一种液晶显示屏合格性的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种液晶显示屏合格性的检测方法。该检测方法包括：对待测液晶显示屏进行初次缺陷检测，获得多个缺陷，依次判断各缺陷是否位于待测液晶显示屏的骨架上，在确定位于骨架上的缺陷的数量大于或等于1后，依次判断各位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷，并在确定真实缺陷的数量大于或等于1后，判断多个缺陷中真实缺陷的数量和多个缺陷中位于骨架外的缺陷的数量之和是否小于第一阈值，若是则确定待测液晶显示屏为合格品，否则确定待测液晶显示屏为不合格品。本发明专利技术实施例提供的技术方案，降低了误判现象的发生几率，提高了缺陷检测的准确度。

A Method for Testing the Qualification of LCD Screen

【技术实现步骤摘要】
一种液晶显示屏合格性的检测方法
本专利技术实施例涉及液晶显示屏缺陷检测
，尤其涉及一种液晶显示屏合格性的检测方法。
技术介绍
初次生产成型的液晶显示屏需要进行缺陷检测，以判断液晶显示屏是否合格，保证仅合格的液晶显示屏能够进入市场。现有技术中采用周期检的检测方式确定液晶显示屏中的缺陷，再根据缺陷的数量与预设缺陷数量之间的关系确定液晶显示屏的合格性。上述检测方式在严谨度要求较高时，受光源以及面板制程的影响，液晶显示屏的骨架上易出现缺陷误判的现象，导致检测出的缺陷总数大于实际缺陷总数，降低了液晶显示屏合格性判断的准确性。
技术实现思路
本专利技术提供一种液晶显示屏合格性的检测方法,以降低出现误检现象的几率,提高缺陷检测的准确度。本专利技术实施例提供了一种液晶显示屏合格性的检测方法，该检测方法包括：步骤1、对待测液晶显示屏进行初次缺陷检测，获得多个缺陷；步骤2、依次判断各所述缺陷是否位于所述待测液晶显示屏的骨架上，并在确定位于所述骨架上的所述缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤3；步骤3、依次判断各位于所述骨架上的缺陷是否为真实缺陷，并在确定所述真实缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤4；步骤4、判断所述多个缺陷中所述真实缺陷的数量和所述多个缺陷中位于所述骨架外的所述缺陷的数量之和是否小于第一阈值，若是则确定所述待测液晶显示屏为合格品，否则确定所述待测液晶显示屏为不合格品。本专利技术实施例提供的技术方案，通过对待测液晶显示屏进行初次缺陷检测，获得多个缺陷，依次判断各缺陷是否位于待测液晶显示屏的骨架上，在确定位于骨架上的缺陷的数量大于或等于1后，依次判断各位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷，并在确定真实缺陷的数量大于或等于1后，判断多个缺陷中真实缺陷的数量和多个缺陷中位于骨架外的缺陷的数量之和是否小于第一阈值，若是则确定待测液晶显示屏为合格品，否则确定待测液晶显示屏为不合格品，使得在传统液晶显示屏的初次缺陷检测完成后，还能够进行二次检测，进一步判断初次检测获得的缺陷中位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷，进而降低了误判现象的发生几率，提高了缺陷检测的准确度。附图说明通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：图1是本专利技术实施例提供的一种液晶显示屏合格性的检测方法的流程示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种判断各缺陷是否位于待测液晶显示屏的骨架上的方法的流程示意图；图3是本专利技术实施例提供的一种判断当前缺陷是否位于骨架上的方法的流程示意图；图4是本专利技术实施例提供的一种待检测区域的结构示意图；图5是本专利技术实施例提供的一种抓取待检测区域内的骨架的方法流程示意图；图6是本专利技术实施例提供的一种依次判断各位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷的方法的流程示意图；图7是本专利技术实施例提供的一种目标区域的结构示意图。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术为达成预定专利技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本专利技术提出的一种液晶显示屏合格性的检测方法的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。本专利技术实施例提供了一种液晶显示屏合格性的检测方法，该检测方法包括：步骤1、对待测液晶显示屏进行初次缺陷检测，获得多个缺陷；步骤2、依次判断各所述缺陷是否位于所述待测液晶显示屏的骨架上，并在确定位于所述骨架上的所述缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤3；步骤3、依次判断各位于所述骨架上的缺陷是否为真实缺陷，并在确定所述真实缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤4；步骤4、判断所述多个缺陷中所述真实缺陷的数量和所述多个缺陷中位于所述骨架外的所述缺陷的数量之和是否小于第一阈值，若是则确定所述待测液晶显示屏为合格品，否则确定所述待测液晶显示屏为不合格品。本专利技术实施例提供的技术方案，通过对待测液晶显示屏进行初次缺陷检测，获得多个缺陷，依次判断各缺陷是否位于待测液晶显示屏的骨架上，在确定位于骨架上的缺陷的数量大于或等于1后，依次判断各位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷，并在确定真实缺陷的数量大于或等于1后，判断多个缺陷中真实缺陷的数量和多个缺陷中位于骨架外的缺陷的数量之和是否小于第一阈值，若是则确定待测液晶显示屏为合格品，否则确定待测液晶显示屏为不合格品，使得在传统液晶显示屏的初次缺陷检测完成后，还能够进行二次检测，进一步判断初次检测获得的缺陷中位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷，进而降低了误判现象的发生几率，提高了缺陷检测的准确度。以上是本申请的核心思想，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的其他实施方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似推广，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。其次，本专利技术结合示意图进行详细描述，在详述本专利技术实施例时，为便于说明，表示装置器件结构的示意图并非按照一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本专利技术保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度以及高度的三维空间尺寸。图1是本专利技术实施例提供的一种液晶显示屏合格性的检测方法的流程示意图。本实施例提供的该液晶显示屏合格性的检测方法适用于任意液晶显示屏的合格性检测。具体的，液晶显示屏合格性的检测方法可以包括如下：步骤1、对待测液晶显示屏进行初次缺陷检测，获得多个缺陷。需要说明的是，“初次检测”可采用现有技术中的周期检方式进行。还需要说明的是，获得的多个缺陷以其位置的方式进行记录和存储，示例性的，缺陷的位置可以为该缺陷几何中心在预设二维坐标系中的坐标，具体的，预设二维坐标系可根据实际需要进行合理设置，本实施例对此不做具体限定。步骤2、依次判断各缺陷是否位于待测液晶显示屏的骨架上，并在确定位于骨架上的缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤3。需要说明的是，初次缺陷检测获得的多个缺陷中位于液晶显示屏骨架上的缺陷易被误判，因此，为避免上述情况的发生，先找出位于骨架上的缺陷，便于后续进一步判断这些缺陷是否为真实的缺陷。还需要说明的是，本实施例对判断缺陷是否位于液晶显示屏的骨架上的方法不作具体限定，凡是能够准确判断缺陷是否位于液晶显示屏的骨架上的方法均在本实施例的保护范围内。值得注意的是，对于所有缺陷均位于液晶显示屏的骨架之外区域内的情况，无需再对缺陷做进一步的判断，因此，在确定至少存在一个位于骨架上的缺陷后，再继续执行后续步骤3。步骤3、依次判断各位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷，并在确定真实缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤4。需要说明的是，本实施例对判断位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷的方法不作具体限定，凡是能够准确判断出位于骨架上的缺陷是否为真实缺陷的方法均在本实施例的保护范围内。还需要说明的是，后续判断液晶显示屏的合格性时用到的是真实缺陷的数量，因此，在确定至少一个位于骨架上的缺陷为真实缺陷后，再继续执行后续步骤4。步骤4、判断多个缺陷中真实缺陷的数量和多个缺陷中位于骨架外的缺陷的数量之和是否小于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶显示屏合格性的检测方法，其特征在于，包括：步骤1、对待测液晶显示屏进行初次缺陷检测，获得多个缺陷；步骤2、依次判断各所述缺陷是否位于所述待测液晶显示屏的骨架上，并在确定位于所述骨架上的所述缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤3；步骤3、依次判断各位于所述骨架上的缺陷是否为真实缺陷，并在确定所述真实缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤4；步骤4、判断所述多个缺陷中所述真实缺陷的数量和所述多个缺陷中位于所述骨架外的所述缺陷的数量之和是否小于第一阈值，若是则确定所述待测液晶显示屏为合格品，否则确定所述待测液晶显示屏为不合格品。

