高精度时钟设备检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于时钟检测技术领域，具体涉及一种高精度时钟设备检测装置，一种高精度时钟设备检测装置，包括机箱和面板，所述面板包括第一面板和第二面板，所述第一面板和所述第二面板设置在所述机箱的前后两端，其特征在于，所述第一面板上设置测量接口、网口测试接口及USB接口，所述第二面板上设置有输出接口及基准输入接口；其中，所述测量接口测试多种时间信号和频率信号，所述输出接口输出多种同步时钟信号，所述基准输入接口输入信号源的时频基准所需要的时频信息，所述网口测试接口用于连接终端使得设备升级以及调试信息，所述USB接口用于存储数据导入导出，连接键盘和优盘等使用。本实用新型专利技术解决了时频测量设备功能单一，价格昂贵的问题，实现了一台设备测试多种时间信号的时间准确度。

High Precision Clock Device Detection Device

【技术实现步骤摘要】
高精度时钟设备检测装置
本技术属于时钟检测
，具体的涉及一种高精度时钟设备检测装置。
技术介绍
铁路高精度时钟设备检测系统，是一种便携式高精度时间频率信号综合测试设备。目前市场上各种时频测量设备功能比较单一，而且价格昂贵。像测E1信号的是专用的E1信号测试设备；测B码信号的是专用的B码测试设备；测NTP和PTP信号的也是专用的测试设备；即使有集成的设备，也只能兼顾两到三种功能，价格较高，而且，能测试的信号种类有限，集成度不高，其他的时频类集成设备多用来授时，测量类的大都是功能单一的设备或者板卡。所以当遇到测试多种信号的场合时，就需要使用多个设备，尤其是在户外，携带多个测试设备，给使用者带来极大的不便。为了解决上述问题，本技术提供了一种高精度时钟设备检测装置，其为智能变电站、高速铁路、轨道交通、电信运营商传输网等现场的检测、校验、验收提供了有效而便捷的操作。
技术实现思路
本技术提供一种高精度时钟设备检测装置，其解决了时频测量设备功能单一，价格昂贵的问题。本技术提供一种高精度时钟设备检测装置，其能够测试多种时间信号的时间准确度。本技术提供的一种高精度时钟设备检测装置，包括机箱和面板，所述面板包括第一面板和第二面板，所述第一面板和所述第二面板设置在所述机箱的前后两端，其特征在于，所述第一面板上设置测量接口、网口测试接口及USB接口，所述第二面板上设置有输出接口及基准输入接口；其中，所述测量接口测试多种时间信号和频率信号，所述输出接口输出多种同步时钟信号，所述基准输入接口输入信号源的时频基准所需要的时频信息，所述网口测试接口用于连接电脑使得设备升级和调试信息，所述USB接口用于存储数据导入导出，连接键盘和优盘等使用。优选的是，还包括主控板，其设置在所述机箱的内部；转接板，其与所述主控板电连接；频率综合板，其与所述主控板电连接；时频测量板，其与所述主控板、转接板及频率综合板电连接；电源板，其为所述主控板、转接板、所述频率综合板及所述时频测量板供电；液晶显示屏及电源开关，所述液晶显示屏与所述电源开关设置在所述第一面板上；其中，所述测量接口与所述时频测量板及所述转接板电连接，所述网口测试接口和所述USB接口与所述转接板电连接，所述液晶显示屏与所述主控板电连接，所述电源开关与所述电源板电连接；所述输出接口和所述基准输入接口均与所述频率综合板电连接。优选的是，所述测量接口包括DCLS测量接口、交流B码测量接口、频率测量接口、E1信号测量接口、1PPS+TOD测量接口及NTP/PTP测量接口；其中，所述DCLS测量接口、所述交流B码测量接口、所述频率测量接口、所述E1信号测量接口均为BNC接口，所述1PPS+TOD测量接口为DB9接口，所述NTP/PTP测量接口为RJ45接口；其中，所述DCLS测量接口、所述交流B码测量接口、所述频率测量接口及所述1PPS+TOD测量接口、E1信号测量接口均与所述时频测量板电连接，，所述NTP/PTP测量接口与所述转接板电连接。优选的是，所述输出接口包括同步时钟输出接口、内部时钟输出接口、正弦信号输出接口、E1信号产生接口；所述基准输入接口包括DCLS输入接口、GNSS输入接口、1PPS+TOD输入接口及参考时钟输入接口；其中，所述同步时钟输出接口和所述内部时钟输出接口均为BNC接口，所述正弦信号输出接口为2.048MHz的BNC接口，所述E1信号产生接口为2.048Mbps的BNC接口；其中，所述DCLS输入接口为BNC接口，所述GNSS输入接口为TNC接口，所述1PPS+TOD输入接口为DB9接口，所述参考时钟输入接口为BNC接口。优选的是，所述同步时钟输出接口输出1KHz-50MHz的同步时钟信号，所述内部时钟输出接口输出10MHz的内部时钟信号，所述参考时钟输入接口输入10MHz的标准频率源。优选的是，所述主控板为ARM处理器，所述频率综合板集成了铷钟、GNSS接收机、DDS芯片、电平比较芯片、第一FPGA芯片、E1芯片、电平转换器、422电平转换芯片、STM32F103ZE芯片；所述时频测量板集成了第二FPGA芯片、ADC芯片、PTP芯片及STM32F107芯片。优选的是，还包括电源适配器和电池，所述电池设置在所述机箱的内部，所述电池与所述电源板及所述频率综合板连接，所述电源适配器其与所述电池连接，所述电源适配器输出的电压为21V，误差范围为±5％，所述电源适配器输出的电流为3A。优选的是，所述机箱由壳体围成，所述壳体的厚度为2mm。优选的是，还包括把手，其设置在机箱两侧，所述机箱两侧开设多个通孔。本技术有益效果1、本技术提供的高精度时钟设备检测装置，其实现了多种时频信号可以用一台设备测量，同时也可以产生多种频率信号。2、本技术提供的高精度时钟设备检测装置，其操作简单，节省了操作时间，降低了成本。3、本技术提供的高精度时钟设备检测装置，其既能用于实验室，也能用于外场。4、本技术提供的高精度时钟设备检测装置，其采用的电源适配器供电，内置大容量电池，断电情况下能够保持时间大于2小时。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的高精度时钟设备检测装置的结构示意图；图2为本技术提供的第一面板的结构示意图；图3为本技术提供的第二面板的结构示意图；图4为本技术提供的高精度时钟设备检测装置的内部结构示意图；图5为本技术提供的高精度时钟设备检测装置的结构原理图；图6为时间基准模块信号处理原理图；图7本技术提供的直流B码调理模块和交流B码调理模块的信号处理原理示意图；图8为直流B码调理模块的信号处理的电路原理图；图9为交流B码的信号处理的电路原理图；图10为所述1PPS+TOD调理模块的信号处理示意图；图11为B码帧头提取示意图；图12为B码数据解析示意图；图13为B码在FPGA上的设计流程图；图14为所述正弦信号配置的原理图；图15为所述2.048MHz方波信号及正弦信号配置的原理图；图16为1KHz-50MHz方波信号配置的原理图；图17为1KHz-50MHz方波信号配置的电路图；图18为E1信号产生和接收原理图；图19为E1信号产生和接收的软件设计流程图；图20为PTP/NTP信号处理原理图；图21为时频测量板测量各种波形信号的原理图；图22为时频测量板测量各种波形信号的电路原理图；图23为所述锁相环测量法的原理图；图24为时间准确度测量原理图；图25频率准确度的测量和对时间准确度测量的FPGA的流程；1-机箱，2-面板，3-把手，4-通孔，5-第一面板，6-第二面板，7-测量接口，8-网口测试接口，9-USB接口，10-液晶显示屏，11-电源开关，12-输出接口，13-基准输入接口，14-主控板，15-转接板，16-频率综合板，17-时频测量板，18-电源板，19-电源适配器插孔，20-DCLS测量接口，21-交流B码测量接口，22-频率测量接口，23-E1信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度时钟设备检测装置，包括机箱和面板，所述面板包括第一面板和第二面板，所述第一面板和所述第二面板设置在所述机箱的前后两端，其特征在于，所述第一面板上设置测量接口、网口测试接口及USB接口，所述第二面板上设置有输出接口及基准输入接口；其中，所述测量接口测试多种时间信号和频率信号，所述输出接口输出多种同步时钟信号，所述基准输入接口输入信号源的时频基准所需要的时频信息，所述网口测试接口连接终端，用于调试信息及使检测装置升级。

