一种耐高压热式质量流量计制造技术

本实用新型专利技术公开了一种耐高压热式质量流量计，包括流量计底座，其特征是：所述流量计底座下侧固定连接流量计管道，所述凹槽二内放置有密封圈一，所述凹槽一内放置有密封圈二，所述流量计底座的圆孔一内设置有下基座，所述下基座上侧固定连接上基座的下侧，所述上基座的上侧固定连接挡片的下侧，所述挡片的凸块设置在所述流量计底座的半槽内，所述挡片固定连接所述流量计底座，所述挡片的上侧接触碟形弹垫的下侧，所述碟形弹垫的上侧接触上盖。本实用新型专利技术涉及流量计测量技术领域，具体地讲，涉及一种耐高压热式质量流量计。本实用新型专利技术为耐高压热式质量流量计，有利于保证了测量精度，增强了在瞬间高压条件下对仪表的防护。

A High Pressure Resistant Heat Mass Flowmeter

【技术实现步骤摘要】
一种耐高压热式质量流量计
本技术涉及流量计测量
，具体地讲，涉及一种耐高压热式质量流量计。
技术介绍
热式流量计是利用探头温度变化产生差值的原理设计的。在探头内置发热传感器及感热传感器，并与介质接触。热式流量计工作时，发热传感器发出恒定的热量，当管道内没有介质流动时，感热传感器接收到的热量是一个恒定值，当有介质流动时，感热传感器所接收到的热量将随介质的流速变化而变化，感热传感器将这温差信号转化成电信号，实现流速的测量。在工业环境中，气体管道内的压力是不同的，无论管道内部的压力是大是小，都需要有监测设备对管道内的流量进行测量。现有市面产品，无法满足对小口径高压力管道内的流量测量，此为现有技术的不足之处。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种耐高压热式质量流量计，有利于保证了测量精度，增强了在瞬间高压条件下对仪表的防护。本技术采用如下技术方案实现专利技术目的：一种耐高压热式质量流量计，包括流量计底座，其特征是：所述流量计底座下侧固定连接流量计管道，所述流量计底座的上侧固定连接端盖的下侧，所述端盖的上侧固定连接下壳的下侧，所述下壳的一侧固定连接上壳，所述流量计底座内设置有凹槽一、凹槽二和半槽。作为本技术方案的进一步限定，所述凹槽二内放置有密封圈一，所述凹槽一内放置有密封圈二。作为本技术方案的进一步限定，所述流量计底座的圆孔一内设置有下基座，所述下基座上侧固定连接上基座的下侧，所述上基座设置在所述流量计底座的圆孔二内，所述上基座的下侧接触所述流量计底座的平面和所述密封圈一的上表面，所述密封圈二环套所述上基座。作为本技术方案的进一步限定，所述上基座的上侧固定连接挡片的下侧，所述挡片的凸块设置在所述流量计底座的半槽内，所述挡片固定连接所述流量计底座，所述挡片的上侧接触碟形弹垫的下侧，所述碟形弹垫的上侧接触上盖，所述上盖固定连接所述流量计底座。作为本技术方案的进一步限定，传感器一的一端固定穿过所述下基座和所述上基座固定连接一个探头导线的一端，传感器二的一端固定穿过所述下基座和所述上基座固定连接另一个所述探头导线的一端，所述传感器一和所述传感器二的另一端分别设置在所述流量计管道的空腔内。作为本技术方案的进一步限定，所述上基座的空腔内灌封耐高压绝缘密封胶。与现有技术相比，本技术的优点和积极效果是：工作人员将底板放置在地面上，拧松顶丝一，用手旋转把手一，把手一带动螺杆转动，螺杆带动支撑板沿圆杆向上移动，支撑板通过转盘及托盘带动流量计管道向上移动，流量计管道带动流量计底座上移动，流量计底座带动端盖、上壳、下壳、上盖及挡片向上移动，上盖及挡片共同带动碟形弹垫向上移动，挡片带动上基座向上移动，上基座带动下基座向上移动，上基座和下基座共同带动传感器一和传感器二向上移动，当流量计管道的轴线与管路轴线在同一平面时，停止旋转把手一，拧紧顶丝一。拧松顶丝二，转动把手二，把手二带动齿轮一转动，齿轮一带动齿轮二转动，齿轮二带动转盘转动，转盘通过托盘转动，托盘带动流量计管道转动，流量计管道带动流量计底座转动，流量计底座带动端盖、上壳、下壳、上盖及挡片转动，上盖及挡片共同带动碟形弹垫转动，挡片带动上基座转动，上基座带动下基座转动，上基座和下基座共同带动传感器一和传感器二转动，当流量计管道的轴线与管路轴线重合时，停止旋转把手二，拧紧顶丝二，工作人员将流量计管道与管路组装在一起。当流体流经传感器一和传感器二时，传感器一和传感器二将测得的流量信号转换为电信号，电信号经过探头导线传送到流量计，流量计计算出流量。当流体向上流动时，由于密封圈一和密封圈二的密封，流体被阻挡，保证流量计的气路部分完全密封。当管路瞬间高压时，下基座受到高压，压力经过下基座、上基座、挡片传送给碟形弹垫，碟形弹垫发生弹性形变将压力抵消，消除高压对下基座、上基座、挡片及传感器一和传感器二的影响。本技术为耐高压热式质量流量计，有利于保证了测量精度，增强了在瞬间高压条件下对仪表的防护。附图说明图1为本技术的立体结构示意图。图2为本技术的侧视图。图3为本技术的局部剖开立体结构示意图一。图4为本技术的局部剖开立体结构示意图二。图5为本技术的局部剖开立体结构示意图三。图6为本技术的局部剖开立体结构示意图四。图7为本技术的局部立体结构示意图一。图8为本技术的局部立体结构示意图二。图9为本技术的局部立体结构示意图三。图10为本技术的局部立体结构示意图四。图11为本技术的局部立体结构示意图五。图12为本技术的上盖的立体结构示意图。图13为本技术的碟形弹垫的立体结构示意图。图14为本技术的挡片的立体结构示意图。图中：1、流量计底座，2、流量计管道，3、托盘，4、转盘，5、支撑板，6、螺杆，7、底座，8、圆杆，9、顶丝一，10、把手一，11、顶丝二，12、齿轮一，13、把手二，14、齿轮二，15、上盖，16、碟形弹垫，17、挡片，18、上基座，19、下基座，191、圆孔一，192、平面，193、圆孔二，20、密封圈一，21、密封圈二，22、凹槽一，23、凹槽二，24、探头导线，25、空腔，26、传感器一，27、传感器二，28、半槽，29、上壳，30、下壳，31、端盖。具体实施方式下面结合附图，对本技术的一个具体实施方式进行详细描述，但应当理解本技术的保护范围并不受具体实施方式的限制。如图1-图14所示，本技术包括流量计底座1，所述流量计底座1下侧固定连接流量计管道2，所述流量计底座1的上侧固定连接端盖31的下侧，所述端盖31的上侧固定连接下壳30的下侧，所述下壳30的一侧固定连接上壳29，所述流量计底座1内设置有凹槽一22、凹槽二23和半槽28。所述凹槽二23内放置有密封圈一20，所述凹槽一22内放置有密封圈二21。所述流量计底座1的圆孔一191内设置有下基座19，所述下基座19的下侧接触所述密封圈一20的上表面，所述下基座19上侧固定连接上基座18的下侧，所述上基座18设置在所述流量计底座1的圆孔二193内，所述上基座18的下侧接触所述流量计底座1的平面192，所述密封圈二21环套所述上基座18。所述上基座18的上侧固定连接挡片17的下侧，所述挡片17的凸块设置在所述流量计底座1的半槽28内，所述挡片17固定连接所述流量计底座1，所述挡片17的上侧接触碟形弹垫16的下侧，所述碟形弹垫16的上侧接触上盖15，所述上盖15固定连接所述流量计底座1。传感器一26的一端固定穿过所述下基座19和所述上基座18固定连接一个探头导线24的一端，传感器二27的一端固定穿过所述下基座19和所述上基座18固定连接另一个所述探头导线24的一端，所述传感器一26和所述传感器二27的另一端分别设置在所述流量计管道2的空腔内。探头导线24有两根，分别与传感器一26和传感器二27连接。所述上基座18的空腔25内灌封耐高压绝缘密封胶。所述传感器二27长度比所述传感器一26长。所述探头导线24的另一端分别穿过所述挡片17的中心孔、所述碟形弹垫16的中心孔、所述上盖15的中心孔、所述端盖31中心孔、所述下壳30的中心孔及所述下壳30的侧面圆孔固定连接流量计(图上未画出)。底座7的上侧一端固定连接圆杆8的一端，所述底座7的上侧本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种耐高压热式质量流量计，包括流量计底座(1)，其特征是：所述流量计底座(1)下侧固定连接流量计管道(2)，所述流量计底座(1)的上侧固定连接端盖(31)的下侧，所述端盖(31)的上侧固定连接下壳(30)的下侧，所述下壳(30)的一侧固定连接上壳(29)，所述流量计底座(1)内设置有凹槽一(22)、凹槽二(23)和半槽(28)。