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示屏合格性的检测方法，其特征在于，包括：步骤1、对待测液晶显示屏进行初次缺陷检测，获得多个缺陷；步骤2、依次判断各所述缺陷是否位于所述待测液晶显示屏的骨架上，并在确定位于所述骨架上的所述缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤3；步骤3、依次判断各位于所述骨架上的缺陷是否为真实缺陷，并在确定所述真实缺陷的数量大于或等于1后，执行步骤4；步骤4、判断所述多个缺陷中所述真实缺陷的数量和所述多个缺陷中位于所述骨架外的所述缺陷的数量之和是否小于第一阈值，若是则确定所述待测液晶显示屏为合格品，否则确定所述待测液晶显示屏为不合格品。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述依次判断各所述缺陷是否位于所述待测液晶显示屏的骨架上包括：步骤11、获取所述多个缺陷中的任一所述缺陷作为当前缺陷，按照如下方式判断所述当前缺陷是否位于所述骨架上：获取所述当前缺陷的位置，以所述当前缺陷的位置为几何中心获得待检测区域；抓取所述待检测区域内的所述骨架，所述骨架包括至少一个预设方向上的骨架分支；分别对每个所述预设方向上穿过所述当前缺陷的位置的直线上的所有点的灰阶值进行求和计算；分别判断所述求和计算获得的各和值是否小于对应的预设灰阶值最大和值，若是，则确定所述当前缺陷位于所述骨架以外，否则，确定所述当前缺陷位于所述骨架上；步骤12、按照步骤11中判断所述当前缺陷是否位于所述骨架上的方式，依次判断剩余各所述缺陷是否位于所述骨架上。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述抓取所述待检测区域内的所述骨架包括：依次判断所述待检测区域内各点的灰阶值是否大于预设门阀值，并将灰阶值大于所述预设阀值的点作为骨架点；将获得的所有所述骨架点的集合作为所述骨架。4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述待检测区域包括N行N列...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢彦佑，
申请(专利权)人：苏州精濑光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32