一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统技术方案

本发明专利技术涉及一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统；其中，方法，包括：进行出厂坏块检测；将检测出的坏块移至坏块表中；对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块；将新增坏块移至坏块表中。本发明专利技术通过采取SLC模式，TLC模式，SLC模式和TLC模式，进行36轮全盘擦/写/读测试，数据采取固定数据/随机数据/固定和随机数据方式填入，块擦写读按照顺序/倒序/顺序和倒序折半方式，可以有效的筛查出易损坏、弱性坏块，将新增坏块或弱块更新到坏块表中，为SSD正常运行提供有效的保障，保证SSD固件长久稳定正常运行，能够更好地满足需求。

An effective method and system for screening new bad blocks of particles

The invention relates to a method and a system for effectively screening new bad blocks of particles, wherein, the method comprises: carrying out factory bad block detection; moving the detected bad blocks to the bad block table; carrying out multiple rounds of full Disk Wipe / write / read operations on particles to detect the new bad blocks; and moving the new bad blocks to the bad block table. The invention adopts SLC mode, TLC mode, SLC mode and TLC mode to conduct 36 rounds of full disk erasing / writing / reading test, and adopts fixed data / random data / fixed and random data to fill in the data. The block erasing reading is in order / reverse order / order and reverse order in half, which can effectively screen out vulnerable and weak bad blocks, update new bad blocks or weak blocks into bad block table, and use SSD as SSD Normal operation provides effective guarantee to ensure the long-term stable and normal operation of SSD Firmware, which can better meet the demand.

【技术实现步骤摘要】
一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统
本专利技术涉及颗粒坏块筛选
，更具体地说是指一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统。
技术介绍
SSD作为数据存储硬盘，数据出现丢失或损坏，会直接造成不可预估的破坏结果；为保证SSD固件正常运行，NandFlash颗粒坏块筛选成为不可缺少的重要一环；NandFlash颗粒坏块主要由三部分组成，一种是颗粒出厂时即出现坏块，即factorybadblock(FBB，出厂坏块)；一种是运行过程中出现的坏块；最后一种是弱块，即固件运行中，此块稳定性很差，对数据完整性存在潜在的风险。为了保证SSD数据能够安全保存，在烧录固件之前，需要对NandFlash颗粒存在的三种坏块场景进行有效识别，这样才不会影响后续固件的长期稳定执行；由于FBB是出厂固定坏块，因此，如何有效识别出第二种(运行过程中产生的坏块)和第三种坏块(弱块)，成为提升SSD高效稳定使用的关键；而现有技术，只能将出厂已有坏块检查出来，但是无法对存在的潜在坏块或弱块进行筛选，如果固件运行中检查出坏块，需要固件重新更新坏块表，并且涉及到数据搬移，而数据频繁的搬移，对数据的稳定性产生极大损害；因此，无法满足需求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统。为实现上述目的，本专利技术采用于下技术方案：一种有效筛选颗粒新增坏块的方法，包括以下步骤：进行出厂坏块检测；将检测出的坏块移至坏块表中；对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块；将新增坏块移至坏块表中。其进一步技术方案为：所述S3中，所述“对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块”包括：以SLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作，以TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作，及以SLC和TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作。其进一步技术方案为：所述“以SLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作”的步骤如下：对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作。其进一步技术方案为：所述“以TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作”的步骤如下：对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作。其进一步技术方案为：所述“以SLC和TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作”的步骤如下：以SLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；以TLC模式，对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；以SLC模式，对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；以TLC模式，对颗粒写入随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；以SLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；以TLC模式，对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作；以SLC模式，对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；以TLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；以SLC模式，对颗粒写入随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；以TLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；以SLC模式，对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；以TLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作。一种有效筛选颗粒新增坏块的系统，包括：检测单元，第一移动单元，擦写读单元，及第二移动单元；所述检测单元，用于进行出厂坏块检测；所述第一移动单元，用于将检测出的坏块移至坏块表中；所述擦写读单元，用于对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块；所述第二移动单元，用于将新增坏块移至坏块表中。其进一步技术方案为：所述擦写读单元中，所述“对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块”包括：以SLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作，以TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作，及以SLC和TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作。其进一步技术方案为：所述“以SLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作”的步骤如下：对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种有效筛选颗粒新增坏块的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n进行出厂坏块检测；/n将检测出的坏块移至坏块表中；/n对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块；/n将新增坏块移至坏块表中。/n

【技术特征摘要】
1.一种有效筛选颗粒新增坏块的方法，其特征在于，包括以下步骤：
进行出厂坏块检测；
将检测出的坏块移至坏块表中；
对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块；
将新增坏块移至坏块表中。


2.根据权利要求1所述的一种有效筛选颗粒新增坏块的方法，其特征在于，所述S3中，所述“对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块”包括：以SLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作，以TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作，及以SLC和TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作。


3.根据权利要求2所述的一种有效筛选颗粒新增坏块的方法，其特征在于，所述“以SLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作”的步骤如下：
对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作。


4.根据权利要求2所述的一种有效筛选颗粒新增坏块的方法，其特征在于，所述“以TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作”的步骤如下：
对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
对颗粒写入固定数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作。


5.根据权利要求2所述的一种有效筛选颗粒新增坏块的方法，其特征在于，所述“以SLC和TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作”的步骤如下：
以SLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
以TLC模式，对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
以SLC模式，对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；
以TLC模式，对颗粒写入随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
以SLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
以TLC模式，对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作；
以SLC模式，对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
以TLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
以SLC模式，对颗粒写入随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；
以TLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；
以SLC模式，对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；
以TLC模式，对颗粒写入固定数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作。


6.一种有效筛选颗粒新增坏块的系统，其特征在于，包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘丙圣，方华，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44