一种存储器集成测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种存储器集成测试装置，装置包括：验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、程式控制器、计算机设备、存储器；所述的验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、复杂程式控制器依次接入所述计算机设备；所述程式控制器控制所述电路控制器，通过所述可程式电源适配器，对所述存储器进行测试。本发明专利技术将传统验证方式整合，实现了老化验证，断电验证，性能验证，电性测试，可编辑性资料录入等多种复杂验证，将电性、可靠度、功能等验证整合一体化，对于存储器进行全方位立体化的验证测试。

A Memory Integrated Testing Device

【技术实现步骤摘要】
一种存储器集成测试装置
本专利技术涉及半导体存储类产品性能测试系统，具体涉及一种存储器集成测试装置。
技术介绍
近年来，在半导体存储器
中，存储器的发展尤为迅速。由于存储器是一种非易失性存储器，对于所有的半导体存储类产品，需要对存储类产品进行性能的可靠性测试，例如高低温环境下的老化测试模拟在高温或低温的环境下，通过辅助控制软件发指令，向存储类产品做读写和比对测试，确认存储产品在严苛的外部环境是否可以正常运作。另外通断电会对影响存储器的性能，存储器的稳定性决定了读取和写入数据资料的安全性，在存储器出厂前，需要对存储器的可靠性进行测试，存储器的可靠性测试包括读取、写入、擦除、老化等测试项目。也就是说还需要通断电装置通过计算机对存储器进行循环通断路验证。另外需要电源适配器，通过计算机对存储器进行电源稳定性验证，通过万用表对存储器进行点功能验证，对于这些测试过程分别需要配置程式反馈系统。综上所述，传统的存储器验证方式，通常分别对产品性能，可靠度分别进行测试验证，验证周期长，人工消耗大，验证设备投入大，验证方式单一。
技术实现思路
存储器设备厂商对于存储器的研发生产，有一系列复杂严谨科学的验证方式，由此方可验证产品性能，随着科技越发进步，产品复杂化、多元化，验证的方式也开始向着集成化，步骤简单化转变。为了解决上述的以及其他潜在的技术问题，本专利技术提供的技术方案如下：一种存储器集成测试装置，装置包括：验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、程式控制器、计算机设备、存储器；所述的验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、复杂程式控制器依次接入所述计算机设备；所述程式控制器控制所述电路控制器，通过所述可程式电源适配器，对所述存储器进行测试。于本专利技术的一实施例中，还包括数据交互端口，所述数据交互端口与外部设备相连接，且外部设备是可控的。于本专利技术的一实施例中，所述外部设备选择为高低温环境设备。于本专利技术的一实施例中，所述高温的温度范围是35~45℃，低温环境的温度是-15~0℃，所述恒温的温度是10~20℃。通过数据交互端口，可与高低温环境设备相连接，可控制外部设备，也通过外部对计算机发送执行命令。于本专利技术的一实施例中，通过所述电路控制器控制所述存储器的上电与断电时间。于本专利技术的一实施例中，在上电时对所述存储器进行读取和写入的测试，完成测试后断电，再次上电并进行所述存储器的读取和写入的测试，并与上次测试进行比对。由计算机中的程式控制装置发出命令，控制不同端口的电路控制装置，可以控制上电与断电的时间，对后段设备进行正常断电验证，上电后可侦测到存储器进行读取和写入，完成后断电，再次上电做资料比对。于本专利技术的一实施例中，所述上电和断电的时间是随机的。可对后段设备进行不正常断电验证，上电后可侦测到存储器进行读取和写入，随机断电与上电，确认存储器是否正常。于本专利技术的一实施例中，对所述存储器的测试包括功耗测试，并将测试结果记录回传所述计算机设备。于本专利技术的一实施例中，还包括测试工具，所述测试工具可测量电流电压功耗。电路控制器后端加入可程式电源适配器，对后端存储器设备进行功耗测量，并记录回传计算机，得出存储设备的电性值。于本专利技术的一实施例中，所述存储器进行的测试还包括老化测试、速度性能测试、不同大小和不同形式数据的写入性能测试、电压电流测试。连接验证工具，将存储器设备接入测试工具中，测试工具可测量电流电压功耗。于本专利技术的一实施例中，所述计算机设备中包括对比数据库数据，通过所述程式控制器记录测试结果，并与对比数据库数据自动比对验证，自动判断合格或不合格，并自动产出报告并记录测试项目和测试数据。由复杂程式控制，对存储设备进行老化功能验证、速度性能验证、自定义写入不同大小、不同形式的数据，测量电压电流及功耗值，并由复杂程式控制可编辑测试流程的先后顺序。