电子设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子设备，涉及光学领域，该电子设备包括：多个光谱测量单元、滤波单元、功率测量单元和中央处理器。该光谱测量单元外接超连续谱光源。该滤波单元外接该超连续谱光源。该功率测量单元与该滤波单元相连。该中央处理器，与该光谱测量单元和该功率测量单元相连。该电子设备可提高测量超连续谱光源的总功率的精确度。

Electronic equipment

【技术实现步骤摘要】
电子设备
本技术涉及光学领域，尤其涉及一种电子设备。
技术介绍
随着近年来科学技术的快速发展，超连续谱光源以其高亮度、高相干性和超带宽等优点广泛应用于光谱学、环境监测、化学传感、生物化学以及红外线对抗等民用和军事领域。目前通常采用激光功率计测量超连续谱光源的总功率，但是超连续光谱光源的带宽极宽，激光功率计的测量范围有限，因此需采取多个激光功率计对超连续谱光源进行测量，而不同的激光功率计对于不同波段的激光功率的标定方法不同，因此存在超连续谱光源的总功率的测量不够精确的问题。
技术实现思路
本技术实施例的主要目的在于提供一种电子设备，可提高测量超连续谱光源的总功率的精确度。本技术实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括：多个光谱测量单元、滤波单元、功率测量单元和中央处理器；所述光谱测量单元外接超连续谱光源；所述滤波单元外接所述超连续谱光源；所述功率测量单元与所述滤波单元相连；所述中央处理器，与所述光谱测量单元和所述功率测量单元相连；其中，所述光谱测量单元，用于对来自超连续谱光源的光束进行测量，得到所述光束的多个波段的光谱数据；中央处理器，用于将所述多个波段的光谱数据进行拼接，得到所述光束的总光谱数据；滤波单元，用于对来自所述超连续谱光源的光束进行滤波处理，得到预设波段的光束；所述功率测量单元，用于对所述预设波段的光束进行测量，得到所述预设波段的光束的功率；中央处理器，还用于根据所述光束的总光谱数据和所述预设波段的光束的功率，生成所述光束的总功率。从上述实施例可知，通过多个光谱测量单元直接测量得到多个波段的光谱数据，通过滤波单元对光源进行滤波得到预设波段的光束，并通过功率测量单元直接测量该预设波段的光束，然后通过直接测量得到的多个波段的光谱数据和预设波段的功率计算得到光源的总功率，而不需利用不同波段的功率计对光源进行测量并求和得到光源的总功率，从而避免了不同波段的功率计的标定方法不同所引起的误差，进而提高了测量超连续谱光源的总功率的精确度。附图说明图1是本技术提供的第一实施例中的电子设备的结构示意图；图2是本技术提供的第二实施例中的电子设备的结构示意图。具体实施方式为使得本技术的技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而非全部实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。参见图1，图1是本技术提供的第一实施例中的电子设备的结构示意图。如图1所示，该电子设备包括：多个光谱测量单元101、滤波单元102、功率测量单元103和中央处理器104。光谱测量单元101外接超连续谱光源。滤波单元102外接超连续谱光源。功率测量单元103与滤波单元102相连。中央处理器104，与光谱测量单元101和功率测量单元103相连。光谱测量单元101，用于对来自超连续谱光源的光束进行测量，得到光束的多个波段的光谱数据。具体的，由于超连续谱光源具有带宽极宽的特点，而单个光谱测量单元101的测量范围有限，因此采用多个不同测量范围的光谱测量单元101，对来自超连续谱光源的光束进行测量，相应的，各光谱测量单元101测量该光束后得到位于自身测量范围内的光谱数据。也就是说，各光谱测量单元101测量得到的光谱数据的波段不大于各光谱测量单元101的测量范围。可以理解的，为了获取超连续谱光源的全带宽的光谱数据，因此多个光谱测量单元101的测量范围的和包括超连续谱光源的全带宽。中央处理器104，与光谱测量单元101相连，用于将多个波段的光谱数据进行拼接，得到光束的总光谱数据。具体的，由于各光谱测量单元101测量得到的光谱数据是来自超连续谱光源的光束的部分波段的光谱数据，因此，中央处理器104将各光谱测量单元101测量得到的多个光谱数据进行拼接，而多个光谱数据所对应的波段不相同，也就是说，将各个波段的光谱数据进行拼接，以得到该光束的总光谱数据。滤波单元102，用于对来自超连续谱光源的光束进行滤波处理，得到预设波段的光束。具体的，由于来自超连续谱光源的光束的带宽极宽，而功率测量单元103的测量范围有限，因此，在功率测量单元103测量之前，滤波单元102将该光束进行滤波处理，以得到预设波段的光束。可以理解的，滤波单元102允许通过的波段为该预设波段的光束的波段，该预设波段的光束的波段位于来自超连续谱光源的光束的带宽内。功率测量单元103，与滤波单元102相连，用于对预设波段的光束进行测量，得到预设波段的光束的功率。具体的，滤波单元102将该光束进行滤波处理后，得到预设波段的光束，接着功率测量单元103将该预设波段的光束进行测量，以获取该预设波段的光束的功率。可以理解的，该预设波段的光束的波段不大于功率测量单元103的测量范围，该功率测量单元103的测量范围小于来自超连续谱光源的光束的带宽。中央处理器104，与功率测量单元103相连，用于根据光束的总光谱数据和预设波段的光束的功率，生成光束的总功率。具体的，中央处理器104将多个波段的光谱数据进行拼接得到的总光谱数据，以及通过功率测量单元测量得到的预设波段的光束的功率，生成该光束的总功率。在该过程中，仅需一个功率测量单元103即可通过后续计算得到光束的总功率。参见图2，图2是本技术提供的第二实施例中的电子设备的结构示意图。如图2所示，与图1所示的电子设备不同的是，于本实施例中：进一步地，光谱测量单元101为光谱仪。进一步地，滤波单元102为带通滤波器。进一步地，功率测量单元103为功率计。进一步地，光谱测量单元101通过多模光纤跳线201外接超连续谱光源。具体的，多个光谱测量单元101通过多模光纤跳线201接收来自超连续谱光源的光束进行测量。滤波单元102接收来自超连续谱光源的光束进行分光处理，功率测量单元103进行测量。在实际应用中，滤波单元102可为带通滤波器，带通滤波器是一个允许特定频段的波通过同时屏蔽其他频段的设备。功率测量单元103可为激光功率计。可以理解的，带通滤波器允许通过的波段位于激光功率计的测量范围内。进一步地，多个波段的光谱数据中若干波段的光谱数据为对数光谱数据，剩余波段的光谱数据为线性光谱数据，中央处理器104，还用于将线性光谱数据转换为转换对数光谱数据，并在对数光谱数据和转换对数光谱数据中选取任意一个光谱数据作为基准对数光谱数据。具体的，由于部分光谱测量单元101测量光束得到的是对数光谱数据，而部分光谱测量单元101测量光束得到的是线性光谱数据，因此该多个波段的光谱数据中若干波段的光谱数据为对数光谱数据，剩余波段的光谱数据为线性光谱数据。为了进一步将多个光谱数据进行处理，将线性光谱数据转换为转换对数光谱数据。可选的，采用如下公式将线性光谱数据转换为转换对数光谱数据：y＝-10lg(x)式中，x是光谱测量单元101测量所得的某波长的线性强度值，y是对应波长的对数强度值。其中，对数光谱数据和转换对数光谱数据均为波长与对应波长的对数强度值的形式，在对数光谱数据和转换对数光谱数据中，选取任意一个光谱数据作为基准对数光谱数据。可选本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：多个光谱测量单元、滤波单元、功率测量单元和中央处理器；所述光谱测量单元外接超连续谱光源；所述滤波单元外接所述超连续谱光源；所述功率测量单元与所述滤波单元相连；所述中央处理器，与所述光谱测量单元和所述功率测量单元相连；其中，所述光谱测量单元，用于对来自超连续谱光源的光束进行测量，得到所述光束的多个波段的光谱数据；中央处理器，用于将所述多个波段的光谱数据进行拼接，得到所述光束的总光谱数据；滤波单元，用于对来自所述超连续谱光源的光束进行滤波处理，得到预设波段的光束；所述功率测量单元，用于对所述预设波段的光束进行测量，得到所述预设波段的光束的功率；中央处理器，还用于根据所述光束的总光谱数据和所述预设波段的光束的功率，生成所述光束的总功率。

