自动分析装置制造方法及图纸

技术编号:21739390 阅读:34 留言:0更新日期:2019-07-31 20:47
自动分析装置具备:产生中心波长为340nm以下的光的光源;被上述光源的光激励而发光,且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm~800nm的光的荧光体;聚光透镜;至少一个狭缝;保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射的反应池;以及对透过上述反应池的光进行检测的检测器,上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置,上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下。

Automatic analyzer

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】自动分析装置
本专利技术涉及自动分析装置。
技术介绍
专利文献1记载了对试样含有的成分量进行分析的自动分析装置。例如,自动分析装置向试样、或试样和试剂混合而成的反应溶液照射来自光源的光,并利用受光元件测量通过试样或反应溶液后的单一或多个测量波长的透射光量。然后,自动分析装置根据测量出的光量计算吸光度,根据吸光度与浓度的关系求出成分量。自动分析装置中,为了对应多个检查项目,需要多个测量波长。另外,为了实现高精度的测量,在全部的波长中,需要能够稳定测量一定以上的光量。对每个成为测量对象的成分使用的光的波长不同,但其范围为340nm~800nm。一直以来,作为光源,使用可得到大量光量且发光光谱宽的卤素灯。但是,卤素灯的寿命短(约1000小时),更换频率高。另外,卤素灯在其光量稳定前耗费30分钟左右,因此易用性降低。作为卤素灯的代替光源,可以列举使用了多个与分析使用的波长对应的单一波长的LED的结构。在专利文献2中,记载了沿同一轴照射来自包括紫外LED的多个LED的光的光源结构。另外,在专利文献3~5中记载了通过滤光片等对来自卤素灯等白色光源的光和来自紫外LED的紫外光进行合成的结构。卤素灯的紫外光、尤其是在自动分析装置中重要度高的340nm附近的光量少,因此紫外光的波长的光通过滤光片等合成。现有技术文献专利文献专利文献1:美国专利第4451433号说明书专利文献2:国际公开2010/012203号专利文献3:日本特开2008-002849号公报专利文献4:日本专利第5260903号专利文献5:日本特开2016-040528号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题根据测量对象不同,使用的试剂不同,根据试剂不同,使用的光的波长不同。作为测量法,具有称为双波长测量法的方法,即,通过同时测量两个波长的光,高精度地对测量对象的浓度进行定量。在这样的测量法中,以各波长的光相对于反应溶液,光轴和光量分布一致为前提,在它们不一致的情况下,得不到双波长测量法的原本的效果。例如,在使用光轴或光量分布不一致的两个波长的光进行双波长测量法的情况下,与它们一致的情况相比,容易受气泡等干扰的影响,精度或准确度降低。在欲使用专利文献2~5的光源作为卤素灯的替代来实施双波长测量法的情况下,相对于反应溶液,来自多个光源的光的光轴及光量分布的差异增大,存在精度或准确度降低的可能性。在专利文献2~5的技术中,具有难以缩小来自多个光源的光的光轴及光量分布的差异的课题。因此,本专利技术提供一种自动分析装置,关于测量使用的各波长的光,能够缩小光轴及光量分布的差异。用于解决课题的方案例如,为了解决上述课题,采用权利要求书记载的结构。本申请包括多个解决上述课题的方案,若列举其中一例,则提供一种自动分析装置,其具备:产生中心波长为340nm以下的光的光源;被上述光源的光激励而发光,且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm~800nm的光的荧光体;聚光透镜;至少一个狭缝;保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射的反应池;以及对透过上述反应池的光进行检测的检测器,上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置,上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下。专利技术效果根据本专利技术,关于测量使用的各波长的光,能够缩小光轴及光量分布的差异。根据本说明书的记载、附图将明了与本专利技术关联的其它特征。另外,根据以下的实施例的说明,将明了上述以外的课题、结构以及效果。附图说明图1是表示实施例1的自动分析装置的整体结构例的示意图。图2是表示实施例1的自动分析装置的吸光度测量部的构成例的示意图。图3是表示实施例1的紫外LED光源和荧光体的构成例的图。图4是表示来自实施例1的紫外LED光源及荧光体的光的光谱的图。图5是用于求出狭缝的开口部的宽度的光路图的一例。图6是表示实施例1的将紫外LED的封装体下表面冷却及恒温化的构成例的示意图。图7是表示实施例2的紫外LED光源和荧光体的构成例的图。图8是表示实施例3的紫外LED光源和荧光体的构成例的图。图9是表示实施例4的紫外LED光源和荧光体的构成例的图。具体实施方式以下,参照附图对本专利技术的实施例进行说明。