用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件，包括饱和电压测试器、一端与饱和电压测试器的连接的多条导线以及用于放置非晶制带的工作台，工作台包括支撑脚和位于支撑脚上方的平板部，平板部的中部设有通孔，多条导线的另一端由通孔向上伸出。根据本实用新型专利技术的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件，多条导线由通孔伸出，只需要将待检测的呈圆环形的非晶制带放置在平板部上，并使导线位于圆环内部，即可对非晶制带进行检测，操作方便，可靠性高。

Saturation voltage tester assembly for testing amorphous tape

【技术实现步骤摘要】
用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件
本技术涉及非晶制带生产技术，具体而言，特别涉及一种用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件。
技术介绍
在非晶制带生产过程中需要对非晶制带的志亮进行检测。在对非晶制带检测过程中通常采用饱和电压测试器来进行。相关技术中，对成卷的非晶制带进行检测时，操作者通常使用两个分别与饱和电压测试器的正负极分别连接的触头伸入到非晶制带中进行。在进行检测时，需要人工将两个触头放到非晶制带卷形成的圆环内，操作起来十分繁琐，人力成本较高。
技术实现思路
本技术旨在至少在一定程度上解决现有技术中的上述技术问题之一。有鉴于此，本技术需要提供一种操作方便、性能可靠的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件。根据本技术实施例的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件，包括饱和电压测试器、一端与所述饱和电压测试器的连接的多条导线以及用于放置非晶制带的工作台，所述工作台包括支撑脚和位于所述支撑脚上方的平板部，所述平板部的中部设有通孔，多条所述导线的另一端由所述通孔向上伸出。根据本技术的实施例的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件，多条导线由通孔伸出，只需要将待检测的呈圆环形的非晶制带放置在平板部上，并使导线位于圆环内部，即可对非晶制带进行检测，操作方便，可靠性高。另外，根据本技术上述实施例的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件还可以具有如下附加的技术特征：进一步包括接线端子，多条所述导线的所述另一端与所述接线端子连接。所述接线端子为带有六个连接针的航空接头。所述航空接头部分伸出于所述平板部的上端面。所述航空接头粘接在所述通孔的侧壁上。所述平板部为透明元件构造成。本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。附图说明图1是根据本技术的实施例的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件的结构示意图。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。如图1所示，根据本技术的实施例的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件100，包括饱和电压测试器10、一端与饱和电压测试器10的连接的多条导线20以及用于放置非晶制带的工作台30，工作台30包括支撑脚31和位于支撑脚31上方的平板部32，平板部32的中部设有通孔33，多条导线20的另一端由通孔33向上伸出。根据本技术的实施例的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件100，多条导线20由通孔33伸出，只需要将待检测的呈圆环形的非晶制带放置在平板部上，并使导线20位于圆环内部，即可对非晶制带进行检测，操作方便，可靠性高。进一步地为了方便操作，避免导线20的自由端意外接触，用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件100进一步包括接线端子40，多条导线20的另一端与接线端子40连接。优选地，接线端子40可以为带有六个连接针的航空接头。为了便于检测，根据本技术的一个实施例，航空接头部分伸出于平板部32的上端面。为了便于对航空接头的固定，航空接头粘接在所述通孔的侧壁上。为了操作方便。平板部32可以选择为为透明元件构造成。例如为玻璃件。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件，其特征在于，包括饱和电压测试器、一端与所述饱和电压测试器的连接的多条导线以及用于放置非晶制带的工作台，所述工作台包括支撑脚和位于所述支撑脚上方的平板部，所述平板部的中部设有通孔，多条所述导线的另一端由所述通孔向上伸出。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件，其特征在于，包括饱和电压测试器、一端与所述饱和电压测试器的连接的多条导线以及用于放置非晶制带的工作台，所述工作台包括支撑脚和位于所述支撑脚上方的平板部，所述平板部的中部设有通孔，多条所述导线的另一端由所述通孔向上伸出。


2.根据权利要求1所述的用于检测非晶制带的饱和电压测试器组件，其特征在于，进一步包括接线端子，多条所述导线的所述另一端与所述接线端子连接。


3.根据权利要求2所述的用于检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：倪爱文，
申请(专利权)人：唐山先隆纳米金属制造股份有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13