用于叠瓦电池的EL测试方法技术

本发明专利技术涉及一种用于叠瓦电池的EL测试方法，包括：将测试探针与叠瓦电池相接触并导通，所述的测试探针的下压方向与叠瓦电池的主栅线所在方向相一致，以根据EL测试的成像结果判断叠瓦电池是否存在常规缺陷和印刷偏移缺陷。经由本发明专利技术的提供的用于叠瓦电池的EL测试过程中，用特殊设计的探针放置位置和根数来测试出叠瓦电池，能够有效识别出在生产过程的印刷偏移问题，该印刷偏移问题能够在本发明专利技术提供的EL测试方法中的成像结果中呈现单条或多条小电池条发黑现象。因此，本发明专利技术提供的EL测试方法，能够人工定性判断这片电池是否存在EL缺陷，识别并挑出缺陷电池片，避免EL不良的电池流入到客户端。

EL Test Method for Imbricated Batteries

【技术实现步骤摘要】
用于叠瓦电池的EL测试方法
本专利技术涉及光伏
，更具体地，涉及一种用于叠瓦电池的EL测试方法。
技术介绍
光伏电池是利用光电效应将光能转化为电能的器件，最常见的晶体硅电池，通常为片状。在光伏产品中，栅线是重要组成部分，其负责将电池内部产生的电流汇聚传送至电池外部。近几年，随着光伏行业的发展和产业的进步，对光伏电池的效率要求越来越高，伴随着组件工艺的改进，一大批新型的光伏电池也应运而生，其中提升效率明显，同时对各种电池工艺兼容性较好的叠瓦电池出现了。在组件端通过切割工艺，然后通过特殊工艺，将切下的小块电池叠在一起做成电池组件，从而这类电池在行业内成为叠瓦电池。叠瓦电池是基于叠片技术的高性能、高密度光伏电池组件，与传统的光伏电池组件相比，叠瓦组件通过将光伏电池片以更紧密的方式互相连接，使一个电池片的正面主栅线与另一个电池片背面的背面主栅线重叠，令电池间的缝隙降到最低，从而有效的减少了由于电池间隔造成的非有效发电空间，因此在同样的单位面积中可以铺设更多的电池，增加吸光面积，提高光伏组件的转换效率，并且由于电池片之间不需要焊带连接，减少了组件串阻，进而在提高组件功率的同时还节省了焊带的成本。EL(电致发光)测试的原理是给电池片通电，让电池片发光，用相机来捕获图像，如果EL测试的成像结果中具有发黑或发暗的地方，则说明这个地方接触不好或电池存在缺陷。虽然叠瓦电池的问世带来了以上诸多益处，但是由于叠瓦电池设计的非对称性，基于传统EL测试方法对测试的准确性不高，影响EL测试的合格率，无法满足叠瓦电池的EL测试需求。
技术实现思路
本专利技术的主要目的就是针对以上存在的问题与不足，提供一种能够有效测出叠瓦电池的印刷偏移问题的用于叠瓦电池的EL测试方法。为了实现上述目的，本专利技术采用的用于叠瓦电池的EL测试方法技术方案如下：所述的EL测试方法包括：将测试探针与叠瓦电池相接触并导通，所述的测试探针的下压方向与叠瓦电池的主栅线所在方向相一致，以根据EL测试的成像结果判断叠瓦电池是否存在常规缺陷和印刷偏移缺陷。较佳地，所述的EL测试方法中采用上下各两排测试探针或上下各四排测试探针。较佳地，所述的EL测试方法中测试条件为：电流5.6A～6.5A，电压12V～15V。较佳地，所述的EL测试方法中，若EL测试的成像结果中具有单条或多条发黑或发暗现象，则判断叠瓦电池存在印刷偏移缺陷。附图说明图1a～1b分别为本专利技术提供的方法中采用上下各两排测试探针的电池片正面和背面的结构示意图。图2a～2b分别为本专利技术提供的方法中采用上下各四排测试探针的电池片正面和背面的结构示意图。图3为采用五探针模式的EL测试图。图4为本专利技术提供的方法采用四探针模式的EL测试图。图5为本专利技术提供的方法采用四探针模式的EL测试图。附图标记1主栅线2测试探针3叠瓦图形具体实施方式为了能够更清楚地理解本专利技术的
技术实现思路