附图示出了根据本专利技术的原理的具体的实施例,但它们是用于本专利技术的理解的例子,而非用于限定性地解释本专利技术。以下的实施例涉及对试样含有的成分量进行分析的分析装置,例如,涉及对血液或尿含有的成分量进行分析的自动分析装置。以下,公开具备如下光源结构的自动分析装置,该光源结构为,能够使用多个光源,并缩小它们的光轴和光量分布的差异。[实施例1]图1表示实施例1的自动分析装置的整体结构例。本实施例的自动分析装置具备:三种盘;使试样(样品)及试剂在这三种盘间移动的分注机构;控制盘的驱动部及分注机构的控制电路116;对透过了试样和试剂混合而成的反应溶液的单一或多个测量波长的光量进行测量的测量部(吸光光度计)113;根据测量部113测量出的光量测量吸光度的光量测量电路117;处理光量测量电路117测量出的数据的数据处理部118;以及作为与数据处理部118的接口的输入部121及输出部122。三种盘为样品盘103、试剂盘106、以及反应盘109。另外,分注机构具备样品分注机构110及试剂分注机构111。数据处理部118具备存储器119和解析部120。存储器119存储控制数据、测量数据、数据解析使用的数据、以及解析结果数据等。数据处理部118可以使用计算机来实现。计算机至少具备CPU(CentralProcessingUnit:中央处理器)等处理器和存储器119。就解析部120的处理而言,可以将与这些处理对应的程序代码存储于存储器119,并通过处理器执行各程序代码而实现。输入部121及输出部122在与存储器119之间输入输出数据。在图1的例中,输入部121表示了键盘的情况,但也可以为触摸板、数字键盘等其它输入装置。输出部122是用于供用户确认解析结果的装置,例如为显示器等。在样品盘103的圆周上,作为样品101的容纳容器配置有多个样品杯102。样品101例如为血液。在试剂盘106的圆周上,作为试剂104的容纳容器配置有多个试剂瓶105。在反应盘109的圆周上,作为使样品101和试剂104混合而成的反应溶液107的容纳容器配置有多个反应池108。样品分注机构110是使样品101从样品杯102向反应池108移动恒定量的机构。样品分注机构110例如具备吐出或吸引溶液的喷嘴、使喷嘴移动而定位于预定位置的机器人、以及将溶液从喷嘴吐出或吸入喷嘴的泵。试剂分注机构111是使试剂104从试剂瓶105向反应池108移动恒定量的机构。试剂分注机构111例如具备吐出或吸引溶液的喷嘴、使喷嘴移动而定位于预定位置的机器人、以及将溶液从喷嘴吐出或吸入喷嘴的泵。搅拌部112是在反应池108内将样品101和试剂104搅拌而进行混合的机构。清洗部114是从分析处理结束的反应池108排出反应溶液107,然后清洗反应池108的机构。此外,在反应池108的清洗结束后,样品分注机构110将接下来的样品101分注至清洗后的反应池108,试剂分注机构111将新的试剂104分注至该反应池108。于是,清洗后的反应池108被本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动分析装置,其特征在于,具备:光源,其产生中心波长为340nm以下的光;荧光体,其被上述光源的光激励而发光,且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm~800nm的光;聚光透镜;至少一个狭缝;反应池,其保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射;以及检测器,其对透过上述反应池的光进行检测,上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置,上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.12.27 JP 2016-2529131.一种自动分析装置,其特征在于,具备:光源,其产生中心波长为340nm以下的光;荧光体,其被上述光源的光激励而发光,且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm~800nm的光;聚光透镜;至少一个狭缝;反应池,其保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射;以及检测器,其对透过上述反应池的光进行检测,上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置,上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下。2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,上述狭缝包括第一狭缝及第二狭缝,上述第一狭缝配置于上述聚光透镜的前侧焦点与上述荧光体之间,上述第二狭缝配置于上述聚光透镜的后侧焦点与上述反应池之间。3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,上述光源通过放入有上述荧光...

【专利技术属性】
技术研发人员:石田猛山崎功夫足立作一郎今村伸
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术
类型:发明
国别省市:日本,JP

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