【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】集成式等离子体光子生物传感器及其使用方法
本专利技术涉及一种用于低成本大规模制造平面集成光子生物传感器的装置,更具体地说,涉及将CMOS光子和等离子体部件单片与最佳偏置MZI干涉仪共同集成的方法,该方法以低制造成本空前提高传感器灵敏度。
技术介绍
已经提出了几种解决方案来解决高灵敏度生物传感的技术问题。然而,所需制造方法复杂、成本高昂,系统体积大或灵敏度适中仍妨碍广泛的商业开发。在进入市场之前,应该同时解决在传感装置中的所有这些特性。JiriHomola、SinclairS.Yeea和GünterGauglitzb在《表面等离子共振传感器:评论》,传感器和执行器B:化学杂志,第54卷,1999年1月1—2期,第3-15页,中提出,由于金属表面上的强光场,表面等离子体共振(SPR)对折射率变化的灵敏度导致了开发用于检测生物制剂的SPR传感系统。那些传感器通常使用光学棱镜将光耦合到平坦金膜上的表面等离子体模式。然而,这些系统的尺寸大,严重妨碍了用平面单片芯片对其进行小型化,低成本制造,以及它们在床旁检测和其他便携式应用中的使用。近来,纳米制造技术的探索发展,使得载有传播表面等离子体激元的等离子体波导管装置被集成为生物传感器,但在灵敏度方面,感测性能低。为了提高等离子体传感器的性能,将等离子体波导管集成在称为“MZI”的马赫曾德尔干涉仪以及其他干涉结构中,以利用等离子体波导管光场的相位依赖性来改变受试测试分析物的折射率。美国光学学会-光学快报第23卷第20期第25688-25699页(2015),doi.org/10.1364/OE.23.025688[Wosi ...
【技术保护点】
1.一种装置,包括至少一个光学干涉测量传感器,特别是具有大自由光谱范围的第一马赫曾德尔(211)干涉测量传感器(MZI1),特别是数十纳米到数百纳米自由光谱范围,其中等离子体波导管(107),特别是薄膜或混合槽波导管,用作平面集成在Si3N4光子波导管上的换能器元件‑一组具有高折射率氮化硅条(303,603)的光子波导管(103),其设置在低折射率氧化物衬底(诸如SiO2)和低折射率氧化物覆板之间,诸如LTO,‑光学耦合结构(102,109),其设置在所述传感器两端,用于光输入/输出;‑分光器(102)和光组合器(109),用于在所述MZI传感器(MZI1)第一联接点(102)进行光分离,以及在所述MZI传感器(MZI1)第二联接点(109)进行光组合,特别是星形联接/定向耦合器或多模式干涉耦合器(MMI);和‑等离子体波导管(107),其设置在所述MZI传感器(MZI1)的上支路(103),用于通过在金属分析物界面与表面等离子体激元(SPP)耦合限制光传播,其特征在于,所述装置包括附加光学干涉测量元件,特别是第二马赫曾德尔型干涉仪(MZI2),其布置在所述第一MZI干涉测量传感器(M ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.02.17 GR 2017/01000881.一种装置,包括至少一个光学干涉测量传感器,特别是具有大自由光谱范围的第一马赫曾德尔(211)干涉测量传感器(MZI1),特别是数十纳米到数百纳米自由光谱范围,其中等离子体波导管(107),特别是薄膜或混合槽波导管,用作平面集成在Si3N4光子波导管上的换能器元件-一组具有高折射率氮化硅条(303,603)的光子波导管(103),其设置在低折射率氧化物衬底(诸如SiO2)和低折射率氧化物覆板之间,诸如LTO,-光学耦合结构(102,109),其设置在所述传感器两端,用于光输入/输出;-分光器(102)和光组合器(109),用于在所述MZI传感器(MZI1)第一联接点(102)进行光分离,以及在所述MZI传感器(MZI1)第二联接点(109)进行光组合,特别是星形联接/定向耦合器或多模式干涉耦合器(MMI);和-等离子体波导管(107),其设置在所述MZI传感器(MZI1)的上支路(103),用于通过在金属分析物界面与表面等离子体激元(SPP)耦合限制光传播,其特