多频段多天线的无源互调测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种多频段多天线的无源互调测试系统，包括依次连接的控制器、一台互调测试仪和一个单刀多掷开关，单刀多掷开关的多个输出端分别与多个被测天线连接；或包括控制器、两台以上的互调测试仪、两个以上的第一单刀多掷开关、多个第二单刀多掷开关；控制器分别与所述两台以上的互调测试仪连接；两台以上的互调测试仪与两个以上的第一单刀多掷开关的输入端分别一一对应连接；每个第一单刀多掷开关的多个输出端分别与多个第二单刀多掷开关的一输入端连接；多个第二单刀多掷开关的输出端分别与多个被测天线连接。本发明专利技术可提高多频段的多个天线的互调测试效率。

Passive intermodulation test system of multi band and multi antenna

The invention discloses a passive intermodulation test system of multi frequency band and multi antenna, which comprises a controller, a intermodulation tester and a single pole and multi throw switch in sequence, and a plurality of output ends of the single pole and multi throw switch are respectively connected with a plurality of tested antennas, or comprises a controller, more than two intermodulation testers, more than two first single pole and multi throw switches and a plurality of second single pole and multi throw switches Switch; controller is respectively connected with two or more intermodulation testers; two or more intermodulation testers are respectively connected with one-to-one corresponding input terminals of two or more first SPDT switches; multiple output terminals of each first SPDT Switch are respectively connected with one input terminal of multiple second SPDT switches; multiple output terminals of multiple second SPDT switches are respectively connected with multiple input terminals Antenna connections under test. The invention can improve the intermodulation test efficiency of multiple antennas with multiple frequency bands.

