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一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置制造方法及图纸

技术编号:22612451 阅读:30 留言:0更新日期:2019-11-20 18:57
本实用新型专利技术公开了一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置,属于表面缺陷无损检测装置领域。针对目前的激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置存在图像的分辨率,检测效果不佳的问题,本实用新型专利技术提出了一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置,该装置主要包括:一个CCD相机、两个半导体泵浦激光器和两个滤光片,两个半导体泵浦激光器的波长分别为532nm和473nm,所发出的激光为线激光,两个滤光片的透过波长分别为532nm和473nm;使用473nm和532nm两个输出波长分别对图像采集。得到两个激光照射条件下的图像,最后通过计算机对两个图像进行合成,可以得到更好的图像分辨率,能够更好的提高图形分辨能力。

A double wavelength laser-assisted non-destructive testing device for surface defects of high temperature continuous casting slab

The utility model discloses a double wavelength laser-assisted illumination high-temperature continuous casting billet surface defect non-destructive detection device, which belongs to the field of surface defect non-destructive detection device. In view of the problems of image resolution and poor detection effect of the current laser-assisted illumination nondestructive detection device for high-temperature continuous casting slab surface defects, the utility model proposes a dual wavelength laser-assisted illumination nondestructive detection device for high-temperature continuous casting slab surface defects, which mainly includes: a CCD camera, two semiconductor pump lasers, two filters and two semiconductors The wavelength of the pump laser is 532nm and 473nm respectively, the laser is a line laser, the transmission wavelength of the two filters is 532nm and 473nm respectively, and the image is collected by using 473nm and 532nm output wavelengths respectively. At last, the two images are synthesized by computer, which can get better image resolution and improve the ability of image resolution.

【技术实现步骤摘要】
一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置
本技术属于表面缺陷无损检测装置领域。
技术介绍
随着钢材市场的发展,钢材制造过程中高温连铸热坯表面缺陷的在线检测一直是各工业国家多年来一直致力研究的技术,这一技术的实现可以跳过连铸热坯冷却检测的工序而直接将高温连铸坯进行轧制,对连铸工艺乃至整个钢铁生产过程都会带来很大的影响。而目前存在很多种对高温连铸坯在线检测的研究,比如电涡流和超声波检测法等,但是效果都不太理想。为了克服传统的高温铸坯检测方法的缺点,实现连铸过程中钢材表面缺陷的无损在线检测。因为高温连铸热坯表面温度较高发出红光较强,直接使用CCD相机对图像进行采集难以实现。现在通常使用绿激光辅助照明对高温连铸热坯表面进行检测。但是现有的激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置中使用一台532nm的绿光激光器作为辅助照明光源,通过CCD相机对高温连铸热坯表面缺陷进行图像采集和检测。这样采集的图像虽然优于自然光状态,但是图像的分辨率仍然不高,检测效果依然不理想。
技术实现思路
针对目前的激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置存在图像的分辨率,检测效果不佳的问题,本技术提出了一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置,该装置主要包括:一个CCD相机、两个半导体泵浦激光器和两个滤光片,两个半导体泵浦激光器的波长分别为532nm和473nm,所发出的激光为线激光,两个滤光片的透过波长分别为532nm和473nm;CCD相机和两个半导体泵浦激光器均安装在高温连铸坯生产线上方,两个半导体泵浦激光器分别安装在CCD相机两侧,两个半导体泵浦激光器可将激光照射于CCD相机正下方的高温连铸坯生产线上;CCD相机前安装有两个滤光片,两个滤光片采用活动安装方式,可在CCD相机前移动。优选地,两个半导体泵浦激光器和CCD相机通过导轨固定安装在高温连铸坯生产线上方;两个半导体泵浦激光器和CCD相机可以固定安装在一起。本技术的有益效果:本专利技术在机器视觉无损检测的理论基础上,设计了一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测方法。本专利技术采用一个CCD相机、两个半导体泵浦激光器、两个滤光片、以及导轨对高温连铸热坯进行表面缺陷在线测量。使用473nm和532nm两个输出波长分别对图像采集。得到两个激光照射条件下的图像,最后通过计算机对两个图像进行合成,可以得到更好的图像分辨率,能够更好的提高图形分辨能力。附图说明图1本技术装置示意图。具体实施方式下面以具体实施例的形式对本技术技术方案做进一步解释和说明。如图1所示,一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置,主要包括:一个CCD相机3、473nm半导体泵浦激光器2、473nm激光滤光片3、532nm半导体泵浦激光器4、532nm激光滤光片5和导轨6,CCD相机3、473nm半导体泵浦激光器2和532nm半导体泵浦激光器4均安装在高温连铸坯生产线上方的导轨6上,473nm半导体泵浦激光器2和532nm半导体泵浦激光器4分别安装在CCD相机3两侧,473nm半导体泵浦激光器2和532nm半导体泵浦激光器4可将激光照射于CCD相机3正下方的高温连铸坯生产线上的高温连铸坯7上;CCD相机3前安装有473nm激光滤光片3和532nm激光滤光片5,两个滤光片采用活动安装方式,可在CCD相机3前移动。双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置需要对高温连铸坯表面进行两次扫描成像,分别由两个不同波长的半导体泵浦激光器进行辅助照明。在激光器进行照明的同时,滤光片调整为与激光器对应波段滤光片,CCD相机对激光照射到目标表面后的信号光进行采集。如作为辅助照明的第一个半导体泵浦激光器输出波长为473nm,放置在CCD相机前的滤光片对应通过波长也为473nm。第二个半导体泵浦激光器输出波长为532nm,放置在CCD相机前的滤光片对应通过波长也为532nm。两个半导体泵浦激光器和CCD相机可以集成在一起固定在导轨上,两个半导体激光器发出的是线激光作为照明光源。装置可以沿着导轨滑动,以保证CCD相机能把整个高温连铸坯表面的图像完全采集。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置,其特征在于,该装置主要包括:一个CCD相机、两个半导体泵浦激光器和两个滤光片,两个半导体泵浦激光器的波长分别为532nm和473nm,所发出的激光为线激光,两个滤光片的透过波长分别为532nm和473nm;/nCCD相机和两个半导体泵浦激光器均安装在高温连铸坯生产线上方,两个半导体泵浦激光器分别安装在CCD相机两侧,两个半导体泵浦激光器可将激光照射于CCD相机正下方的高温连铸坯生产线上;CCD相机前安装有两个滤光片,两个滤光片采用活动安装方式,可在CCD相机前移动,移入或移出相机图像采集视野。/n

【技术特征摘要】
20180928 CN 20182159006181.一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置,其特征在于,该装置主要包括:一个CCD相机、两个半导体泵浦激光器和两个滤光片,两个半导体泵浦激光器的波长分别为532nm和473nm,所发出的激光为线激光,两个滤光片的透过波长分别为532nm和473nm;
CCD相机和两个半导体泵浦激光器均安装在高温连铸坯生产线上方,两个半导体泵浦激光器分别安装在CCD相机两侧,两个半导体泵浦激光器可...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙成林李业秋门志伟龚楠
申请(专利权)人:吉林大学
类型:新型
国别省市:吉林;22

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