【技术特征摘要】
1.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：多个光谱测量单元、滤波单元、功率测量单元和中央处理器；所述光谱测量单元外接超连续谱光源；所述滤波单元外接所述超连续谱光源；所述功率测量单元与所述滤波单元相连；所述中央处理器，与所述光谱测量单元和所述功率测量单元相连；其中，所述光谱测量单元，用于对来自超连续谱光源的光束进行测量，得到所述光束的多个波段的光谱数据；中央处理器，用于将所述多个波段的光谱数据进行拼接，得到所述光束的总光谱数据；滤波单元，用于对来自所述超连续谱光源的光束进行滤波处理，得到预设波段的光束；所述功率测量单元，用于对所述预设波段的光束进行测量，得到所述预设波段的光束的功率；中央处理器，还用于根据所述光束的总光谱数据和所述预设波段的光束的功率，生成所述光束的总功率。2.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述光谱测量单元为光谱仪。3.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述滤波单元为带通滤波器。4.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述功率测量单元为功率计。5.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述光谱测量单元通过多模光纤跳线外接所述超连续谱光源。6.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述多个波段的光谱数据中若干波段的光谱数据为对数光谱数据，剩余波段的光谱数据为线性光谱数据，所述中央处理器，用于将所述线性光谱数据转换为转换对数光谱数据，并在所述对数光谱数据和所述转换对数光谱数据中选取任意一个光谱数据作为基准对数光谱数据；所述中央处理器，还用于在剩下的所述对数光谱数据和所述转换对数光谱数据中，选取对应的波段与所述基准对数光谱数据的波段有重合的光谱数据，作为待拼接对数光谱数据；所述中央处理器，还用于基于所述基准对数光谱数据和所述待拼接对数光谱数据的重合波段，按照预设算法计算得到连接波长；所述中央处理器，还用于在所述基准对数光谱数据和所述待拼接对数光谱数据中，分别获取与所述连接波长相应的基准对数强度值和待拼接对数强度值；所述中央处理器，还用于将所述待拼接对数强度值减去所述基准对数强度值，得到偏差...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈业旺，阮双琛，韩培刚，仇明侠，欧阳德钦，刘敏秋，陈燕平，
申请(专利权)人：深圳技术大学筹，
类型：新型
国别省市：广东,44