【技术实现步骤摘要】
多频段多天线的无源互调测试系统
本专利技术涉及通信
，尤其涉及多频段多天线的无源互调测试系统。
技术介绍
随着5G的商用化，很多基站产品为保证4G到5G的顺利过渡，会同时包含LTE频段和5G频段，这样一个基站天线产品中就会包含比较多的天线单元。无源互调是基站天线产品一个比较重要的测试参数，如果无源互调(尤其是3阶互调)出现问题，天线信号的接收将会受到严重干扰，导致天线性能下降，所以天线的互调测试对于生产来说是保证天线性能可靠性的一个必备测试。基于以上情况，多频段多天线的无源互调测试会出现因为频段多且天线多导致测试时间长且需求的互调测试仪器数量增加的问题。目前的互调测试系统基本都是一个频段的天线对应一个互调测试仪，对于一个天线包含多个频段的，需要一个天线产品对应几个互调测试仪由不同的作业员分几次来完成测试。对于目前一次放置一个天线产品进行测试且多频段天线需要测试多次的测试系统，放拿产品在测试治具上的时间过长，会导致单产品的测试周期长，且一个天线产品完成所有要求频段的互调测试需要多个操作员，这样会导致整个测试成本过高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供多频段多天线的无源互调测试系统，可提高多频段的多个天线的互调测试效率。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种多频段多天线的无源互调测试系统，包括依次连接的控制器、一台互调测试仪和一个单刀多掷开关，所述单刀多掷开关的多个输出端分别与多个被测天线连接。本专利技术还提出一种多频段多天线的无源互调测试系统，包括控制器、两台以上的互调测试仪、两个以上的第一单刀多掷开关、多个第二单刀多掷开关；所述第一单刀多掷开关包括一个输入端和多个输出端，所述第二单刀多掷开关包括两个以上的输入端和一个输出端；所述互调测试仪的数量、第一单刀多掷开关的数量、第二单刀多掷开关的输入端的数量一致；所述第一单刀多掷开关的输出端数量和第二单刀多掷开关的数量与被测天线的数量一致；所述控制器分别与所述两台以上的互调测试仪连接；所述两台以上的互调测试仪与两个以上的第一单刀多掷开关的输入端分别一一对应连接；每个第一单刀多掷开关的多个输出端分别与所述多个第二单刀多掷开关的一输入端连接；所述多个第二单刀多掷开关的输出端分别与多个被测天线连接。本专利技术的有益效果在于：通过将多个频段的测试整合在一个系统里面，在一次测试中一个互调测试仪可以用来测试包含同样测试频段的几个天线产品，提高了互调测试仪的利用率；通过同时放置多个天线进行测试，一次取放就可以完成测试，节省了多个被测天线的取放时间，设备成本和测试成本都有比较明显的降低。附图说明图1为本专利技术实施例一的多频段多天线的无源互调测试系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例二的多频段多天线的无源互调测试系统的结构示意图；图3为本专利技术实施例二的测试电路板的背面示意图；图4为本专利技术实施例二的测试电路板的正面示意图。标号说明：1、控制器；2、互调测试仪；3、单刀多掷开关；4、第一单刀多掷开关；5、第二单刀多掷开关；6、测试电路板；7、被测天线；8、多端口转发器；61、连接电缆；62、顶针。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。本专利技术最关键的构思在于：同时放置不同频段或相同频段的多个天线在一个夹具上进行测试。请参阅图1，一种多频段多天线的无源互调测试系统，包括依次连接的控制器、一台互调测试仪和一个单刀多掷开关，所述单刀多掷开关的多个输出端分别与多个被测天线连接。进一步地，还包括连接件，所述单刀多掷开关的多个输出端分别通过所述连接件与多个被测天线连接。本专利技术还提出一种多频段多天线的无源互调测试系统，包括控制器、两台以上的互调测试仪、两个以上的第一单刀多掷开关、多个第二单刀多掷开关；所述第一单刀多掷开关包括一个输入端和多个输出端，所述第二单刀多掷开关包括两个以上的输入端和一个输出端；所述互调测试仪的数量、第一单刀多掷开关的数量、第二单刀多掷开关的输入端的数量一致；所述第一单刀多掷开关的输出端数量和第二单刀多掷开关的数量与被测天线的数量一致；所述控制器分别与所述两台以上的互调测试仪连接；所述两台以上的互调测试仪与两个以上的第一单刀多掷开关的输入端分别一一对应连接；每个第一单刀多掷开关的多个输出端分别与所述多个第二单刀多掷开关的一输入端连接；所述多个第二单刀多掷开关的输出端分别与多个被测天线连接。进一步地，还包括连接件，所述多个第二单刀多掷开关的输出端分别通过所述连接件与多个被测天线连接。由上述描述可知，可提高同一个基站产品包含多频段的多个天线的互调测试效率，缩减单天线产品的平均测试时间，同时提高互调测试仪的利用率，在一次测试中一个互调仪可以用来测试包含同样测试频段的几个天线产品，从而达到降低生产成本的目的。进一步地，还包括多端口转发器，所述控制器通过所述多端口转发器分别与所述两台以上的互调测试仪连接。进一步地，所述连接件包括测试电路板，所述测试电路板上设有多个连接电缆和多个顶针，所述连接电缆的数量和顶针的数量与被测天线的数量一致；所述多个连接电缆分别与所述多个顶针一一对应连接，所述多个顶针分别与多个被测天线一一对应连接。由上述描述可知，保证测试信号可传输至被测天线。进一步地，还包括天线夹具，所述多个被测天线通过所述天线夹具设置在所述测试电路板上。由上述描述可知，通过将多个被测天线放置在同一个天线夹具上，节约了被测天线的取放时间。进一步地，所述互调测试仪包括信号发生器和功率放大器，所述信号发生器连接功率放大器。实施例一请参照图1，本专利技术的实施例一为：一种多频段多天线的无源互调测试系统，包括依次连接的控制器1、一台互调测试仪2和一个单刀多掷开关3，所述单刀多掷开关3包括一个输入端和多个输出端，所述输出端的数量与被测天线7的数量一致，所述单刀多掷开关3的多个输出端分别与多个被测天线7连接(图1中以四个输出端、四个被测天线为例)。进一步地，还包括连接件，所述单刀多掷开关的多个输出端分别通过所述连接件与多个被测天线连接。本实施例中，所述连接件为设有数量一致的多个连接电缆和多个顶针的测试电路板，所述单刀多掷开关的多个输出端分别与多个连接电缆一一对应连接，所述多个连接电缆分别与多个顶针一一对应连接，所述多个顶针分别与多个被测天线一一对应连接。进一步地，还包括天线夹具(图中未示出)，所述多个被测天线7通过所述天线夹具设置在所述测试电路板6上。本实施例中，互调测试仪已经整合信号发生器和功率放大器，并整合多个频段测试模块于一体，例如，整合了900MHz频段、2100MHz频段、2600MHz频段和3500MHz频段的四个测试模块。本实施例通过将多个天线放置在一个天线夹具上进行测试，节省了被测天线的取放时间；通过将多个频段的测试整合在一个系统中，在一次测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多频段多天线的无源互调测试系统，其特征在于，包括依次连接的控制器、一台互调测试仪和一个单刀多掷开关，所述单刀多掷开关的多个输出端分别与多个被测天线连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种多频段多天线的无源互调测试系统，其特征在于，包括依次连接的控制器、一台互调测试仪和一个单刀多掷开关，所述单刀多掷开关的多个输出端分别与多个被测天线连接。


2.根据权利要求1所述的多频段多天线的无源互调测试系统，其特征在于，还包括连接件，所述单刀多掷开关的多个输出端分别通过所述连接件与多个被测天线连接。


3.一种多频段多天线的无源互调测试系统，其特征在于，包括控制器、两台以上的互调测试仪、两个以上的第一单刀多掷开关、多个第二单刀多掷开关；所述第一单刀多掷开关包括一个输入端和多个输出端，所述第二单刀多掷开关包括两个以上的输入端和一个输出端；所述互调测试仪的数量、第一单刀多掷开关的数量、第二单刀多掷开关的输入端的数量一致；所述第一单刀多掷开关的输出端数量和第二单刀多掷开关的数量与被测天线的数量一致；
所述控制器分别与所述两台以上的互调测试仪连接；所述两台以上的互调测试仪与两个以上的第一单刀多掷开关的输入端分别一一对应连接；每个第一单刀多掷开关的多个输出端分别与所述多个第二单刀多掷开关的一输入端连接；所述多个第二单刀多掷开关的输出端分别与多个被...

【专利技术属性】
技术研发人员：李世辉，许庆，李伟，郑茂盛，徐鹏飞，刘航飞，
申请(专利权)人：深圳市信维通信股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44