一种功能缺陷类型检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种功能缺陷类型检测方法及系统，方法包括：获取待测试的功能的信息，基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类型。本发明专利技术通过功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，能够有效的确定出系统功能的缺陷类型，能够帮助系统开发人员最大程度的预知系统功能缺陷以及预防系统功能缺陷。

A method and system of functional defect type detection

The invention discloses a functional defect type detection method and system, the method includes: obtaining the information of the function to be tested, determining the defect type of the function to be tested based on the information of the function to be tested, and the k nearest neighbor classification algorithm model of the functional defect type. Through the k nearest neighbor classification algorithm model of function defect type, the invention can effectively determine the defect type of system function, and can help system developers to predict system function defects and prevent system function defects to the greatest extent.

【技术实现步骤摘要】
一种功能缺陷类型检测方法及系统
本专利技术涉及功能检测
，尤其涉及一种功能缺陷类型检测方法及系统。
技术介绍
通常情况下，一个系统功能的实现，需要经过开发人员的代码编写，测试人员对系统的功能进行功能测试后，再正式上线，而每一个系统在前期的研发、后期的使用中或多或少都会产生一些问题或者缺陷。因此，如何确定系统功能的缺陷类型，是一项亟待解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种功能缺陷类型检测方法，能够有效的确定出系统功能的缺陷类型。本专利技术提供了一种功能缺陷类型检测方法，包括：获取待测试的功能的信息；基于所述待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定所述待测试的功能的缺陷类型。优选地，在所述获取待测试的功能的信息前，还包括：构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。优选地，所述构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型包括：获取系统的历史功能缺陷类型；基于所述历史功能缺陷类型构建k最邻近分类算法模型。优选地，所述方法还包括：优化功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。一种功能缺陷类型检测系统，包括：获取模块，用于获取待测试的功能的信息；检测模块，用于基于所述待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定所述待测试的功能的缺陷类型。优选地，所述系统还包括：模型构建模块，用于构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。优选地，所述模型构建模块在执行构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型时，具体包括：获取单元，用于获取系统的历史功能缺陷类型；k最邻近分类算法模型构建单元，用于基于所述历史功能缺陷类型构建k最邻近分类算法模型。优选地，所述系统还包括：优化模块，用于优化功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。综上所述，本专利技术公开了一种功能缺陷类型检测方法，当需要定位系统功能的缺陷类型时，首先获取待测试的功能的信息，然后基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类型。本专利技术通过功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，能够有效的确定出系统功能的缺陷类型，能够帮助系统开发人员最大程度的预知系统功能缺陷以及预防系统功能缺陷。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测方法实施例1的方法流程图；图2为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测方法实施例2的方法流程图；图3为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测方法实施例3的方法流程图；图4为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测方法实施例4的方法流程图；图5为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测系统实施例1的结构示意图；图6为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测系统实施例2的结构示意图；图7为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测系统实施例3的结构示意图；图8为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测系统实施例4的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测方法实施例1的方法流程图，所述方法可以包括以下步骤：S101、获取待测试的功能的信息；当需要定位系统功能的缺陷类型时，首先获取需要进行测试的功能的信息。例如，获取系统的功能范围、代码类型、编码人员等数据。S102、基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类型。当获取到待测试的功能的信息后，将获取到的待测试的功能的信息输入预先构建的功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型中，确定出待测试的功能的缺陷类型。综上所述，当需要定位系统功能的缺陷类型时，首先获取待测试的功能的信息，然后基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类型。本专利技术通过功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，能够有效的确定出系统功能的缺陷类型，能够帮助系统开发人员最大程度的预知系统功能缺陷以及预防系统功能缺陷。如图2所示，为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测方法实施例2的方法流程图，所述方法可以包括以下步骤：S201、构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型；当需要定位系统功能的缺陷类型时，首先构建用于确定缺陷类型的k最邻近分类算法模型。S202、获取待测试的功能的信息；在定位系统功能的缺陷类型过程中，首先获取需要进行测试的功能的信息。例如，获取系统的功能范围、代码类型、编码人员等数据。S203、基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类型。当获取到待测试的功能的信息后，将获取到的待测试的功能的信息输入预先构建的功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型中，确定出待测试的功能的缺陷类型。综上所述，当需要定位系统功能的缺陷类型时，首先构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，然后获取待测试的功能的信息，然后基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类型。本专利技术通过构建的功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，能够有效的确定出系统功能的缺陷类型，能够帮助系统开发人员最大程度的预知系统功能缺陷以及预防系统功能缺陷。如图3所示，为本专利技术公开的一种功能缺陷类型检测方法实施例3的方法流程图，所述方法可以包括以下步骤：S301、获取系统的历史功能缺陷类型；当需要定位系统功能的缺陷类型时，首先构建用于确定缺陷类型的k最邻近分类算法模型。具体的，在构建用于确定缺陷类型的k最邻近分类算法模型时，首先获取系统的历史功能缺陷类型。例如，获取缺陷功能范围、缺陷代码类型、编码人员等数据，作为样本类别。S302、基于历史功能缺陷类型构建k最邻近分类算法模型；当获取到系统的历史功能缺陷类型后，通过k最邻近分类算法进行回归算法，得到每个样本类别的权值大小，构建出功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。S303、获取待测试的功能的信息；在定位系统功能的缺陷类型过程中，首先获取需要进行测试的功能的信息。例如，获取系统的功能范围、代码类型、编码人员等数据。S304、基于待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定待测试的功能的缺陷类本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种功能缺陷类型检测方法，其特征在于，包括：/n获取待测试的功能的信息；/n基于所述待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定所述待测试的功能的缺陷类型。/n

【技术特征摘要】
1.一种功能缺陷类型检测方法，其特征在于，包括：
获取待测试的功能的信息；
基于所述待测试的功能的信息，以及功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型，确定所述待测试的功能的缺陷类型。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待测试的功能的信息前，还包括：
构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述构建功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型包括：
获取系统的历史功能缺陷类型；
基于所述历史功能缺陷类型构建k最邻近分类算法模型。


4.根据权利3所述的方法，其特征在于，还包括：
优化功能缺陷类型的k最邻近分类算法模型。


5.一种功能缺陷类型检测系统，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：李婷姝，
申请(专利权)人：中国银行股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11