【技术特征摘要】
1.一种耐高压热式质量流量计，包括流量计底座(1)，其特征是：所述流量计底座(1)下侧固定连接流量计管道(2)，所述流量计底座(1)的上侧固定连接端盖(31)的下侧，所述端盖(31)的上侧固定连接下壳(30)的下侧，所述下壳(30)的一侧固定连接上壳(29)，所述流量计底座(1)内设置有凹槽一(22)、凹槽二(23)和半槽(28)。2.根据权利要求1所述的耐高压热式质量流量计，其特征是：所述凹槽二(23)内放置有密封圈一(20)，所述凹槽一(22)内放置有密封圈二(21)。3.根据权利要求2所述的耐高压热式质量流量计，其特征是：所述流量计底座(1)的圆孔一(191)内设置有下基座(19)，所述下基座(19)上侧固定连接上基座(18)的下侧，所述上基座(18)设置在所述流量计底座(1)的圆孔二(193)内，所述上基座(18)的下侧接触所述流量计底座(1)的平面(192)和所述密封圈一(20)的上表面，所述密封圈二(21)环套所述上基...

【专利技术属性】
技术研发人员：李苏，李宗山，吴斌，李晓涛，张文涛，李鲁亚，
申请(专利权)人：美核电气济南股份有限公司，中广核工程有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37