一种磁瓦检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种磁瓦检测装置，包括进料传送带、第一至第三导板机构、第一和第二检测盘、翻转机构、集料传送机构、第一组和第二组检测机构，其中，该翻转机构包括上层传送带、下层传送带和翻转导引结构，该翻转导引结构设置在上层传送带的末端，具有弧形滑道，用于磁瓦置放姿态的翻转，其中，磁瓦在第二检测盘上为背面朝上的第二置放姿态，磁瓦在第一检测盘、翻转机构和第二检测盘上传送时，其形位取向与其传送的速度/线速度方向保持一致。根据本发明专利技术的磁瓦检测装置，磁瓦在传送检测过程中具有稳定的姿态，实现磁瓦的连续顺畅传输，同时便于磁瓦全方位检测。另外，此外磁瓦在剔除时能够防止磁瓦的二次损伤。

【技术实现步骤摘要】
一种磁瓦检测装置
本专利技术涉及磁瓦表面缺陷和尺寸检测领域，尤其涉及一种磁瓦检测装置。
技术介绍
由铁氧体磁性材料、铷铁硼磁性材料等磁性材料制得的磁瓦在生产加工过程中可能存在缺陷，例如裂纹、掉块、杂质、打楞(打印)、气孔等，需要对每块磁瓦进行检查。目前普遍采用人工目检方式，由于人工目检劳动强度大，分拣效率低，漏检率高，针对磁瓦表面缺陷检测，趋向于采用机器视觉方法进行检测，目前国内外还没有成熟检测设备。中国专利文献CN103529039A披露了一种磁瓦检测装置，在磁瓦检测传输机构中，一、二工位直线传输模组与对应阔型气缸手指的配合，使磁瓦在两个检测工位之间能够顺利衔接。然而这种方式检测节拍较慢，效率有待提高。传统的机器视觉检测采用玻璃盘承载样品的方式，玻璃盘具有传动精度高，盘面污染易清理、透光性好、光源打光方式灵活等优点，一直受到业者好评。中国专利文献CN108896553A中披露了一种大批量零部件全方位检测装置，其采用玻璃盘承载样品的方式，包括其包括定量取样装置、排序装置、经由第一导向装置将样品导引至第一检测盘、经由第二导向装置将样品导引至翻转装置、经由第三导向装置将样品导引至第二检测盘。在实施本专利技术的过程中，本专利技术人发现：对于磁瓦这样的异形部件检测来说，其姿态在传送过程中容易随时发生改变、导致姿态精度不足，而姿态精度不足不仅会影响检测效果，而且也会导致样品连续传输不够流畅的问题；另外，磁瓦在剔除时容易发生二次损伤。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种磁瓦检测装置，以保证磁瓦在传送过程中的姿态精度，实现传输连续流程。为此，本专利技术提供了一种磁瓦检测装置，包括沿磁瓦传送方向依次布置有进料传送带、第一导板机构、第一检测盘、第二导板机构、翻转机构、第三导板机构、第二检测盘、以及集料传送机构，还包括在第一检测盘上布置的第一组检测机构和在第二检测盘上布置的第二组检测机构，所述翻转机构包括上层传送带、下层传送带和翻转导引结构，所述翻转导引结构设置在上层传送带的末端，具有弧形滑道，用于磁瓦置放姿态的翻转，其中，磁瓦在所述第一检测盘上为正面朝上的第一置放姿态，在第二检测盘上为背面朝上的第二置放姿态，在所述第一检测盘、翻转机构和第二检测盘上、所述磁瓦的形位取向与其传送的速度/线速度方向保持一致。进一步地，上述翻转机构和集料传送机构呈T型布置，所述第一检测盘和第二检测盘设置在集料传送机构的左右两侧。进一步地，上述第二检测盘上设有环槽，所述磁瓦置于环槽中呈背面朝上的第二置放姿态，且其形位取向与其传动的线速度方向保持一致。进一步地，上述集料传送机构包括集料传送带，其中，所述第一检测盘上的磁瓦和第二检测盘上的磁瓦剔除至集料传送带上。进一步地，上述集料传送机构还包括在集料传送带上设置的物料分类隔道。进一步地，上述翻转导引结构还包括在弧形滑道中设置的滑移侧壁。进一步地，上述第一导板机构、第二导板机构、翻转导引结构、第三导板机构均包括取向部，其中，该取向部用于对磁瓦进行取向，使得磁瓦的形位取向与其传送的速度/线速度方向保持一致。进一步地，上述第一组检测机构选自端面检测、倒角检测、侧面检测、R角检测、以及轮廓检测中的任意一种或多种。进一步地，上述第一组检测机构和第二组检测机构采用悬垂方式安装、并且通过升降机构实现安装高度调节。进一步地，上述翻转导引结构还包括在弧形滑道的下端设置的护罩，其中，所述护罩用于对磁瓦进行约束，以防止脱离弧形滑道。根据本专利技术的磁瓦检测装置，对磁瓦传送过程中利用第一至第三导板机构的取向部对磁瓦进行长度取向，使磁瓦的形位取向与传送的速度/线速度方向保持一致，并且利用专用的翻转机构实现对该磁瓦置放姿态的翻转，同时利用第二检测盘上的环槽实现磁瓦的置放定位，使磁瓦在传送检测过程中具有稳定的姿态，实现磁瓦的连续顺畅传输，同时便于磁瓦全方位检测。另外，此外磁瓦在剔除时掉落至集料传送带上，利用其柔性缓冲能力防止磁瓦的二次损伤，并且在集料传送带上能够实现磁瓦的分类传送。除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本专利技术还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本专利技术作进一步详细的说明。附图说明构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是待检测的磁瓦样品的立体结构示意图；图2示出了磁瓦处于正面朝上的置放状态；图3示出了磁瓦处于背面朝上的置放状态；图4示出了磁瓦的圆弧形的截面；图5是根据本专利技术的磁瓦检测装置的立体结构示意图，其中，去除了成像检测设备；图6是根据本专利技术的磁瓦检测装置的平面布局示意图；图7是根据本专利技术的磁瓦检测装置的第一导向机构的示意图；图8是根据本专利技术的磁瓦检测装置的第二导向机构的示意图；图9示出了图8所示的第二导向机构的背面结构；图10是根据本专利技术的磁瓦检测装置的第三导向机构的示意图；图11是根据本专利技术的磁瓦检测装置的样品翻转机构的示意图；图12是根据本专利技术的磁瓦检测装置的样品翻转机构的翻转导引结构的示意图；图13是根据本专利技术的磁瓦检测装置的第二玻璃盘的结构示意图；图14是根据本专利技术的磁瓦检测装置的集料机构的示意图；图15示出了磁瓦样品在磁瓦检测装置上连续传输流向；以及图16示出了根据本专利技术的磁瓦检测装置的结构示意图，其中，安装了成像检测设备。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。图1至图16示出了根据本专利技术的一些实施例。本专利技术的磁瓦检测装置用于连续快速检测磁瓦1，该磁瓦的结构在图1中示出，该磁瓦具有两种置放姿态，图2示出了磁瓦呈正面朝上放置时的第一置放姿态，此时磁瓦位姿稳定。图3示出了磁瓦在背面朝上放置时的第二置放姿态，此时位姿不稳定。图4示出了磁瓦的端面结构。上述磁瓦的检测部位包括：外弧面1b、内弧面1c、端面1d、侧面1e、倒角1f、R角。磁瓦1为块状固体，在水平面上具有两种置放姿态，对于每种置放姿态而言，磁瓦1的方位不定，在端面1a理论上可指向360°内任一方位。这样会给磁瓦各部分检测带来困难。在本专利技术中，为表示磁瓦的方位，定义了磁瓦的形位取向，该磁瓦的形位取向能够唯一指示磁瓦在传送过程中相对于传送带和检测盘的方位。在长度L≥宽度W的磁瓦中(如图1所示)，将与磁瓦外弧面的中心轴线平行的长度方向1a定义为瓷瓦的形位取向；在宽度W＞长度L的其他外形磁瓦中，将与磁瓦外弧面弦长方向平行的宽度方向定义为磁瓦的形位取向。结合参照图5至图16，本磁瓦检测装置包括进料传送带10、第一导板机构20、第一检测盘30、第二导板机构40、翻转机构50、第三导板机构60、第二检测盘70、集料传送机构80、第一组检测机构9本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁瓦检测装置，其特征在于，包括沿磁瓦传送方向依次布置有进料传送带(10)、第一导板机构(20)、第一检测盘(30)、第二导板机构(40)、翻转机构(50)、第三导板机构(60)、第二检测盘(70)、以及集料传送机构(80)，还包括在第一检测盘上布置的第一组检测机构(90)和在第二检测盘上布置的第二组检测机构(100)，/n所述翻转机构(50)包括上层传送带(510)、下层传送带(520)和翻转导引结构(530)，所述翻转导引结构(530)设置在上层传送带(510)的末端，具有弧形滑道(531)，用于磁瓦置放姿态的翻转，/n其中，磁瓦(1)在所述第一检测盘(30)上为正面朝上的第一置放姿态，在第二检测盘(70)上为背面朝上的第二置放姿态，在所述第一检测盘、翻转机构和第二检测盘上、所述磁瓦(1)的形位取向与其传送的速度/线速度方向保持一致。/n

