一种被测器件软错误甄别方法、装置及计算机设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种被测器件软错误甄别方法、装置和计算机设备，在出现软错误的情况下，所述方法对被测器件进行器件异常恢复操作，并再次进行软错误检测，根据检测结果确定软错误是否来自于被测器件，从而区分被测器件与其他设备中发生的辐射效应，获得被测器件软错误率，方法简便易行。

A Soft Error Screening Method, Device and Computer Equipment for Measured Devices

【技术实现步骤摘要】
一种被测器件软错误甄别方法、装置及计算机设备
本专利技术涉及电子器件可靠性领域，具体而言，涉及一种被测器件软错误甄别方法、装置及计算机设备。
技术介绍
软错误是指辐射粒子与器件材料之间的相互作用而在电子器件中造成的随机、临时的状态改变或瞬变。工作在地面和大气层中的电子器件的软错误主要有两个来源：1)封装材料中的放射性杂质衰变；2)大气中子。电子器件的软错误率决定了相应电子系统的故障率，对于航空、通信、金融、医疗等具有高可靠需求的应用至关重要。随着半导体工艺节点的不断缩小，软错误的影响将变得越来越恶劣。鉴于此，对电子器件的软错误率进行评估具有重要意义。目前，由于我国尚无完备的高能中子实验条件(包括散裂中子源、准单能中子源或高能质子源)，因此需通过非加速实时测量来开展大气中子单粒子效应研究，且实时测量实验结果最为真实，可直接用于电子器件大气中子单粒子效应的敏感性评价以及其它实验方法准确性的验证。然而，在开展大气中子单粒子效应非加速实时测量试验时，整个测试系统全部暴露在天然辐射环境中，大气中子可能在被测器件中，也可能在测试板上其它敏感器件(如FPGA、存储器等)、测试设备等中引起单粒子效应，导致测试结果的混淆，影响测试结果的准确性。因此，需要建立一种被测器件软错误甄别技术，用于区分是在被测器件中，还是在测试板上其它敏感器件、测试设备等中发生的辐射效应，从而获得被测器件软错误率。
技术实现思路
为了实现上述区分可能在被测器件中，也可能在测试板上其他敏感器件、测试设备等中发生的软错误，本专利技术提供一种被测器件软错误甄别方法。为了实现上述目的，本专利技术实施例所提供的技术方案如下所示：第一方面，本专利技术实施例提供一种被测器件软错误甄别方法，包括：控制被测器件进行器件异常恢复操作；对所述被测器件进行读取和比较操作，以判断所述软错误是否还存在；在为否时，判定所述被测器件出现软错误。结合第一方面，在一些可能的实现方式中，控制被测器件进行器件异常恢复操作，包括：对所述被测器件进行数据修正操作。结合第一方面，在一些可能的实现方式中，在对所述被测器件进行数据修正操作后，判断所述软错误是否还存在，在为否时，判定被测器件的存储区出现软错误。结合第一方面，在一些可能的实现方式中，控制被测器件进行器件异常恢复操作，包括：对被测器件依次执行重置和写操作。结合第一方面，在一些可能的实现方式中，在对所述被测器件依次执行重置和写操作后，判断所述软错误是否还存在，在为否时，判定被测器件的外围电路出现软错误。结合第一方面，在一些可能的实现方式中，控制被测器件进行器件异常恢复操作，包括：对被测器件依次执行重启和写操作。结合第一方面，在一些可能的实现方式中，在对所述被测器件依次执行重启和写操作后，判断所述软错误是否还存在，在为否时，判定被测器件的外围电路出现软错误。结合第一方面，在一些可能的实现方式中，方法还包括：统计多个软错误发生位置，并判断多个软错误发生位置是否于被测器件内均匀分布；在为是时，判定所述软错误是由于所述被测器件内产生辐射效应。第二方面，本专利技术实施例还提供一种被测器件软错误甄别装置，包括：控制模块、处理模块和分析模块，控制模块用于控制被测器件进行器件异常恢复操作，处理模块对所述被测器件进行读取和比较操作，以判断所述软错误是否还存在，分析模块用于在所述处理模块判断所述软错误不再存在时，判定所述被测器件出现软错误。第三方面，本专利技术实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，处理器执行程序时执行上述第一方面中任一种可能的被测器件软错误甄别方法的步骤。