NAND闪存测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供一种NAND闪存测试治具，包括：线路板、通讯接口、至少一TSOP48端子板和对应个数的M Key连接器，所述TSOP48端子板、所述M Key连接器和与每一M Key连接器连接的所述通讯接口均设置在线路板上，每一TSOP48端子板包括一读/写功能扩展定义引脚和至少一片选功能扩展定义引脚并连接到对应的M Key连接器；各TSOP48端子板分别用于可插拔地连接待测试NAND闪存芯片；各M Key连接器分别用于可拆卸地连接与待测试NAND闪存芯片对应的主控板。根据本实用新型专利技术的技术方案，将该测试治具作为母板，并仅通过更换不同方案的主控板子板就可以实现对不同方案商的NAND闪存的筛选测试量产，可以减少治具的重复投入，大大降低了投入成本，实用性强。

NAND flash test fixture

【技术实现步骤摘要】
NAND闪存测试治具
本技术涉及闪存
，尤其涉及一种NAND闪存测试治具。
技术介绍
闪存(FLASH)的应用广阔，可以运用在如移动存储、5G、物联网、车联网以及人工智能等不同的领域，随着NAND闪存的制造工艺的不断更新，产量的不断增加，不良率的不断上升，NAND闪存控制器厂商需要更换新的控制器来进行调试，同时终端厂商也需要投入新的测试治具进行筛选测试。目前市场上存在众多的闪存控制器芯片应用方案商，每一家的方案都只针对自家的控制器进行调试，并利用自家方案的主控量产工具对闪存进行批量地筛选测试等。由于NAND闪存在不断地发展更新，方案主控也在不断地跟进，新的方案主控必然会淘汰旧的测试治具，对于终端厂商而言，将需要不断投入新的测试治具来对NAND闪存进行筛选测试，这将造成极大的资源浪费并且增加了巨大的成本。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种NAND闪存测试治具。本技术的实施例提供一种NAND闪存测试治具，包括：线路板、通讯接口、至少一TSOP48端子板和对应个数的MKey连接器，所述至少一TSOP48端子板、所述对应个数的MKey连接器和与每一MKey连接器连接的所述通讯接口均设置在所述线路板上，每一所述TSOP48端子板包括一读/写功能扩展定义引脚和至少一片选功能扩展定义引脚，所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到对应的MKey连接器；各所述TSOP48端子板分别用于可插拔地连接待测试NAND闪存芯片；各所述MKey连接器分别用于可拆卸地连接与所述待测试NAND闪存芯片对应的主控板；所述通讯接口用于连接测试用终端，以使所述测试用终端通过各所述主控板测试各自对应的待测试NAND闪存芯片。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，每一所述TSOP48端子板的结构相同，所述TSOP48端子板中的所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到所述MKey连接器相应的键位引脚。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，所述读/写功能扩展定义引脚为每一所述TSOP48端子板的第3引脚。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，所述片选功能扩展定义引脚的个数为四个，所述四个片选功能扩展定义引脚分别为每一所述TSOP48端子板的第21引脚、第22引脚、第26引脚和第27引脚。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，所述第21引脚对应于叠层数为5的NAND闪存芯片的片选功能引脚；所述第22引脚对应于叠层数为6的NAND闪存芯片的片选功能引脚；所述第26引脚对应于叠层数为7的NAND闪存芯片的片选功能引脚；所述第27引脚对应于叠层数为8的NAND闪存芯片的片选功能引脚。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，每一所述MKey连接器的类型相同，所述MKey连接器采用A键、B键、M键或E键的MKey连接器。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，所述MKey连接器为M键MKey连接器，所述片选功能扩展定义引脚的个数为四个，所述读/写功能扩展定义引脚连接所述M键MKey连接器的第17引脚；所述四个片选功能扩展定义引脚分别连接所述M键MKey连接器的第12引脚、第14引脚、第16引脚和第18引脚。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，所述TSOP48端子板和所述MKey连接器的插槽端分别位于所述线路板的正面和反面。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，还包括：设置在所述线路板上的至少一测试底座，每一所述TSOP48端子板对应一所述测试底座，所述测试底座可拆卸连接在所述TSOP48端子板上，所述测试底座用于装载对应的待测试闪存芯片。在上述的NAND闪存测试治具中，进一步地，还包括：设置在所述线路板上的至少一开关，每一所述TSOP48端子板对应一所述开关，所述开关用于接通或断开对应的TSOP48端子板的电源。本技术的实施例具有如下优点：本技术的技术方案通过将设计的测试治具作为母板并将方案主控作为子板，利用子母板的方式，仅更换不同方案的主控子板就可以实现对不同方案商的NAND闪存的筛选测试，对于终端厂商而言，可以减少测试治具的重复投入，大大降低了投入成本，实用性强。为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显和易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，做详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了本技术实施例的NAND闪存测试治具的结构示意图；图2示出了本技术实施例的NAND闪存测试治具的TSOP48端子板的结构示意图；图3示出了本技术实施例的NAND闪存测试治具的NAND闪存的引脚定义图；图4示出了本技术实施例的NAND闪存测试治具的MKey连接器的结构示意图；图5示出了本技术实施例的NAND闪存测试治具的M键MKey连接器的引脚定义图。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。相反，当元件被称作“直接在”另一元件“上”时，不存在中间元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在模板的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。随着存储技术的不断发展，单个Flash的存储容量在不断提升，对于NAND类型的FLASH，其具有改写速度快等特点，主要运用于大容量存储。NAND闪存的存储密度的提升取决于存储单元层数的叠加，存储单元的堆叠可形成多层结构从而可提升芯片容量。随本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种NAND闪存测试治具，其特征在于，包括：线路板、通讯接口、至少一TSOP48端子板和对应个数的M Key连接器，所述至少一TSOP48端子板、所述对应个数的M Key连接器和与每一M Key连接器连接的所述通讯接口均设置在所述线路板上，每一所述TSOP48端子板包括一读/写功能扩展定义引脚和至少一片选功能扩展定义引脚，所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到对应的M Key连接器；各所述TSOP48端子板分别用于可插拔地连接待测试NAND闪存芯片；各所述M Key连接器分别用于可拆卸地连接与所述待测试NAND闪存芯片对应的主控板；所述通讯接口用于连接测试用终端，以使所述测试用终端通过各所述主控板测试各自对应的待测试NAND闪存芯片。