【技术特征摘要】
1.一种磁瓦检测装置，其特征在于，包括沿磁瓦传送方向依次布置有进料传送带(10)、第一导板机构(20)、第一检测盘(30)、第二导板机构(40)、翻转机构(50)、第三导板机构(60)、第二检测盘(70)、以及集料传送机构(80)，还包括在第一检测盘上布置的第一组检测机构(90)和在第二检测盘上布置的第二组检测机构(100)，
所述翻转机构(50)包括上层传送带(510)、下层传送带(520)和翻转导引结构(530)，所述翻转导引结构(530)设置在上层传送带(510)的末端，具有弧形滑道(531)，用于磁瓦置放姿态的翻转，
其中，磁瓦(1)在所述第一检测盘(30)上为正面朝上的第一置放姿态，在第二检测盘(70)上为背面朝上的第二置放姿态，在所述第一检测盘、翻转机构和第二检测盘上、所述磁瓦(1)的形位取向与其传送的速度/线速度方向保持一致。


2.根据权利要求1所述的磁瓦检测装置，其特征在于，所述翻转机构(50)和集料传送机构(80)呈T型布置，所述第一检测盘(30)和第二检测盘(70)设置在集料传送机构的左右两侧。


3.根据权利要求1所述的磁瓦检测装置，其特征在于，所述第二检测盘(70)上设有环槽(71)，所述磁瓦置于环槽中呈背面朝上的第二置放姿态，且其形位取向与其传动的线速度方向保持一致。


4.根据权利要求1所述的磁瓦检测装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙旭，钱昊，陈宏伟，韦文波，李维，
申请(专利权)人：合肥市雅视智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34