本专利技术的有益效果包括：本专利技术通过对被测器件进行器件异常恢复操作，再对被测器件进行读取和比较操作，并分析软错误是否还存在，以判断被测器件内是否出现了软错误，本专利技术能够简便地实现对被测器件中发生的辐射效应的有效甄别，实用性高。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文举出本专利技术实施例，并配合所附附图，作详细说明。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术一个实施例提供的被测器件软错误甄别方法的流程示意图；图2为本专利技术另一实施例提供的被测器件软错误甄别方法的流程示意图；图3为本专利技术一个实施例提供的被测器件软错误甄别装置的功能框图。图标：10-被测器件软错误甄别装置；11-控制模块；12-处理模块；13-分析模块。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。本专利技术实施例提供一种软错误甄别方法，用以区分是被测器件，还是测试板上其他敏感器件(如FPGA、存储器等)、测试设备等中发生的软错误。图1为本专利技术一个实施例提供的被测器件软错误甄别方法的流程示意图。具体的，如图1所示，软错误甄别方法包括：S101：控制被测器件进行器件异常恢复操作；S102：对所述被测器件进行读取、比较操作，以判断软错误是否还存在；S103：在为否时，判定被测器件出现软错误。器件异常恢复操作主要包括：被测器件数据修正操作、重启或重置及之后的写入操作等，对软错误出现的电路逻辑错误进行修正，本专利技术对此不作限制。对于步骤S102，本领域技术人员清楚，在进行器件异常恢复后，需要对被测器件进行读取操作，在获得数据后，比较获得的数据与正常数据或者之前的错误数据，可以确定软错误是否被消除。具体的，通过重置、重启或数据修正等器件异常恢复操作，可以修复被测器件的软错误，并使得被测器件恢复到正常状态；因而在对被测器件进行器件异常恢复操作后，利用读取和比较操作，读取器件异常恢复操作后的数据信息，并进行数据比较，以判断软错误是否仍然存在，进而根据判断结果，可以判定软错误是否来自被测器件中发生了单粒子效应，进而区分是在被测器件中，还是在测试板上其他敏感器件(如FPGA、存储器等)和测试设备等出现的软错误。方法简便易行，十分适合工业应用。可选的，步骤S101的第一种可选的方式为：对被测器件进行数据修正操作。具体的，数据修正操作可以为：对被测器件的存储区数据进行数据改写，进而判断软错误是否还存在，在为否时，可以判定软错误发生于被测器件的存储区。本领域技术人员知晓，当测试板上其他敏感器件和测试设备判本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种被测器件软错误甄别方法，其特征在于，所述方法包括：控制被测器件进行器件异常恢复操作；对所述被测器件进行读取和比较操作，以判断所述软错误是否还存在；在为否时，判定所述被测器件出现软错误。

【技术特征摘要】
1.一种被测器件软错误甄别方法，其特征在于，所述方法包括：控制被测器件进行器件异常恢复操作；对所述被测器件进行读取和比较操作，以判断所述软错误是否还存在；在为否时，判定所述被测器件出现软错误。2.如权利要求1所述的被测器件软错误甄别方法，其特征在于，所述控制被测器件进行器件异常恢复操作，包括：对所述被测器件进行数据修正操作。3.如权利要求2所述的被测器件软错误甄别方法，其特征在于，在为否时，判定所述被测器件的存储区出现软错误。4.如权利要求1-3任一项所述的被测器件软错误甄别方法，其特征在于，所述控制被测器件进行器件异常恢复操作，包括：对所述被测器件依次执行重置和写操作。5.如权利要求4所述的被测器件软错误甄别方法，其特征在于，在为否时，判定所述被测器件的外围电路出现软错误。6.如权利要求1-5任一项所述的被测器件软错误甄别方法，其特征在于，所述控制被测器件进行器件异常恢复操作，包括：对所述被...

【专利技术属性】
技术研发人员：张战刚，雷志锋，彭超，何玉娟，肖庆中，黄云，恩云飞，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东,44