两块绝缘板，且其并排，所述绝缘板和测试支架之间设置有弹性件，所述绝缘板的顶端设置有探针；所述平台单元包括设置在支架上的平台支架，所述平台支架上设置有绝缘测试平台，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，两根所述探针分别插入一个测试孔内。作为优选的，所述绝缘板上开设有限位槽，所述测试支架上设置有限位钩，所述限位钩钩设在限位槽内，所述限位槽的宽度大于限位钩的宽度。作为优选的，所述升降块内开设有微调滑动腔，所述升降块上转动设置有转轴，且穿过微调滑动腔，所述转轴上设置有与其中心轴线平行但不重合的偏心轮，所述微调滑动腔内滑动设置有与测试驱动源的自由端连接的微调滑块，所述微调滑块内开设有偏心槽，所述偏心轮位于偏心槽内。作为优选的，所述转轴的端部设置有内六角状的微调头。作为优选的，所述支架上设置有驱动源支架，所述驱动源支架上滑动设置有承托板，所述支架上固定设置有粗调固定块，所述测试驱动源设置在承托板上，所述承托板和粗调固定块之间穿设有粗调螺栓。作为优选的，所述驱动源支架的底部开设有粗调滑动腔，所述承托板滑动设置在粗调滑动腔内。作为优选的，所述支架上设置有光杆，所述升降块设置在光杆上。作为优选的，所述支架上设置有邻近升降块的计数传感器。作为优选的，所述立板上并排设置两条测试滑轨，两块所述绝缘板分别设置在一条测试滑轨上。作为优选的，所述绝缘测试平台和绝缘板均为陶瓷板。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：1、本专利技术能够从底部自动的对分立的元器件进行快速的测试，测试时仅需要更换元器件，而不用移动探针及整个装置，测试效率高，能耗低。2、本专利技术通过设置弹性件，能够使探针与元器件由硬接触变成软接触，保证针压的持续稳定，提高测试精确性，且不容易损坏探针和元器件。3、本专利技术通过设置绝缘测试平台和绝缘板，使元器件和探针在测试时，完全与装置其它部分绝缘，避免漏电损坏。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例技术中的技术方案，下面将对实施例技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还能够根据这些附图获得其他的附图。图1为探针装置的结构示意图一；图2为A部的放大示意图；图3为探针装置的结构示意图二；图4为探针装置的剖视示意图。其中，300-支架，310-驱动源支架，311-承托板，312-测试驱动源，313-光杆，314-升降块，315-计数传感器，320-微调滑动腔，321-转轴，322-偏心轮，323-微调滑块，324-偏心槽，325-微调头，330-粗调滑动腔，331-粗调固定块，332-粗调螺栓，340-测试支架，341-立板，342-测试滑轨，343-绝缘板，344-测试板，345-探针，346-弹性件，350-限位槽，351-限位钩，360-平台支架，361-绝缘测试平台，362-测试孔。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例参照图1～图4所示，本专利技术公开了一种波形测试探针装置，包括支架300、驱动单元、微调单元、粗调单元、测试单元、限位单元和平台单元。驱动单元：上述驱动单元包括驱动源支架310、承托板311、测试驱动源312、光杆313和升降块314。上述驱动源支架310设置在支架300上。承托板311设置在驱动源支架310的底部。测试驱动源312固定在承托板311上。光杆313设置在驱动源支架310上。升降块314滑动设置在光杆313上。升降块314连接在测试驱动源312的自由端。测试驱动源312能够驱动升降块314升降，以使探针345实现升降测试。作为本专利技术的进一步改进，上述驱动源支架310上设置有计数传感器315，其邻近升降块314。计数传感器315能够侦测升降块314的升降次数。粗调单元：上述粗调单元包括粗调滑动腔330、粗调固定块331和粗调螺栓332。上述粗调滑动腔330开设在支架300的底部。承托板311滑动设置在粗调滑动腔330内。粗调固定块331固定在支架300上。粗调螺栓332穿设在承托板311和粗调固定块331内。通过旋拧粗调螺栓332，能够调整承托板311的高度，进而对探针345的初始高度进行粗调。微调单元：上述微调单元包括微调滑动腔320、转轴321、偏心轮322、微调滑块323和偏心槽324。上述微调滑动腔320开设在升降块314内。转轴321转动设置在升降块314上，且穿过微调滑动腔320。偏心轮322设置在转轴321上。偏心轮322和转轴321的中心轴线平行但不重合。微调滑块323滑动设置在微调滑动腔320内，且其连接在测试驱动源312的自由端。偏心槽324开设在微调滑块323上。偏心轮322位于偏心槽324内。通过转动转轴321，即可对升降块314的初始位置进行微调，以实现探针345的微调。作为本专利技术的进一步改进，上述转轴321的端部设置有内六角状的微调头325。微调头325能够方便工具的插入与微调。测试单元：上述测试单元包括测试支架340、立板341、测试滑轨342、绝缘板343、测试板344、探针345和弹性件346。上述测试支架340设置在升降块314上。立板341设置在测试支架340上。两条测试滑轨342沿光杆313的方向并排设置在立板341上。两块绝缘板343分别设置在一条测试滑轨342上。弹性件346设置在绝缘板343和测试支架340。测试板344设置在绝缘板343的顶端。探针345设置在测试板344的顶端。探针345能够在升降块314的带动下快速升降，实现测试；弹性件346能够保证探针34本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种波形测试探针装置，其特征在于，包括支架、驱动单元、测试单元和平台单元；/n所述驱动单元包括设置在支架上的测试驱动源和升降块，所述升降块与测试驱动源的自由端连接；/n所述测试单元包括设置在升降块上的测试支架，所述测试支架上设置有立板，所述立板上滑动设置有两块绝缘板，且其并排，所述绝缘板和测试支架之间设置有弹性件，所述绝缘板的顶端设置有探针；/n所述平台单元包括设置在支架上的平台支架，所述平台支架上设置有绝缘测试平台，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，两根所述探针分别插入一个测试孔内。/n

【技术特征摘要】
1.一种波形测试探针装置，其特征在于，包括支架、驱动单元、测试单元和平台单元；
所述驱动单元包括设置在支架上的测试驱动源和升降块，所述升降块与测试驱动源的自由端连接；
所述测试单元包括设置在升降块上的测试支架，所述测试支架上设置有立板，所述立板上滑动设置有两块绝缘板，且其并排，所述绝缘板和测试支架之间设置有弹性件，所述绝缘板的顶端设置有探针；
所述平台单元包括设置在支架上的平台支架，所述平台支架上设置有绝缘测试平台，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，两根所述探针分别插入一个测试孔内。


2.如权利要求1所述的波形测试探针装置，其特征在于，所述绝缘板上开设有限位槽，所述测试支架上设置有限位钩，所述限位钩钩设在限位槽内，所述限位槽的宽度大于限位钩的宽度。


3.如权利要求1所述的波形测试探针装置，其特征在于，所述升降块内开设有微调滑动腔，所述升降块上转动设置有转轴，且穿过微调滑动腔，所述转轴上设置有与其中心轴线平行但不重合的偏心轮，所述微调滑动腔内滑动设置有与测试驱动源的自由端连接的微调滑块，所述微调滑块内开设有偏心槽，所述偏心轮位于偏心槽内。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡凤鸣，黄向阳，王海红，梁海伟，
申请(专利权)人：苏州鸣动智能设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32