一种试样尺寸与质量测量一体化装置制造方法及图纸

一种试样尺寸与质量测量一体化装置，一种试样尺寸与质量测量一体化装置，包括电子秤，电子秤称重平台表面中部设有试样放置区，试样放置区边缘设有垂直向上的挡板；试样放置区一边的两个端点分别设有垂直向上的滑杆，两根滑杆之间上设置有水平直尺，水平直尺上垂直连接有水平卡尺；试样放置区上与水平直尺相对一边上设置有滑槽，滑槽上垂直连接有竖向直尺，竖向直尺垂直连接有垂直卡尺；所述的水平卡尺和垂直卡尺相对设置。此装置可方便的同时测量试样尺寸和质量，试样测量时可沿各方向上移动电子卡尺直接读数，从而读取不同尺寸试样的尺寸值和质量值，一人可单独完成整个操作流程，并可大幅提高完成速度。

An Integrated Device for Measuring Sample Size and Quality

【技术实现步骤摘要】
一种试样尺寸与质量测量一体化装置
本技术属于试样规格测量装置领域，特别涉及一种试样尺寸与质量测量一体化装置。
技术介绍
岩石、混凝土室内试验是土木工程领域十分重要的试验手段，在此以岩土工程室内试验为例。在试验开始前，为选取符合试验规范要求的试样、为避免手接触过多造成试样磨损出现误差、为方便后期数据处理分析，需要测量试样直径、高度、质量三者是否符合规定，剔除不达标试样。在现有的试样尺寸测量装置与质量测量装置中，每次测量均需多人进行分步操作，且试样经多人接触出现磨损，不仅会使数据出现误差，还耗时耗力。
技术实现思路
鉴于
技术介绍
所存在的技术问题，本技术所提供的一种试样尺寸与质量测量一体化装置，此装置可方便的同时测量试样尺寸和质量，试样测量时可沿各方向上移动电子卡尺直接读数，从而读取不同尺寸试样的尺寸值和质量值，一人可单独完成整个操作流程，并可大幅提高完成速度。为了解决上述技术问题，本技术采取了如下技术方案来实现：一种试样尺寸与质量测量一体化装置，包括电子秤，电子秤称重平台表面中部设有试样放置区，试样放置区边缘设有垂直向上的挡板；试样放置区一边的两个端点分别设有垂直向上的滑杆，其中一根滑杆设置在靠近所述挡板垂直边缘处；两根滑杆之间上设置有水平直尺，水平直尺上设有两个孔，所述两个孔分别套接在两根滑杆上并通过水平直尺内设的固定件固定，水平直尺上垂直连接有水平卡尺；试样放置区上与水平直尺相对一边上设置有滑槽，滑槽上垂直连接有竖向直尺，竖向直尺垂直连接有垂直卡尺；所述的水平卡尺和垂直卡尺相对设置。优选的方案中，所述的固定件包括设在水平直尺内的按键，所述按键为上下镂空的方形框架结构，按键一端贯穿水平直尺侧壁形成抽屉式结构，按键另一端与水平直尺内壁之间通过弹簧连接；滑杆同时穿过水平直尺的孔以及按键中部，弹簧的推力将滑杆夹持在按键和水平直尺内壁之间。优选的方案中，所述的竖向直尺与垂直卡尺连接处，垂直卡尺设有方孔，所述方孔套接在竖向直尺上。优选的方案中，所述的水平卡尺与水平直尺连接处，水平卡尺设有方孔，所述方孔套接在水平直尺上。优选的方案中，所述的所述滑槽为空心长方体通道且上表面开凿有长形口，竖向直尺下部水平设置有方板，所述方板从滑槽侧边滑入。优选的方案中，所述的试样放置区为方形。本专利可达到以下有益效果：1、挡板可以提供试样的基准面，利用水平直尺和竖向直尺两个方向同时测量试样尺寸规格，不仅提高了测量准确性和全面性，而且操作方便，效率高，简单实用。2、电子秤结合尺寸测量，在测量试样的尺寸同时能快速读取质量参数。3、可以减少人为因素造成的测量误差，提高精度和准确度。附图说明下面结合附图和实施例对本技术作进一步说明：图1为本技术整体结构图；图2为本技术固定件结构图；图3为本技术水平直尺与水平卡尺连接结构截取图；图4为本技术竖向直尺与垂直卡尺连接结构截取图。图中：电子秤1、放置区101、显示屏102、挡板2、滑杆3、水平卡尺401、水平直尺402、按键403、垂直卡尺501、竖向直尺502、滑槽503。具体实施方式优选的方案如图1所示，一种试样尺寸与质量测量一体化装置，包括电子秤1，电子秤1称重平台表面中部设有试样放置区101，试样放置区101边缘设有垂直向上的挡板2；试样放置区101一边的两个端点分别设有垂直向上的滑杆3，其中一根滑杆3设置在靠近所述挡板2垂直边缘处；两根滑杆3之间上设置有水平直尺402，水平直尺402上设有两个孔，所述两个孔分别套接在两根滑杆3上并通过水平直尺402内设的固定件固定，水平直尺402上垂直连接有水平卡尺401；试样放置区101上与水平直尺402相对一边上设置有滑槽503，滑槽503上垂直连接有竖向直尺502，竖向直尺502垂直连接有垂直卡尺501；所述的水平卡尺401和垂直卡尺501相对设置；所述水平卡尺401、水平直尺402、垂直卡尺501、竖向直尺502和滑杆3均为钢材质。