【技术特征摘要】
1.一种NAND闪存测试治具，其特征在于，包括：线路板、通讯接口、至少一TSOP48端子板和对应个数的MKey连接器，所述至少一TSOP48端子板、所述对应个数的MKey连接器和与每一MKey连接器连接的所述通讯接口均设置在所述线路板上，每一所述TSOP48端子板包括一读/写功能扩展定义引脚和至少一片选功能扩展定义引脚，所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到对应的MKey连接器；各所述TSOP48端子板分别用于可插拔地连接待测试NAND闪存芯片；各所述MKey连接器分别用于可拆卸地连接与所述待测试NAND闪存芯片对应的主控板；所述通讯接口用于连接测试用终端，以使所述测试用终端通过各所述主控板测试各自对应的待测试NAND闪存芯片。2.根据权利要求1所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，每一所述TSOP48端子板的结构相同，所述TSOP48端子板中的所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到所述MKey连接器相应的键位引脚。3.根据权利要求2所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，所述读/写功能扩展定义引脚为每一所述TSOP48端子板的第3引脚。4.根据权利要求3所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，所述片选功能扩展定义引脚的个数为四个，所述四个片选功能扩展定义引脚分别为每一所述TSOP48端子板的第21引脚、第22引脚、第26引脚和第27引脚。5.根据权利要求4所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，所述第21引脚对应于...

【专利技术属性】
技术研发人员：张咪，
申请(专利权)人：深圳文治电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44