【技术特征摘要】
1.一种高精度时钟设备检测装置，包括机箱和面板，所述面板包括第一面板和第二面板，所述第一面板和所述第二面板设置在所述机箱的前后两端，其特征在于，所述第一面板上设置测量接口、网口测试接口及USB接口，所述第二面板上设置有输出接口及基准输入接口；其中，所述测量接口测试多种时间信号和频率信号，所述输出接口输出多种同步时钟信号，所述基准输入接口输入信号源的时频基准所需要的时频信息，所述网口测试接口连接终端，用于调试信息及使检测装置升级。2.如权利要求1所述的高精度时钟设备检测装置，其特征在于，还包括主控板，其设置在所述机箱的内部；转接板，其与所述主控板电连接；频率综合板，其与所述主控板电连接；时频测量板，其与所述主控板、转接板及频率综合板电连接；电源板，其为所述主控板、转接板、所述频率综合板及所述时频测量板供电；液晶显示屏及电源开关，所述液晶显示屏与所述电源开关设置在所述第一面板上；其中，所述测量接口与所述时频测量板及所述转接板电连接，所述网口测试接口和所述USB接口与所述转接板电连接，所述液晶显示屏与所述主控板电连接，所述电源开关与所述电源板电连接；所述输出接口和所述基准输入接口均与所述频率综合板电连接。3.如权利要求2所述的高精度时钟设备检测装置，其特征在于，所述测量接口包括DCLS测量接口、交流B码测量接口、频率测量接口、E1信号测量接口、1PPS+TOD测量接口及NTP/PTP测量接口；其中，所述DCLS测量接口、所述交流B码测量接口、所述频率测量接口、所述E1信号测量接口均为BNC接口，所述1PPS+TOD测量接口为DB9接口，所述NTP/PTP测量接口为RJ45接口；其中，所述DCLS测量接口、所述交流B码测量接口、所述频率测量接口及所述1PPS+TOD测量接口、E1信号测量接口均与所述时频测量板电连接，所述NTP/PTP测量接口与所述转接板电连接。4.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓晨，贺星，刘欢，张丽萍，李晨航，李尧，苏洋，文超，
申请(专利权)人：中电科西北集团有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西,61