优选的方案如图1所示，所述固定件包括设在水平直尺402内的按键403，所述按键403为上下镂空的方形框架结构，按键403一端贯穿水平直尺402侧壁形成抽屉式结构，按键403另一端与水平直尺402内壁之间通过弹簧连接；滑杆3同时穿过水平直尺402的孔以及按键403中部，弹簧的推力将滑杆3夹持在按键403和水平直尺402内壁之间。优选的方案如图1所示，竖向直尺502与垂直卡尺501连接处，垂直卡尺501设有方孔，所述方孔套接在竖向直尺502上；所述方孔与竖向直尺502表面完全贴合；由于垂直卡尺501位于竖向直尺502一端，方孔与竖向直尺502之间会产生一定的挤压力，因此方孔与竖向直尺502在较大摩擦力作用下不会自然滑落。优选的方案如图1所示，水平卡尺401与水平直尺402连接处，水平卡尺401设有方孔，所述方孔套接在水平直尺402上。优选的方案如图1所示，所述滑槽503为空心长方体通道且上表面开凿有长形口，竖向直尺502下部水平设置有方板，所述方板从滑槽503侧边滑入。优选的方案如图1所示，试样放置区101为方形。整个装置的工作原理如下：1、将待测试样放入装置试样放置区101，使试样紧贴挡板2。2、测量尺寸，按动水平直尺402一侧的两个按键403，沿着滑杆3上下移动水平直尺402与试样上部位置齐平，松开按键403后水平直尺402固定，沿着水平直尺402水平移动水平卡尺401，使其与试样另一侧紧贴，读取并记录水平卡尺401读数区上的示数，完成上部位置尺寸测量；重复上述上部位置尺寸测量步骤，完成中间、下部位置尺寸测量工作。3、测量高度，沿着滑槽503移动竖向直尺502至与试样位置距离最近处，沿着竖向直尺502移动垂直卡尺501，使其下表面与试样上表面紧贴，读取并记录垂直卡尺501读数区，完成高度测量。4、测量质量，读取并记录电子秤1上的读数区102内的示数，完成质量测量。5、完成尺寸和质量测量，取走试样，将下一个待测试样放入试样放置区101，重复上述1、2、3、4步骤。上述的实施例仅为本技术的优选技术方案，而不应视为对于本技术的限制，本技术的保护范围应以权利要求记载的技术方案，包括权利要求记载的技术方案中技术特征的等同替换方案为保护范围。即在此范围内的等同替换改进，也在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种试样尺寸与质量测量一体化装置，包括电子秤（1），其特征在于：电子秤（1）称重平台表面中部设有试样放置区（101），试样放置区（101）边缘设有垂直向上的挡板（2）；试样放置区（101）一边的两个端点分别设有垂直向上的滑杆（3），其中一根滑杆（3）设置在靠近所述挡板（2）垂直边缘处；两根滑杆（3）之间上设置有水平直尺（402），水平直尺（402）上设有两个孔，所述两个孔分别套接在两根滑杆（3）上并通过水平直尺（402）内设的固定件固定，水平直尺（402）上垂直连接有水平卡尺（401）；试样放置区（101）上与水平直尺（402）相对一边上设置有滑槽（503），滑槽（503）上垂直连接有竖向直尺（502），竖向直尺（502）垂直连接有垂直卡尺（501）；所述的水平卡尺（401）和垂直卡尺（501）相对设置。

【技术特征摘要】
1.一种试样尺寸与质量测量一体化装置，包括电子秤（1），其特征在于：电子秤（1）称重平台表面中部设有试样放置区（101），试样放置区（101）边缘设有垂直向上的挡板（2）；试样放置区（101）一边的两个端点分别设有垂直向上的滑杆（3），其中一根滑杆（3）设置在靠近所述挡板（2）垂直边缘处；两根滑杆（3）之间上设置有水平直尺（402），水平直尺（402）上设有两个孔，所述两个孔分别套接在两根滑杆（3）上并通过水平直尺（402）内设的固定件固定，水平直尺（402）上垂直连接有水平卡尺（401）；试样放置区（101）上与水平直尺（402）相对一边上设置有滑槽（503），滑槽（503）上垂直连接有竖向直尺（502），竖向直尺（502）垂直连接有垂直卡尺（501）；所述的水平卡尺（401）和垂直卡尺（501）相对设置。2.根据权利要求1所述的一种试样尺寸与质量测量一体化装置，其特征在于：所述固定件包括设在水平直尺（402）内的按键（403），所述按键（403）为上下镂空的方形框架结构，按键（403...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡鹏，郭永成，
申请(专利权)人：三峡大学，
类型：新型
国别省市：湖北,42