通过程式记录验证参数，可对比数据库数据，自动判断验证结果，合格或不合格，自动产出报告记录测试项目、过程的数据结果，使验证过程一站式完成，可以节省人力资源。于本专利技术的一实施例中，所述性能验证包括存储器的擦除验证。如上所述，本专利技术的存储器可程式计算机循环通断电自动测试系统具有以下有益效果：1.本专利技术将传统验证方式整合，实现了老化验证，断电验证，性能验证，电性测试，可编辑性资料录入等多种复杂验证，将电性、可靠度、功能等验证整合一体化，对于存储器进行全方位立体化的验证测试。2.多功能存储器测试系统将设备验证工具、可程式电源适配器、电路控制装置、复杂程式控制接入计算机中，计算机中的复杂程式控制电路控制装置，搭配可程式电源适配器，连接验证工具与存储器设备完成全方位立体化的验证测试。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1显示为传统循环通断路验证方式。图2显示为传统电源稳定性验证方式。图3显示为传统电功能验证方式。图4显示为传统老化验证/功能验证方式。图5显示为传统程式反馈系统。图6显示为本专利技术验证方式。具体实施方式以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。请参阅图6。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本专利技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本专利技术可实施的范畴。本实施例的目的在于提供一种存储器集成测试装置，装置包括：验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、程式控制器、计算机设备、存储器；所述的验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、复杂程式控制器依次接入所述计算机设备；所述程式控制器控制所述电路控制器，通过所述可程式电源适配器，对所述存储器进行测试。装置还包括数据交互端口，所述数据交互端口与外部设备相连接，且外部设备是可控的。外部设备选择为高低温环境设备。通过数据交互端口，可与高低温环境设备相连接，可控制外部设备，也通过外部对计算机发送执行命令。由计算机中的程式控制装置发出命令，控制不同端口的电路控制装置，可以控制上电与断电的时间，对后段设备进行正常断电验证，上电后可侦测到存储器进行读取和写入，完成后断电，再次上电做资料比对，且上电和断电的时间是随机的，可对后段设备进行不正常断电验证，上电后可侦测到存储器进行读取和写入，随机断电与上电，确认存储器是否正常。电路控制器后端加入可程式电源适配本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器集成测试装置，其特征在于，装置包括：验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、程式控制器、计算机设备、存储器；所述的验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、复杂程式控制器依次接入所述计算机设备；所述程式控制器控制所述电路控制器，通过所述可程式电源适配器，对所述存储器进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种存储器集成测试装置，其特征在于，装置包括：验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、程式控制器、计算机设备、存储器；所述的验证工具、可程式电源适配器、电路控制器、复杂程式控制器依次接入所述计算机设备；所述程式控制器控制所述电路控制器，通过所述可程式电源适配器，对所述存储器进行测试。2.根据权利要求1所述的存储器集成测试装置，其特征在于：还包括数据交互端口，所述数据交互端口与外部设备相连接，且外部设备是可控的。3.根据权利要求2所述的存储器集成测试装置，其特征在于：所述外部设备选择为高低温环境设备。4.根据权利要求1所述的存储器集成测试装置，其特征在于：通过所述电路控制器控制所述存储器的上电与断电时间。5.根据权利要求4所述的存储器集成测试装置，其特征在于：在上电时对所述存储器进行读取和写入的测试，完成测试后断电，再次上电并进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾戌，李庭育，庄健民，孟涛成，
申请(专利权)人：江苏华存电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32