征在于,所述装置包括附加光学干涉测量元件,特别是第二马赫曾德尔型干涉仪(MZI2),其布置在所述第一MZI干涉测量传感器(MZI1)的参考臂中,两台所述(MZI2)马赫曾德尔干涉仪(MZI1)和(MZI2)均包括热光加热器(104,106),其作为可变光衰减器用于最佳地偏置所述干涉仪(MZI1)和(MZI2);进一步包括整个芯片(112),-具有所述附加马赫曾德尔干涉仪(MZI2)的可变光学衰减器(VOA),其用于设置分别用于在所述附加MZI马赫曾德尔干涉仪(MZI2)第一联接点进行光分离以及在所述附加MZI马赫曾德尔干涉仪(MZI2)第二联接点进行光组合的分光器和光组合器,-一组热光移相器(104,106),用于调谐每个所述MZI马赫曾德尔干涉仪(MZI1,MZI2-VOA)的参考臂(104,106)中的光信号相位;其中通过在一段光子波导管顶部上并沿着光的传播方向沉积彼此平行的两条金属条形成所述热光移相器。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述一个光学干涉测量传感器包括第一马赫曾德尔(211)干涉测量传感器(MZI1),具有从几十纳米到几百纳米的大自由光谱范围,并且所述附加光学干涉测量元件包括第二马赫曾德尔型(MZI2)干涉仪,其布置在所述第一干涉仪传感器(MZI1)的所述参考臂中。3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述等离子体波导管由贵金属制成,特别是金(Au)或银(Ag)。4.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述等离子体波导管由低成本金属制成,例如特别是铜(Cu)、铝(Al),或诸如氮化钛(TiN)或其他CMOS兼容金属化合物。5.根据前述权利要求之一所述的装置,其特征在于,所述等离子体波导管(107)包括薄膜或混合槽。6.根据前述权利要求5所述的装置,其特征在于,所述等离子体波导管由以下波导管制成:所谓的包括薄金属条的薄膜波导管(TFW),所述薄金属条借助通过蚀刻顶部氧化物包层和仅一段光子波导管氮化硅芯而形成的空腔直接沉积在氧化物覆板上。7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述等离子体波导管由所谓的混合等离子体光子槽式波导管(HPPSW)制成,其包括两条平行金属线(202,305),所述金属线直接沉积在波导管预定段顶部(405)上,无需空腔或额外处理步骤,其中,在光刻期间,金属条(303,403)下面的光子波导管是中断的,无需额外掩模或处理步骤,其中在单步骤中使用单一金属层沉积步骤将等离子体槽(202,107)和移相器(104)直接沉积在光子波导管顶部(103,303,403),无需蚀刻等离子体波导管,更具体地,其中,为了在单个掩模中分别设计HPPSW和热光学移相器、加热器(104),在传感器掩模设计期间,确定金属条(305)间隔数值,距离WSlot,以及金属条长度和宽度,更具体地,其中包括定向耦合器,用于将来自光子波导管(101,303,403)的光耦合到等离子体槽(202,305,405)并返回光子波导管(101,303,403),其中等离子体槽(202,305,405)前后端的光子波导管等离子体圆锥还用于提高耦合效率。8.根据前述权利要求之一所述的装置,其特征在于,所述等离子体波导管的所述高折射率氮化硅条带(303,603)设置在作为低折射率氧化物基质的SiO2基质和作为低折射率氧化物覆盖层的LTO基质之间。9.如权利要求1,特别是权利要求8所述的装置,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:尼古拉斯·普莱罗斯,迪米特洛斯·蒂奥克斯,乔治奥斯·纳普斯,迪米他·科扎基,安娜·莱娜·吉塞科,
申请(专利权)人:亚利桑那大学塞萨洛尼基研究委员会,阿默应用微电子和光电子技术协会有限公司,
类型:发明
国别省市:希腊,GR
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