，特举以下实施例详细说明。本专利技术提供的一种用于叠瓦电池的EL测试方法的实施例中，包括：将测试探针与叠瓦电池相接触并导通，所述的测试探针的下压方向与叠瓦电池的主栅线所在方向相一致，以根据EL测试的成像结果判断叠瓦电池是否存在常规缺陷和印刷偏移缺陷。测试探针的下压方向与叠瓦电池的主栅线所在方向一致是指，探针排中各个探针沿叠瓦电池的主栅线方向与主栅线相接触，即，探针排在主栅线上方与主栅线相接触，且探针排所在方向与主栅线所在方向平行。其中常规缺陷为现有电池片的EL测试中可以常规判断识别出的缺陷。本专利技术提供的测试方法能够利用现有的设备进行EL不良品筛选而不会造成隐裂和破片，除识别常规缺陷外，还能识别出印刷偏移缺陷。其中，所述的EL测试方法中采用上下各两排测试探针或上下各四排测试探针，即，一种是正面四根主栅线所在方向与四排探针方向一致并一一对应上，另一种是正面中间二根主栅线所在方向和二排探针方向一致并一一对应上，主要是针对于印刷偏移的检出和预防；所述的EL测试方法中测试条件为：电流5.6A～6.5A，电压12V～15V。如图3所示，电池有五根主栅，则EL的探针也是在对应的五根主栅位置放置五根探针，这种模式，会让本来有印刷偏移的叠瓦电池，EL下的发光都是明亮的，由图3可以看出，在该EL测试基础上，会测不出叠瓦电池的印刷偏移问题。本专利技术使用的方法中可以采用四根探针方式或两根探针方式，则能把这种本身存在印刷偏移的电池筛选出来，让它呈现出图4的单条发黑或发暗图像。图5是本专利技术采用的四根探针测试方法所呈现的图像，四根探针也能显示出局部印刷断线导致的条状发黑。对于两根探针的模式，虽然能测出印刷偏移导致的单条黑，但因边缘没有探针，而没有让边缘通电，则靠近电池边缘的断线不良可能无法有效测出。因此，经由本专利技术的提供的用于叠瓦电池的EL测试过程中，用特殊设计的探针放置位置和根数来测试出叠瓦电池，能够有效识别出在生产过程的印刷偏移问题，该印刷偏移问题能够在本专利技术提供的EL测试方法中的成像结果中呈现单条或多条小电池条发黑现象。因此，本专利技术提供的EL测试方法，能够人工定性判断这片电池是否存在EL缺陷，识别并挑出缺陷电池片，避免EL不良的电池流入到客户端。并且，本专利技术创造性地提出两根探针或四根探针的测试方法，可以有效测试出叠瓦电池的印刷偏移，又不划伤电池，同时还让测试过程中，电池受到探针的挤压力是上下平衡的，可以减少测试过程中的碎片率。本专利技术提供的EL测试方法中，改变主栅线方向和探针方向一致，能够提高电池片EL的明暗均匀性，能够有效检出印刷偏移和断线的问题，技术上不需要改动机台硬件，不需要增加改造成本，只需要改变探针排方向位置和测试的电流，不存在技术障碍；并且，可使测试过程中叠瓦电池的主栅位置与测试探针充分接触，提高测试的稳定性，满足EL成像的需求。如图1a～1b所示，在本专利技术提供的EL测试方法中，采用上下二排探针，包括用于测试的叠瓦电池主栅线1、测试探针2、正面或背面的叠瓦图形3。如图2a～2b所示，在本专利技术提供的EL测试方法中，采用上下四排探针，包括用于测试的叠瓦电池主栅线1、测试探针2、正面或背面叠瓦图形3。叠瓦电池的正面主栅线位置与测试探针排充分接触，背面探针排对应到正面探针排，吃力点未错位，满足对于印刷偏移问题监控和测试的同时不会造成隐裂和破片。在此说明书中，本专利技术已参照其特定的实施例作了描述。但是，很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本专利技术的精神和范围。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于叠瓦电池的EL测试方法，其特征在于，所述的EL测试方法包括：将测试探针与叠瓦电池相接触并导通，所述的测试探针的下压方向与叠瓦电池的主栅线所在方向相一致，以根据EL测试的成像结果判断叠瓦电池是否存在常规缺陷和印刷偏移缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种用于叠瓦电池的EL测试方法，其特征在于，所述的EL测试方法包括：将测试探针与叠瓦电池相接触并导通，所述的测试探针的下压方向与叠瓦电池的主栅线所在方向相一致，以根据EL测试的成像结果判断叠瓦电池是否存在常规缺陷和印刷偏移缺陷。2.根据权利要求1所述的用于叠瓦电池的EL测试方法，其特征在于，所述的EL测试方法中采用上下各两排测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾卫波，李志刚，何悦，陈光，石勇建，周东，顾振，
申请(专利权)人：尚德太阳能电力有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31